JPS623475B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、２次元映像の内からあらかじめ定め
られたパターンを自動的かつ高速に探索し、その
位置を精度よく検出する位置検出装置に関する。

〔発明の背景〕

テレビカメラなどの撮像装置で取り込んだ映像
の中から、ある特定のパターンを他のパターンや
背景のパターンから区別して抽出し、その２次元
映像中での位置を求める方式については、既に本
発明者によつて特願昭48−21636号（特開昭49−
111665号）として提案されている。この方式は、
対象の局部的なパターンを標準パターンとして記
憶し、この標準パターンと撮像装置によつて入力
される映像中の各位置での切出しパターンとを順
次比較し、最もよく合致した座標位置を検出する
ことにより、対象全体の位置を検出するものであ
る。この場合、映像中の切出しパターンの大きさ
が装置によつて、固定されているときは、次のよ
うな問題がある。

第１図イは撮像装置より得られた映像の１例を
示し、映像１から同図ロに示す標準パターンを用
いて、対象２上にある「５」の字形パターン３を
検出し、これによつて対象２全体の位置を検出す
るものである。このとき、ロのパターンが、例え
ば10×10のサンプル点からなるとすると、このパ
ターンを検出するためイの映像面をパターンロの
縦，横とも1/10に対応するサンプリング間隔で探
索することとなり、したがつて検出精度はこのサ
ンプリング間隔と同程度となる。

検出精度をそれ以上に高めるため、サンプリン
グ間隔をさらに、例えば1/3に小さくすると、パ
ターンロの1/3の、同じ10×10のサンプル点から
なるパターンハを標準パターンとし、全画面を探
索することになる。しかし、このように対象上の
小さな部分を標準パターンとすると、正しい位置
４−１の外に４−２，４−３などの位置でも標準
パターンと合致するため、確実に４−１の位置を
検出することは困難である。これは、パターンに
はパターンとしての特異性がないためである。

なおこの場合、検出精度を高めるために、標準
パターンとしてパターンロを用いて、単にサンプ
リング間隔のみを1/3に小さくすることは、検出
装置の規模たとえばメモリ容量をきわめて増大す
る必要があり、困難である。

一般に対象上に十分小さく、しかも映像中で特
異性を持つパターンがあることは必ずしも期待で
きず、また、そのようなパターンを付加すること
が許されない場合もある。この点を除けば、この
方法の問題点は、対象上の局部標準パターンの大
きさによつて検出精度が決まり、用途によつては
精度が不足することである。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記の問題点を解決するのに
好適な構成の簡単なパターン位置検出装置を提供
することにある。

〔発明の概要〕

上記目的を達成するため、本発明においてはサ
ンプリング間隔をかえて粗検出と精検出とを行う
装置を設け、粗検出においては、対象パターン中
の所定の大きさの複数の部分パターンをそれぞれ
第１のサンプリング間隔でサンプリングした結果
得られる信号を逐次切り出して、所定の第１の条
件を満たす部分パターンの位置を検出し、この検
出された部分パターンの位置から探索範囲を狭
め、精検出においては、対象パターン中の所定の
大きさの複数の部分パターンをそれぞれ第２のサ
ンプリング間隔でサンプリングした結果得られる
信号を逐次切り出し、上記探索範囲内で、所定の
第２の条件を満たす部分パターンの位置を検出す
るようにした。

上記複数の部分パターンは、比較すべき標準パ
ターンと同じ大きさの部分パターンを対象パター
ンから切り出すことにより得られる。

〔発明の実施例〕

以下、発明の実施例の説明の前に発明の実施例
の理解に必要な事項について概略的に説明する。

ここで、説明のため撮像装置として、テレビカ
メラに代表されるようなラスタ状走査を行なう像
入力装置を考える。これは、空間内に並んだ映像
情報を時間的に並んだ信号すなわち順次直列に送
出される信号に変換するものである。この場合、
映像上でのサンプリングは、映像信号の時間的な
サンプリングに置き換えられる。

