JPH05336512A

JPH05336512A - 動き検出装置

Info

Publication number: JPH05336512A
Application number: JP14247092A
Authority: JP
Inventors: Yukio Kurano; 幸生倉野; Seidon Yamada; 正鈍山田; Shoichi Nishino; 正一西野
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-06-03
Filing date: 1992-06-03
Publication date: 1993-12-17

Abstract

(57)【要約】【目的】従来よりも少ない計算回数、小さい装置規模
で、検出精度を保持しながら動き検出法を得る。【構成】処理画面を複数個のブロックに分割する分割
手段３１と、分割手段３１により分割されたブロックの
うち動きベクトルを検出しようとする処理ブロックの位
置に対応している参照画面内の位置から所定の検出範囲
を設定し、前記検出範囲内を複数の探索位置間隔を段階
的に定めて探索し、各段階に応じて検出範囲内より処理
ブロックとのパターンマッチングを行なうための参照ブ
ロックを取り出す参照ブロック取り出し手段３８と、探
索位置間隔に応じて参照ブロック、および処理ブロック
を構成する全ての画素、あるいは一部の画素を取り出す
画素取り出し手段４０と、画素取り出し手段４０によっ
て取り出された画素を用いて参照ブロック、および処理
ブロックのパターンマッチングを行なうパターンマッチ
ング手段４４と、パターンマッチング手段４４の結果よ
り各段階における動きベクトルを決定する手段４５を有
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は映像信号の高能率符号化
などに用いられる動き検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】動き検出は画像処理、フレーム間差分を
用いた高能率符号化などに用いられる技術である。動き
検出の一手法としてブロックマッチング法と呼ばれるも
のが従来より知られている。この概念図を図１に示す。
これは処理を行おうとしている処理画面を小ブロックに
分割し、各ブロックにおける動きを、参照に用いる参照
画面中の同位置にあるブロックから一定間隔で位置をず
らしていきながら処理画面のブロックとの予測誤差を順
次計算、比較していき、最も予測誤差の小さくなる位置
をそのブロックに対する動き補正位置とし、処理画面の
ブロックの位置と、そのブロックに対する動き補正位置
との差をそのブロックにおける動きベクトルとする。予
測誤差を求めるブロックの探索方法には代表的なものと
して、３ステップ法などの木探索法がある。図２に従来
の３ステップ法の概念図を示す。

【０００３】図３に従来の３ステップ法を用いた動き検
出装置の構成図を示す。１はブロック分割器、２は参照
画面蓄積器、３は処理ブロック取り出し器、４は処理ブ
ロック位置設定器、５は探索範囲設定器、６は探索ステ
ップ設定器、７はブロック探索器、８は参照ブロック取
り出し器、９はブロックマッチング器、１０は動きベク
トル検出器である。

【０００４】図２において処理画面中より処理ブロック
位置設定器４で設定した位置の処理ブロックＸを処理ブ
ロック取り出し器３を用いて取り出し、そのブロック位
置と、同位置にある参照画面中の探索範囲設定器５で設
定された領域内の位置Ｅ１を基準位置としてブロック探
索器７を用いて設定し、Ｅ１にあるブロックを参照ブロ
ック取り出し器８を用いて取り出し、探索第１ステップ
の基準参照ブロックとする。

【０００５】第１ステップとして基準位置にできる基準
参照ブロックＥ１と処理ブロックＸとのブロックマッチ
ングをブロックマッチング器９を用いて取り、そこで得
られた予測誤差を動きベクトル検出器１０に格納する。
ブロック探索器７に設定した基準位置からの参照ブロッ
クの動きベクトル量もまた同じく動きベクトル検出器１
０に格納する。その後、探索範囲設定器５で設定された
探索領域内を探索ステップ設定器６により設定された探
索画素間隔分である、縦ｖ１画素、横ｈ１画素の一定間
隔で第１ステップの基準参照ブロックＥ１よりブロック
位置をずらしていきながら新たな参照ブロックを参照ブ
ロック取り出し器８より取り出し、処理ブロックとのマ
ッチングを取り、順次予測誤差を計算し、最小予測誤差
値、および最小予測誤差値を取る場合の参照ブロックの
動きベクトル量を動きベクトル検出器１０の値として更
新していく。そして最も予測誤差の小さくなる参照ブロ
ック位置を、Ａ１からＪ１の内より第１ステップの最適
ブロック位置として選びだし、この最適ブロック位置を
処理ブロックに対する動き補正位置とする。また基準位
置より最適ブロック位置までの動きベクトル量を処理ブ
ロックにおける第１ステップでの動きベクトルとする。

