JPH05327418A - 電子的に同調されるフィルタの自動チューニング校正装置および方法 - Google Patents

電子的に同調されるフィルタの自動チューニング校正装置および方法

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JPH05327418A
JPH05327418A JP4311323A JP31132392A JPH05327418A JP H05327418 A JPH05327418 A JP H05327418A JP 4311323 A JP4311323 A JP 4311323A JP 31132392 A JP31132392 A JP 31132392A JP H05327418 A JPH05327418 A JP H05327418A
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JP
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filter
tuning
voltage
detector
calibration
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JP4311323A
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English (en)
Inventor
Robert H Bickley
ロバート・エイチ・ビックレイ
Michael N Pickett
マイケル・エヌ・ピケット
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Original Assignee
Motorola Inc
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J3/00Continuous tuning
    • H03J3/28Continuous tuning of more than one resonant circuit simultaneously, the tuning frequencies of the circuits having a substantially constant difference throughout the tuning range
    • H03J3/32Arrangements for ensuring tracking with variable capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J5/00Discontinuous tuning; Selecting predetermined frequencies; Selecting frequency bands with or without continuous tuning in one or more of the bands, e.g. push-button tuning, turret tuner
    • H03J5/02Discontinuous tuning; Selecting predetermined frequencies; Selecting frequency bands with or without continuous tuning in one or more of the bands, e.g. push-button tuning, turret tuner with variable tuning element having a number of predetermined settings and adjustable to a desired one of these settings
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    • H03J5/0254Discontinuous tuning using an electrical variable impedance element, e.g. a voltage variable reactive diode, in which no corresponding analogue value either exists or is preset, i.e. the tuning information is only available in a digital form the digital values being transfered to a D/A converter
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J1/00Details of adjusting, driving, indicating, or mechanical control arrangements for resonant circuits in general