ここで、映像上でのサンプリング間隔を変える
方法は、撮像装置の走査周期および偏向振幅を固
定しておいて、映像信号の時間的サンプリング間
隔を変化させるものである。第３図イに示した碁
盤目のうち、横線はそのまま走査線を示し、縦線
は走査線間隔に等しい間隔で引いたものである。
この場合、縦線と横線の交点すなわち格子点は、
映像を標本化して処理するときのサンプリング点
の基本となる絵素である。同図イに、〇印で４×
４の絵素からなる標準パターンを例示した。これ
に対し、同図ロは、水平方向のサンプリング間隔
を３倍に、垂直方向のサンプリング間隔を２倍に
した場合のサンプリング点を太い縦線と横線の交
点で示し、さらに４×４の標準パターンの大きさ
を示したものである。

このようにしてサンプリング間隔を切換えれ
ば、標準パターンを構成するサンプリングされた
絵素数が一定であつても、標準パターンの大きさ
を適当なものに選択することができる。

以下の実施例では、粗検出においては、パター
ンの画面中での特異性が保証される大きさの標準
パターンを使用する。第１図イの２に示したよう
な対象の例では、ロに示す大きさの標準パターン
で特異性がある。

このときのサンプリング間隔が縦横とも６絵素
とすると、粗検出では全画面を縦横とも６絵素間
隔でサンプリングして取込み、標準パターンと、
同じ大きさの２次元切出しパターンとを順次比較
して、最もよく合致した座標位置を求める。この
ようにして求めた位置は最大１サンプリング間隔
すなわち６絵素までの誤差を含んでおり、さらに
精密な位置を求めるため、次に精検出を行なう。

精検出は、パターンの水平、垂直の両方向の稜
線部分に注目し、稜線と直角な方向での稜線の位
置を検出することによつて行なう。このときサン
プリング間隔は１絵素とし、第４図イ〜ニに示す
４つの標準パターンを用いる。この場合、標準パ
ターンには特異性がないが、粗検出で得た結果を
用いて探索範囲を限定するため、誤まつた位置を
求めることはない。

第５図は精検出における探索範囲を示す。すな
わち、太い実線５−１，５−２，５−３，５−４
は、それぞれ第４図の標準パターンイ，ロ，ハ，
ニと比較する切出しパターンの、各標準パターン
に示した右下の点の範囲を示し、また破線で示し
た長方形は、それに対応する切出しパターンの探
索範囲を示す。この場合、粗検出では全画面にわ
たつて面の広がりをもつて探索を行なうのに対
し、精検出では稜線に垂直な線状の範囲に限定し
て探索を行なうのみでよい。なお、その長さは粗
検出のサンプリング間隔の２倍以上とし、３倍程
度まで広げてもよい。なお、同図の左上部に破線
で記載した矩形は標準パターンの大きさを示す。

粗検出が正しく行なわれたならば、必がその範
囲内に標準パターンとほぼ一致する部分があり、
しかも一致の程度はその範囲内で鋭いピークを示
すため、少なくともサンプリング間隔、すなわち
ほぼ１絵素の精度で稜線の位置を検出することが
できる。この場合、第６図のように稜線に多少の
凹凸があつても、その平均的な境界を検出するこ
とが可能である。

もし、垂直、水平方向の稜線がない、第７図イ
のようなパターンを検出するには、精検出用の標
準パターンとして同図ロ，ハを用意し、それに対
応する精検出の切出しパターンの右下点の探索範
囲として、７−１，７−２の２次元小区画を使用
すればよい。この例に示したような標準パターン
を用いれば、一致度は水平、垂直の両方向ともに
鋭いピークを示すので、必要な位置決めを行なう
ことができる。

