JP3263096B2 - X線ct装置 - Google Patents

X線ct装置

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JP3263096B2
JP3263096B2 JP14183891A JP14183891A JP3263096B2 JP 3263096 B2 JP3263096 B2 JP 3263096B2 JP 14183891 A JP14183891 A JP 14183891A JP 14183891 A JP14183891 A JP 14183891A JP 3263096 B2 JP3263096 B2 JP 3263096B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、X線CT装置に使用さ
れるX線CT用放射線検出器に関し、特に固体検出器の
改良に関する。
【0002】
【従来の技術】X線CT用放射線検出器特に固体検出器
は温度に対する検出感度の変化が生じてしまうことが判
っていたが、第4世代のX線CT装置に用いることによ
りその特有の再構成方式から感度補正を容易に行えるか
ら、あまり問題とならなかった。
【0003】他方、第3世代のX線CT装置に用いると
き、その温度に対する検出感度の変化が時に画像上にリ
ングアーチファクトを作ることになり、温度コントロー
ルが必要となる。
【0004】そこで、第3世代のX線CT装置には、例
えば図4のように温度コントロールが簡単な電熱ヒータ
101によってフレキシブル基板102を加熱して直接
的にシンチレータ103及びフォトダイオード104を
温度コントロールすることができる固体検出器105を
用いることが考えられた。なお、図中、106は断熱材
である。
【0005】この場合、その温度コントロールの動作原
理から図5の温度−制御出力特性のようにヒステリスを
持たせる温度コントロールで調整感度を大きくとる必要
がある。もし、1点でON/OFFコントロールを行な
うとすれば、温度コントローラがチャタリングし、ある
いはノイズの影響を受けやすくなり、温度コントロール
が不可能となるからである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たように温度コントロールのために調整感度を大きくと
ると、電熱ヒータの加熱温度が図6のようにオーバシュ
ートやハンチングを起すなどによって不安定となり、こ
れにともない固体検出器の温度を安定化するための温度
コントロールが達成できないという不具合がある。
【0007】更に、外乱(固体検出器に接する空気)に
よる短時間の温度変化には、ヒータ加熱時間のレスポン
スのため追従できない。この要因として、センサで固体
検出器の温度変化を検知し、温度コントロールをしても
ヒータの熱が固体検出器まで届くのに一定時間が必要と
なるため、固体検出器の温度がリンギングする等の不安
定になることも含まれる。
【0008】従って、従来の場合においては、固体検出
器を安定且つ所望通りに温度コントロールすることがで
きなかった。
【0009】本発明は、係る課題に着目してなされたも
ので、固体検出器を安定且つ所望通りに温度コントロー
ルすることを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、X線を検出する固体検出器を備えたX線C
T装置において、前記固体検出器が収納された内部空間
雰囲気を熱的に遮断し得る熱抵抗及び熱容量を保持する
保持部材と、前記保持部材において前記固体検出器と対
向しない側に設けられ、前記保持部材を加熱する加熱手
段と、前記加熱手段を制御して前記内部空間雰囲気の温
度制御を行う制御手段と、を具備したことを特徴とする
ものである。
【0011】
【作用】本発明によれば、固体検出器が収納された内部
空間雰囲気を熱的に遮断し得る熱抵抗及び熱容量を保持
する保持部材に対して、固体検出器が対向しない側から
加熱制御を行うことで、内部空間雰囲気の温度制御を行
う。これにより内部空間雰囲気を安定且つ所望通りにコ
ントロールすることができる。
【0012】
【実施例】図1は、本発明が適用された一実施例のX線
CT用放射線検出器の要部を一部切欠き断面で示す構成
図である。
【0013】この一実施例のX線CT用放射線検出器
は、アルミケース(以下「Alケース」という)1に、
固体検出器2を収容した構造である。
【0014】そして、Alケース1は、内部空間雰囲気
を外乱から遮断し得る熱抵抗及び熱容量となる肉厚のア
ルミニウムのケースからなる。換言すれば、この肉厚構
造のAlケース1の場合、熱を一度与えると熱を貯える
ことができる熱容量Cを有しており、また元の温度に戻
るには放熱時間tが必要である。これを電気的に考える
と、概念的にはt=R・Cとなり、時間=抵抗・容量と
考えることができ、Rを熱抵抗で表わすよう考えること
ができる。従って、図2の時間(t)−温度(℃)特性
曲線のように温度変化がある短時間で表われる外乱が生
じた場合でも、肉厚のAlケース1の内部に伝播する外
乱は、熱抵抗と熱容量との積で図3の時間(t)−温度
(℃)特性曲線のようになまった温度変化となる。この