    • H03J1/0008Details of adjusting, driving, indicating, or mechanical control arrangements for resonant circuits in general using a central processing unit, e.g. a microprocessor
    • H03J1/0033Details of adjusting, driving, indicating, or mechanical control arrangements for resonant circuits in general using a central processing unit, e.g. a microprocessor for voltage synthesis with a D/A converter
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J2200/00Indexing scheme relating to tuning resonant circuits and selecting resonant circuits
    • H03J2200/16Interpolation of control values for varicaps

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Channel Selection Circuits, Automatic Tuning Circuits (AREA)
  • Superheterodyne Receivers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プログラム可能RFソースおよびマイクロプ
ロセッサ制御システムの利点を活用した電子同調フィル
タの自動チューニング校正を可能にする。 【構成】 電子的同調フィルタ(12,16)の自動チ
ューニング校正方法および装置(11)であって、校正
周波数信号を生成するためのプログラム可能周波数発生
器(20,18,30)、前記校正周波数信号をろ波す
るためのフィルタ(16)、検出器電圧(VDET)を
生成するための検出器(26,24)、前記周波数発生
器(20,18,30)を特定の試験周波数にプログラ
ミングしかつ階段状に変化するフィルタのチューニング
電圧(VT1,VT2)を生成しかつ該チューニング電
圧に応じて前記検出器電圧(VDET)を記憶するため
のプロセッサ(22,23)、および前記階段状に変化
するチューニング電圧(VT1,VT2)のデジタル−
アナログ変換のための変換器(28)を具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、一般的には、チュー
ニング校正(tuning calibration)
に関し、かつより詳細には電子的に同調されるフィルタ
の自動チューニング校正に関する。
【0002】
【従来の技術】バラクタによって実施されるような電子
的にチューニングされる無線周波(RF)フィルタは変
化するチューニング特性、例えば、数多くの変数の関数
である、周波数対電圧変化を生成する。チューニング特
性の変化は部品の許容差、印刷配線基板の寸法および該
基板材料の誘電率、漂遊インダクタンスおよび部品およ
びシールドまたはグランド面配置による容量変動におけ
る変化性から生じ得る。
【0003】電子的にチューニングされるフィルタが使
用される多くの機器設計はマイクロプロセッサ・コント
ローラおよび不揮発性メモリ能力を含む。典型的なフィ
ルタ校正技術は電子的にチューニングされるフィルタに
おけるフィルタの校正問題に対処する上でこれらの付加
的な部品を活用しない。
【0004】電子的にチューニングされるフィルタを校
正するために使用される典型的な手法の内には、所定の
チューニングカーブを追跡するためにフィルタを「トリ
ミング」するために使用される調整可能なRF部品、標
準の電圧対周波数カーブをフィルタの個々の特性にイン
タフェースするためのアナログ追跡回路における調整可
能なあるいは試験選択された(select−in−t
est)部品、および非常に正確な値の許容差をもつ部
品の使用がある。これらの技術は必要とされる試験の労
力および/または部品のコストに関して高価である。
【0005】電子的にチューニングされるフィルタの校
正に向けられた他の手法は印加された試験信号とフィル
タ出力との間の位相シフトを測定しかつフィルタの正し
いチューニングを示す独自のヌル出力を提供する能動的
な(active)手法である。この能動的なサーボル
ープ技術は比較的手が込んでおりかつより高価である
が、幾つかの方向性カプラおよび位相検出器そしてその
結果として適切な動作のためにより高い信号レベルを必
要とする。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】従って、比較的少ない