以下、実施例によつて本発明を詳しく説明す
る。

第８図は本発明の検出方法による検出装置全体
の構成例を示すブロツク図である。１１は基本の
クロツクと走査点座標信号１１′及び必要ならば
水平、垂直の同期信号を発生する回路、１２は指
定されたサンプリング間隔および探索範囲に従つ
て、各部分に必要なタイミング信号を送出する回
路である。像入力装置１３より得られた信号は、
２値化回路１４により白黒の２値信号３０とさ
れ、以後デイジタル信号として扱われる。

また１５は２次元的な画像を記憶する映像メモ
リであり、走査線ｎ−１本分の画像を順次シフト
しながら記憶している。１６は長さn′のｎ本のシ
フトレジスタからなる画像の２次元局部切出し部
である。１７もｎ×n′点の標準パターンを一時記
憶するレジスタであり、レジスタ１６，１７の記
憶内容をマツチング回路１８によつて各対応点毎
に比較し、パターンの不一致の程度を求める。

最小値検出回路１９はこの不一致度を観察し、
保持している値より小さい値が現われたとき、保
持値を現われた値でおきかえ、さらにそのときの
走査点座標をレジスタ２０に取込む。このように
すると、指定した範囲の走査が終つたときに保持
している値がそのまま最小値であり、また、レジ
スタ２０がそのときの走査点座標となつている。
２１は座標の計算を行ない、パターンの探索範囲
とサンプリング間隔をタイミング信号発生回路１
２に与え、また対象の位置の検出結果を示す信号
２１′を出力する計算回路である。

２２は、レジスタ１７にセツトすべき標準パタ
ーンを必要分だけ記憶しておくメモリである。運
動制御部２３は、装置の各部分に順を追つて動作
指令を発し、探索終了信号２４を受けて、次の段
階に進めるためのシーケンス制御を行なう。な
お、２５で示す部分すなわち２１〜２３よりなる
演算処理装置は、例えば電子計算機などの汎用演
算処理装置で置き換えることは容易であり、その
方が装置全体の柔軟性が増加する。以下、各部の
説明を行なう。

第９図は、映像メモリ１５と局部切出し部１６
の構成を示す。ここで映像メモリ１５は、ｎ−１
本のシフトレジスタ３１−１，３１−２，……，
３１−ｎ−１を縦続接続したものである。先頭の
シフトレジスタ３１−１の入力は第８図の２値化
回路１４の出力３０であり、この信号はそのまま
局部切出し部１６への入力３２−１とする。なお
各シフトレジスタの出力３２−２，３２−３，…
…，３２−ｎも局部切出し部１６への入力とす
る。

各シフトレジスタ３１−１，３１−２，……，
３１−ｎ−１は走査線１本分の情報が入るだけの
長さを持ち、従つて各信号３２−１，３２−２，
……，３２−ｎは画像中縦に並んだ絵素の情報を
持つている。局部切出し部１６は、各々n′ビツト
の長さを持つたｎ本のシフトレジスタ３３−１，
３３−２，……３３−ｎから構成される。これら
のシフトレジスタはそれぞれ信号３２−１，３２
−２，……３２−ｎを直列入力として加えられ、
各並列出力３４をマツチング回路１８へ送る。

このように結合されたシフトレジスタに対し
て、クロツク信号３５，３６によつてサンプリン
グ間隔の制御が行なわれる。すなわち、縦方向の
サンプリング間隔を制御してｍとするには、シフ
トレジスタ３１，３３ともに走査線のうちｍ本目
毎にのみシフト用のクロツク３５，３６を出せば
よい。この場合、シフトレジスタ３１にはサンプ
リングを行なわない一絵素毎のクロツク３５を与
える。また、局部切出し部の横方向のサンプリン
グ間隔を制御し、m′とするには、シフト用のク
ロツク３６をm′絵素毎にのみ与えるようにす
る。

