JPH05342612A - 光ディスクプレーヤ - Google Patents
光ディスクプレーヤInfo
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- JPH05342612A JPH05342612A JP4175061A JP17506192A JPH05342612A JP H05342612 A JPH05342612 A JP H05342612A JP 4175061 A JP4175061 A JP 4175061A JP 17506192 A JP17506192 A JP 17506192A JP H05342612 A JPH05342612 A JP H05342612A
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- Japan
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- light
- photodetector
- wavelength
- light source
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光量損失を阻止し、装置の低コスト化を図る
こと。 【構成】 光源１から出射される２波長の光のうち、一
方は透過させ、他方は回折させるために光源１とフォト
ディテクタ８との間に位相回折格子１１を介在させた。
この位相回折格子１１は、波長がλ1 ＜λ2 の関係にあ
るとき、波長λ1の第１光に対して位相差を２ｍπ（ｍ
は整数）としている。また、トラッキングエラー信号の
検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によって得、
第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るようにして
いる。 【効果】 従来のように、フィルタ２によって出射光の
一部をカットする必要がないため、光量の損失を招くこ
とがない。単一のフォトディテクタ８の位置調整を簡単
に行えるので、フォトディテクタ８の組み込み作業を簡
素化させることができる。フォトディテクタ８を単一と
することができ、しかも従来用いられていた比較的高価
なダイクロイックミラー９が不要となる。
こと。 【構成】 光源１から出射される２波長の光のうち、一
方は透過させ、他方は回折させるために光源１とフォト
ディテクタ８との間に位相回折格子１１を介在させた。
この位相回折格子１１は、波長がλ1 ＜λ2 の関係にあ
るとき、波長λ1の第１光に対して位相差を２ｍπ（ｍ
は整数）としている。また、トラッキングエラー信号の
検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によって得、
第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るようにして
いる。 【効果】 従来のように、フィルタ２によって出射光の
一部をカットする必要がないため、光量の損失を招くこ
とがない。単一のフォトディテクタ８の位置調整を簡単
に行えるので、フォトディテクタ８の組み込み作業を簡
素化させることができる。フォトディテクタ８を単一と
することができ、しかも従来用いられていた比較的高価
なダイクロイックミラー９が不要となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、異なる波長のレーザ光
を用いることによって通常の記録密度の光ディスクに限
らず、高密度ディスクに対しても情報の記録再生が可能
な光ディスクプレーヤに関する。
を用いることによって通常の記録密度の光ディスクに限
らず、高密度ディスクに対しても情報の記録再生が可能
な光ディスクプレーヤに関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ディスクに対する情報の書込み
及び読取りをより高密度に行うことができる光ディスク
プレーヤが開発されている。
及び読取りをより高密度に行うことができる光ディスク
プレーヤが開発されている。
【０００３】図１は、このような高密度の記録再生を行
うための光ディスクプレーヤの光学系の一例を示すもの
で、光源１からは、波長の異なるレーザビームが出射さ
れる。ここで、光源１からの波長は、たとえば７８０ｎ
ｍと６３０ｎｍの２波長とされている。
うための光ディスクプレーヤの光学系の一例を示すもの
で、光源１からは、波長の異なるレーザビームが出射さ
れる。ここで、光源１からの波長は、たとえば７８０ｎ
ｍと６３０ｎｍの２波長とされている。
【０００４】光源１からの２波長の出射光は、フィルタ
２によって一方の波長の出射光がカットされる。つま
り、高密度ディスクに対して情報の記録再生を行う場合
