JPH05343848A - 多層プリント基板の製造方法 - Google Patents

多層プリント基板の製造方法

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JPH05343848A
JPH05343848A JP4150598A JP15059892A JPH05343848A JP H05343848 A JPH05343848 A JP H05343848A JP 4150598 A JP4150598 A JP 4150598A JP 15059892 A JP15059892 A JP 15059892A JP H05343848 A JPH05343848 A JP H05343848A
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JP
Japan
Prior art keywords
inner layer
core materials
layer
circuit patterns
photomask
Prior art date
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Pending
Application number
JP4150598A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Hishiki
宏 菱木
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 異種補正値をかけた回路パターンを有する内
層材料が正確にレイアップされているかどうかを、X線
透視により容易に判別でき、これにより多層の内層コア
材を正確に位置合せして積層成形できる多層プリント基
板の製造方法を得る。 【構成】 回路パターンを形成した内層コア材を、プリ
プレグを介して積層し、加熱プレスによりプリプレグを
硬化させて多層プリント基板を製造する方法において、
積層成形後に所定の位置に来るように異種の補正値がか
けられた露光用パターンと、材料レイアップ時に所定の
位置に来るように同種の補正値をかけたチェックマーク
用パターンとを有するフォトマスクを用いて、内層コア
材に回路パターンおよびチェックマークを形成する多層
プリント基板の製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は多層プリント基板の製
造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図1は多層プリント基板の積層成形前の
材料レイアップ状態を示す分解断面図である。図におい
て、1は積層体であって、外層に銅箔2a、2b、内層
に内層コア材3a、3b、3cがそれぞれプリプレグ4
a、4b、4c、4dを介して積層されている。内層コ
ア材3a、3b、3cはそれぞれ両面に銅の回路パター
ン5a、5b、5c、5d、5e、5fが形成されてい
る。
【0003】従来の多層プリント基板の製造方法は、ま
ずプリプレグの両面に銅箔を積層し、加熱プレスにより
樹脂を硬化させて、内層コア材3a、3b、3cを形成
する。そして内層コア材3a、3b、3cの両面に張ら
れた銅箔にレジスト形成し、フォトマスクを用いて露光
してエッチングを行い、第2層、第3層、第4層、第5
層、第6層、第7層の回路パターン5a、5b、5c、
5d、5e、5fを形成する。
【0004】次にプリプレグ4b、4cを介して内層コ
ア材3a、3b、3cを積層して各層の位置合せをし、
さらにその外側にプリプレグ4a、4dを介して銅箔2
a、2bを積層する。この状態で両側から加熱プレスし
てプリプレグ4a、4b…を硬化させ、全体を一体的に
積層成形する。その後外層の銅箔2a、2bをエッチン
グして第1層および第8層の回路パターンを形成する。
そしてスルーホール形成、ソルダーレジスト形成等を経
て多層プリント基板が完成する。
【0005】このような多層プリント基板の製造方法に
おいて、各層を加熱プレスして積層成形すると、各内層
コア材3a、3b、3cは積層成形前の状態に対して寸
法変化する。このため積層成形後に各内層コア材3a、
3b、3cに形成された回路パターン5a、5b…が設
計位置に位置するように、各回路パターン5a、5b…
を形成するときに使用するフォトマスクの回路パターン
として積層成形時の寸法変化に応じて、あらかじめ拡大
または縮小等の補正値をかけるのが通常の方法である。
このとき各内層コア材3a、3b、3cは、コア材厚
み、銅箔厚み、銅箔残存面積等により、積層成形時の寸
法変化が各々異なる。したがって、各フォトマスクはそ
れぞれに応じた補正値をかけることになる。
【0006】このため材料レイアップ時における内層コ
ア材3a、3b、3cに形成される回路パターン5a、
5b…は、それぞれ積層成形後の位置からずれた位置に
形成されることになり、全層を上からX線透視装置で透
視した場合、同一に形成されるべきパターンがずれて透