このようにして、シフト動作の瞬間に入力され
ていた値が取り込まれ、それ以外の時点の値は取
り込まない。このため、シフトレジスタ３３の入
口でサンプリングが行なわれ、局部切出し部１６
には縦方向ｍ、横方向m′のサンプリング間隔で
取り込まれた画像が逐次現われる。

第１０図はマツチング回路１８の構成を示し、
局部切出し部１６のｎ本のシフトレジスタ３３−
１，３３−２，……３３−ｎからの各n′の並列出
力３４と、標準パターンの一時記憶レジスタ１７
のｎ×n′本の出力３７とは各対応する信号の組ご
とに排他的論理和演算器３８により不一致信号３
９を送出する。この場合、パターン全体の不一致
度は、ｎ×n′本の信号３９のうち、“１”である
本数によつて表現される。次いで、信号３９によ
り各電流回路４０の出力をオン、オフし、加算回
路４１により電流を加算することにより、オンし
ている電流源回路の個数に対応した、不一致度を
示す電圧４２を得ることができる。

上記第１０図においては、加算回路４１はアナ
ログ演算回路により構成したが、１ビツトｎ×
n′入力の加算器により構成することもできる。こ
の場合、回路は多段階の回路とし、１段目は１ビ
ツト３入力の加算器で構成して２ビツトの出力を
得るようにし、２段目では２ビツト入力の加算器
で１段目の結果をまとめ、以下同様に段を進め
て、最終的に全ての初段入力の加算値すなわち
“１”の本数を２進数として得ることができる。

第１１図は最小値検出回路１９の構成を示す。
初期値設定器４３は保持回路４４に初期値として
大きな値をセツトするためのものである。マツチ
ングのための標準パターンと探索範囲との指定が
行なわれたときに、タイミング信号４６により切
換器４５を初期値側に切換えるとともに、論理和
演算器４７を通して保持回路４４の入力ゲートを
開き、初期値設定器４３からの初期値をセツトす
る。

次いで切換器４５を信号４２側にもどし、探索
範囲内において刻々求まる不一致の程度を示す信
号４２と保持回路４４の保持値とを比較器４８で
比較する。不一致度電圧信号４２の新しい値の方
が小さいことを検出すると、その値をサンプリン
グクロツク４９で論理積算器５０によつてゲート
し、論理和演算器４７を通して保持回路４４の入
力ゲートを開き、不一致度電圧信号４２の新しい
値を取り入れる。

論理積演算器５０の出力１９′は第８図に示し
たようにレジスタ２０の入力ゲートをも開き、そ
の時点の走査点Ｘ座標およびＹ座標を取込む。こ
のようにすると、探索範囲の走査が終了したとき
には最小値が保持回路４４に、最小値が発生した
時点のXY座標がレジスタ２０にそれぞれ残つて
いることになる。

第１２図は、走査点座標及び同期信号発生回路
１１とタイミング信号発生器１２の詳細な構成を
示す。まず発振器５１の出力クロツク５２により
Ｘ座標カウンタ５３を進ませる。カウンタ５３の
周期は定数設定器５４にセツトされており、一致
検出回路５５によりカウンタ５３が周期に達した
ことを検出するとカウンタ５３はリセツトする。
こうして、カウンタ５３は定めた周期で繰返しカ
ウントを行なう。

一致検出回路５５の出力５６はＹ座標カウンタ
５７にクロツクとして加えられ、周期を与える定
数設定器５８と一致検出回路５９との組合わせで
カウンタ５７は定めた周期で繰返しカウントを行
なう。水平同期信号発生器６０および垂直同期信
号発生器６１はＸ，Ｙの各座標カウンタ５３，５
７の内容がそれぞれ所定値となつたことを検出し
て、一定のタイミングおよび幅を持つ信号を送出
する。