には、７８０ｎｍの長波長がカットされることになる。
２によって一方の波長の出射光がカットされる。つま
り、高密度ディスクに対して情報の記録再生を行う場合
には、７８０ｎｍの長波長がカットされることになる。
【０００５】フィルタ２を通過した６３０ｎｍの短波長
の出射光は、回折格子３によって０次光と回折光である
±１次光とに分離される。
の出射光は、回折格子３によって０次光と回折光である
±１次光とに分離される。
【０００６】回折格子３によって分離された出射光は、
ビームスプリッタ４を経た後、対物レンズ５によって光
ディスク６上に集光される。
ビームスプリッタ４を経た後、対物レンズ５によって光
ディスク６上に集光される。
【０００７】光ディスク６からの反射光は、ビームスプ
リッタ４によってシリンドリカルレンズ７側に折り返え
された後、このシリンドリカルレンズ７を経てフォトデ
ィテクタ８に集光される。
リッタ４によってシリンドリカルレンズ７側に折り返え
された後、このシリンドリカルレンズ７を経てフォトデ
ィテクタ８に集光される。
【０００８】フォトディテクタ８に集光された反射光の
うち、再生ＲＦ信号は６３０ｎｍの短波長の０次光から
得られる。また、トラッキングエラー信号は、３ビーム
法により、同様に６３０ｎｍの短波長の±１次光の差分
によって得られる。更に、フォーカスエラー信号は、非
点収差法により、同様に６３０ｎｍの短波長の０次光に
よって得られる。
うち、再生ＲＦ信号は６３０ｎｍの短波長の０次光から
得られる。また、トラッキングエラー信号は、３ビーム
法により、同様に６３０ｎｍの短波長の±１次光の差分
によって得られる。更に、フォーカスエラー信号は、非
点収差法により、同様に６３０ｎｍの短波長の０次光に
よって得られる。
【０００９】図２は、上記の光ディスクプレーヤの光学
系の他の例を示すもので、光源１からの波長の異なる出
射光はビームスプリッタ４を経た後、対物レンズ５によ
って光ディスク６上に集光される。光源１からの波長
は、上記同様、たとえば７８０ｎｍと６３０ｎｍの２波
長である。
系の他の例を示すもので、光源１からの波長の異なる出
射光はビームスプリッタ４を経た後、対物レンズ５によ
って光ディスク６上に集光される。光源１からの波長
は、上記同様、たとえば７８０ｎｍと６３０ｎｍの２波
長である。
【００１０】光ディスク６からの反射光は、ビームスプ
リッタ４によってダイクロイックミラー９側に折り返さ
れる。ダイクロイックミラー９側に折り返された反射光
は、このダイクロイックミラー９によって７８０ｎｍの
長波長及び６３０ｎｍの短波長に分離される。長波長は
シリンドリカルレンズ７を経てエラー信号検出用のフォ
トディテクタ８ｂ側に折り返される。短波長はダイクロ
イックミラー９を通過し、ＲＦ信号検出用のフォトディ
テクタ８ａに集光される。
リッタ４によってダイクロイックミラー９側に折り返さ
れる。ダイクロイックミラー９側に折り返された反射光
は、このダイクロイックミラー９によって７８０ｎｍの
長波長及び６３０ｎｍの短波長に分離される。長波長は
シリンドリカルレンズ７を経てエラー信号検出用のフォ
トディテクタ８ｂ側に折り返される。短波長はダイクロ
イックミラー９を通過し、ＲＦ信号検出用のフォトディ
テクタ８ａに集光される。
【００１１】再生ＲＦ信号は、ＲＦ用のフォトディテク
タ８ａから得られる。トラッキングエラー信号及びフォ
ーカスエラー信号は、フォトディテクタ８ｂによって得
られる。トラッキングエラーの検出手法は、たとえばプ
ッシュプル法が用いられる。フォーカスエラー信号の検
出手法は、たとえば非点収差法が用いられる。
タ８ａから得られる。トラッキングエラー信号及びフォ
ーカスエラー信号は、フォトディテクタ８ｂによって得
られる。トラッキングエラーの検出手法は、たとえばプ
ッシュプル法が用いられる。フォーカスエラー信号の検
出手法は、たとえば非点収差法が用いられる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】このように、上述した
従来の図１に示した光ディスクプレーヤの光学系では、
記録再生すべき光ディスク６の信号の記録密度に合わ
せ、対応する光源１からの波長の出射光のみを残し、他
の波長の出射光はフィルタ２によってカットするように
している。
従来の図１に示した光ディスクプレーヤの光学系では、
記録再生すべき光ディスク６の信号の記録密度に合わ
せ、対応する光源１からの波長の出射光のみを残し、他
の波長の出射光はフィルタ２によってカットするように
している。
【００１３】また、図２に示した光ディスクプレーヤの
光学系では、光ディスク６からの２波長の反射光をダイ
クロイックミラー９によって分離し、それぞれ個別に設
けられているフォトディテクタ８ａ，８ｂによって受光
している。
光学系では、光ディスク６からの２波長の反射光をダイ
クロイックミラー９によって分離し、それぞれ個別に設
