JPH0533971Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0533971Y2
JPH0533971Y2 JP18910887U JP18910887U JPH0533971Y2 JP H0533971 Y2 JPH0533971 Y2 JP H0533971Y2 JP 18910887 U JP18910887 U JP 18910887U JP 18910887 U JP18910887 U JP 18910887U JP H0533971 Y2 JPH0533971 Y2 JP H0533971Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
lead terminal
tip
lead terminals
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP18910887U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0193570U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP18910887U priority Critical patent/JPH0533971Y2/ja
Publication of JPH0193570U publication Critical patent/JPH0193570U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0533971Y2 publication Critical patent/JPH0533971Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔概要〕 プリント基板に実装された半導体素子のリード
端子を測定すべき測定器に接続させるプローブに
関し、 接触片が所定のリード端子に確実に接続される
ようにすることを目的とし、 先端部をリード端子の隣接間に挿入し、棒状の
外周の把手部を回動させることで該リード端子の
それぞれに圧接される2組の接触片が絶縁部材を
介在することで対向させて配設するように構成す
る。
〔産業上の利用分野〕
本考案はプリント基板に実装された半導体素子
のリード端子を測定すべき測定器に接続させるプ
ローブに関する。
プリント基板に実装された半導体素子より所定
の電気信号を取り出し、その取り出した電気信号
をオシログラフなどの測定器によつて測定を行う
場合は、通常、プローブが用いられ、プローブを
半導体素子のリード端子に接続し、プローブに設
けられたコードを介して測定器に電気信号の入力
が行われる。
そこで、このようなプローブがリード端子に接
続され、測定器による測定を行つている場合は、
途中で、接続が中断されること、実際の測定デー
タが得られなくなるため、このようなプローブと
リード端子との接続は、特に、長時間に渡つて測
定を行う場合は、プローブとリード端子との接続
が確実に確実に行われることが重要となる。
〔従来の技術〕
従来は第4図の従来の説明図に示すように構成
されていた。第4図のaは側面図、bは斜視図で
ある。
第4図のaに示すように、部材11の先端部1
1Aには伸縮自在な接触片12が係止され、接触
片12は常時は実線で示すように位置し、必要に
応じて、点線で示すように伸ばすことができるよ
うに形成されている。
また、この接触片12にはコード13が接続さ
れ、コード13が部材11の後端部11Bより引
き出されることでプローブ10が構成されてい
た。
そこで、プリント基板1に実装された半導体素
子2の所定のリード端子3における電気信号の測
定を行いたい場合は、bに示すように、プローブ
10の接触片12をリード端子3に引つ掛け、コ
ード13を介して測定器5に接続し、リード端子
3より出力された電気信号を測定器5に入力さ
せ、電気信号の測定が行われていた。
また、このようなコードは、同軸ケーブルが用
いられ、シールドを施すことで、取り出した電気
信号に他の信号のよるノイズなどの影響を受ける
ことがないように形成されている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
このような構成では、第4図のbに示すよう
に、特に、リード端子の間隔Pが狭い場合は、プ
ローブ10に外力が加わることで接触片12が隣
接したリード端子3に接触する場合が生じる。
したがつて、測定すべき所定リード端子3と隣
接したリード端子3との両者の電気信号を取り込
むことになり、実際の電気信号が測定器5に入力
されなくなる問題を有していた。
そこで、本考案では、接触片が所定のリード端
子に確実に接続されるようにすることを目的とす
る。
〔問題点を解決するための手段〕
第1図は本考案の原理説明図である。
第1図に示すように、先端部をリード端子の隣
接間に挿入し、棒状の外周の把手部を回動させる
ことで該リード端子のそれぞれに圧接される2組
の接触片が絶縁部材を介在することで対向させて
配設するように構成する。
このように構成することによつて前述の問題点
は解決される。
〔作用〕
即ち、プリント基板に実装されたリード端子の
隣接間に挿入される先端部には2組の接触片をも
うけることで、回動させることにより2組の接触
片が隣接したリード端子のそれぞれに接触させる
ように形成したものである。
したがつて、従来のような接触片が所定の測定
すべきリード端子以外の他のリード端子に接触さ
れることを防ぐことができ、測定すべき電気信号
を測定器5に入力させることを確実に行うことが
できる。
〔実施例〕
以下本考案を第2図および第3図を参考に詳細
に説明する。第2図は本考案による一実施例の説
明図で、aは斜視図、bは側面図、c1,c2は
断面図、第3図は本考案の他の実施例のaは側面
図、b1,b2は断面図である。全図を通じて、
同一符号は同一対象物を示す。
第2図のaに示すように、プリント基板1に実
装された半導体素子2のリード端子3の端子間P
に棒状の部材4の先端部4Aを挿入し、部材4を
廻すことで先端部4Aに備えられた2組の接触片
6A、6Bがリード端子3に圧接され、コード1
3を介してリード端子3より出力された電気信号
が測定器5によつて測定されるように構成したも
のである。
このような構成はbに示すように、絶縁材によ
つて形成された棒状の部材4の先端部4Aには絶
縁部材7Aを介在することで接触片6Aと6Bと
が対向するように設けられ、接触片6Aと6Bと
は後端部4Cより引き出されるコード13の芯線
13A,13Bに接続されるように形成されたも
のである。
また、先端部4Aの接触片6A,6Bはc1に
示すように、堕円形に形成され、リード端子3に
接続する場合は、先づ、突出されたリード端子3
間の間隔Pに堕円形の小径部D1を挿入し、部材
4の把手部4Bを手によつて回動させ、矢印のよ
うに先端部を90°回転させる。
この回転によつて、リード端子3間の間隔Pに
堕円形の大径部D2が間隔Pの向きになること
で、それぞれの接触片6A,6Bがリード端子3
に接触される。
この場合、堕円形の大径部D2の長さが間隔P
より多少大きく形成することで、回転によりリー
ド端子3の間隔Pを拡げるような力が加わり、リ
ード端子3の弾性力によつて接触部が圧接される
ようにすることができる。
また、取り外す場合は矢印と逆方向に廻し、堕
円形の小径部D1を間隔Pの向きにさせることで
容易に脱抜を行うことができる。
このような先端部4Aは第3図に示すように矩
形状にすることでもでも良い。
この場合は、aに示すように、部材4の先端部
4Aには絶縁部材7Bを介在することで対向され
る接触片6Cと6Dにはb1に示すようにフラツ
ト面が設けられ、梯形状に形成したものである。
そこで、リード端子3に接続する場合は、先
づ、梯形状の幅の狭いB1を間隔Pに挿入し、前
述のように廻すことでb2に示すように、幅の広
いB2が間隔Pの向きになることでリード端子3
に接触片6Cと6Dとがそれぞれ接触されるよう
にしたものである。
この場合は、梯形状の対角長が長いため、廻す
時、リード端子3間に大きな力が加わり、リード
端子3を変形させることになるため、絶縁部材7
Bにはスリツト8を形成し、スリツト8によつて
その対角長を収縮し、吸収させる。
したがつて、b1に示す矢印のように廻すこと
でb2に示すように、梯形状の幅の広いB2を間
隔Pの向きにし、接触片6Cと6Dのそれぞれを
リード端子3に接触させることが行われる。
この場合は、接触片6Cと6Dのそれぞれにフ
ラツト面が形成されているため、リード端子3と
の接触面が広くなり、前述よりも安定した良好な
接触が得られる。
〔考案の効果〕
以上説明したように、本考案によれば、リード
端子間に先端を挿入し、廻すことでリード端子か
らの電気信号を測定器に接続させることができ
る。
したがつて、従来のように一つの接触片が測定
すべきリード端子と隣接されたリード端子とに接
続され、両者の信号が混在されることが防げ、ま
た、測定が長時間に渡つて行われても、接触片の
接触不良による中断されるようなことも防げ、安
定した測定を行うことができ、実用的効果は大で
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の原理説明図、第2図は本考案
による一実施例の説明図で、aは斜視図、bは側
面図、c1,c2は断面図、第3図は本考案の他
の実施例のaは側面図、b1,b2は断面図、第
4図は従来の説明図で、aは側面図、bは斜視図
を示す。 図において、1はプリント基板、2は半導体素
子、3はリード端子、4は部材、5は測定器、6
は接触片、4Aは先端部、4Bは把手部を示す。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 棒状に形成される部材4の先端部4Aの接触片
    6をプリント基板1に実装される半導体素子2の
    所定のリード端子3に接触させ、必要に応じて、
    該リード端子3から所定の電気信号を測定器5に
    入力させるプローブであつて、 前記先端部4Aを前記リード端子3の隣接間に
    挿入し、前記部材4の外周の把手部4Bを回動さ
    せることで前記該リード端子3のそれぞれに圧接
    される2組の接触片6が絶縁部材7を介在するこ
    とで対向させるように配設されて成ることを特徴
    とするプローブ。
JP18910887U 1987-12-10 1987-12-10 Expired - Lifetime JPH0533971Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18910887U JPH0533971Y2 (ja) 1987-12-10 1987-12-10