次にタイミング信号発生回路１２において、探
索範囲を限定するための回路について述べる。６
２，６３はそれぞれ探索範囲の左端、右端のＸ座
標を保持するレジスタで、その値は第８図におけ
る演算処理装置２５より与えられる。まず一致検
出器６４，６５によりＸ座標カウンタ５３と６
２，６３との内容の一致を検出し、それぞれをフ
リツプフロツプ６６をセツトおよびリセツトす
る。従つて、フリツプフロツプ６６はＸ座標が指
定された範囲内にあるときのみオンとなる。Ｙ座
標についても同様に、上端、下端を与えるレジス
タ６７，６９、一致検出器６９，７０によつてフ
リツプフロツプ７１をセツト、リセツトし、指定
範囲内のみでオンとなる信号を作り出す。

次に、サンプリング間隔の制御回路について述
べる。７２は回路１１におけるＸ座標カウンタ５
３と同じクロツク５２で動作するカウンタで、そ
の内容がレジスタ７３が保持する周期と内容が一
致することを一致検出器７４で検出し、その時点
でレジスタ７３をリセツトし内容を零に戻す。こ
うして、カウンタ７２はレジスタ７３が保持する
周期で繰返しカウントを行なうことになる。７５
はカウンタ７２の内容が零であることを検出して
おり、１周期に１クロツクタイムのみ出力がオン
となる。Ｙ方向についても同様に、カウンタ７
６、周期レジスタ７７、一致検出器７８、ゼロ検
出器７９により、１周期に１水平走査線のみオン
となる信号を作り出す。

８０〜８２は論理積演算器で、必要なタイミン
グ信号を作り出す。すなわち、８０はＹ方向の指
定されたサンプリング間隔ごとの１水平走査線分
にゲートされたクロツク５２を出力し、これを映
像メモリ１５のシフトクロツク３５として使用す
る。８１は、さらにＸ方向にもサンプリングされ
たクロツクを出力し、これを局部切出し部のシフ
トクロツク３６として使用する。８２は、シフト
クロツク３６をさらにＸ方向とＹ方向の探索範囲
の中だけ限定したクロツクを作り、最小値検出回
路１９のクロツク４９として使用する。また、探
索範囲の下端の一致検出器７０の出力は、探索範
囲の走査が完了したことを演算処理装置に知らせ
る信号２４として使用する。

第１３図は、前記第８図における計算回路すな
わち座標演算処理部２１の構成の一例を示すブロ
ツク図である。また、第１４図は画面の走査の経
過方向を下にとり、走査の進行とともに標準パタ
ーンと探索範囲をどのように切り換えるかを示し
た説明図で、垂直帰線期間をはさんで２つの画面
を連続して示す。上記両図において、まず最初に
粗認識を行なう。そのため、運用制御部２３は選
択回路９１を切換えて、粗検出のための探索範囲
を示す信号を送り出す。この探索範囲は全画面と
とることが多く、標準パターンに第１４図Ａの標
準パターンを用いるときには、ａの斜線で示した
範囲とする。走査が進んでｐ点に至つたとき探索
は終了し、ｉ点が不一致の程度が最小で、その座
標が信号２０′として送られてくる。この値をレ
ジスタ９３に記憶しておく。

次に選択回路９１を切換えて精検出に移り、順
次第１４図の標準パターンＢ，Ｃ，ＤおよびＥを
用い、それぞれ第１４図のｂ，ｃ，ｄおよびｅで
示す直線状の探索範囲でマツチングを行なう。こ
の探索範囲は、粗検出の結果得られたｉ点に対し
一定の相対位置関係にあるため、標準パターン毎
にレジスタ９４に記憶されている値を選択回路９
１′を切換えて取出し、加算器９５により、レジ
スタ９３に保持されている粗検出の結果の位置と
加算し、選択回路９１を通して送り出す。ｂ，
ｃ，ｄ，ｅの探索範囲はｑ，ｒ，ｓ，ｔ点に至つ
たとき終了となり、第８図に示したようにタイミ
ング発生回路１２から探索終了信号２４が運用制
御部２３に加えられる。