【０００６】次に上記で求めた補正位置を新たな基準位
置として、ブロック探索器７を用いて設定する。ここで
選ばれたブロック位置をＢ１とすると、探索ステップ設
定器６で設定された第２ステップの新たな基準位置とし
てＢ１を設定する。ここで改めてＢ１をＥ２と定める。
Ｅ２を第２ステップの基準位置とし、そこから縦ｖ２画
素、横ｈ２画素離れた位置にできるブロック中で最適な
ブロックをＡ２からＪ２の内より選び出し、前記同様動
きベクトル検出器１０により第２ステップの動きベクト
ルを検出する。ここで選ばれたブロック位置をＣ２とす
る。

【０００７】最後に前記同様探索ステップ設定器３で設
定された第３ステップとして改めてＣ２をＥ３とする。
Ｅ３を第３ステップの基準位置とし、そこから縦ｖ３，
横ｈ３離れた位置にできるブロック中で最適なブロック
をＡ３からＪ３の内より選び出し、前記同様動きベクト
ル検出器１０により動きベクトルを検出する。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来の方
法では、検索範囲を広げると計算回数及び時間、ハード
ウェア規模が大きくなる問題点があった。また動き検出
ブロックの大きさを大きくすると計算回数及び時間、ハ
ードウェア規模が大きくなり、検出精度をあげることが
困難となる問題点があった。本発明はかかる点に鑑み、
従来に比べ計算回数を抑えることを可能とする動き検出
方法を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明の動き検出装置は、処理画面を複数個のブロ
ックに分担する分割手段と、前記分割手段により分割さ
れたブロックのうち動きベクトルを検出使用とする処理
ブロックの位置に対応している参照画面内の位置から、
所定の検出範囲を設定し、前記検出範囲内を、複数の探
索位置間隔を段階的に定めて探索し、前記各段階に応じ
て前記検出範囲内より前記処理ブロックとのパターンマ
ッチングを行うための参照ブロックを取り出す参照ブロ
ック取り出し手段と、前記探索位置間隔に応じて前記参
照ブロック、および前記処理ブロックを構成する全ての
画素、あるいは一部の画素を取り出す画素取り出し手段
と、前記画素取り出し手段によって取り出された画素を
用いて前記参照ブロック、および前記処理ブロックのパ
ターンマッチングを行うパターンマッチング手段と、前
記パターンマッチング手段の結果より前記各段階におけ
る動きベクトルを決定する手段を構成要件としている。

【００１０】

【作用】本発明によれば動きベクトル探索に用いる画素
の配置を行うことにより、より少ない計算回数、小さい
装置規模で検出精度を保持しながら動き検出法を得るこ
とができる。

【００１１】

【実施例】図４は本発明の第１の実施例を説明するため
の動き検出装置の構成図である。

【００１２】図において３１はブロック分割器、３２は
参照画面蓄積器、３３は処理ブロック取り出し器、３４
は処理ブロック位置設定器、３５は探索範囲設定器、３
６は探索ステップ設定器、３７はブロック探索器、３８
は参照ブロック取り出し器、３９，４０は画素取り出し
器、４１，４２はフィルタ、４３は画素配置器、４４は
ブロックマッチング器、４５は動きベクトル検出器であ
る。参照ブロック、および処理ブロックを縦１６画素、
横１６画素、計２５６画素（１６×１６画素）で構成
し、また探索ステップが３である場合を示す。また参照
画面内の探索範囲を縦、横±７画素とし、ステップ１，
２、および３の場合の参照画面内の探索範囲をそれぞれ
縦、横±４，±２、および±１画素とする。なお３つの
ステップの参照画面内の探索間隔をそれぞれ記号（ｖ
１，ｈ１）（ｖ２，ｈ２）（ｖ３，ｈ３）で示す。入力
した処理画面をブロック分割器３１により分割し、その
中で処理ブロック位置設定器３４によって設定された位
置のブロックを処理ブロック取り出し器３３から取り出
す。また参照画面を参照画面蓄積器３２により蓄積す
る。蓄積された参照画面内から、処理ブロック位置設定
器３４で設定された位置を探索範囲設定器３５に設定
し、その位置より探索範囲を設定する。そして探索範囲
設定器３５に設定された位置を基準位置として設定され
た範囲より、処理ブロックと同位置にある参照画面内の
位置を基準位置としてブロック探索器３７を用いて設定
する。そして設定された位置のブロックを参照ブロック
とする。