けられているフォトディテクタ８ａ，８ｂによって受光
している。
【００１４】このため、図１に示した光ディスクプレー
ヤの光学系では、フィルタ２によって記録再生すべき光
ディスク６に対応しない波長の出射光をフィルタ２によ
ってカットしているため、カットされた出射光が完全に
無駄になってしまう。また、フィルタ２を通過した出射
光は、回折格子３によって３分割されるため、フォトデ
ィテクタ８によって検出すべき再生ＲＦ信号及びフォー
カス／トラッキングの各エラー信号の受光量が減少して
しまうという不具合があった。
ヤの光学系では、フィルタ２によって記録再生すべき光
ディスク６に対応しない波長の出射光をフィルタ２によ
ってカットしているため、カットされた出射光が完全に
無駄になってしまう。また、フィルタ２を通過した出射
光は、回折格子３によって３分割されるため、フォトデ
ィテクタ８によって検出すべき再生ＲＦ信号及びフォー
カス／トラッキングの各エラー信号の受光量が減少して
しまうという不具合があった。
【００１５】また、図２に示した光ディスクプレーヤの
光学系では、光ディスク６からの反射光をダイクロイッ
クミラー９によって波長毎に分離し、それぞれの反射光
をＲＦ検出用のフォトディテクタ８ａ及びエラー信号検
出用のフォトディテクタ８ｂに集光させる構成とされて
いるため、フォトディテクタ８ａとフォトディテクタ８
ｂとの位置調整を行う必要がある。この位置調整は、フ
ォトディテクタ８ａ及びフォトディテクタ８ｂを光学系
に組み込む際に極めて精度を要することから、組み込み
作業が煩雑なものとなっている。
光学系では、光ディスク６からの反射光をダイクロイッ
クミラー９によって波長毎に分離し、それぞれの反射光
をＲＦ検出用のフォトディテクタ８ａ及びエラー信号検
出用のフォトディテクタ８ｂに集光させる構成とされて
いるため、フォトディテクタ８ａとフォトディテクタ８
ｂとの位置調整を行う必要がある。この位置調整は、フ
ォトディテクタ８ａ及びフォトディテクタ８ｂを光学系
に組み込む際に極めて精度を要することから、組み込み
作業が煩雑なものとなっている。
【００１６】更には、フォトディテクタ８ａ，８ｂが２
個必要となるとともに、波長毎に反射光を分離するため
のダイクロイックミラー９が必要となるため、装置のコ
スト低減を図る上で妨げとなっている。
個必要となるとともに、波長毎に反射光を分離するため
のダイクロイックミラー９が必要となるため、装置のコ
スト低減を図る上で妨げとなっている。
【００１７】本発明は、このような事情に対処してなさ
れたもので、位相格子を配することによって光量損失を
阻止し、しかも装置の低コスト化を図ることができる光
ディスクプレーヤを提供することを目的とする。
れたもので、位相格子を配することによって光量損失を
阻止し、しかも装置の低コスト化を図ることができる光
ディスクプレーヤを提供することを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクプレ
ーヤは、上記目的を達成するために、波長がλ1 の第１
光及び波長がλ2 の第２光を出射する光源と、光ディス
クからの反射光を受光するフォトディテクタと、前記光
源とフォトディテクタとの間に介在され、前記波長がλ
1 ＜λ2 の関係にあるとき、前記第１光に対して与える
べき位相差を２ｍπ（ｍは整数）とする位相素子とを備
え、前記第２光の±１次光の強度演算によってトラッキ
ングエラー信号を検出するとともに、前記第１光の０次
光によって再生ＲＦ信号を得ることを特徴とする。
ーヤは、上記目的を達成するために、波長がλ1 の第１
光及び波長がλ2 の第２光を出射する光源と、光ディス
クからの反射光を受光するフォトディテクタと、前記光
源とフォトディテクタとの間に介在され、前記波長がλ
1 ＜λ2 の関係にあるとき、前記第１光に対して与える
べき位相差を２ｍπ（ｍは整数）とする位相素子とを備
え、前記第２光の±１次光の強度演算によってトラッキ
ングエラー信号を検出するとともに、前記第１光の０次
光によって再生ＲＦ信号を得ることを特徴とする。
【００１９】
【作用】本発明の光ディスクプレーヤでは、光源からの
出射される２波長の光のうち、一方は透過させ、他方は
回折させるために、光源とフォトディテクタとの間に位
相回折格子を介在させた。
出射される２波長の光のうち、一方は透過させ、他方は
回折させるために、光源とフォトディテクタとの間に位
相回折格子を介在させた。
【００２０】この位相回折格子は、波長がλ1 ＜λ2 の
関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差を２
ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキングエラ
ー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によ
