JPH05333097A - 電子部品のテストコンタクトの触子 - Google Patents
電子部品のテストコンタクトの触子Info
- Publication number
- JPH05333097A JPH05333097A JP4135280A JP13528092A JPH05333097A JP H05333097 A JPH05333097 A JP H05333097A JP 4135280 A JP4135280 A JP 4135280A JP 13528092 A JP13528092 A JP 13528092A JP H05333097 A JPH05333097 A JP H05333097A
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- Japan
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- lead
- substrate
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 触子取付台（１）に一端を固定されたバネ性
を有する板状の触子基体（１０）の先端に、刃先の方向
が当該触子基体の長手方向とほぼ同一方向の刃状の接触
部（１２）を設けた電子部品のテストコンタクトの触
子。前記触子は好ましくは超硬合金製とする。 【効果】 従来タイプでは測定困難な製品形状や構造に
対応することができる。ハンダ酸化皮膜を破る効果が高
く、誤測がほとんど無い。触子の材質に超硬合金を使用
することにより、ハンダカスが付着しにくい。触子を超
硬合金にすることにより、先端接触部の摩耗が少なく、
長寿命化を図ることができる。
を有する板状の触子基体（１０）の先端に、刃先の方向
が当該触子基体の長手方向とほぼ同一方向の刃状の接触
部（１２）を設けた電子部品のテストコンタクトの触
子。前記触子は好ましくは超硬合金製とする。 【効果】 従来タイプでは測定困難な製品形状や構造に
対応することができる。ハンダ酸化皮膜を破る効果が高
く、誤測がほとんど無い。触子の材質に超硬合金を使用
することにより、ハンダカスが付着しにくい。触子を超
硬合金にすることにより、先端接触部の摩耗が少なく、
長寿命化を図ることができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、集積回路，トランジス
タ等、半導体電子部品の電気特性テストをするハンドラ
ーのテストコンタクトの触子に関する。
タ等、半導体電子部品の電気特性テストをするハンドラ
ーのテストコンタクトの触子に関する。
【０００２】
【従来の技術】かかる電子部品の電気特性テストを検査
ライン上で連続的、自動的に行う場合、電子部品のリー
ドに触子を押し当てて電子部品に電流を流したり電圧を
印加したりしている（例えば特開昭５８−７３８７５号
公報参照）。
ライン上で連続的、自動的に行う場合、電子部品のリー
ドに触子を押し当てて電子部品に電流を流したり電圧を
印加したりしている（例えば特開昭５８−７３８７５号
公報参照）。
【０００３】従来の触子のタイプとしては、針状の触子
を、測定するリードに垂直に圧接するものがあるが、こ
れではリードにおけるハンダメッキ表面の酸化皮膜が破
れにくく、電気的に接触不良となってテストができない
という問題がある。
を、測定するリードに垂直に圧接するものがあるが、こ
れではリードにおけるハンダメッキ表面の酸化皮膜が破
れにくく、電気的に接触不良となってテストができない
という問題がある。
【０００４】一方、細幅板状の触子で対称の形でクラン
プすると同時に、触子が撓むのを利用してリードとの接
触部を擦る運動（ワイプ）をさせてハンダ酸化皮膜を破
る方法がある（例えば実公昭５８−１０９６７号公報参
照）。ところが、吊りピンタイプトランジスタではこの
方法では構造上、触子を構成できないという問題があっ
た。
プすると同時に、触子が撓むのを利用してリードとの接
触部を擦る運動（ワイプ）をさせてハンダ酸化皮膜を破
る方法がある（例えば実公昭５８−１０９６７号公報参
照）。ところが、吊りピンタイプトランジスタではこの
方法では構造上、触子を構成できないという問題があっ
た。
【０００５】また、接触部を擦るタイプでは触子の接触
部にハンダカスやその酸化皮膜が付着しやすく、また隣
接するリード間でハンダカスがブリッジを形成して短絡
するなど、誤測につながるという問題があった。さら
に、鉄系や銅系のバネ材で触子が形成されているため、
触子接触部の寿命が短いという問題があった。
部にハンダカスやその酸化皮膜が付着しやすく、また隣
接するリード間でハンダカスがブリッジを形成して短絡
するなど、誤測につながるという問題があった。さら
に、鉄系や銅系のバネ材で触子が形成されているため、
触子接触部の寿命が短いという問題があった。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明が解決すべき課
題は、電子部品の接触部のハンダ酸化皮膜を破ることが
でき、吊りピンタイプのトランジスタでも触子を構成で
き、ハンダカスが発生しにくく、また触子接触部の寿命
