JPH05327467A - Ttlレベル入力バッファ回路 - Google Patents

Ttlレベル入力バッファ回路

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JPH05327467A
JPH05327467A JP4148576A JP14857692A JPH05327467A JP H05327467 A JPH05327467 A JP H05327467A JP 4148576 A JP4148576 A JP 4148576A JP 14857692 A JP14857692 A JP 14857692A JP H05327467 A JPH05327467 A JP H05327467A
Authority
JP
Japan
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mosfet
output
input buffer
level
level input
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Pending
Application number
JP4148576A
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English (en)
Inventor
Masahiko Kashimura
雅彦 樫村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 MOSFETの閾値のバラツキによる論理閾
値の変動を小さく抑える。 【構成】 PchMOSFET2のソース電位をNch
MOSFET1によってVTだけ降下させ、入力端子I
Nからの入力はMOSFET2に直列接続されたNch
MOSFET3のゲートに入力され、このMOSFET
2と3の接点部分の信号を論理振巾変換回路の入力と
し、この論理振巾変換回路から出力信号を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、TTLレベル入力バッ
ファに関し、特に相補型MOSFET集積回路に集積す
るためのTTLレベル入力バッファに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、相補型MOSFET(以下、CM
OSという)集積回路に内蔵され、外部のTTLレベル
の信号を入力する入力バッファには、図5に示すCMO
Sインバータが用いられてきた。31は電源,32は接
地,33はPチャンネル型MOSFET,34はNチャ
ンネル型MOSFETである。
【0003】このCMOSインバータの入出力特性を図
6に示す。このように出力が電源電圧(VDD)の1/2
となるときの入力電圧を、入力信号がハイレベルかロー
レベルかを判定している閾値という意味で論理閾値(以
下、VTHという)と呼ぶ。
【0004】通常、CMOSインバータはVTHが約1/
2VDDとなるように設定されている。一方、TTLレベ
ルとは、0.8V以下がローレベル、2.0V以上がハ
イレベルと、一般的に定められているので、VDD=5V
の場合、CMOSインバータのVTHは、2.5V(=1
/2VDD)から1.4V(=(0.8+2.0)/2)
に変えて使用している。
【0005】この方法は、CMOSインバータのPチャ
ンネル型MOSFET(以下、PchMOSTという)
とNチャンネル型MOSFET(以下、NchMOST
という)のチャンネル巾,チャンネル長を変化させるの
が一般的である。
【0006】図7に実際の例として、チャンネル長はP
chMOST,NchMOSTともに、2μで、Pch
MOSTのチャンネル巾が20μ固定のとき、NchM
OSTのチャンネル巾を変化させた時のVTHを示す。こ
の例では、NchMOSTのチャンネル巾を85μにす
ることによって、VTHを1.4Vにできることがわか
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】この従来のTTLレベ
ル入力バッファにおいては、そのVTHは、インバータを
構成するPch,NchMOSFETの閾値(それぞれ
TP,VTNという)の影響を大きく受ける。図8は、V
THのVTP,VTN依存性を示したものである。
【0008】VTP,VTNは、製造時にバラツキをもつ。
この例では、VTN=0.7V±0.3V,VTP=−0.
8V±0.3Vのバラツキを考えている。図8からわか
るように、VTHが最も高い時には、1.71Vにもな
り、規格の2.0Vまで0.29Vのノイズマージンし
かない。
【0009】また、VTHが最も低い時には1.1Vとな
り、規格の0.8Vまで0.3Vのノイズマージンとな
る。これは、入力信号に0.3Vのノイズがのるだけ
で、入力ハイレベルをローレベルに、又は入力ローレベ
ルをハイレベルに誤判定することになる。
【0010】本発明の目的は、MOSFETの閾値のバ
ラツキによる論理閾値の変動を小さく抑えたTTLレベ
ル入力バッファ回路を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るTTLレベル入力バッファ回路は、C
MOSインバータと、電圧降下用MOSFETとを有す
るTTLレベル入力バッファ回路であって、CMOSイ
ンバータは、2つの相補型MOSFETを対称形に接続
したものであり、電圧降下用MOSFETは、前記CM
OSインバータと電源との間に直列接続し、前記CMO
Sインバータの一の導電型MOSFETのソース電位
を、他の導電型MOSFETの閾値電圧分だけ電源電圧
から降下させるものである。
【0012】また、前記CMOSインバータの出力側
に、論理振巾変換回路を有し、該論理振巾変換回路は、
直列接続した抵抗素子とMOSFETとからなり、CM
OSインバータの出力電圧を電源電位まで振巾変換する
ものである。
【0013】また、前記CMOSインバータ及び電圧降
下用MOSFETの組を前後2段に配列して、相補する
信号を出力する構成とし、前記論理振巾変換回路は、相
補型MOSFETの組合せからなり、相補信号を出力す
るものである。
【0014】
【作用】入力信号をゲート電極に接続した他方の導電型
のMOSFETのソース電位を、一方の導電型のMOS
FETの閾値電圧分だけ電源電圧から降下させることに
より、入力論理閾値のそれぞれのMOSFETの製造上
のバラツキによる変動を小さく抑える。
【0015】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0016】(実施例1)図1は、本発明の実施例1を
示す回路図である。
【0017】図1において、電源6と接地7との間に3
つのMOSFET1,2,3が直列に接続され、MOS
FET1のゲートは電源6に接続され、MOSFET
2,3のゲート電極が入力端子INとなる。
【0018】また、MOSFET1,2,3の直列回路
の出力Bは、抵抗素子4と、MOSFET5で構成され
た論理振巾変換回路(以下、レベルシフタという)に入
力されている。
【0019】次に図2を用いて動作を説明する。図2
は、この動作を示すタイミングチャートである。
【0020】入力端子INにTTLハイレベルが入力さ
れると、出力Bはローレベルとなり、MOSFET5は
オフするため、出力OUTはハイレベルとなる。
【0021】入力端子INにTTLローレベルが入力さ
れると、出力Bはハイレベルとなる。但し、出力Bのハ
イレベルの値は、出力AのレベルがMOSFET1によ
って電源電圧よりも閾値VTだけ降下されているため、
この電圧までしか上がらない。
【0022】レベルシフタは、抵抗素子4の抵抗値を十
分大きく設定されているため、出力Bが十分電源電圧に
なっていなくても、出力OUTはローレベルとなる。
【0023】このように、レベルシフタは、出力Bの電
圧振巾が小さくとも、接地−電源間の電圧までフル振巾
させる機能を果たす。
【0024】次に論理閾値(VTH)がMOSFETの閾
値(VT)によって、どのように影響を受けるかを調べ
た結果を図3に示す。この図では、比較のため従来の特
性を一点鎖線で示してある。これからわかるようにノイ
ズマージンは、従来の0.29V,0.3Vから0.4
V,0.46Vと大きく向上している。
【0025】(実施例2)図4は、本発明の実施例2を
示す回路図である。
【0026】本実施例においては、実施例1でのMOS
FET1,2,3からなる初段の回路を一段追加して二
段構成とし、入力端子INに対し、出力A,Bという2
つの相補する信号を作り、MOSFET8,9,10,
11からなる論理振巾変換回路(レベルシフタ)の2つ
の入力としたものである。
【0027】本実施例における動作は、基本的に実施例
1と同一であるため説明は省くが、相違点のみを述べ
る。
【0028】本実施例では、相補する信号によって論理
振巾を変換するため消費電流は実施例1より、大幅に削
減される。
【0029】また、出力信号としてOUT及びOUT
(反転)の相補信号が得られるため、後段の回路で反転
信号を必要とする場合でも反転回路を必要としないとい
う利点がある。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、入力信号
をゲート電極に接続した他方の導電型のMOSFETの
ソース電位を、一方の導電型のMOSFETの閾値電圧
分だけ電源電圧から降下させることによって、入力論理
閾値のそれぞれのMOSFETの製造上のバラツキによ
る変動を小さく抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1を示す回路図である。
【図2】本発明の実施例1の動作を示すタイミングチャ
ートである。
【図3】本発明の実施例1における入力論理閾値を示す
図である。
【図4】本発明の実施例2を示す回路図である。
【図5】従来例のTTL入力バッファを示す回路図であ
る。
【図6】従来のTTL入力バッファの入出力特性を示す
図である。
【図7】従来のTTL入力バッファのトランジスタの設
計巾に対する論理閾値を示す図である。
【図8】従来のTTL入力バッファの論理閾値のVT
存性を示す図である。
【符号の説明】
1,3,5 NchMOSFET 2 PchMOSFET 4 抵抗素子 6 電源 7 接地

