JPH0533473B2

JPH0533473B2 -

Info

Publication number: JPH0533473B2
Application number: JP58215974A
Authority: JP
Inventors: Tatsuo Nishikawa
Original assignee: Canon Electronics Inc
Current assignee: Canon Electronics Inc
Priority date: 1983-11-18
Filing date: 1983-11-18
Publication date: 1993-05-19
Also published as: JPS60109062A

Description

【発明の詳細な説明】［技術分野］本発明は磁気デイスク等のデイスク状記録媒体
を用いるデイスク装置に係り、さらに詳しくはト
ラツク最外周位置の検出機構を利用したデイスク
装置に関するものである。

［従来技術］一般に磁気デイスクのトラツクピツチ間隔は
0.12mmであるためトラツク位置、特にトラツク最
外周位置を検出する検出手段としては高精度のも
のが要求される。

しかし、高精度の検出手段を用いるとコスト高
となる欠点がある。

［目的］本発明は以上のような従来の欠点を除去するた
めに成されたもので、極めて簡単な構造により正
確にトラツク最外周位置を検出することができる
ように構成したデイスク装置を提供することを目
的としている。

［実施例］以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳
細を説明する。

本発明になる磁気デイスク装置はシヤーシ１を
基準として組立てられている。シヤーシ１は左右
の側板２，２を有するコ字状の枠体として構成さ
れており、各側板２，２の対向する位置には上側
縁から下方に向かつてガイド溝３，３が形成され
ている。これらガイド溝３，３中には後述するカ
セツトガイド側から突設されたローラが嵌合され
る。

また、ガイド溝３，３間において側板２，２の
対向する位置には水平な状態でガイド孔４が形成
されており、側板２，２の手前側の側縁には同じ
く水平な状態でガイド溝５が形成されている。こ
れらガイド孔４、ガイド溝５中には後述するスラ
イド枠のガイドローラが嵌合される。

一方、シヤーシ１の底板６上には所定の配置を
もつて３本の位置決めピン７が突設されている。

これらのピン７は後述するカセツトの上下方向
の位置決めを行なう。

シヤーシの底板６上の一端側には磁気ヘツド移
動の駆動源となるパルスモータ８がスタツド８
ａ，８ａを介して固定されており、その近傍には
底板６を切り起こした突片９が突設されている。
突片９には透孔１０が形成されており、この透孔
１０と対向した状態で一方の側板２には透孔１１
が形成されている。これら透孔１０，１１を利用
して後述するヘツド取付台が案内されるガイド軸
１２が横架される。

また、シヤーシ１の手前側において、側板２，
２間にはガイド軸１２と平行にもう１本のガイド
バー１３が横架されている。

一方、前記パルスモータ８の下側にはその出力
軸にドライブギヤ１４が固定されており、このド
ライブギヤ１４は底板６上に回転自在に軸承され
たギヤ１５と噛合している。

底板６のほぼ中央部には透孔１６が形成されて
おり、この透孔１６には磁気デイスクの回転駆動
機構を軸承するボス１７が取付けられる。

ボス１７は第３図に示すようにその中央部の外
周にフランジ１７ａを有し、このフランジ１７を
底板６の上面に重ね、ボス１７の下部を透孔１６
中に嵌合させ、ねじ１８によりフランジ１７ａを
介して固定される。

このボス１７内には上下１組のベアリング１
９，１９を介して回転軸２０が回転自在に軸承さ
れる。上下のベアリング１９間にはカラー２１が
配置される。各ベアリング１９，１９の外輪はボ
ス１７に圧入されている。

回転軸２０の上端にはカプラ２２が固定されて
いる。カプラ２２は磁気デイスクカセツトのセン
ターハブに嵌合されるもので、そのフランジ２２
ａには位置決め用のピン２３が昇降自在に嵌合さ
れている。

ピン２３の下端はフランジ２２ａの下側におい
て、板ばね２４の自由端側に固定されており、常
時突出する方向への移動習性が与えられている。

このカプラ２２の下面と上側のベアリング１９
の内輪との間にはスプリング２５が弾装されてお
り、内輪を下方に押圧することにより、外輪との
間に相対的な位置ずれを生じさせ、内外輪とボー
ルとの間の均一な接触を生じさせ、内外輪のガタ
をなくし、回転軸２０の振れが生じないようにし
ている。

ボス１７にはカム２６を上側にした状態でギヤ
２７がボス２８を介して嵌合固定されるが、ギヤ
２７は前記ギヤ１５と噛合され、パルスモーター
８の回転をカム２６を介してヘツド側へ伝達す
る。ボス２８の外側には緊締用のワツシヤ２９が
嵌合され、カム２６等の抜け止めが施されてい
る。

一方、符号３０で示すものはヘツド台で、細長
い板状に形成されている。ヘツド台３０の一端は
リニアベアリング３１を介して前記ガイド軸１２
に摺動自在に嵌合されている。

ヘツド台３０の他端はもう一つのガイド軸１３
によつて摺動自在に案内されている。

即ち、ヘツド台３０の自由端側には第５図Ｃに
示す様に下方に向つて円垂形状のローラ３２を回
転自在に軸承する軸３３が突設されている。この
軸３３とローラ３２との間にはスプリング３４が
弾装されており、ローラ３２に対し上方への移動
習性が与えられている。

また軸３３はねじ３５によつてヘツド台３０側
に固定されているがこのねじ３５によつてヘツド
台３０の上側には板ばね３６の一端が固定されて
いる。

この板ばね３６によつて上側を覆われたヘツド
台３０に形成された開口部３０ａ内にはガイド軸
１３と直交した状態でローラ３７が回転自在に嵌
合されている。

従つて、ガイド軸１３は円垂形状のローラ３２
の斜面とローラ３７との間で弾性的に挾持されて
おり、ヘツド台３０はローラ３２，３７を介して
ガイド軸１３に対し摺動自在に取付けられてい
る。

この様にヘツド台３０の移動を案内する軸１
２，１３はリニヤベアリングとローラによる回転
摩擦を利用した軸受け部材を介しているため摩擦
が極めて小さく、すべり摩擦を利用した軸受けと
比較するとはるかにスムーズにヘツド台を移動さ
せることができる。

従つて、パルスモータ８は小型で低電力の安価
なモータが使用できる。

もつとも第５図Ｂに示す様にガイド軸１２の案
内を滑り摩擦を利用した軸受け部材３８によつて
行なう様にし、かつ軸受け部材３８の材質として
高価だが耐摩耗性に極めてすぐれた材料、例えば
ルビー等を使用すれば同じくパルスモータとして
安価な物を使用できる。