って得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るよ
うにしている。
関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差を２
ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキングエラ
ー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によ
って得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るよ
うにしている。
【００２１】したがって、従来のように、光ディスクの
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源からの波長の
出射光をフィルタによってカットする必要がないため、
光量の損失を招くことがない。
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源からの波長の
出射光をフィルタによってカットする必要がないため、
光量の損失を招くことがない。
【００２２】また、光ディスクからの反射光を単一のフ
ォトディテクタによって受光する構成であるため、位置
調整を簡単に行えるので、フォトディテクタの組み込み
作業を簡素化させることができる。更には、フォトディ
テクタを単一とすることができ、しかも従来用いられて
いた比較的高価なダイクロイックミラーが不要となる。
ォトディテクタによって受光する構成であるため、位置
調整を簡単に行えるので、フォトディテクタの組み込み
作業を簡素化させることができる。更には、フォトディ
テクタを単一とすることができ、しかも従来用いられて
いた比較的高価なダイクロイックミラーが不要となる。
【００２３】
【実施例】以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づい
て説明する。なお、以下に説明する図において、図１及
び図２と共通する部分には同一符号を付し重複する説明
を省略する。
て説明する。なお、以下に説明する図において、図１及
び図２と共通する部分には同一符号を付し重複する説明
を省略する。
【００２４】図３は、本発明の光ディスクプレーヤの一
実施例に係る光学系を示すもので、光源１からは波長の
異なるレーザビームが出射される。光源１は後述するＳ
ＦＧ（Sum Frequecy Generation） が用いられており、
任意の２波長λ1 及びλ2 （λ1 ＜λ2 ）が出射され
る。光源１からの出射光は、コリーメータ１０を経た
後、位相回折格子１１によって短波長である波長λ1 に
対して位相差２ｍπ（ｍ：整数）が与えられる。
実施例に係る光学系を示すもので、光源１からは波長の
異なるレーザビームが出射される。光源１は後述するＳ
ＦＧ（Sum Frequecy Generation） が用いられており、
任意の２波長λ1 及びλ2 （λ1 ＜λ2 ）が出射され
る。光源１からの出射光は、コリーメータ１０を経た
後、位相回折格子１１によって短波長である波長λ1 に
対して位相差２ｍπ（ｍ：整数）が与えられる。
【００２５】位相回折格子１１を経た出射光は、ビーム
スプリッタ４を経て対物レンズ５により光ディスク６上
に集光される。
スプリッタ４を経て対物レンズ５により光ディスク６上
に集光される。
【００２６】光ディスク６からの反射光は、対物レンズ
５を経た後、ビームスプリッタ４によって結像レンズ１
２側に折り返される。結像レンズ１２を経た反射光は、
シリンドリカルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集
光される。
５を経た後、ビームスプリッタ４によって結像レンズ１
２側に折り返される。結像レンズ１２を経た反射光は、
シリンドリカルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集
光される。
【００２７】図４は、フォトディテクタ８の詳細とＲＦ
信号及びエラー信号を検出するための演算回路を示すも
のである。同図に示すように、フォトディテクタ８に
は、３つの検出面８Ａ，８Ｂ，８Ｃが設けられている。
トラッキングエラー信号の検出には、３ビーム法が用い
られている。検出面８Ａ，８Ｃの受光量の差がオペアン
プ１７の演算によって求められる。
信号及びエラー信号を検出するための演算回路を示すも
のである。同図に示すように、フォトディテクタ８に
は、３つの検出面８Ａ，８Ｂ，８Ｃが設けられている。
トラッキングエラー信号の検出には、３ビーム法が用い
られている。検出面８Ａ，８Ｃの受光量の差がオペアン
プ１７の演算によって求められる。
【００２８】フォーカスエラー信号の検出は、非点収差
法が用いられている。検出面８Ｂの４分割面の対角和を