視される。
【0007】図4(a)、(b)はそれぞれ図1のA位
置およびB位置からX線透視装置で透視した透視図であ
り、第2層および第6層の回路パターン5a、5eのラ
ンドパターンの透視像11a、11eは重ならず、ずれ
た位置に透視される。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
多層プリント基板の製造方法においては、異種の補正値
をかけた内層材料をレイアップしたものをX線で上から
透視すると、各層のパターンがずれて透視されるので、
このずれがレイアップ作業のミスであるかどうかを判別
することができないという問題点があった。
【0009】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、異種補正値がかけられた回路パ
ターンを有する内層材料が正確にレイアップされている
かどうかを、X線透視により容易に判別することがで
き、各層の内層コア材を正確に位置合せして積層成形す
ることが可能な多層プリント基板の製造方法を得ること
を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】この発明に係るプリント
基板の製造方法は、回路パターンを形成した内層コア材
を、プリプレグを介して積層し、加熱プレスによりプリ
プレグを硬化させて多層プリント基板を製造する方法に
おいて、積層成形後に所定の位置に来るように異種の補
正値がかけられた露光用パターンと、材料レイアップ時
に所定の位置に来るように同種の補正値をかけたチェッ
クマーク用パターンとを有するフォトマスクを用いて、
内層コア材に回路パターンおよびチェックマークを形成
する方法である。
【0011】
【作用】この発明の多層プリント基板の製造方法におい
ては、内層コア材に回路パターンを形成する際、各内層
コア材の各層の回路パターンごとに異種の補正値がかけ
られた露光用パターンと、同種の補正値がかけられたチ
ェックマーク用パターンを有するフォトマスクを用いて
露光し、エッチングその他の工程を経て、各内層コア材
に回路パターンおよびチェックマークを形成する。
【0012】このようにしてパターニングした内層コア
材を、プリプレグを介して積層してレイアップすると、
各内層コア材に形成された回路パターンの位置はずれる
が、チェックマークの位置は一致する。そこで積層体に
ついてX線透視を行うと、チェックマークの位置の一致
または不一致により、レイアップ作業が正しく行われた
かどうかをチェックでき、必要により修正を行う。
【0013】
【実施例】以下、この発明の実施例を図について説明す
る。図1はこの発明の実施例における多層プリント基板
の積層成形前の材料レイアップ状態の積層体を示してお
り、図において6a、6b、6c、6d、6e、6fは
それぞれ第2層、第3層、第4層、第5層、第6層、第
7層の回路パターン5a、5b、5c、5d、5e、5
fとともに、銅箔等の金属層により内層コア材3a、3
b、3cの両面に形成されたチェックマークである。
【0014】図2はフォトマスクを示す平面図であり、
図において、7はフォトマスク、8はこのフォトマスク
7に形成された露光用パターン、9は同じくフォトマス
ク7のコーナ部に形成されたチェックマーク用パターン
である。フォトマスク7は各層の回路パターン5a、5
b…ごとに準備されるものであり、各層の回路パターン
5a、5b…を形成するための露光用パターン8と、チ
ェックマーク6a、6b…を形成するためのチェックマ
ーク用パターン9が形成されている。
【0015】各層のフォトマスク7の露光用パターン8
は、各層の内層コア材3a、3b、3cを積層成形した
ときに、回路パターン5a、5b…が所定の位置に来る
ように、各層のフォトマスク7ごとに異種の補正値がか
けられている。これに対してチェックマーク用パターン
9は、各内層コア材5a、5b、5cを積層してレイア
ップしたとき、各層のチェックマーク6a、6b…が所
定の位置に来るように、各層のフォトマスク7について
同種の補正値がかけられている。
【0016】図3は図1のC位置からX線透視装置で透
視した透視図である。図において、10a、10eはそ
れぞれ、第2層および第6層のチェックマーク6a、6
eの透視像である。第2層のチェックマーク6aは四辺
形のフレーム状に形成され、第6層のチェックマーク6
eは四辺形のスポット状に形成され、これらをX線透視
することにより、透視像10eが透視像10aの中心に
位置するようにされている。
【0017】この実施例の多層プリント基板の製造方法
は、まずプリプレグの両面に銅箔を積層し、加熱プレス
により樹脂を硬化させて、内層コア材3a、3b、3c
を形成する。そして内層コア材3a、3b、3cの両面
に張られた銅箔にレジスト形成し、各層ごとにフォトマ
スク7を用いて露光してエッチングを行い、第2層、第
3層、第4層、第5層、第6層、第7層の回路パターン
5a、5b…およびチェックマーク6a、6b…を形成