また、ヘツド台３０と突片９との間にはスプリ
ング３９が張架されておりヘツド台３０に対し回
転軸２０側への移動習性を与えている。

このヘツド台３０は前記カム２６の上側に配置
されており、ヘツド３０の裏面にはレバー４０の
一端がねじ４１により回転自在に軸承されてい
る。

このレバー４０の他端側とヘツド台３０との間
にはスプリング４２が張架されており、レバー４
０に対し第１図中反時計方向の回動習性を与えて
いる。

このレバー４０の下面にはピン４３を介してロ
ーラ４４が回転自在に軸承されており、このロー
ラ４４は前記カム２６のカム面に接している。

ところで、前記カム２６は第６図に示す様に全
体として渦巻き状でかつ多数個の鋸歯状のカム面
を持つており、鋸歯状のカム部は例えば磁気デイ
スクのトラツク数を40とした場合にはこれに対応
した40個のカム部を有する。

そして、第６図に於て符号ROで表わす半径が
最大半径でＲ３９で表わす半径が最小の半径とな
る様に各カム部は設定されており、磁気デイスク
の最外周のトラツクから最内周のトラツクまで磁
気ヘツドが移動できる様になつている。

このカムを回転させるものはパルスモータ８で
あり、その回転がギヤ１４，１５，２７を介して
伝達される。

実際にはパルスモータ８に対し、駆動用のパル
スを１個入力するとパルスモータ８は18°回転す
る様に設定されており、正位相のパルスを加える
とモータは右回転し、逆位相のパルスを加えると
左回転する。

また、パルスモータ８が18°回転するとギヤ２
７が6°回転する様に各ギヤ１４，１５，２７のギ
ヤ比が設定されており、この6°の範囲内に於て半
径がRO〜Ｒ３９のカム部が40個形成されてい
る。

従つて、カムが6°回転するごとに磁気ヘツドは
１トラツク分だけ移動する様になり、具体的な移
動量は0.12mmであり、40トラツク全てを合計した
幅はほぼ５mmである。

一方、ヘツド台３０の長手方向の途中に突設さ
れた折曲部３０ａには第２４図に示す様に調節ね
じ４５が螺合されている。

この調節ねじ４５の先端は第２４図Ａ，Ｂに示
す様に前記レバー４０の自由端側の側縁に形成さ
れた折曲部４０ａに接しており、レバー４０の位
置を調節する事ができる。

また、ヘツド台３０の長手方向の途中には長方
形の開口部３０ｂが形成されており、この中には
支持部材４６を介して磁気ヘツド４７が配置され
ている。

支持部材４６の一端と開口部３０ｂの一端に突
設された突片４８との間には円弧状の板ばね４９
が弾装されており、開口部３０ｂの他端側に突設
された突片５０に螺合された調節ねじ５１の先端
は前記支持部材４６の前記スプリング４９と反対
側の側縁に接している。

従つて、調節ねじ５１を回せば、支持部材４６
の位置を調節でき、磁気ヘツド４７の位置を調節
する事ができる。

この調節ねじ５１により、磁気デイスクの中心
に対して磁気ヘツドの中心を正しく調節する事が
できる。

調節ねじ５１によりその位置を正しく調節した
後、支持部材４６をねじ５２を介してヘツド台３
０に対し完全に固定すれば良い。

ところで、ヘツド台３０のガイド軸１２側の端
部にはブラケツト５３，５３が突設されており、
これらブラケツト５３を利用してパツトアーム５
４の一端がピン５５を介して回動自在に軸承され
ている。

ピン５５にはねじりコイルばね５６が巻装され
ており、パツトアーム５４に対し第４図中時計方
向への回動習性を与えている。

パツトアーム５４先端は磁気ヘツド４７の上方
へ延びており、先端部には磁気ヘツド４７と対応
して調節ねじ５７が螺合されており、その下端に
は磁気デイスクを押さえるためのパツド５８が設
けられている。

従つて、ねじ５７を回転させればパツト５８と
磁気ヘツド４７との間の平行度及びパツト圧力を
調節する事ができる。

一方、ギヤ２７の下側には制御板５９が一体的
に設けられており、その一部には突起５９ａが突
設されており、この突起５９ａの基部には切欠部
５９ｂが形成されている。

そして、制御板５９の側方において底板６上に
はピン６０を介してレバー６１が回動自在に軸承
されている。このレバー６１の一端には所定間隔
離して突起６１ａ，６１ｂが形成されており、こ
れら突起６１ａ，６１ｂは常時制御板５９の外周
面に接している。

レバー６１の他端側は細長く形成されており、
底板６の手前側の端縁に形成された切欠部６ａの
上側を閉塞する位置へ臨まされている。そして、
切欠部６ａに臨んで、センサ６２が配置されてい
る。このセンサ６２は例えば発光素子と受光素子
とからなり、常時レバー６１の一端の下面からの
反射光を受光し、レバー６１の存否を監視してい
る。

ところで、レバー６１の取付位置と、突起５９
ａ、およびカム２６の最大半径ROのカム部との
間には次のような関係がある。

即ち、ローラ４４が最大半径ROのカム部に達
したとき、突起５９ａがレバー６１の突起６１ｂ
と係合し得る位置関係に設定されている。

従つて、第６図に示すようにローラ４４が半径
RIのカム部にある時にはレバー６１の突起６１
ｂは突起５９ａと接してはおらず、レバー６１の
一端はセンサ６２の上方を閉塞した状態にある。

この状態では突起６１ａ，６１ｂは制御板５９
の周面に接しており、レバー６１は回動すること
がない。

ところが、カム２６がパルスモータ８により、
１ステツプ余分に回転されると、ローラ４４は最
大半径ROのカム部に乗り上げることになり、磁
気ヘツド４７はヘツド台３０と共に最外周トラツ
ク位置に対応することになる。

この時には第７図に示すように突起５９ａがレ
バー６１の突起６１ｂに接し、レバー６１は図中
反時計方向に回動され、突起６１ｂは切欠部５９
ｂ中に嵌入する。そして、レバー６１の一端はこ
の時、第７図に示すようにセンサ６２の上側から
離れ、センサ６２はオフとなり、磁気ヘツドが最
外周トラツクに達したことが検出される。