オペアンプ１３，１５の演算によって求め、更にオペア
ンプ１３，１５の出力差をオペアンプ１４の演算によっ
て求めることにより、フォーカスエラー信号が得られ
る。
法が用いられている。検出面８Ｂの４分割面の対角和を
オペアンプ１３，１５の演算によって求め、更にオペア
ンプ１３，１５の出力差をオペアンプ１４の演算によっ
て求めることにより、フォーカスエラー信号が得られ
る。
【００２９】再生ＲＦ信号は、オペアンプ１３，１５の
演算出力をオペアンプ１６によって加算することにより
得られる。続いて、このような構成の光ディスクプレー
ヤの動作について説明する。
演算出力をオペアンプ１６によって加算することにより
得られる。続いて、このような構成の光ディスクプレー
ヤの動作について説明する。
【００３０】光源１からはＳＦＧにより異なる波長λ1
及びλ2 （λ1 ＜λ2 ）のレーザビームが出射される。
及びλ2 （λ1 ＜λ2 ）のレーザビームが出射される。
【００３１】ここで、ＳＦＧの機能は、非線形光学結晶
中でのパラメトリック相互作用を利用したものであり、
信号光を角周波数ω2 の強いレーザビームと混合するこ
とにより、信号の角周波数をω1 ＋ω2 ＝ω3 に変換す
ることができる。
中でのパラメトリック相互作用を利用したものであり、
信号光を角周波数ω2 の強いレーザビームと混合するこ
とにより、信号の角周波数をω1 ＋ω2 ＝ω3 に変換す
ることができる。
【００３２】光源１からの波長λ1 及びλ2 の出射光は
コリメータレンズ１０によって平行光にされた後、位相
回折格子１１に入射する。位相回折格子１１は、短波長
である波長λ1 に対して位相差２ｍπ（ｍ：整数）を与
える。
コリメータレンズ１０によって平行光にされた後、位相
回折格子１１に入射する。位相回折格子１１は、短波長
である波長λ1 に対して位相差２ｍπ（ｍ：整数）を与
える。
【００３３】位相回折格子１１を経た出射光は、この位
相回折格子１１を直進する０次光と所定の回折角度を有
した±１次光の３ビームに分割される。
相回折格子１１を直進する０次光と所定の回折角度を有
した±１次光の３ビームに分割される。
【００３４】位相回折格子１１を経た出射光は、ビーム
スプリッタ４を通過した後、対物レンズ５によって光デ
ィスク６に集光される。
スプリッタ４を通過した後、対物レンズ５によって光デ
ィスク６に集光される。
【００３５】光ディスク６からの反射光は、ビームスプ
リッタ４によって結像レンズ１２側に折り返される。結
像レンズ１２によって集光された反射光は、シリンドリ
カルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集光される。
リッタ４によって結像レンズ１２側に折り返される。結
像レンズ１２によって集光された反射光は、シリンドリ
カルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集光される。
【００３６】フォトディテクタ８における反射光の集光
状態は、図４で示したように、０次光が検出面８Ｂに集
光され、±１次光は検出面８Ａ，８Ｃに集光される。再
生ＲＦ信号は、上述したように、オペアンプ１３，１５
の演算出力をオペアンプ１６によって加算することによ
り得られる。
状態は、図４で示したように、０次光が検出面８Ｂに集
光され、±１次光は検出面８Ａ，８Ｃに集光される。再
生ＲＦ信号は、上述したように、オペアンプ１３，１５
の演算出力をオペアンプ１６によって加算することによ
り得られる。
【００３７】ところで、フォトディテクタ８にて波長λ
1 ，λ2 の０次光が重なってしまった場合には、波長λ
2 による悪影響の許容範囲を考慮する必要がある。
1 ，λ2 の０次光が重なってしまった場合には、波長λ
2 による悪影響の許容範囲を考慮する必要がある。
【００３８】図５において、それぞれの曲線は、ディス
クに記録された信号が波長λ1 用のものを、波長λ1 ，
λ2 の光で再生した信号を示すものである。波長λ1 で
は、信号を読み取ることができ、波長λ2 では信号を読
み取ることができない。この場合、フォトディテクタ８
上では、両信号の和の信号となる。
クに記録された信号が波長λ1 用のものを、波長λ1 ，
λ2 の光で再生した信号を示すものである。波長λ1 で
は、信号を読み取ることができ、波長λ2 では信号を読
み取ることができない。この場合、フォトディテクタ８
上では、両信号の和の信号となる。
【００３９】ここで、再生ＲＦ信号の劣化が許容範囲を
越える場合には、許容範囲内に収まるように第２光をカ
ットするような光学膜を検出面８Ｂに付けることによっ
て対処を簡単に行うことができる。
越える場合には、許容範囲内に収まるように第２光をカ
ットするような光学膜を検出面８Ｂに付けることによっ
て対処を簡単に行うことができる。
【００４０】トラッキングエラー信号の検出には、３ビ