【００１３】探索ステップ設定器３６で探索ステップを
第１ステップに初期化し、かつ、探索ステップ設定器３
６より第１ステップでの探索画素間隔であるｖ１，ｈ１
およびブロック内の画素配置位置を設定する。取り出さ
れた第１ステップ１での画素間隔で、探索範囲設定器３
５で設定した探索範囲をブロック探索器３７により探索
し、その範囲内の参照ブロックを参照ブロック取り出し
器３８より取り出す。処理ブロック取り出し器３３より
取り出された処理ブロック、および参照ブロック取り出
し器３８より取り出された参照ブロックの双方のブロッ
クを構成する画素に低域通過フィルタをフィルタ４１，
４２を用いて掛け、フィルタの掛かった画素の内、探索
ステップ設定器３６で設定された画素を画素配置器４３
により配置する。配置された参照ブロックおよび処理ブ
ロック双方の画素を画素取り出し器３９，４０を用いて
取り出し、ブロックマッチング器４４を用いてマッチン
グを行う。図５には参照ブロック，処理ブロックなどの
ブロックを構成する画素Ｐｘ、および画素取り出し器３
９から取り出された各ステップごとの画素Ｐ１，Ｐ２，
Ｐ３を示す。図５内で白丸で示したものが画素取り出し
器５９から取り出された画素である。なおここでは各ス
テップごとに取り出された画素数をそれぞれ３２，６
３，１２８とした。

【００１４】マッチングにより得られた参照ブロック、
処理ブロック間の予測誤差を動きベクトル検出器４５に
格納する。探索範囲設定器３５に設定した基準位置から
の参照ブロックの動きベクトル量も同じく動きベクトル
検出器４５に格納する。

【００１５】その後、探索範囲設定器３５で設定された
探索領域内を探索ステップ設定器３６により設定された
探索画素間隔分の一定間隔でずらしていきながら新たな
参照ブロックを参照ブロック取り出し器３８を用いて取
り出し、双方のブロックを構成する画素に低域通過フィ
ルタをフィルタ４１，４２を用いて掛け、フィルタの掛
かった画素の内、探索ステップ設定器３６で設定された
画素を画素配置器４３により配置する。配置された参照
ブロックおよび処理ブロック双方の画素を画素取り出し
器３９，４０を用いて取り出し、ブロックマッチング器
４４を用いてマッチングを行う。マッチングによって得
られた予測誤差を順次計算し、最低予測誤差値、および
最低予測誤差値を取る場合の動きベクトル量を動きベク
トル検出器４５の値として更新していく。そして最も予
測誤差の小さくなる参照ブロックの位置を最適ブロック
位置とし、この最適ブロック位置を処理ブロックに対す
る動き補正位置とする。また基準位置より最適マクロブ
ロック位置までの動きベクトル量を処理ブロックにおけ
る第１ステップでの動きベクトルとする。

【００１６】次に上記求めた補正位置を新たな基準位置
としてブロック探索器３７に設定する。そして探索画素
間隔、処理ブロック、および参照ブロック内の画素配置
位置を探索ステップ設定器３６より新たに第２ステップ
とし設定し、上記第１ステップの場合と同様に処理ブロ
ックにおける第２ステップでの動きベクトルを求める。

【００１７】また同様に第２ステップで求めた補正位置
を次の第３ステップの基準位置とし第３ステップでの動
きベクトルを求める。

【００１８】なお、以上の第１の実施例において、探索
ステップ回数を３回としたが、探索ステップ回数は任意
である。また、参照画面内の探索範囲を縦、横±７画
素、および探索間隔を各ステップごとにそれぞれ縦、横
±４，±２，±１画素としたが、探索範囲および探索間
隔は任意である。また、画素配置器４３で配置される画
素数の配置位置を図５に示したが、画素の配置位置は任
意である。