従つて、最外周トラツクを０トラツクとし、こ
の位置を上述した機構により確実に検出し得るよ
うにしておき、電源オン時において必ず、磁気ヘ
ツドがこの位置に至るように設定しておけば、ス
タート時におけるヘツド位置は０トラツクと一致
し、この位置からパルスモータ８に対するパルス
を通電すれば、５パルスなら５トラツク目、10パ
ルスなら10トラツク目にヘツドが移動すると言う
ようにトラツク位置を自由に選択できる。

これらのパルス入力に対して磁気ヘツドが現在
どの位置にあるかはデジタル処理系のメモリ内に
記憶しておけばよい。

ところで、制御板５９とレバー６１との間の諸
元は具体的に次の如きである。

即ち、第６図に示すように制御板５９の半径Ｒ
＝15mm、１ステツプの回転角α＝6°とすると制御
板５９の周縁の移動距離δ＝tan6°×15mm＝1.6mm
である。

また、レバー６１のピン６０から先端までの距
離Ｂ＝５mm、ピン６０から後端までの距離Ａ＝13
mm、レバー６１の後端の移動距離をδ₁、回転角を
α′とすると、 α′＝15／５×6°＝18°、 δ₁≒tan18°×13mm≒4.2mmとなる。

従つて、制御板５９の周縁は1.6mm回転すると
レバー６１のレバー比は３であるためレバー６１
はほぼ18°回転する。

この結果、レバー６１の外方端は4.2mm回動さ
れ、センサ６２の大きさを３mmとすると十分にセ
ンサ面の開閉を行うことができる。

勿論、センサ６２自身の感度をアツプすれば突
起５９ａ自身の1.6mm程度の移動は充分に検出で
きるが上述したようなレバーを用いることにより
簡単で安価に制御板の移動の検出を行うことがで
きる。

このようなレバーを用いると制御板６１、従つ
てカム２６の回転を他の部品が存在しない外側で
検出できるため場所的な制約を受けにくい検出機
構を得ることができる。

ところで回転軸２０の上端に設けられたカプラ
２２には磁気デイスクカセツトが装着される。

この磁気デイスクカセツトはセンターハブの部
分を除いてほとんどが合成樹脂性である。

一方、磁気デイスクの駆動機構側はほとんどが
金属性であるため熱膨張による影響が生じる。

その詳細は次の如くである。

すなわち、第２４図Ａにおいて、回転軸２０の
中心から磁気ヘツド４７の中心、すなわちあるト
ラツクまでの距離をl₁とし、センターハブ６３の
周縁と回転軸２０の中心間の距離をl₂、センター
ハブ６３の周縁からトラツクまでの距離をl₃とす
ると、l₂の部分は金属、l₃の部分は合成樹脂であ
り、具体的にl₁＝20mm、l₂＝８mmとするとl₃は12
mmとなる。

一方、駆動側において回転軸２０の中心からト
ラツクまでの距離をL₁とするとその内容は回転
軸２０の中心からボス２８の周縁までの距離L₂、
ボス２８からカム２６の周縁までの距離L₃、カ
ム２６の周縁からトラツクまでの距離L₄の合計
となり各部は金属から構成されている。

そこで、L₂＝８mm、L₄＝1.5mmとするとL₁＝20
mmであるからL₃＝20−８−1.5＝10.5mmである。

今、温度25℃においてL₁，l₁間の誤差を零とし
てセツトした場合、温度が20℃上昇して45℃とな
つた場合には次のような結果となる。

すなわち金属の線膨張係数を16×10^-6mm／℃、
合成樹脂フイルムの線膨張係数を17×10^-5mm／℃
とするとl₁，L₁はl₁（１＋αt）−δにあてはめると
次のようになる。

l₁＝l₂＋l₃＝（８＋８×20×16×10^-6）＋（12＋12×20
×17×10^-5）＝20.043mm L₁＝L₁＋L₂＋L₃＝（８＋８×20×16×10^-6）＋（1.5＋1
.5×20×16×10^-6）＋（10.5＋10.5×20×16×10^-6）＝

20.006mm すなわち温度が20℃上昇するとL₁とl₁の差は
20.043−20.006＝37μｍ狂つてしまい、磁気デイ
スク上の情報を正確に読出すことができなくな
る。

そこで本発明においてカム２６の材質を磁気デ
イスク６４とほぼ同じ線膨張係数を持つ合成樹脂
から構成するとL₁は次のようになる。

L₁＝（８＋８×20×16×10^-6）＋（1.5＋1.5×20×16×
10^-6）＋（10.5＋10.5×20×17×10^-5）＝20.038mm すなわちカムの材質をかえることによりL₁とl₁
の差は20.043−20.038＝5μｍとなる。

従つて熱膨張による影響を十分に減少させるこ
とができる。

本発明においては磁気ヘツド４７とローラ４４
の中心位置を調節ねじ４５によつて位置決めでき
る構成とされている。

そこで、顕微鏡などにより磁気ヘツド４７の位
置を見ながらL₁を正確に20mmにセツトできる。

第２４図Ｂに磁気ヘツドとローラ４４の中心の
位置がδ分だけぶれたことを示してある。

また、カム２６が回転できるようになつている
ため第２４図Ａに示すようにボス１７とボス２８
との間にはδ₂だけの隙間がある。

従つて、カム２６が回転するとボス１７，２８
間の隙間δ₁，δ₂が絶えず変化してその変化が直接
L₁に影響を与える。

この影響を除去するために本発明においては磁
気ヘツド側のボス１７，２８間の隙間δ₁を絶えず
零にするため、ヘツド台３０と突片９との間にス
プリング３９を張架しヘツド台３０を常時ボス２
８側へ引きつけ、かつスプリング４２により片側
に圧接し磁気ヘツド位置がトラツクから狂わない
ようにセツトしている。

一方、回転軸２０はシヤーシ１の下方にまで伸
びており、シヤーシ１の下側に固定されたプリン
ト基板６５側との間でモータを構成する部材が取
付けられる。

すなわち、プリント基板６５の下面にはコイル
６５ａが半田付け固定されている。

一方、回転軸２０の下端にはボス６６が固定さ
れており、このボス６６にはねじ６７により皿状
のヨーク６８とギヤ６９とが固定されている。

そしてヨーク６８の上面にはコイル６５ａと対
向した状態でリング状の永久磁石７０が固定され
ている。

さらに、ヨーク６８の外周にはヨークが１回転
するとパルスを１発発生する無反射板７１が固定
されており、これを検出するためのセンサ７２が
プリント基板６５側に固定されている。

ヨーク６８はニツケルメツキなどが施されてい
るため発光素子と受光素子とから成るセンサ７２
は無反射板７１を確実に検出でき、この信号をイ
ンデツクス信号として利用できる。