ここで、接索パターンＢに対し、ｊ部において
不一致の程度が最小であつたとする。ｊ部と最終
的に求めたい位置ｎとの間には一定の相対位置関
係があるため、各標準パターン毎にレジスタ９６
に記憶されている値を選択回路９７を切換えて取
出し、加算器９８でマツチング結果の位置座標を
加算し、レジスタ９９の対応する部分に記憶して
おく、４つの標準パターンＢ〜Ｅについてのマツ
チングが終了したとき、標準パターンＢ，Ｅに対
応するレジスタ９９のＹ座標の加算器１００−１
で加算し、最下位ビツトを除いたものをとること
により両者の加算平均を得る。同様に標準パター
ンＣ，Ｄに対する結果より加算器１００−２によ
りＸ座標の加算平均を得る。この１００−１，１
００−２の出力が、最終的に求めようとするｎ点
の座標である。

このように本実施例で用いたパターンマツチン
グ方法によれば、対象パターン中の特定パターン
の位置を高速に検出することができる。

第１３図の構成は、粗検出と精検出を行なうた
めの一例を示したものである。接索範囲用のレジ
スタ９３を複数個用意し、サンプリング間隔およ
び標準パターンを共に必要なものに切換えてタイ
ミング信号発生回路１２および標準パターンレジ
スタ１７に送り、マツチング動作を規定するよう
にすれば、多種類の対象物の検出に用いることが
できる。

これらの制御は専用の回路によつて実現しても
よく、また汎用のプログラム内蔵型演算処理装置
を用い、プログラムによつて実現してもよい。後
者によれば、さらに複数の標準パターンを設けて
個々の標準パターンでのマツチングが成功しなか
つたときの対策とし、あるいは複数個の標準パタ
ーンのマツチング結果位置の相対位置関係をチエ
ツクすることによりマツチングが正しかつたこと
を確認することも容易である。

以上の実施例においては、映像信号を２値化し
て処理するものとして説明したが、映像信号を複
数ビツトの多値デイジタル量に変換し、あるいは
アナログ信号のままとして処理してもよい。その
ときは、内像メモリおよびマツチング演算部を上
述の実施例と同様な機能をもつもので置き換えれ
ばよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、粗検出後
に探索範囲をしぼつて精検出を行うため、はじめ
から精検出のみを行なう場合よりも簡単な装置に
て必要な精度で対象パターンの位置を検出するこ
とができる。とくに、部分パターンの切り出し回
路、切り出された部分パターンと標準パターンと
比較回路を粗検出と精検出のときに切りかえて使
用するように構成すると、装置構成がより簡単と
なる。