【００１９】なお、以上の第１の実施例において、参照
ブロック取り出し器３８、および処理ブロック取り出し
器３３より取り出されたブロックの大きさをＶ０×Ｈ
０、また画素取り出し器５９，６０から取り出された各
ステップごとの画素数をＶ１×Ｈ１，Ｖ２×Ｈ２，Ｖ３
×Ｈ３とした場合、Ｖ０，Ｈ０，Ｖ１，Ｈ１，Ｖ２，Ｈ
２，Ｖ３，Ｈ３は任意である。但し、Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３
はＶ０以下、またＨ１，Ｈ２，Ｈ３はＨ０以下でなけれ
ばならない。また、予測誤差を得る際に行う計算方法と
して、例えば画素取り出し器５９，６０から取り出され
た双方の御そのそれぞれの差の絶対値和を求める方法な
どがあるが、予測誤差を得る際に行う計算方法は任意で
ある。

【００２０】図６は本発明の第２の実施例を説明するた
めの動き検出装置の構成図である。図において５１はブ
ロック分割器、５２は参照画像蓄積器、５３は処理ブロ
ック取り出し器、５４は処理ブロック位置設定器、５５
は探索範囲設定器、５６は探索ステップ設定器、５７は
探索器、５８は参照基準位置設定器、５９，６０は画素
取り出し器、６１，６２はフィルタ、６３は画素配置
器、６４はマッチング器、６５は動きベクトル検出器で
ある。処理ブロックを縦１６画素、横１６画素、計２５
６画素（１６×１６画素）で構成し、また探索ステップ
が３である場合を示す。また参照画面内の探索範囲を
縦、横±７画素とし、ステップ１，２、および３の場合
の参照画面内の探索範囲をそれぞれ縦、横±４，±２，
および±１画素とする。なお３つのステップの参照画面
内の探索間隔をそれぞれ記号（ｖ１，ｈ１）（ｖ２，ｈ
２）（ｖ３，ｈ３）で示す。

【００２１】入力した処理画面をブロック分割器５１に
より分割し、その中で処理ブロック位置設定器５４によ
って設定された位置のブロックを処理ブロック取り出し
器５３から取り出す。また参照画面を参照画面蓄積器５
２により蓄積する。蓄積された参照画面内より、処理ブ
ロック位置設定器５４で設定された位置より探索範囲設
定器５５を用いて探索範囲を設定する。また、処理ブロ
ック位置設定器５４で設定された位置を、第１ステップ
基準位置として、参照基準位置設定器５８に設定する。

【００２２】探索ステップ設定機５６で探索ステップを
第１ステップに初期化し、かつ、探索ステップ設定器５
６より第１ステップでの探索画素間隔であるｖ１，ｈ
１、およびブロック内の画素配置位置を設定する。取り
出された第１ステップ１での画素間隔で、探索範囲設定
器５５での設定した探索範囲を探索器５７により探索
し、その範囲内の参照位置を参照基準位置設定器５８に
より設定する。

【００２３】処理ブロックの取り出し器５３より取り出
された処理ブロックを構成する画素に低域通過フィルタ
をフィルタ６１を用いて掛け、フィルタの掛かった画素
の内、探索ステップ設定器５６で設定された画素を画素
配置器６３により配置する。配置された処理ブロック中
の画素を画素取り出し器５９を用いて取り出す。また前
記参照基準位置設定器５８で設定された参照位置より、
探索ステップ設定器５６で設定された画素を画素配置器
６３により配置し、配置された画素を画素取り出し器６
０を用いて取り出すが、取り出す際に、取り出す画素の
近傍画素に低域通過フィルタをフィルタ６２を用いて掛
けた後に取り出す。