一方、符号７３で示すものはセンサでプリント
基板６５側に固定されており、永久磁石７４とこ
れに連続するヨーク７５を有し、ヨーク７５は第
３図に示すようにギヤ６９の近傍に臨まされてい
る。

なお、第１図及び第３図において符号７６で示
すものはLSIなどの電子部品、符号７７で示すも
のはプリント基板６５をシヤーシ１に固定するた
めのねじである。

ところで、ギヤ６９は鉄系の材料で大直径のも
のとして形成されており、前記ヨーク７５に対し
歯先が近づくと磁束変化が生じセンサ７３側のコ
イルに電流が流れ、これを信号として取出すこと
ができる。

上述したコイル６５ａと永久磁石７０側とで磁
気デイスクを回転させるためのモータを構成して
いる。

ところで、このモータは１回転を200ｍｓで回
転するように設定してある。

そしてこの200ｍｓの１回転中に一定速度でぶ
れることなく回転できるように200ｍｓ内を細か
く分割して正確な回転制御を行えるようにしてあ
る。

すなわち、ギヤ６９の直径を50mmとし、モジユ
ールを0.25とし、歯数を200としてあるため、200
ｍｓ÷200＝１ｍｓの間隔でセンサ７３による回
転変化を監視している。

また、プリント基板６５は薄い絶縁体の基板で
あり鉄製のシヤーシ１に対し固定されており一体
的に設けられたコイル６５ａに通電することによ
り発生する磁束はシヤーシ１とヨーク６８間で形
成される磁気回路を通り永久磁石７０、従つてヨ
ーク６８、ギヤ６９が回転される。

このようにプリント基板６５を鉄製のシヤーシ
１に固定することにより永久磁石とシヤーシ間の
間隔を狭くすることが可能となり、磁気回路の効
率は向上する。

さらにシヤーシ１を鉄系のプリント板により作
るとモータを構成するプリント基板６５の厚み分
だけモータ部分の厚みを小さくでき、部品点数も
少なくすることができる。

ところで、永久磁石７０はシヤーシ１側へ吸着
される力が与えられているため下側のベアリング
１９の内輪がボス６６により上方へ押圧されてい
るためベアリング１９のガタを吸収し上側のベア
リング１９と共に回転軸２０の振れを防止でき
る。

一方、シヤーシ１側に固定されているボス１７
はシヤーシ１に対する固定部を基準に内外径を同
時に機械加工してあるため内外径は１〜2μｍ程
度で加工できる。

この加工精度と前記ベアリング１９のガタの吸
収により回転軸２０の振れはボス１７をも含めて
5μｍ以内に維持することができる。

以上で駆動機構部の説明を終わり、続いてカセ
ツト装着機構部の説明を行なう。

カセツト装着機械は第８図〜第１６図に示すよ
うな構造を採用している。

すなわち、図において符号７８で示すものはス
ライド枠で下方及び前後が開いた枠体として形成
されている。

このスライド枠７８の両側面にはローラ７９が
回転自在に軸承されており、これらローラ７９は
前記シヤーシ１の両側板２，２に形成された水平
な長孔４に摺動自在かつ回転自在に嵌合されてい
る。

このスライド枠７８の左右の上端部の角部には
開口部７８ａが形成されており、この開口部７８
ａの上側を通り、スライド枠７８の上面から一体
的に突片７８ｂが突設されている。この突片７８
ｂとシヤーシ１の側壁に突設された突起２ａとの
間にはスプリング８０が張架されている。

従つてスライド枠７８はシヤーシ１から手前側
に突出する方向への力が与えられている。

スライド枠７８の両側板の下端に突設された突
片には、ローラ８１が回転自在に軸承されており
このローラ８１を介してシヤーシ１上を摺動自在
に移動できる。

スライド枠７８の一端に突設された突起７８ｃ
には、押しボタン８２が固定される。

さらにスライド枠７８の左右の側板には傾斜し
た長孔８３が２ケ所平行に形成されている。

このスライド枠７８の左右の内側面には、スラ
イド板８４が摺動自在に配置されている。

スライド板８４は長方形状に形成されており、
その下端は、シヤーシ１の底板６上に接する前記
ローラ８１の小直径の軸部８１ａに接している。

このスライド板８４の上端には突起８４ａが突
設されており、この突起８４は前記スライド枠７
８の開口部７８ａ中に嵌入し、ガイドの役目を果
している。

また、スライド板８４の先端部には内側に向つ
て屈曲する折曲部８４ｂが形成されている。

さらに、スライド板８４には、前記スライド枠
７８の長孔８３とほぼ対応した位置において、ほ
ぼＬ字状の開口部８５が形成されている。

スライド板８４の先端部の内側には突片８４ｃ
が突設されており、この突片８４ｃとスライド枠
７８との間には、スプリング８ｂが張架されてい
る。

ところで、スライド枠７８の下側には、カセツ
トガイド８７が配置されている。

カセツトガイド８７は偏平な枠体として形成さ
れており、その左右には、カセツトの案内となる
レール部８７ａが形成されている。

また、カセツトガイド８７の左右には突片８８
が突設されており、各突片８８には、ピン８９が
突設されており、これらピン８９にはローラ９０
が回転自在に軸承されている。

各ローラ９０は、前記スライド板８４、スライ
ド枠７８の開口部８５、長孔８３中に回転自在に
嵌合されている。

また、カセツトガイド８７の上面の中央部に
は、開口部８７ｂが形成されており、この開口部
８７ｂをまたいだ状態で枠体９１が一体的に設け
られており、この枠体９１には、ハブ押え９２が
取付けられている。

また、開口部８７ｂの側方には、磁気ヘツドが
嵌入する開口部８７ｃが形成されている。

以上、説明したスライド枠７８、スライド板８
４、カセツトガイド８７の３部材からカセツト装
着機構が構成されている。

続いて、このカセツト装着機構の動作について
説明する。

磁気デイスクカセツト９３が装着される前にお
いてはスライド枠７８は、スプリング８０の引張
力により、第８図、第１３図中右側に移動してい
る。

この状態にあつては、ローラ９０は、ガイド溝
３内にあり、かつ第１３図に示すように長孔８３
の上端部に位置し、かつＬ字状の開口部８５の段
部８５ａ上に位置している。