部品を必要とし、比較的低価格であり、かつ工場での調
整を必要としない電子的にチューニングされるフィルタ
の自動チューニング校正のための方法および装置の必要
性が存在する。このような手法は電子的に同調されるフ
ィルタを必要としかつプログラム可能なRFソースおよ
びマイクロプロセッサ制御システムを含む送信機、受信
機、あるいは試験機器のようなRF機器に適用可能であ
るべきである。この手法はフィルタのコストを低減すべ
きでありかつ必要とされる高い追跡精度のためそうでな
ければ実施不能になるかもしれない非常に狭い帯域幅の
フィルタの精密なチューニングを提供すべきである。
【0007】従って、本発明の利点(目的)はプログラ
ム可能なRFソースおよびマイクロプロセッサ制御シス
テムの利点を活用する電子的にチューニングされるフィ
ルタの自動チューニング校正のための新規なかつ改良さ
れた方法および装置を提供することである。本発明のさ
らに他の利点(目的)は自動チューニング校正のための
方法および装置が一般に送信機、受信機、および/また
は試験機器に適用可能であり、しかも比較的少ない部品
を必要としかつ比較的低価格であることである。本発明
のさらに他の利点(目的)は電子的にチューニングされ
るフィルタの自動チューニング校正のための方法および
装置が必要とされる高い追跡精度のためそうでなければ
実施不能になるかもしれない非常に狭い帯域幅のフィル
タの正確な同調を可能にすることである。
【0008】
【課題を解決するための手段および作用】これらの利点
を達成するために、電子的にチューニングされるフィル
タの自動チューニング校正のための方法および装置が考
案され、該方法または装置は校正周波数信号を生成する
ためのプログラム可能周波数発生器、該校正周波数信号
をろ波するためのフィルタ、検出器電圧を生成するため
の検出器、前記周波数発生器を特定の試験周波数にプロ
グラミングしかつ階段的(stepped)フィルタチ
ューニング電圧を生成しそして前記階段的なフィルタの
チューニング電圧に応じて前記検出器電圧を記憶するた
めのプロセッサ、そして前記階段的なフィルタのチュー
ニング電圧のデジタル−アナログ変換のためのコンバー
タを具備する。
【0009】校正周波数信号対同調電圧応答はフィルタ
の使用可能な範囲内の多数の校正の反復に対し記憶され
る。次に校正周波数信号対同調電圧のテーブルが使用さ
れて該フィルタの使用可能な範囲内のいずれかの周波数
に対する該フィルタのための正しいチューニング電圧を
決定する。本発明の上述のおよび他の特徴および利点は
添付の図面と共に以下の詳細な説明を参照することによ
りさらによく理解できるであろう。
【0010】
【実施例】図1は、電子的にチューニングされるフィル
タの自動チューニング校正のための回路の構成を概略的
に示す。本手法は送信機、受信機、または試験機器のよ
うなRF機器、すなわち、電子的にチューニングされる
フィルタを使用しかつプログラム可能なRFソースおよ
びマイクロプロセッサ制御システムを有する任意の用途
に適用可能である。図1の用途は無線受信機11に適用
された方法および装置を表す。
【0011】図1において、アンテナ10はフィルタ1
2に結合されている。フィルタ12は増幅器14を介し
て接続点(junction)36に結合されている。
接続点36はフィルタ16を介してミキサ18のRポー
ト38にかつ検出器26を介してコンバータ24に結合
されている。コンバータ24はプロセッサ22に結合さ
れている。プロセッサ22はコンバータ28を介して接
続点34に接続されている。メモリ23はプロセッサ2
2に結合されている。接続点34はフィルタ12にかつ
またフィルタ16に結合されている。
【0012】プロセッサ22はまたシンセサイザ20を
介してミキサ18のLポート40に結合されている。プ
ロセッサ22はまたバイアススイッチ30を介して接続
点32に結合されている。接続点32はミキサ18のI
ポート42に結合されている。接続点32は中間周波
(IF)出力として機能する。
【0013】好ましい実施例におけるフィルタ12およ
び16は本質的に同じフィルタであるべきである。同じ
性能特性を示すフィルタ12および16によってフィル
タ16を試験するためにチューニング校正測定が可能に
なるが、チューニング校正測定から生ずるチューニング
電圧を受信機フィルタ12に印加できるようにする。こ
れらのフィルタが同じでなければ、フィルタ12のチュ
ーニング特性を直接特徴付けることが望ましく、フィル
タ12はフィルタ16の校正と同様にして校正できる。
【0014】動作においては、図1の回路は自動的に次
のようにして受信チューニングフィルタ12をチューニ
ングするための正しいチューニング電圧を決定する。プ
ロセッサ22はダイオード平衡ミキサ18のIポート4
2への接続点32を介して電流、すなわちIをバイア
スする(向ける)ようバイアススイッチ30をイネーブ
ルする。ミキサ18は、Iポート42におけるバイアス
電流に応答して、ミキサ18のRポート38をLポート
40に接続する。
【0015】プロセッサ22は同時にシンセサイザ20