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CMOSインバータと、電圧降下用MO
    SFETとを有するTTLレベル入力バッファ回路であ
    って、 CMOSインバータは、2つの相補型MOSFETを対
    称形に接続したものであり、 電圧降下用MOSFETは、前記CMOSインバータと
    電源との間に直列接続し、前記CMOSインバータの一
    の導電型MOSFETのソース電位を、他の導電型MO
    SFETの閾値電圧分だけ電源電圧から降下させるもの
    であることを特徴とするTTLレベル入力バッファ回
    路。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載のTTLレベル入力バッ
    ファ回路であって、 前記CMOSインバータの出力側に、論理振巾変換回路
    を有し、 該論理振巾変換回路は、直列接続した抵抗素子とMOS
    FETとからなり、CMOSインバータの出力電圧を電
    源電位まで振巾変換するものであることを特徴とするT
    TLレベル入力バッファ回路。
  3. 【請求項3】 請求項1及び2に記載のTTLレベル入
    力バッファ回路であって、 前記CMOSインバータ及び電圧降下用MOSFETの
    組を前後2段に配列して、相補する信号を出力する構成
    とし、 前記論理振巾変換回路は、相補型MOSFETの組合せ
    からなり、相補信号を出力するものであることを特徴と
    するTTLレベル入力バッファ回路。
JP4148576A 1992-05-15 1992-05-15 Ttlレベル入力バッファ回路 Pending JPH05327467A (ja)

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JP4148576A JPH05327467A (ja) 1992-05-15 1992-05-15 Ttlレベル入力バッファ回路

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JPH05327467A true JPH05327467A (ja) 1993-12-10

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JP (1) JPH05327467A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010258929A (ja) * 2009-04-28 2010-11-11 Denso Corp 入力インターフェイス回路

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