すなわち、ローラ９０は、ガイド溝３、長孔８
３、開口部８５によつて規制された状態にある。

また、スライド板８４もスプリング８６によつ
て、第１３図中右側に引かれた状態にあり、カセ
ツトガイド８７は段部８５ａで規制される上方に
位置した状態でカセツトを受入れる体制にある。

この状態で、カセツト９３をカセツトガイド８
７のレール部８７ａ中に嵌合させると、カセツト
９３はこのレール部８７ａに案内されて、奥まで
導かれてゆく。

やがて、カセツト９３の先端は、スライド板８
４の先端の折曲部８４ｂに接触し、スライド板８
４を、スプリング８６の引張力に抗して、前方に
移動させる。

すると、スライド板８４の移動に伴い、開口部
８５も移動するため、第１２図Ａ，Ｃに示すよう
に、ガイド溝３中でかつ開口部８５の段部８５ａ
に位置していたローラ９０は、開口部８５の垂直
部側へ落ちることになり、第１２図Ｂ，Ｄに示す
ように、ガイド溝３、開口部８５の垂直部の下方
へと導かれる。

すなわち、カセツト９３は、カセツトガイド８
７と共に下方に移動する。

ところで、このカセツトの挿入動作により、ロ
ーラ９０は第１２図Ｅに示すように、長孔８３の
上端部に位置していた状態から、同図Ｆに示す長
孔８３の下部に移動する。

この移動時には、ローラ９０が長孔８３の右側
の側縁を押すため、スライド枠７８は、第１４図
に示すように所定距離右側に移動される。

このようにしてカセツト９３と共にカセツトガ
イド８７が下降すると位置決めピン７のうち突起
７ａをもつピンの突起７ａがカセツト９３の位置
決め孔９３ａ中に嵌合され、突起７ａを持たない
ピン７の上端はカセツトの下面に接してカセツト
の支持と位置決めを行なう。この状態を第１１図
に示す。

この時には第１１図に示すようにカプラ２２が
磁気デイスク９４の中央部にあるハブ９５に嵌合
され、ピン２３がハブ９５に形成された位置決め
孔９６中に嵌合される。またハブ９５の上面はハ
ブ押え９２により押えられる。

この装着動作は回転軸２０が回転されている状
態で行なわれる。

カセツト９３がこのようにしてセツトされる
と、磁気記録、再生が行なわれる。

一方、カセツト９３を取り出したい場合には押
しボタン８２を押せば、スライド枠７８が前進す
る。すると、傾斜した長孔８３の周縁がローラ９
０を押すため、ローラ９０は押し上げられ、カセ
ツトガイド８７も押し上げられ、元の位置にもど
る。

カセツトガイド８７が上昇し、ローラ９０も上
昇すると、開口部８５の上方に位置するため、ス
ライド板８４はスプリング８６の引張力により第
１３図に示すように右方に移動し、ローラ９０は
開口部８５の水平部に移動した状態となり段部８
５ａ上に乗る。このスライド板８４の動作によ
り、折曲部８４ｂがカセツト９３を押すため、カ
セツト９３はカセツトガイド８７の端部から手前
側へ押し出され、取り出すことができる。

ところで、スライド枠７８、スライド板８４、
カセツトガイド８７は第１５図に示すように組立
てられた状態でシヤーシ１の側板２，２の内側に
配置され、ローラ７９，７９ａを長孔４、切欠部
５中に嵌合させた状態でねじ７９ｂにより、スラ
イド枠８７の側面に固定するだけで、簡単に組み
立てることができる。パツトアーム５４は最後に
ヘツド台３０側に取付ければよい。

ところで、第１９図Ａには制御回路のブロツク
図が示されている。

本発明になる磁気デイスク装置はコンピユータ
１００によつて制御される。このコンピユータ１
００と磁気デイスク装置側は電線で結合されてお
り入力、出力線を合わせるとほぼ34本の電線によ
つて結合されている。

この34本の入出力線は全てデジタル信号で処理
されている。

一方、磁気デイスク装置側の制御回路は第１９
図Ａに示すように大別するとコンピユータ１００
と結合するため及び磁気デイスク装置側と各種の
センサの出力を増幅してデジタル化するため、あ
るいは磁気ヘツドを所定のトラツクに位置決めす
るためのパルスモータの駆動回路等のデジタル処
理回路１０１を中心として構成されている。

この回路１０１には磁気ヘツドからの情報を読
出した信号を増幅するリードアンプ１０２、ライ
トアンプ１０３、リード、ライト切替スイツチ１
０４、磁気デイスクが１回転するとパルス信号を
１発発生するインデツクスアンプ１０５、磁気ヘ
ツドのトラツク位置を検出するためのトラツク位
置検出アンプ１０６、磁気デイスクを回転させる
ためのモータ駆動回路１０７等が接続されてい
る。

また、符号１０８で示すものはモータの回転数
を制御するための速度制御回路で前記モータ駆動
回路１０７に接続されており、前記デジタル処理
回路１０１からの信号線１０９，１１０により後
述するような速度制御が行なわれる。

また、符号１１１で示すものはモータ回転数を
監視するためのアンプである。

符号１１２で示すものはテレビジヨンである。

ところで、上述したような回路構成のもとに本
発明においては、一般的な記録と再生時のデイス
ク回転数を同一回転数で行う以外に高密度記録が
行え、信頼性を向上させるために記録と再生時の
モータ回転数を変える構造が採用されている。

すなわち、まずコンピユータ１００から記録し
たいとの情報が命令としてデジタル処理回路１０
１に入力されると回路１０１は切替スイツチ１０
４に信号を入力して磁気ヘツドを再生モードから
記録モードへと切替えるとともにライトアンプ１
０３を動作状態とする。

また、信号線１１０を介して速度制御回路１０
８に対し低速回転動作を命令した後アンプ１１１
から信号間隔と速度制御間隔時間が一致している
ことを確認し、低速回転状態であることを確か
め、コンピユータ１００からの記録信号を入力し
て磁気デイスクに情報を記録する。

また逆にコンピユータ側から再生命令が出た場
合にはリードライトの切替スイツチ１０４をリー
ド側に切替えリードアンプ１０２を作動させ、信
号線１０９を介して速度制御回路１０８を高速モ
ードとし、アンプ１１１を介してモータが高速回
転状態となつたことを確認した後記録の読出しを
開始してコンピユータ１００に入力させる。

また、記録、再生時の回転数を同一にしたい場
合には速度制御回路１０８の基準高速回転を設定
するための基準周波数を低速回転数と同じ周波数
とすることにより処理することができる。

