JPH0536238Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0536238Y2 JPH0536238Y2 JP2642585U JP2642585U JPH0536238Y2 JP H0536238 Y2 JPH0536238 Y2 JP H0536238Y2 JP 2642585 U JP2642585 U JP 2642585U JP 2642585 U JP2642585 U JP 2642585U JP H0536238 Y2 JPH0536238 Y2 JP H0536238Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detector
- temperature
- heater
- measurement period
- temperature control
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 17
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 claims description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000008719 thickening Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の利用分野〕
本考案は、測定タイミングを考慮した温度制御
装置を備え、外気温度の変化の影響を除去した
CT装置用Ｘ線検出器に関する。
装置を備え、外気温度の変化の影響を除去した
CT装置用Ｘ線検出器に関する。
従来のCT装置用Ｘ線検出器は、半導体素子を
用いたもの、シンチレータと光検出素子を組み合
せた方式、および電離箱方式のものでも特性に温
度依存性をもつている。この温度依存性の影響を
除去するために検出器の温度を一定に保つ手段が
考えられる。しかしそのためには検出器容器にヒ
ーターを密着させて通電しなければならず、この
ことは雑音発生の原因となつてしまうという不便
さがあつた。
用いたもの、シンチレータと光検出素子を組み合
せた方式、および電離箱方式のものでも特性に温
度依存性をもつている。この温度依存性の影響を
除去するために検出器の温度を一定に保つ手段が
考えられる。しかしそのためには検出器容器にヒ
ーターを密着させて通電しなければならず、この
ことは雑音発生の原因となつてしまうという不便
さがあつた。
〔考案の目的〕
本考案の目的は雑音の発生のないCT装置用Ｘ
線検出器の温度制御を実現することにある。
線検出器の温度制御を実現することにある。
CT装置用Ｘ線検出器が雑音の影響を受けやす
いのは、信号出力電流が微小なためであるが、雑
音の影響が問題となるのはデータを取りこむ数秒
〜数十秒の計測期間中だけである。また検出器自
身の外気温変化に対する熱時定数は30分から１時
間程度である。そこで、計測期間中は温度制御を
行なわず、計測期間外だけ検出器の温度制御を行
なう。計測期間は検出器の熱時定数に比較してわ
ずかであるため計測期間中の検出器の温度変化は
少なく、無視できる程度である。
いのは、信号出力電流が微小なためであるが、雑
音の影響が問題となるのはデータを取りこむ数秒
〜数十秒の計測期間中だけである。また検出器自
身の外気温変化に対する熱時定数は30分から１時
間程度である。そこで、計測期間中は温度制御を
行なわず、計測期間外だけ検出器の温度制御を行
なう。計測期間は検出器の熱時定数に比較してわ
ずかであるため計測期間中の検出器の温度変化は
少なく、無視できる程度である。
以下、本考案の実施例を第１図〜第３図により
説明する。第１図は検出器取付部分を示したもの
である。検出器１は断熱材（例えばゴムシート）
２を介して回転板３に取り付けられている。検出
器１の外壁にはＸ線入射部を除き面状のヒーター
４が張りつけてあり、さらにその外側は断熱材５
に覆われている。また検出器温度を監視するため
の温度センサ６も検出器表面に取り付けられてい
る。第２図は温度制御システムの構成を示したも
のである。検出器１はヒーター４によつて加熱さ
れる。検出器温度は温度センサ６によつて検出器
温度制御回路７に帰還される。設定温度を室温よ
りも高くしておくことにより検出器温度は加熱の
強弱によつて一定に保たれる。この検出器温度制
御回路７には計測制御回路８から計測期間である
かどうかを示す信号が入力されていて、計測期間
であれば、温度制御を行なわずヒーターへの通電
は行なわない。図３は検出器温度とヒーターから
の雑音発生の様子を示したものである。計測期間
以外は検出器温度は一定に保たれる。このときは
ヒーターからは雑音が発生するが、問題にはなら
ない。計測期間になるとヒーターへの通電は行な
われず、雑音発生はなくなる。検出器温度は周囲
温度との差によつて変化しはじめる。変化の割合
は検出器の熱時定数と周囲温度と検出器の設定温
度の差に依存する。検出器の熱時定数が60分、温
度差が10℃の場合で温度変化は１分間で0.16℃程
度である。熱時定数は第１図の２および５の断熱
材を厚くするなどして断熱効果を大きくすること
によつて、計測期間中の温度変化をより少なくす
ることが可能である。このように計測期間には温
度制御のヒーターからの雑音発生がなく周囲温度
が変化しても検出器温度を一定に保つことができ
る。
説明する。第１図は検出器取付部分を示したもの
である。検出器１は断熱材（例えばゴムシート）
２を介して回転板３に取り付けられている。検出
器１の外壁にはＸ線入射部を除き面状のヒーター
４が張りつけてあり、さらにその外側は断熱材５
に覆われている。また検出器温度を監視するため