が長い電子部品のテストコンタクトの触子を提供するこ
とにある。
題は、電子部品の接触部のハンダ酸化皮膜を破ることが
でき、吊りピンタイプのトランジスタでも触子を構成で
き、ハンダカスが発生しにくく、また触子接触部の寿命
が長い電子部品のテストコンタクトの触子を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するた
め、本発明の電子部品のテストコンタクトの触子は、触
子取付台に一端を固定されたバネ性を有する板状の触子
基体の先端に、刃先の方向が当該触子基体の長手方向と
ほぼ同一方向の刃状の接触部を設けたことを特徴とす
る。
め、本発明の電子部品のテストコンタクトの触子は、触
子取付台に一端を固定されたバネ性を有する板状の触子
基体の先端に、刃先の方向が当該触子基体の長手方向と
ほぼ同一方向の刃状の接触部を設けたことを特徴とす
る。
【０００８】この触子において、触子基体を超硬合金製
とすることが好ましい。
とすることが好ましい。
【０００９】
【作用】電子部品のリードに触子先端を接触させ、さら
に押し当てると、触子基体が撓み、その変形により触子
基体先端の刃状接触部が変位する。この変位により電子
部品のリード部との接触部がワイピングされるが、その
ワイプ方向は刃状接触部の刃先の方向と同じであるので
リード表面のハンダ酸化皮膜が切られる状態となり、電
気的接触が可能となる。このワイプ動作はハンダ酸化皮
膜を針で引っ掻く動作ではなく刃物で切るような動作で
あるので、ハンダカスが発生しにくい。
に押し当てると、触子基体が撓み、その変形により触子
基体先端の刃状接触部が変位する。この変位により電子
部品のリード部との接触部がワイピングされるが、その
ワイプ方向は刃状接触部の刃先の方向と同じであるので
リード表面のハンダ酸化皮膜が切られる状態となり、電
気的接触が可能となる。このワイプ動作はハンダ酸化皮
膜を針で引っ掻く動作ではなく刃物で切るような動作で
あるので、ハンダカスが発生しにくい。
【００１０】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて具体的に説
明する。
明する。
【００１１】図１は本発明実施例の正面図である。この
図において、１は絶縁物からなる触子取付台で昇降可能
に構成されている。２は触子取付台１上に固定されて電
子部品（吊りピンによってフレームに残ったままの部
品）Ｐを支持，案内する製品ガイドレール、３は触子取
付台１の上昇時に下降して電子部品Ｐを押さえる製品押
えである。
図において、１は絶縁物からなる触子取付台で昇降可能
に構成されている。２は触子取付台１上に固定されて電
子部品（吊りピンによってフレームに残ったままの部
品）Ｐを支持，案内する製品ガイドレール、３は触子取
付台１の上昇時に下降して電子部品Ｐを押さえる製品押
えである。
【００１２】図２は触子取付台１の平面図であり、図１
と共にその構造を説明すると、触子取付台１の両側には
超硬合金製の板状の触子基体１０の基端部１１が端子板
４と共に固定されており、その基端部１１は肉厚に形成
されている。触子基体１０の先端部は上方に折曲してお
り、その上端は図３に示すように刃物状に尖った刃状接
触部１２が形成されている。刃状接触部１２の刃先は触
子基体１０の長手方向と同方向である。図２中、５は各
触子基体１０の基端部１１を絶縁する絶縁板である。端
子板４には、測定器具につながれる導線６が接続されて
いる。
と共にその構造を説明すると、触子取付台１の両側には
超硬合金製の板状の触子基体１０の基端部１１が端子板
４と共に固定されており、その基端部１１は肉厚に形成
されている。触子基体１０の先端部は上方に折曲してお
り、その上端は図３に示すように刃物状に尖った刃状接
触部１２が形成されている。刃状接触部１２の刃先は触
子基体１０の長手方向と同方向である。図２中、５は各
触子基体１０の基端部１１を絶縁する絶縁板である。端
子板４には、測定器具につながれる導線６が接続されて
いる。
【００１３】本実施例ではフレームに２列の電子部品が
形成されている場合を示し、これらを同時に４個ずつ検
査する装置を示している。
形成されている場合を示し、これらを同時に４個ずつ検
査する装置を示している。
【００１４】図１に示す状態から触子取付台１を上昇さ
せ、同時に製品押え３を下降させると、図３及び図４の
ように電子部品Ｐの頭部が製品押え３で押さえられ、電
子部品ＰのリードＬに触子基体１０先端の刃状接触部１
２が当接する。さらに触子取付台１を上昇させると、触
子基体１０の基端部１１は上昇するが先端の刃状接触部
１２はそれ以上上昇できないため、触子基体１０は斜め
の姿勢になる。そうすると、図４の一点鎖線に示すよう
に刃状接触部１２は傾斜し、このとき刃状接触部１２と
電子部品ＰのリードＬとの接触部が移動する。その移動
方向は刃状接触部１２は刃先の方向であるので、この接
触部の移動によりリードＬの表面のハンダメッキの酸化
皮膜が切られ、両者は電気的にも接触することになる。
せ、同時に製品押え３を下降させると、図３及び図４の
ように電子部品Ｐの頭部が製品押え３で押さえられ、電
子部品ＰのリードＬに触子基体１０先端の刃状接触部１