第１９図Ｂは磁気デイスクの回転数を300rpm
から600rpmに変えて情報を読出した場合の磁気
ヘツドの出力を測定した場合の出力特性を示して
いる。

記録周波数ｆ＝125kHz、デイスク回転数を
300rpmにした時磁気ヘツド出力を0.8Vに調整し
この点Ｐを原点として回転数を倍の600rpmにす
ると磁気ヘツド出力もほぼ倍のＱ点が得られた。

また、記録周波数ｆを２倍の250kHzにした場
合磁気記録密度がアツプしたため原点はＰ点に対
し約25％低下したＳ点の出力が得られこの状態で
回転数を２倍にするとＳ点に対し約２倍の出力で
あるＲ点が得られた。

この出力特性をもとに磁気デイスクを300rpm
で回転させ、250kHzの周波数で磁気記録を行な
うとその回転数で再生した場合にはＳ点の0.6V
が得られるが、前述したように再生時においては
回転数を600rpmに設定すればＲ点の1.2Vの出力
が得られた。

すなわち0.6Vのプラス出力電圧が得られるこ
とになり磁気デイスクの特性のばらつきによる出
力低下、磁気ヘツドの磁気回路のロスによるばら
つきなどによる出力低下があつてもデジタル処理
するための十分な出力電圧が得られ、信頼性を向
上させることができた。

ところで、テレビジヨン１１２の画像信号を磁
気デイスクに記録する場合にはブラウン管の１画
面を記録する時磁気デイスクを3600rpmとすると
１トラツクに１フイールドが同期するため１画面
を記録することができる。

なお、１画面とは１フイールドのことで、１秒
÷60枚画面＝16.7ｍｓである。

ところで、テレビ画像を磁気デイスクに記録す
る周波数は6.1MHzであるため、第１９図Ｂで説
明したように回転数は3600rpm÷300rpm＝12倍
とすれば出力は増加するはずであるが記録周波数
は6.1MHz÷250kHz＝24倍となり、記録密度が増
加しアンプ出力はほぼ0.4〜0.5Vになるため、磁
気デイスクにテレビ画像を記録再生するにはデイ
スクを高速回転をすることにより確実に実施でき
る。

ところで、第１９図Ａに示した制御回路を構成
する電子部品は第１７図及び第１８図に示すよう
に３枚の基板に搭載してある。

すなわち、前述したプリント基板６５と１１
３，１１４である。

プリント基板６５にはインデツクス、トラツク
位置検出、モータ駆動回路等が搭載してある。

また、基板１１３には磁気ヘツドのリードライ
ト切替スイツチ、リード、ライトアンプが搭載し
てあり、基板１１４には各基板６５，１１３から
の信号を処理するためのインターフエイス関係の
回路が搭載してある。

また、基板６５，１１３のそれぞれにコネクタ
１１５を設け、基板１１４側にはこれらと結合さ
れるコネクタ１１６を設け各基板間を簡単に接続
できるようにした。

そして第１８図に示すように各基板はシヤーシ
の上下面及び側面に取付けられるため電気信号の
調整や確認等はシヤーシの外部から簡単に行な
え、いずれかの回路が故障した場合などにおいて
は基板を交換することにより簡単に修理できる。

ところで、磁気デイスク装置はコンピユータの
記憶装置として使用されるが、この場合装置の周
辺にはブラウン管や電源トランス、モータなどの
強力な磁界を発する部品があるためこれらの磁界
から装置を保護する必要がある。

そこで、本発明においてシヤーシ１をコ字状に
形成しその上面及び側面を鉄製のスライド枠７
８、スライド板８４、カセツトガイド８７によつ
て覆い外部磁界を遮断し磁気シールド効果の大き
い構造としている。

第２０図Ａ〜Ｄは磁気デイスクのトラツクを説
明するもので、図においては８本のトラツクを示
してあるが実際は40本のトラツクを記録すること
ができる。

第２０図Ｂにはトラツク［０〜２］を拡大して
示してあり、トラツク幅ａは50μｍ、トラツク間
隔ｂは70μｍ、トラツクピツチはａ＋ｂ＝120μｍ
である。

このようにトラツク間隔ｂがトラツク幅より大
である場合にはトラツク間に記録することができ
れば40本のトラツクを80本に増大でき記録容量は
２倍に向上する。

このような２倍に容量を増大させた状態を第２
０図Ｃに示す。

第２０図Ｃにおいてはａ＝50μｍ、ｂ＝10μｍ、
トラツクピツチはａ＋ｂ＝60μｍとなつている。

ところで、このようにトラツク間隔を小さくす
ると隣接するトラツク間において磁気記録の干渉
が生じる。

そこで本発明においては第２０図Ｄに示すよう
にアジマスヘツドを２個用いて交互に記録方向を
異ならせて磁気記録する方法を採用している。

一方、第２０図Ｄに示した磁気デイスクに対し
外周から内周方向へ磁気ヘツド４７を10μｍ間隔
でずらして再生出力を測定した所第２１図Ａのよ
うになつた。

この再生出力電圧はリードアンプ１０２の出力
を測定したもので、最終的にはこの再生出力電圧
をデジタル処理回路に入力してTTLレベルの5V
のピーク間パルスに整形してコンピユータなどと
結合する。

そこで第２１図Ａの出力をデジタル処理回路に
入力する場合には入力レベルを0.4Vに設定して
入力が0.4V以上の電圧はパルスを発生し、それ
以下はパルスを発生しないように設定したとする
とトラツクと磁気ヘツドの中心のずれ量が第２１
図Ａに示すように±25μｍずれても正規のデジタ
ル信号は発生する。

従つてモータ軸の振れ、カム２６の半径の誤差
及び温度や湿度による磁気デイスクの膨張、収縮
等により寸法ずれ量の総和は±25μｍまで許され
ることになる。

一方、第２０図Ｃに示した倍密度のトラツクを
再生した場合の出力を第２１図Ｂに示す。

第２１図Ｂにおいて曲線Ａはトラツク［１］に
磁気記録されていない場合においてトラツク
［０］の出力特性を示し曲線Ｂはトラツク［０］
に磁気記録されていない場合においてトラツク
［１］の出力を測定した特性を示している。

トラツク［０］，［１］に情報を記録し、トラツ
ク［０］方向からトラツク［１］方向に磁気ヘツ
ドを移動して測定した場合、曲線Ａ，Ｂの間に曲
線Ｃで示すような出力が再生される。