ように外乱が急激な温度変化であっても、Alケース1
によってAlケース1の内部に伝播される外乱による温
度変化が直線的になるから、Alケース1の肉厚を大き
くとる程、直線的な温度制御を行える。
【0015】更に、本実施例では、固体検出器2に対す
る温度制御のために、Alケース1を加熱制御してAl
ケース1の内部空間雰囲気を温度制御する。この温度制
御の手段は、Alケース1にセンサ3を挿入する一方、
Alケース1の外側に電熱ヒータ4を貼付け、更に、セ
ンサ3の検知信号を基に電熱ヒータ4をON/OFF制
御するコントローラ5を備えた構成のものである。な
お、図1中、Alケース1における固体検出器2の放射
線入射面対向部位は、放射線透過カバー6で覆われてい
る。
【0016】このような各部を備えた本実施例にあって
は、Alケース1の外側に貼付けた電熱ヒータ4によっ
てAlケース1を直接加熱することになる。この際、A
lケース1の温度を一定に保つため、センサ3をできる
だけ電熱ヒータ4の近傍に設定配置しておくとよいもの
である。この場合、当初電熱ヒータ4はコントローラ5
によって設定された温度までAlケース1を加熱される
が、電熱ヒータ4の近傍にセンサ3が設定配置してある
ため、すぐにセンサ3により設定温度が検知され、電熱
ヒータ4がOFF状態となる。そのため、電熱ヒータ4
から離れたAlケース1の部位では電熱ヒータ4により
ただちに設定温度まで加熱されない。しかし、再びすぐ
に電熱ヒータ4がON状態となり、Alケース1が加熱
されてセンサ3により設定温度の検知がなされるという
電熱ヒータ4のON/OFF制御をAlケース1の全体
が設定温度になるまで繰り返すことになる。この時に
も、固体検出器2に与えられる温度は、電熱ヒータ4の
はげしいON/OFFの繰り返し加熱にも即答せず、A
lケース1の熱抵抗と熱容量とからできる時定数のた
め、徐々に設定温度に近づき安定するものである。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、内
部空間雰囲気を安定且つ所望通りにコントロールするこ
とができるため、固体検出器の所望の温度に維持するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用された一実施例のX線CT用放射
線検出器の要部を一部切欠き断面で示す構成図である。
【図2】外乱の温度変化の一例を示す時間−温度特性曲
線図である。
【図3】Alケースの熱抵抗及び熱容量を大きくした場
合のAlケースの内部に伝播される外乱による温度変化
の一例を示す時間−温度特性曲線図である。
【図4】従来のX線CT用放射線検出器(固体検出器)
の断面構成を示す図である。
【図5】ヒステリシスを持たせる従来の温度コントロー
ルの一例を示す温度−制御出力特性図である。
【図6】従来の温度コントロールによる不具合を説明す
るために用いた図である。
【符号の説明】
1 Alケース 2 固体検出器 3 センサ 4 電熱ヒータ 5 コントローラ 6 放射線透過カバー
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭56−29716(JP,A) 特開 昭53−148400(JP,A) 特開 昭56−43932(JP,A) 特開 昭60−193282(JP,A) 特開 平1−106299(JP,A) 特開 平3−95479(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) A61B 6/00 - 6/14 G01T 1/00 - 1/40

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線を検出する固体検出器を備えたX線
    CT装置において、 前記固体検出器が収納された内部空間雰囲気を熱的に遮
    断し得る熱抵抗及び熱容量を保持する保持部材と、 前記保持部材において前記固体検出器と対向しない側に
    設けられ、前記保持部材を加熱する加熱手段と、 前記加熱手段を制御して前記内部空間雰囲気の温度制御
    を行う制御手段と、 を具備したことを特徴とするX線CT装置。
  2. 【請求項2】 前記保持部材に設けられた温度センサを
    更に備え、 前記制御手段は、前記温度センサの検知信号に基づいて
    前記加熱手段のON/OFF制御を行うことを特徴とす
    る請求項1記載のX線CT装置。
JP14183891A 1991-06-13 1991-06-13 X線ct装置 Expired - Lifetime JP3263096B2 (ja)

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JPH04367654A JPH04367654A (ja) 1992-12-18
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JP2009293974A (ja) * 2008-06-03 2009-12-17 Toshiba Corp 放射線検出器

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