を用いてプログラムを実行し試験信号、すなわち、シン
セサイザ信号を周波数Fで発生する。ミキサ18のR
ポート38がミキサ18のLポート40に接続された
時、試験信号Fはフィルタ16に入力される。試験信
号Fはフィルタ16を通り接続点36に通過し、かつ
検出器26に伝達される。
【0016】プロセッサ22はデジタルチューニング電
圧をコンバータ28に送信する。デジタル−アナログ変
換器である、コンバータ28は、プロセッサ28のデジ
タルチューニング電圧からアナログチューニング電圧信
号を生成しかつそのアナログチューニング電圧VT2
接続点34に印加しかつ、従って、フィルタ16に印加
する。また、接続点34において、該アナログチューニ
ング電圧はVT1としてフィルタ12に入力される。該
チューニング電圧VT1およびVT2は同じものであ
る。
【0017】フィルタ16は該フィルタ16に入力され
る周波数Fのシンセサイザ信号およびチューニング電
圧VT2に基づき出力を生成する。フィルタ16の出力
は検出器26によって受信され、該検出器26はこれに
応じて検出電圧、VDET、を生成する。
【0018】プロセッサ22は第1のシンセサイザ周波
数、FS1、を第1の校正周波数、すなわち、フィルタ
12および16の双方に対する最も低いフィルタ周波数
にセットする。固定された試験信号、FS1、を生成し
ている間は、プロセッサ22はまたデジタルチューニン
グ電圧信号を階段状に生成する。この階段状のデジタル
チューニング電圧はコンバータ28からのある範囲のア
ナログチューニング電圧を生成し、これは次に検出器2
6からの一連の検出アナログ電圧、VDET、を生成す
る。
【0019】図2は、検出電圧、VDET、に対する、
横座標にVTUNEとして示されたチューニング電圧、
T1またはVT2、のどのようなカーブがフィルタ1
2またはフィルタ16に対して追跡されるかを示す。検
出電圧はチューニング電圧が増大するに応じて上昇し、
相対的な局部最大値に到達し、かつ減少する。該局部最
大値はチューニング電圧VTUNE=VPKの場合に発
生し、かつVLOWおよびVHIGHはVDETの最大
値の0.7倍の検出器電圧値に上昇させるチューニング
電圧として規定される。
【0020】図1の回路は図2の情報を次のように処理
する。プロセッサ22は、コンバータ24を介して検出
器26から検出電圧のデジタル信号を受取り、その検出
電圧を各々のチューニング段階に対応してメモリ23に
記憶する。プロセッサは最大検出電圧に対応するチュー
ニング電圧をVPKとして記憶する。プロセッサはチュ
ーニング電圧を該検出電圧が0.7VPKの値より低く
降下するまで階段状に変化させ続ける。この値は好まし
い実施例に対して選択されたが、本自動フィルタ校正方
法の動作に影響を与えることなく、所望のアプリケーシ
ョンおよび効果に応じて、異なる値に選択することもで
きる。プロセッサ22はVDET=0.7VPKに対応
するチューニング電圧をVHIGHとしてメモリ23に
記憶する。プロセッサ22は次に前に記憶された検出電
圧をVPKより低いチューニング電圧から調べかつV
DETが0.7VPKに等しいかあるいはそれより大き
い場合に前記第1のステップに先行するチューニング電
圧をVLOWとして規定する。VLOWもまたメモリ2
3に記憶される。
【0021】比較的狭い帯域幅のフィルタを使用するこ
の好ましい実施例においてプロセッサ22は次に次の式
を用いて周波数FS1に対する正しいチューニング電圧
を計算する。 VTSi=(VLOW−VHIGH)/2+VCORR (式1)
【0022】この場合、i=1である。VCORRはメ
モリ23に記憶されたルックアップテーブルからの経験
的な修正ファクタであり、かつ使用された特定のフィル
タ形状およびフィルタ中心周波数に基づくチューニング
電圧の修正を表す。VCORRの使用はプロセッサ22
がチューニング電圧を通過帯域の中心周波数をややずら
してセットし、もし望むならば、阻止帯域の対称性また
は最大の高域側または低域側排除のような、他の考慮事
項に対し最適化できるようにする。プロセッサ22はV
TS1を周波数FS1における正しいチューニング電圧
として記憶する。(フィルタ12または16の帯域がい
かに狭いかに応じて、プロセッサ22はまた他のアルゴ
リズム、例えば、VLOおよびVHIGHの幾何学的平
均のようなものを用いてチューニング電圧を計算でき
る。)
【0023】プロセッサ22は次の校正周波数、
S2、を設定する、すなわち、フィルタ12および1
6の双方に対する最も低いフィルタ周波数からのセット
アップを行う。シンセサイザが固定試験信号、FS2
を生成する間に、プロセッサ22はまたデジタルチュー
ニング電圧を階段状に生成する。階段状のデジタルチュ
ーニング電圧はコンバータ28からのある範囲のアナロ
グチューニング電圧を生成し、これは次に第2の試験信
号、FS2、に対する検出器26からの他の一連の検出
アナログ電圧、VDET、を生成する。第1の試験信
号、FS1、についてVPK、VLOW、およびV
HIGHを決定することについて述べたのと同様にし