２が当接する。さらに触子取付台１を上昇させると、触
子基体１０の基端部１１は上昇するが先端の刃状接触部
１２はそれ以上上昇できないため、触子基体１０は斜め
の姿勢になる。そうすると、図４の一点鎖線に示すよう
に刃状接触部１２は傾斜し、このとき刃状接触部１２と
電子部品ＰのリードＬとの接触部が移動する。その移動
方向は刃状接触部１２は刃先の方向であるので、この接
触部の移動によりリードＬの表面のハンダメッキの酸化
皮膜が切られ、両者は電気的にも接触することになる。
【００１５】この状態で電気テストを行うことができ
る。
る。
【００１６】なお、酸化皮膜の切断力は、超硬合金であ
る触子基体１０の厚みや幅によって設定することができ
る。
る触子基体１０の厚みや幅によって設定することができ
る。
【００１７】上記の実施例では１個の電子部品に２本の
触子が接触する例を示しているが、リードの数に応じて
触子の数を変えることができることは勿論である。
触子が接触する例を示しているが、リードの数に応じて
触子の数を変えることができることは勿論である。
【００１８】
【発明の効果】上述したように、本発明によれば下記の
効果を奏する。
効果を奏する。
【００１９】 従来タイプでは測定困難な製品形状や
構造に対応することができる。
構造に対応することができる。
【００２０】 ハンダ酸化皮膜を破る効果が高く、誤
測がほとんど無い。
測がほとんど無い。
【００２１】 触子の材質に超硬合金を使用すること
により、ハンダカスが付着しにくい。 触子を超硬合金にすることにより、先端接触部の摩
耗が少なく、長寿命化を図ることができる。
により、ハンダカスが付着しにくい。 触子を超硬合金にすることにより、先端接触部の摩
耗が少なく、長寿命化を図ることができる。
【図１】 本発明の実施例を示す正面図である。
【図２】 本発明に係る触子取付台の平面図である。
【図３】 触子先端部の拡大側面図である。
【図４】 触子先端部の拡大正面図である。
１：触子取付台、２：製品ガイドレール、３：製品押
え、４：端子板、５：絶縁板、６：導線、１０：触子基
体、１１：基端部、１２：刃状接触部、Ｐ：電子部品、
Ｌ：リード
え、４：端子板、５：絶縁板、６：導線、１０：触子基
体、１１：基端部、１２：刃状接触部、Ｐ：電子部品、
Ｌ：リード
Claims (2)
- 【請求項１】 触子取付台に一端を固定されたバネ性を
有する板状の触子基体の先端に、刃先の方向が当該触子
基体の長手方向とほぼ同一方向の刃状の接触部を設けた
ことを特徴とする電子部品のテストコンタクトの触子。 - 【請求項２】 触子基体を超硬合金製とした請求項１記
載の電子部品のテストコンタクトの触子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13528092A JP3213379B2 (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | 電子部品のテストコンタクトの触子 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13528092A JP3213379B2 (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | 電子部品のテストコンタクトの触子 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05333097A true JPH05333097A (ja) | 1993-12-17 |
| JP3213379B2 JP3213379B2 (ja) | 2001-10-02 |
Family
ID=15148017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13528092A Expired - Lifetime JP3213379B2 (ja) | 1992-05-27 | 1992-05-27 | 電子部品のテストコンタクトの触子 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3213379B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022041092A (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-11 | 株式会社 東京ウエルズ | ワーク検査装置 |
-
1992
- 1992-05-27 JP JP13528092A patent/JP3213379B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022041092A (ja) * | 2020-08-31 | 2022-03-11 | 株式会社 東京ウエルズ | ワーク検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3213379B2 (ja) | 2001-10-02 |
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