すなわち情報の干渉が発生してしまう。

曲線Ａ，Ｂ，Ｃで囲まれた斜線の部分の電圧を
測定してみると曲線Ａ，Ｂが完全に総和されて曲
線Ｃになるのではなく他のノイズ成分が混入して
いるのが分る。

従つて曲線Ｃの部分は正確な情報とはならな
い。

このような場合には第２１図Ｂに示すようにト
ラツクと磁気ヘツドのずれ量は第２１図Ａに対し
て１／２の±12μｍ程度が限界となり、デジタル
回路への入力レベルを0.65Vに設定しなければな
らないことになる。

すなわち第２０図Ｃに示すような記録方式で情
報量を２倍にしようとすると寸法精度を倍以上に
しなければならず、高精度で高価な部品が必要と
なる。

そこで本発明においては前述した第２０図Ｄに
示すような記録方式を採用した。

すなわちヘツドギヤツプが隣接するトラツクご
とにθ₁＝θ₂と交互に異つた方向を向いたものを用
いて記録を行なつた。

なお、θ₁＝θ₂＝10度とした。

このような磁気ヘツドの構造を第２２図に示
す。

第２２図において符号１１７，１１８で示すも
のは一方の磁気ヘツドコアを構成するコア半体で
両者の突合わせ部にはθ₁の角度を持つたギヤツプ
G₁が形成されている。

また、符号１１９，１２０で示すものは他方の
磁気コアを構成するコア半体で両者の突合わせ部
にはθ₂の角度を持つたギヤツプG₂が形成されて
いる。

これらのコアはコアサポート１２１によつて支
持されており、コア半体１１７，１１９にはコイ
ル１２２が巻装されている。

コアサポート１２１はコア間を接着するガラス
材１２３又はコアの材料であるセンダストなどの
膨張係数にほぼ等しい膨張係数を有するガラス材
を多量に含有した樹脂によつて構成し、振動、温
度などの環境変化に十分に耐える構造とされてい
る。

今、トラツク［０〜２］に同じ情報を磁気記録
した上で、第２２図のコア半体１１７，１１８か
ら成るヘツドをトラツク外周方向から内周方向に
10μｍずつ移動して再生出力電圧を測定すると第
２１図Ｃに示す曲線Ａの出力特性が得られた。

曲線Ａで示す特性においてトラツク［１］の部
分で出力電圧が小さいのはトラツク［１］をθ₂の
傾斜ギヤツプを有する磁気ヘツドで記録してある
ためである。

すなわちトラツク［１］を記録したギヤツプと
今通過するヘツドのギヤツプが20度異なつている
からで出力は小さくノイズ成分が増大する。

逆にコア半体１１９，１２０から成るヘツド側
を用いてトラツク外周方向から内周方向に移動さ
せ再生出力を測定すると第２１図Ｃに破線で示す
曲線Ｂのような出力を得る。

この時にはトラツク［１］の部分で最適な再生
出力電圧が得られる。

このようにして０を含むトラツク偶数桁にはθ₁
傾斜したギヤツプ、奇数桁にはθ₂傾斜したギヤツ
プを有するアジマスヘツドにより磁気記録、再生
を行なうことにより、隣接するトラツク間の磁気
記録情報が干渉することが極めて少なくなる。

従つて、入力レベルを仮に0.4Vに設定すると
記録されたトラツクと磁気ヘツドのずれ量は25μ
ｍまで許されることになる。

このようにしてギヤツプ角度θが逆方向に向い
た磁気ヘツドを用いて高密度記録した方が機械的
寸法精度は楽になり、簡単な機構により設計が容
易で磁気記録媒体の互換性も増大することにな
る。

第２３図Ａ，Ｂは磁気ヘツドの他の構造例を説
明するもので本実施例にあつては磁気ヘツド１２
４として所定間隔ｂだけ離して１組ずつの磁気コ
ア半体１２５，１２６を配置し、ヘツド台１２７
に取付けてある。

コア半体１２５，１２６の厚みａは50μｍで、
間隔ｂは2.5mmであり、それぞれセンダストから
成りギヤツプＧ＝0.1μｍでガラス溶着しコイル１
２８を巻線窓１２９を利用して取付けてある。

このような構造の磁気ヘツドを用いると、第２
０図Ｂに示すような記録を行なつた場合、コア半
体１２５側でトラツク［０〜19］まで、他方のコ
ア半体１２６でトラツク［20〜39］までの記録、
再生を受持たせることができる。

従つてこのような磁気ヘツド１２４を用いると
40本のトラツクを記録、再生するにはパルスモー
タ８によりヘツド台１２を20ステツプ動作させれ
ば全てをカバーすることができる。

この場合にはカム２６の段数は20段で良いこと
になる。

例えば一個のコアしか持たない磁気ヘツドの場
合はトラツク［０〜20］まで変化させたい場合の
時間を計算した場合パルスモータの速度特性は３
ｍｓで１トラツク分であるため20×３ｍｓ＝60ｍ
ｓとなる。

また、20番目のトラツクに磁気ヘツドが到着し
てもパルスモータ８は急に止まらず、わずかに振
動しているため、停止するまで待つてから記録、
再生する必要がある。従つてほぼ70ｍｓ後でない
と記録、再生を開始できない。

一方、第２３図に示したヘツドを採用すると、
トラツク［０］を記録再生後、待時間なしですぐ
にトラツク［20］に記録、再生することができ
る。

さらに１個のコアを持つヘツドで［０〜39］の
トラツクに対する記録、再生は３ｍｓ×39＋10
（待時間）＝127ｍｓ必要であるのに対し第２３図
に示したヘツドの場合は３ｍｓ×19＋10（待時間）
＝67ｍｓであるため、60ｍｓの差が生じ、高速化
が実現できることが分つた。

続いて本発明になる磁気デイスク装置に適用さ
れる磁気デイスクカセツトについて説明する。

カセツト９３は第２５図に示すように上下のカ
セツトハーフ１３０，１３１から成り、両者間に
センターハブ９５を有する磁気デイスク９４が収
容される。各カセツトハーフはセンターハブ９５
が嵌合される透孔１３２を有し、ヘツドウインド
１３３がそれぞれ形成されている。

また符号１３４で示すものは矢印でカセツト装
着方法を示し、符号１３５で示すものはプログラ
ム名などを記入するラベル１３６が貼着される凹
部である。

また符号１３７，１３８で示すものはピン７の
上端の突起７ａが嵌合される位置決用の孔であ
る。

ところで符号１３９で示すものは上下に合わさ
れたカセツトハーフ１３０，１３１の外側に嵌合
されるシヤツタで、断面がコ字状に形成されてお
り、カセツトの外側から挟むようにして摺動自在
に嵌合される。