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18910887U JPH0533971Y2 (ja) 1987-12-10 1987-12-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0193570U JPH0193570U (ja) 1989-06-20
JPH0533971Y2 true JPH0533971Y2 (ja) 1993-08-27

Family

ID=31480163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP18910887U Expired - Lifetime JPH0533971Y2 (ja) 1987-12-10 1987-12-10

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0533971Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0193570U (ja) 1989-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0533971Y2 (ja)
JP3093308U (ja) カードコネクタ構造
JPH0542623Y2 (ja)
JPS6011077U (ja) 探針装置
JPS6242378Y2 (ja)
JPS59170968U (ja) プロ−プアダプタ
JPH04106484A (ja) 高周波特性測定用ソケット
JPS6333513Y2 (ja)
JPS6011076U (ja) 探針装置
JPH03117769U (ja)
JPH03112940U (ja)
JPS5828360Y2 (ja) Icクリツプ
JPS61256751A (ja) 測定端子付icソケツト
JPS59134070U (ja) プリント基板検査用コンタクトプロ−ブピン
JPS60139276U (ja) プロ−ブカ−ド
JPH06249877A (ja) プローブの接続構造
JPS6267481U (ja)
JPH03270248A (ja) Icパッケージの特性評価治具
JPH01298665A (ja) 補助端子付きピン・グリット・アレイソケット
JPH0195672U (ja)
JPS58178292U (ja) 高周波用クリツプ端子
JPS6218676U (ja)
JPS6231974A (ja) Ic用ソケツト
JPS60161865U (ja) 回路測定ブロ−ブ
JPS62242874A (ja) 電子回路のチエツク方法