の温度センサ６も検出器表面に取り付けられてい
る。第２図は温度制御システムの構成を示したも
のである。検出器１はヒーター４によつて加熱さ
れる。検出器温度は温度センサ６によつて検出器
温度制御回路７に帰還される。設定温度を室温よ
りも高くしておくことにより検出器温度は加熱の
強弱によつて一定に保たれる。この検出器温度制
御回路７には計測制御回路８から計測期間である
かどうかを示す信号が入力されていて、計測期間
であれば、温度制御を行なわずヒーターへの通電
は行なわない。図３は検出器温度とヒーターから
の雑音発生の様子を示したものである。計測期間
以外は検出器温度は一定に保たれる。このときは
ヒーターからは雑音が発生するが、問題にはなら
ない。計測期間になるとヒーターへの通電は行な
われず、雑音発生はなくなる。検出器温度は周囲
温度との差によつて変化しはじめる。変化の割合
は検出器の熱時定数と周囲温度と検出器の設定温
度の差に依存する。検出器の熱時定数が60分、温
度差が10℃の場合で温度変化は１分間で0.16℃程
度である。熱時定数は第１図の２および５の断熱
材を厚くするなどして断熱効果を大きくすること
によつて、計測期間中の温度変化をより少なくす
ることが可能である。このように計測期間には温
度制御のヒーターからの雑音発生がなく周囲温度
が変化しても検出器温度を一定に保つことができ
る。
本考案によれば、計測期間中には雑音発生がな
く、検出器温度を一定（１分間で0.15℃以下）に
保つCT装置用Ｘ線検出器の温度制御が実現でき
る。
く、検出器温度を一定（１分間で0.15℃以下）に
保つCT装置用Ｘ線検出器の温度制御が実現でき
る。
第１図は本考案に係る実施例の検出器取付部分
の縦断面図、第２図は実施例の温度制御システム
のブロツク図、第３図は実施例の検出器温度とヒ
ーターからの雑音発生の時間変化の様子を示す。 １……Ｘ線検出器、２……断熱材、３……回転
板、４……面状ヒーター、５……断熱材、６……
温度センサ、７……温度制御回路、８……計測制
御回路。
の縦断面図、第２図は実施例の温度制御システム
のブロツク図、第３図は実施例の検出器温度とヒ
ーターからの雑音発生の時間変化の様子を示す。 １……Ｘ線検出器、２……断熱材、３……回転
板、４……面状ヒーター、５……断熱材、６……
温度センサ、７……温度制御回路、８……計測制
御回路。
Claims (1)
- 表面に面状ヒーターとその外側に断熱材をはり
つけ回転板に断熱材を介して取りつけられたCT
装置用Ｘ線検出器と検出器表面に取りつけられた
温度センサによつて検出器温度を監視しながら前
記ヒーターの加熱によつて検出器温度を一定に保
つ温度制御装置において計測回路からの計測期間
であることを判別するための信号を受けることに
より、計測期間中にヒーターへの通電を行なわな
いことを特徴とするCT装置用Ｘ線検出器温度制
御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2642585U JPH0536238Y2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2642585U JPH0536238Y2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61144487U JPS61144487U (ja) | 1986-09-06 |
| JPH0536238Y2 true JPH0536238Y2 (ja) | 1993-09-13 |
Family
ID=30522423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2642585U Expired - Lifetime JPH0536238Y2 (ja) | 1985-02-27 | 1985-02-27 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0536238Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202377A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Shimadzu Corp | 放射線検出器 |
| WO2007060740A1 (ja) * | 2005-11-28 | 2007-05-31 | Shimadzu Corporation | 放射線撮像装置 |
| US20090078879A1 (en) * | 2007-09-25 | 2009-03-26 | Fujifilm Corporation | Image detecting device and image capturing system |
| US8294113B2 (en) | 2007-09-28 | 2012-10-23 | Fujifilm Corporation | Image detecting device and image capturing system |
| JP2009098136A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-05-07 | Fujifilm Corp | 画像検出器及び画像撮影システム |
-
1985
- 1985-02-27 JP JP2642585U patent/JPH0536238Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61144487U (ja) | 1986-09-06 |
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