シヤツタ１３９の一端にはカセツトハーフ１３
０側の上面に形成された溝１４０中に摺動自在に
嵌合される突片１４１が形成されている。

また、突片１４１と対向した状態で内側に向つ
て折曲部１４２が形成されている。

この折曲部１４２は上下のカセツトハーフに形
成された溝１４３，１４４中に嵌合され、シヤツ
タ１３９を案内する。

また、下側のカセツトハーフ１３１の溝１４４
の内奥端にはピン１４５が突設されており、この
ピン１４５と前記折曲部１４２との間にはスプリ
ング１４６が張架されており、カセツトハーフの
中心部に向つてシヤツタ１３９を引寄せる力を与
えている。

尚、カセツトハーフ１３０，１３１の溝１４
３，１４４の側縁に沿つて折曲部１４２を導くた
めの一段低い段部１４７がそれぞれ形成されてい
る。

各カセツトハーフ１３０，１３１の外側面には
シヤツタ１３９が接する四辺形の凹部１４８が形
成されている。

また、１４９で示すものはシヤツタの抜け止め
である。

また符号１５０で示すものはカセツトをカセツ
トガイド８７内に挿入する時カセツトガイド８７
の入口端に突設されたシヤツタをカセツト挿入時
に開くための折曲部８７ｄを通過させる溝であ
る。

この折曲部８７ｄは第２８図に示すようにカセ
ツト装着時においてシヤツタ１３９の端縁１３９
ａに接触し、ヘツドウインド１３３を閉じた状態
にあるシヤツタ１３９を開く。

シヤツタが閉じている状態を第２６図Ａ，Ｂに
示し、開いた状態を第２６図Ｃ，Ｄに示す。

本発明になる磁気デイスク装置に用いられる磁
気デイスクカセツトは以上のように構成されてい
るため、装置側のカセツトガイド内に挿入するだ
けで常時閉じた状態にあるシヤツタを自動的に開
き、磁気記録再生を確実に行なうことができる。

［効果］以上の説明から明らかなように、本発明によれ
ば、ヘツド最外周位置検出用の回動レバーを、ヘ
ツドの駆動制御系の一部を構成しヘツド移動用カ
ムと一体に回転する制御板によつて回動制御して
いるため、ヘツドに不要な負荷をかけることがな
く、簡単な構成で、且つがたつきや位置ずれを生
じる不都合を防止でき、高い位置精度を得ること
ができる。

またヘツドがその最外周位置にない状態では、
制御板の外周によつて回動レバーの回動を確実に
阻止し、外部振動等によつて回動レバーが振動し
たり、位置のがた等によつて御検出動作を生じる
ことを確実に防止し得るものであり、高い信頼性
を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を説明するもので第１図
はデイスクおよびヘツド駆動機構の分解斜視図、
第２図はヘツド駆動機構が装着された状態のシヤ
ーシの斜視図、第３図は第２図のＡ−Ａ線断面
図、第４図は第２図のＢ−Ｂ線断面図、第５図Ａ
はヘツド台の一方の軸受構造を示す断面図、第５
図Ｂは軸受構造の他の例を示す断面図、第５図Ｃ
はヘツド台の他方の軸受構造を示す断面図、第５
図Ｄは第５図ＣのＣ−Ｃ線断面図、第６図、第７
図はカムの構造およびトラツク最外周位置検出機
構の構造、動作を示す説明図、第８図はカセツト
装着機構の分解斜視図、第９図は組立てた状態の
カセツト装着機構の斜視図、第１０図はカセツト
を挿入直後のカセツト装着機構の断面図、第１１
図は完全に装着された状態のカセツト装着機構の
断面図、第１２図Ａ〜Ｇはカセツト装着動作時に
おけるローラの動作を示す説明図、第１３図はカ
セツト下降前におけるカセツト装着機構の断面
図、第１４図はカセツト下降後におけるカセツト
装着機構の断面図、第１５図はカセツト装着機構
とシヤーシとの関係を示す斜視図、第１６図はカ
セツト装着機構を取付けた状態のシヤーシの斜視
図、第１７図は制御回路を搭載した基板の配置を
示す説明図、第１８図は基板を取付けた状態のシ
ヤーシの側面図、第１９図Ａは制御回路のブロツ
ク図、第１９図Ｂはメデイアの回転数と再生出力
との関係を示す線図、第２０図Ａは磁気デイスク
のトラツクの説明図、第２０図Ｂは粗に記録した
トラツクの説明図、第２０図Ｃは密に記録したト
ラツクの説明図、第２０図Ｄは本発明が採用した
記録方式の説明図、第２１図Ａ〜Ｃは第２０図Ｂ
〜Ｄに示す記録状態にそれぞれ対応する再生出力
特性を示す線図、第２２図Ａは磁気ヘツドの平面
図、第２２図Ｂは第２２図ＡのＤ−Ｄ線断面図、
第２３図Ａは磁気ヘツドの他の構造例を示す平面
図、第２３図Ｂは第２３図ＡのＥ−Ｅ線断面図、
第２４図Ａ，Ｂはトラツク位置決め機構の詳細を
説明する断面図および説明図、第２５図は磁気デ
イスクカセツトの分解斜視図、第２６図Ａ，Ｂは
シヤツタが閉じた状態のカセツトの平面図および
側面図、第２６図Ｃ，Ｄはシヤツタが開いた状態
の平面図および側面図、第２７図は第２６図Ａの
Ｆ−Ｆ線拡大断面図、第２８図はシヤツタの開放
動作を説明する斜視図である。２０……回転軸、２６……カム、２７……ギ
ヤ、５９……円盤、５９ａ……突起、６１……レ
バー、６２……センサ、９３……磁気デイスクカ
セツト、９４……磁気デイスク。

Claims

【特許請求の範囲】１ヘツドを載置され、回転するデイスクに対し
てその半径方向に移動するヘツド移動部材と、前記ヘツド移動部材と係合して該ヘツド移動部
材の位置制御を行なうカムと、前記カムと一体に回転しその一部に係合部を形
成された制御板と、前記ヘツドが最外周位置に位置せざる場合には
前記制御板外周に係合してその回動を阻止され、
前記ヘツドが前記デイスクに対して最外周位置に
到達したとき前記制御板の係合部と係合して回動
する回動レバーと、該回動レバーの回動を検出して前記ヘツドの最
外周トラツクへの到達を検出するセンサと、を備えたことを特徴とするデイスク装置。