【００２４】画素取り出し器５９，６０を用いて取り出
した参照画面内の画素、および処理ブロック中の画素の
マッチングを、マッチング器６４を用いて行う。図５に
は処理ブロックのブロックを構成する画素Ｐｘ、および
画素取り出し器５９から取り出された各ステップごとの
画素Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３を示す。図５内で白丸で示したも
のが画素取り出し器５９から取り出された画素である。
なおここでは各ステップごとに取り出される画素数をそ
れぞれ３２，６４，１２８とした。マッチングにより得
られた予測誤差を動きベクトル検出器６５に格納する。
参照基準位置設定器５８に設定した第１ステップ基準位
置から、同じく参照基準位置設定器５８で設定された参
照位置までの動きベクトル量もまた同じく動きベクトル
検出器６５に格納する。その後、探索範囲設定器５５で
設定された探索領域内を探索ステップ設定器５６により
設定された探索画素間隔分の一定時間でずらしていきな
がら新たな参照位置を参照基準位置設定器５８で設定
し、処理ブロック取り出し器５３より取り出された処理
ブロックを構成する画素に低域通過フィルタをフィルタ
６１を用いて掛け、フィルタの掛かった画素の内、探索
ステップ設定器５６で設定された画素を画素配置器６３
により配置する。配置された処理ブロック中の画素を画
素取り出し器５９を用いて取り出す。また前記参照基準
位置設定器５８で設定された参照位置より、探索ステッ
プ設定器５６で設定された画素を画素配置器６３により
配置し、配置された画素を画素取り出し器６０を用いて
取り出すが、取り出す際に、取り出す画素の近傍画素に
低域通過フィルタをフィルタ６２を用いて掛けた後に取
り出す。取り出した処理ブロック中の画素と、参照画像
中の画素とのマッチングをマッチング器６４を用いて取
り、順次予測誤差を計算し、最低予測誤差値、および最
低予測誤差値を取る場合の動きベクトル量を動きベクト
ル検出器５３の値として更新していく。そして最も予測
誤差の小さくなる参照位置を処理ブロックに対する動き
補正位置とし、また第１ステップ基準位置から動き補正
位置までの動きベクトル量を処理ブロックにおける第１
ステップでの動きベクトルとする。

【００２５】次に上記で求めた最終的な動き補正位置を
新たに第２ステップ基準位置として参照基準位置設定器
５８に設定する。そして探索画素間隔，処理ブロック、
および参照画面内の画素配置位置を探索ステップ設定器
５６より新たに第２ステップとして設定し、上記第１ス
テップの場合と同様に処理ブロックにおける第２ステッ
プでの動きベクトルを求める。また同様に第２ステップ
で求めた動き補正位置を次の第３ステップの第３ステッ
プ基準位置とし第３ステップでの動きベクトルを求め
る。

【００２６】なお、以上の第２の実施例において、探索
ステップ回数を３回としたが、探索ステップ回数は任意
である。また、参照画面内の探索範囲を縦、横±７画
素、および探索間隔を各ステップごとにそれぞれ縦、横
±４，±２，±１画素としたが、探索範囲および探索間
隔は任意である。また、画素配置器６３で配置される画
素の配置位置を図５に示したが、画素の配置位置は任意
である。

【００２７】また、処理ブロック取り出し器５３より取
り出されたブロックの大きさをＶ０×Ｈ０、また画素取
り出し器５９，６０から取り出された各ステップごとの
画素数をＶ１×Ｈ１，Ｖ２×Ｈ２，Ｖ３×Ｈ３とした場
合、Ｖ０，Ｈ０，Ｖ１，Ｈ１，Ｖ２，Ｈ２，Ｖ３，Ｈ３
は任意である。但し、Ｖ１，Ｖ２，Ｖ３はＶ０以下、ま
たＨ１，Ｈ２，Ｈ３はＨ０以下でなければならない。ま
た、予測誤差を得る際に行う計算方法として、例えば画
素取り出し器５９，６０から取り出された双方の御その
それぞれの差の絶対値和を求める方法などがあるが、予
測誤差を得る際に行う計算方法は任意である。

【００２８】実施例において段階的に探索を行う際の段
階数をｓ、１段階毎の探索領域数ｍ，１ブロック当りの
構成画素数ｎとすると、従来の技術では１ブロックの動
きベクトルを検出する際に例えばｓが３、つまり３段階
によって探索を行うとすれば３×ｍ×ｎ×２の演算が必
要であった。しかしながら、構成画素数ｎの内、段階
１，２，３において配置する画総数をそれぞれｎ１，ｎ
２，ｎ３とすると、演算回数は本発明ではｍ×（ｎ１＋
ｎ２＋ｎ３）×２となる。ただしｎ≧ｎ１，ｎ≧ｎ２，
ｎ≧ｎ３である。

【００２９】

【発明の効果】本発明は前記した構成により１動きベク
トル検出のための演算回数は従来より（（３×ｎ−（ｎ
１＋ｎ２＋ｎ３））×ｍ×２）回削減可能となる。また
実施例においてはマッチングに用いる画素を取り出す際
にフィルタを用いたが、このフィルタを用いずに装置規
模の減少を図ることもできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の動き検出装置の動き検出の
一手法であるブロックマッチング法の概念図