【図面の簡単な説明】

第１図は雑準パターンの一例を示す説明図、第
２図は走査軸を変化させる方法を示す説明図、第
３図はサンプリング間隔を変化させる方法を示す
説明図、第４図は精検出のための標準パターンを
示す説明図、第５図は精検出方法を示す説明図、
第６図は凹凸のある稜線の検出を示す説明図、第
７図は精検出用の標準パターンの選択を示す説明
図、第８図は本発明による装置全体の構成例を示
すブロツク図、第９図は画像メモリと局部切出し
部の構成例のブロツク図、第１０図はマツチング
回路の構成例のブロツク図、第１１図は最小値検
出回路の構成例のブロツク図、第１２図はXY座
標およびタイミング信号発生部の構成例のブロツ
ク図、第１３図は座標計算部の構成例のブロツク
図、第１４図は粗検出、精検出の順序を示す説明
図である。 １……映像、２……対象、３……「５」の字型
パターン、１１……同期信号発生回路、１２……
タイミング信号発生回路、１３……像入力装置、
１４……２値化回路、１５……映像メモリ、１６
……２次元局部切出し部、１７……標準パターン
レジスタ、１８……マツチング回路、１９……最
小検出回路、２０……レジスタ、２１……計算回
路、２２……メモリ、２３……運用制御部、２４
……探索終了信号、２５……演算処理装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 対象パターン上を一定の速度で走査する撮像
   装置と、該撮像装置から得られる映像信号から、
   該対象パターン中の所定の大きさの複数の部分パ
   ターンをそれぞれ第１のサンプリング間隔でサン
   プリングした結果得られる信号（第１の部分パタ
   ーン信号）を逐次切り出し、該映像信号から、該
   対象パターン中の複数の所定の大きさの部分パタ
   ーンをそれぞれ該第１のサンプリング間隔より小
   さい第２のサンプリング間隔でサンプリングした
   結果得られる信号（第２の部分パターン信号）を
   逐次切り出す手段と、該逐次切り出された複数の
   第１の部分パターン信号から、第１の探索領域に
   属し、所定の第１の条件を満たす部分パターンの
   位置を検出する手段と、該部分パターンの位置か
   ら該第１の探索領域より小さな第２の探索領域を
   決定する手段と、該逐次切り出された複数の第２
   の部分パターン信号から、該第２の探索領域に属
   し、所定の第２の条件を満たす部分パターンの位
   置を検出する手段とを有するパターンの位置検出
   装置。 ２ 該第１の条件を満たす部分パターン位置検出
   手段は、該第１の探索領域内のあらかじめ定めら
   れた位置にある部分パターン（第１の標準パター
   ン）を該第１のサンプリング間隔でサンプリング
   して得られる信号を第１の標準パターン信号とし
   て記憶する第１の手段と、該第１の探索領域内の
   複数の部分パターンに対する第１の部分パターン
   信号および該記憶された第１の標準パターン信号
   を比較して、該第１の標準パターンに一致する部
   分パターンの位置を該第１の条件を満たす部分パ
   ターンの位置として検出する第２の手段からなる
   第１項のパターンの位置検出装置。 ３ 該第２の手段は、該第１の探索領域に属する
   複数の第１の部分パターン信号のそれぞれと該記
   憶された第１の標準パターン信号との一致度を検
   出する第３の手段と、該検出された一致度に基づ
   き、一致度の最も大きい部分パターン信号に対す
   る部分パターンの位置を該第１の条件を満たす部
   分パターンの位置として検出する第４の手段とか
   らなる第２項のパターンの位置検出装置。 ４ 該第２の条件を満たす部分パターン位置検出
   手段は、該第２の探索領域内のあらかじめ定めた
   位置にある部分パターン（第２の標準パターン）
   を該第２のサンプリング間隔でサンプリングして
   得られる信号を第２の標準パターン信号として記
   憶する第５の手段と、該第２の探索領域内の複数
   の部分パターンに対する第２の部分パターン信号
   および該記憶された第２の標準パターン信号を比
   較して、該第２の標準パターンに一致する部分パ
   ターンの位置を該第２の条件を満たす部分パター
   ンの位置として検出する第６の手段からなる第１
   項又は第２項のパターンの位置検出装置。 ５ 該第６の手段は、該第２の探索領域に属する
   複数の第２の部分パターン信号のそれぞれと該記
   憶された第２の標準パターン信号との一致度を検
   出する第７の手段と、該検出された一致度に基
   き、一致度の最も大きい部分パターン信号に対す
   る部分パターンの位置を該第２の条件を満たす部
   分パターンの位置として検出する第８の手段とか
   らなる第４項のパターンの位置検出装置。 ６ 該第１の標準パターンは、該第１の探索領域
   に一つしか存在しないパターンであり、該第２の
   標準パターンは該第１の探索領域に複数個存在す
   るが、該第２の探索領域には一つしか存在しない
   パターンである第１項から第５項のいずれかのパ
   ターンの位置検出装置。 ７ 該第１，第２の標準パターンの絵素数はとも
   に該所定数に等しい第２項から第６項のいずれか
   のパターンの位置検出装置。