ーム法が用いられている。検出面８Ａ，８Ｃの受光量の
差がオペアンプ１７の演算によって求められる。
ーム法が用いられている。検出面８Ａ，８Ｃの受光量の
差がオペアンプ１７の演算によって求められる。
【００４１】フォーカスエラー信号の検出は、非点収差
法が用いられている。検出面８Ｂの４分割面の対角和を
オペアンプ１３，１５の演算によって求め、更にオペア
ンプ１３，１５の出力差をオペアンプ１４の演算によっ
て求めることにより、フォーカスエラー信号が得られ
る。
法が用いられている。検出面８Ｂの４分割面の対角和を
オペアンプ１３，１５の演算によって求め、更にオペア
ンプ１３，１５の出力差をオペアンプ１４の演算によっ
て求めることにより、フォーカスエラー信号が得られ
る。
【００４２】続いて、光源１からの出射光がλとλ／２
の２波長の場合について説明する。図３における光学系
の構成において、光源１には第２高調波発生（ＳＨＧ）
が採用されている。
の２波長の場合について説明する。図３における光学系
の構成において、光源１には第２高調波発生（ＳＨＧ）
が採用されている。
【００４３】これにより、光源１からは波長λの基本波
（以下、光源光という）と波長λ／２の第２高調波（以
下、ＳＨ光という）の２つ波長の光が出射される。
（以下、光源光という）と波長λ／２の第２高調波（以
下、ＳＨ光という）の２つ波長の光が出射される。
【００４４】光源１からの出射光は、コリメータレンズ
１０によって平行光にされた後、位相回折格子１１に入
射する。ここで位相回折格子１１は、波長λの光源光に
対してπだけ位相をずらす。
１０によって平行光にされた後、位相回折格子１１に入
射する。ここで位相回折格子１１は、波長λの光源光に
対してπだけ位相をずらす。
【００４５】波長λ／２のＳＨ光に対しては、２πの位
相差、すなわちずらされる位相＝０と等価である。
相差、すなわちずらされる位相＝０と等価である。
【００４６】ＳＨ光は位相回折格子１１をそのまま透過
する。光源光は、位相回折格子１１から射出されるＳＨ
光に対して対象な角度を有する２つの光束として射出さ
れる。位相回折格子１１を経た出射光は、ビームスプリ
ッタ４を通過した後、対物レンズ５によって光ディスク
６に集光される。
する。光源光は、位相回折格子１１から射出されるＳＨ
光に対して対象な角度を有する２つの光束として射出さ
れる。位相回折格子１１を経た出射光は、ビームスプリ
ッタ４を通過した後、対物レンズ５によって光ディスク
６に集光される。
【００４７】光ディスク６からの反射光は、ビームスプ
リッタ４によって結像レンズ１２側に折り返される。結
像レンズ１２によって集光された反射光は、シリンドリ
カルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集光される。
リッタ４によって結像レンズ１２側に折り返される。結
像レンズ１２によって集光された反射光は、シリンドリ
カルレンズ７を経てフォトディテクタ８に集光される。
【００４８】フォトディテクタ８における反射光の集光
状態は、図４で示したように、波長λ／２のＳＨ光は中
央の検出面８Ｂに集光される。波長λの光源光は検出面
８Ａ，８Ｃに集光される。
状態は、図４で示したように、波長λ／２のＳＨ光は中
央の検出面８Ｂに集光される。波長λの光源光は検出面
８Ａ，８Ｃに集光される。
【００４９】トラッキングエラー信号及びフォーカスエ
ラー信号の検出方法は、上述したように、３ビーム法及
び非点収差法が用いられる。
ラー信号の検出方法は、上述したように、３ビーム法及
び非点収差法が用いられる。
【００５０】このように、本実施例では、光源１からの
出射される２波長の位相差を零とするために、光源１と
フォトディテクタ８との間に位相回折格子１１を介在さ
せた。
出射される２波長の位相差を零とするために、光源１と
フォトディテクタ８との間に位相回折格子１１を介在さ
せた。
【００５１】この位相回折格子１１は、波長がλ1 ＜λ
2 の関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差
を２ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキング
エラー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差
によって得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得
るようにしている。
2 の関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差
を２ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキング
エラー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差