【図２】従来の動きベクトル検出法の一例である３ステ
ップ法の概念図

【図３】従来の３ステップ法を用いた動き検出装置の構
成図

【図４】本発明の第１の実施例を説明するための動き検
出装置の構成図

【図５】ブロックマッチングに用いた場合に基準となる
ブロックを構成する画素、および実際にブロックマッチ
ングに用いる画素の配置を示す概念図

【図６】本発明の第２の実施例を説明するための動き検
出装置の構成図

【符号の説明】

３１ブロック分割器３９画素取り出し器４３画素配置器４４ブロックマッチング器４５動きベクトル検出器

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】入力画像信号の画面のうち、処理画面と
参照画面との間における動きベクトルの検出を行なう動
き検出装置において、前記処理画面を複数個のブロック
に分割する分割手段と、前記分割手段により分割された
ブロックのうち動きベクトルを検出しようとする処理ブ
ロックの位置に対応している前記参照画面内の位置か
ら、所定の検出範囲を設定し、前記検出範囲内を、複数
の探索位置間隔を段階的に定めて探索し、前記各段階に
応じて前記検出範囲内より前記処理ブロックとのパター
ンマッチングを行うための参照ブロックを取り出す参照
ブロック取り出し手段と、前記探索位置間隔に応じて前
記参照ブロック、および前記処理ブロックを構成する全
ての画素、あるいは一部の画素を取り出す画素取り出し
手段と、前記画素取り出し手段によって取り出された画
素を用いて前記参照ブロック、および前記処理ブロック
のパターンマッチングを行うパターンマッチング手段
と、前記パターンマッチング手段の結果より前記各段階
における動きベクトルを決定する手段を有することを特
徴とする動き検出装置。
【請求項２】画素取り出し手段に、探索位置間隔が狭
まるにつれて、取り出す画素数を増やす手段を接続した
請求項１記載の動き検出装置。
【請求項３】画素取り出し手段として、参照ブロッ
ク、および処理ブロックを構成する画素に低域通過フィ
ルタを掛け、前記低域通過フィルタを掛けた画素のう
ち、全ての画素、あるいは少ない画素数の画素を取り出
す手段を用いた請求項１記載の動き検出装置。
【請求項４】入力画像信号の画面のうち、処理画面と
参照画面との間における動きベクトルの検出を行う動き
検出装置において、前記処理画面を複数個のブロックに
分割する分割手段と、前記分割手段により分割されたブ
ロックのうち動きベクトルを検出しようとする処理ブロ
ックの位置に対応している前記参照画面内の位置から、
所定の検出範囲を設定し、前記検出範囲内を、複数の探
索位置間隔を段階的に定めて探索し、前記各段階に応じ
て前記検出範囲内により前記処理ブロックとのパターン
マッチングを行うための参照基準位置を設定する参照基
準位置設定手段と、前記探索位置間隔に応じて前記参照
基準位置設定手段により設定された基準位置より参照画
面内の画素である参照画素の取り出しを設定する参照画
素取出手段と、前記各段階に応じて前記処理ブロックを
構成する処理ブロック内の全ての画素、あるいは一部の
画素を取り出す処理画素取り出し手段と、前記参照画素
取り出し手段、および前記処理画素取り出し手段によっ
て取り出された画素を用いて前記参照ブロック、および
前記処理ブロックのパターンマッチングを行うパターン
マッチング手段と、前記パターンマッチング手段の結果
より前記各段階における動きベクトルを決定する手段を
有することを特徴とする動き検出装置。
【請求項５】画素取り出し手段に、探索位置間隔が狭
まるにつれて、取り出す画素数を増やす手段を接続した
請求項４記載の動き検出装置。
【請求項６】参照画素取り出し手段と、処理画素取り
出し手段として、前記参照画素に低域通過フィルタを掛
け、探索位置間隔に応じて参照位置設定手段により設定
された基準位置より参照画素の取り出しを設定する手段
と、処理ブロックを構成する画素に低域通過フィルタを
掛け、前記低域通過フィルタを掛けた画素のうち、全て
の画素、あるいは少ない画素数の画素を取り出す手段を
備えた請求項４記載の動き検出装置。