する。内層コア材3a、3b、3cに回路パターンを形
成する際、前述のように、各内層コア材3a、3b、3
cの各層の回路パターン5a、5b…ごとに異種の補正
値がかけられた露光用パターン8と、同種の補正がかけ
られたチェックマーク用パターン9を有するフォトマス
ク7を用いて露光し、エッチング、その他の工程を経て
各内層コア材3a、3b、3cに回路パターン5a、5
b…およびチェックマーク6a、6b…を形成する。
【0018】このようにしてパターニングした内層コア
材3a、3b、3cを、プリプレグ4b、4cを介して
積層してレイアップすると、各内層コア材3a、3b、
3cに形成された回路パターン5a、5b…の位置はず
れるが、チェックマーク6a、6b…の位置は一致す
る。そこで積層体についてX線透視を行うと、回路パタ
ーン5a、5b…の透視像は、図4に示すようにずれる
が、チェックマーク6a、6b…の透視像は、各層のレ
イアップが正しい場合は図3に示すように、それぞれの
透視像10a、10eが一致する。従ってチェックマー
ク6a、6b…の位置の一致または不一致により、レイ
アップ作業が正しく行われたかどうかをチェックでき、
必要により修正を行う。
【0019】次に、こうしてレイアップされた積層体の
外側にプリプレグ4a、4dを介して銅箔2a、2bを
積層する。この状態で両側から加熱プレスしてプリプレ
グ4a、4b…を硬化させ、全体を一体的に積層成形す
る。このとき各内層コア材3a、3b、3cはそれぞれ
の変化率で寸法変化し、各層の回路パターン5a、5b
…は所定の位置に来る。その後外層の銅箔2a、2bを
エッチングして第1層および第8層の回路パターンを形
成する。そしてスルーホール形成、ソルダーレジスト形
成等を経て多層プリント基板が完成する。
【0020】なお、チェックマークとして、フレーム状
のものとスポット状のものを組合せると、各層のずれ具
合がよく判るが、他の形状でもよい。またチェックマー
クを付す層は任意に選定することができる。
【0021】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、異種
の補正値をかけた内層パターンニング用のフォトマスク
に、同種の補正値をかけたチェックマーク用パターンを
設け、このフォトマスクにより、内層コア材に回路パタ
ーンおよびチェックマークを形成するようにしたので、
レイアップ後にX線透視装置でチェックマークを透視す
ることによって、レイアップ作業が正確に実施されたか
どうかを判別でき、これにより各層を正確に位置合せし
て積層成形することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例の多層プリント基板の材料レイアップ状
態を示す分解断面図である。
【図2】フォトマスクの平面図である。
【図3】図1のC位置におけるX線透視図である。
【図4】(a)、(b)はそれぞれ図1のA、B位置に
おけるX線透視図である。
【符号の説明】 1 積層体 2a、2b 銅箔 3a、3b… 内層コア材 4a、4b… プリプレグ 5a、5b… 回路パターン 6a、6b… チェックマーク 7 フォトマスク 8 露光用パターン 9 チェックマーク用パターン 10a、10e、11a、11e 透視像

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路パターンを形成した内層コア材を、
    プリプレグを介して積層し、加熱プレスによりプリプレ
    グを硬化させて多層プリント基板を製造する方法におい
    て、積層成形後に所定の位置に来るように異種の補正値
    がかけられた露光用パターンと、材料レイアップ時に所
    定の位置に来るように同種の補正値をかけたチェックマ
    ーク用パターンとを有するフォトマスクを用いて、内層
    コア材に回路パターンおよびチェックマークを形成する
    ことを特徴とする多層プリント基板の製造方法。
JP4150598A 1992-06-10 1992-06-10 多層プリント基板の製造方法 Pending JPH05343848A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004012903A (ja) * 2002-06-07 2004-01-15 Fuji Photo Film Co Ltd 露光装置
KR20040046194A (ko) * 2002-11-26 2004-06-05 엘지전자 주식회사 회로기판의 패턴검사구조
JP2008016758A (ja) * 2006-07-10 2008-01-24 Adtec Engineeng Co Ltd 多層回路基板製造におけるマーキング装置
KR101654020B1 (ko) * 2015-11-12 2016-09-05 일신전자 주식회사 미세 정렬을 위한 다층 연성회로기판의 제조방법

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