によって得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得
るようにしている。
【００５２】したがって、従来のように、光ディスクの
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源１からの波長
の出射光をフィルタ２によってカットする必要がないた
め、光量の損失を招くことがない。
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源１からの波長
の出射光をフィルタ２によってカットする必要がないた
め、光量の損失を招くことがない。
【００５３】また、光ディスクからの反射光を単一のフ
ォトディテクタ８によって受光する構成であるため、位
置調整を簡単に行えるので、フォトディテクタ８の組み
込み作業を簡素化させることができる。
ォトディテクタ８によって受光する構成であるため、位
置調整を簡単に行えるので、フォトディテクタ８の組み
込み作業を簡素化させることができる。
【００５４】更には、フォトディテクタ８を単一とする
ことができ、しかも従来用いられていた比較的高価なダ
イクロイックミラー９が不要となる。
ことができ、しかも従来用いられていた比較的高価なダ
イクロイックミラー９が不要となる。
【００５５】なお、本実施例では、光源１から出射され
る２波長の光のうち、一方は透過させ、他方は回折させ
るために位相回折格子１１を用いた場合について説明し
たが、この例に限らず２ｍπの位相差を与える物体であ
れば格子構造を持たないものを適用してもよい。
る２波長の光のうち、一方は透過させ、他方は回折させ
るために位相回折格子１１を用いた場合について説明し
たが、この例に限らず２ｍπの位相差を与える物体であ
れば格子構造を持たないものを適用してもよい。
【００５６】また、本実施例では、フォトディテクタ８
の検出面８Ａ，８Ｃに集光される反射光の強度を等しい
ものとして説明したが、この例に限らず検出面８Ａ，８
Ｃに集光される反射光の強度が異なる場合には、トラッ
キングエラーを得るための演算時に、どちらか一方の信
号に係数をかけることにより、反射光の強度が等価的に
等しくされる。
の検出面８Ａ，８Ｃに集光される反射光の強度を等しい
ものとして説明したが、この例に限らず検出面８Ａ，８
Ｃに集光される反射光の強度が異なる場合には、トラッ
キングエラーを得るための演算時に、どちらか一方の信
号に係数をかけることにより、反射光の強度が等価的に
等しくされる。
【００５７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ディス
クプレーヤでは、光源からから出射される２波長の光の
うち、一方は透過させ、他方は回折させることにより、
光源とフォトディテクタとの間に位相回折格子を介在さ
せた。
クプレーヤでは、光源からから出射される２波長の光の
うち、一方は透過させ、他方は回折させることにより、
光源とフォトディテクタとの間に位相回折格子を介在さ
せた。
【００５８】この位相回折格子は、波長がλ1 ＜λ2 の
関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差を２
ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキングエラ
ー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によ
って得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るよ
うにしている。
関係にあるとき、波長λ1 の第１光に対して位相差を２
ｍπ（ｍは整数）としている。また、トラッキングエラ
ー信号の検出は、波長λ2 の第２光の±１次光の差によ
って得、第１光の０次光によって再生ＲＦ信号を得るよ
うにしている。
【００５９】したがって、従来のように、光ディスクの
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源からの波長の
出射光をフィルタによってカットする必要がないため、
光量の損失を招くことがない。
信号の記録密度に合わせ、対応しない光源からの波長の
出射光をフィルタによってカットする必要がないため、
光量の損失を招くことがない。
【００６０】また、光ディスクからの反射光を単一のフ
ォトディテクタによって受光する構成であるため、位置
調整を簡単に行えるので、フォトディテクタの組み込み
作業を簡素化させることができる。
ォトディテクタによって受光する構成であるため、位置
調整を簡単に行えるので、フォトディテクタの組み込み
作業を簡素化させることができる。
【００６１】更には、フォトディテクタを単一とするこ
とができ、しかも従来用いられていた比較的高価なダイ
クロイックミラーが不要となるので、装置の低コスト化
を図ることができる。
とができ、しかも従来用いられていた比較的高価なダイ
クロイックミラーが不要となるので、装置の低コスト化
を図ることができる。
【図１】従来の高密度の記録再生が可能な光ディスクプ
レーヤの光学系の一例を示す図である。
レーヤの光学系の一例を示す図である。
【図２】従来の高密度の記録再生が可能な光ディスクプ
レーヤの光学系の他の例を示す図である。
レーヤの光学系の他の例を示す図である。
【図３】本発明のディスクプレーヤの一実施例に係る光
学系の構成を示す図である。
学系の構成を示す図である。
【図４】図３のフォトディテクタ及び各種信号を検出す
るための演算回路を示す図である。
るための演算回路を示す図である。
【図５】図３のフォトディテクタに異なる波長の反射光
が集光した場合を説明するための図である。
が集光した場合を説明するための図である。
１ 光源 ４ ビームスプリッタ ５ 対物レンズ ６ 光ディスク ７ シリンドリカルレンズ ８ フォトディテクタ １０ コリメータレンズ １１ 位相回折格子 １２ 結像レンズ
Claims (1)
- 【請求項１】 波長がλ1 の第１光及び波長がλ2 の第
２光を出射する光源と、 光ディスクからの反射光を受光するフォトディテクタ
と、 前記光源とフォトディテクタとの間に介在され、前記波
長がλ1 ＜λ2 の関係にあるとき、前記第１光に対して
与えるべき位相差を２ｍπ（ｍは整数）とする位相素子
とを備え、 前記第２光の±１次光の強度演算によってトラッキング
エラー信号を検出するとともに、前記第１光の０次光に
よって再生ＲＦ信号を得ることを特徴とする光ディスク
プレーヤ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04175061A JP3089103B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 光ディスクプレーヤ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04175061A JP3089103B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 光ディスクプレーヤ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05342612A true JPH05342612A (ja) | 1993-12-24 |
| JP3089103B2 JP3089103B2 (ja) | 2000-09-18 |
Family
ID=15989549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04175061A Expired - Fee Related JP3089103B2 (ja) | 1992-06-10 | 1992-06-10 | 光ディスクプレーヤ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3089103B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0860819A3 (en) * | 1997-02-24 | 1999-01-07 | Hoetron, Inc. | Optical pickup using two semiconductor lasers with different wavelengths |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2526376B1 (en) | 2010-01-20 | 2018-04-25 | JRB Engineering Pty Ltd | Optical overhead wire measurement |
-
1992
- 1992-06-10 JP JP04175061A patent/JP3089103B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0860819A3 (en) * | 1997-02-24 | 1999-01-07 | Hoetron, Inc. | Optical pickup using two semiconductor lasers with different wavelengths |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3089103B2 (ja) | 2000-09-18 |
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Legal Events
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