て、FS2に対する新しいVPK、VLOW、およびV
HIGHの値がプロセッサ22により発生されかつメモ
リ23に記憶される。
【0024】同じ校正プロセスが試験信号FS3からF
SNまで反復され、ここでFSNはフィルタ12および
16の最も高い使用可能な周波数である。校正反復の
数、N、はチューニング範囲およびその範囲にわたるフ
ィルタ12および16の応答の直線性に応じて変えるこ
とができる。従ってフィルタ12および16の使用可能
な周波数にわたり正しいチューニング電圧VTSi、が
発生されかつ各試験信号FSiに対して記憶される。
【0025】メモリ23に記憶された正しいチューニン
グ電圧対周波数のリスト、またはテーブル、は図1の受
信機フィルタとして動作する時フィルタ16を校正する
ために使用できる。図1のアンテナはフィルタ12に送
信される外部信号を受信する。フィルタ12の動作周波
数限界、すなわち、FS1からFSNまで、にあるいず
れかの動作周波数Fに対する正しいチューニング電圧
は周波数がFに最も近い2つのチューニング電圧校正
ポイントを使用してプロセッサ22による直線補間によ
り計算される。
【0026】図3は、図1の回路に適用した自動フィル
タチューニング方法を示す。バイアススイッチ30が図
3のボックス50に示されるように、プロセッサ22に
よってイネーブルされる。バイアス電流Iが、ボック
ス52に示されるように、ミキサ18に印加される。シ
ンセサイザ20はプロセッサ22によってプログラムさ
れてフィルタ12および16の最も低い使用可能な周波
数において信号を生成する。シンセサイザ20は、ボッ
クス53に示されるように、周波数Fの信号を生成す
る。周波数Fのシンセサイザ信号は、ボックス54に
示されるように、フィルタ16に送信される。図3のボ
ックス56はシンセサイザ信号のろ波を示し、かつボッ
クス58および60は、それぞれ、得られた検出電圧の
検出およびデジタル化を示している。
【0027】プロセッサ22は、ボックス62に示され
るように、デジタル化された検出電圧VDETを読取り
かつ記憶する。プロセッサ22はまた、ボックス64に
示されるように、フィルタ16へのチューニング電圧を
階段状に変化させる。現在のチューニング電圧ステップ
に対して読取られた検出電圧が最大検出電圧でなけれ
ば、ボックス66はNO経路を介してボックス64に制
御を移しかつシステムは最大電圧を検出するためにフィ
ルタチューニング電圧を階段状に変化させ続ける。もし
現在のチューニング電圧ステップに対して読取られた検
出電圧が最大検出電圧であれば、ボックス67に制御を
移すボックス66によって示されるように、YES経路
に進み、その最大値がメモリ23にVPKとして記憶さ
れる。
【0028】ボックス68においては、フィルタのチュ
ーニング電圧は、検出電圧がVPKから0.7VPK
減少したチューニング電圧である、VHIGHを求める
ために階段状に変化され続ける。もし検出された電圧V
DETがVHIGHでなければ、制御はNO経路を介し
てボックス69からボックス68に移されかつシステム
はチューニング電圧をステッピングし続ける。しかしな
がら、もし現在のV ETがVHIGHに等しければ、
YES経路を介して、ボックス69はボックス70に移
りかつ、ボックス70に示されるように、VDETがメ
モリ23にVHIGHとして記憶される。
【0029】VLOWはプロセッサ22によってメモリ
23に前に記憶されたVDETの値をVPKと比較する
ことにより決定される。VLOWは、ボックス71に示
されるように、VDETが0.7VPKより大きいかあ
るいは等しい第1のチューニング電圧ステップに先行す
るチューニング電圧に等しくセットされる。
【0030】経験的な修正ファクタVCORRがボック
ス72に示されるようにメモリ23から読出され、か
つ、ボックス74に示されるように、プロセッサ22は
前記式1を用いて特定のシンセサイザ周波数FSiに対
しチューニング電圧値を計算しかつ記憶する。
【0031】もし現在のFが最も高い使用可能なフィ
ルタ16の周波数でなければ、制御はボックス76から
NO経路を介してボックス78に移りそこで新しいシン
セサイザ周波数Fが発生される。制御はボックス54
に移され、かつ新しいシンセサイザ周波数のF信号は
フィルタ16に送られる。システムは新しいFに対す
るチューニング電圧VTSを計算するためにフローチャ
ートのボックスに示されるステップを繰返す。
【0032】もしFが最も高い使用可能なフィルタ1
6の周波数であれば、制御はYES経路を介してボック
ス76からボックス80に移され、かつチューニング電
圧対周波数テーブルが完成しかつメモリ23に記憶され
る。ボックス82に示されるいずれかの動作周波数F
に対し、ボックス84に示されるように、Fがチュー
ニング電圧テーブルにおいてルックアップすることがで
きる。ボックス86に示されるように、該テーブルにお
ける任意の2つの周波数値の間のFに対して適切なチ
ューニング電圧を求めるためにリニア補間を用いること
ができる。動作周波数Fに対応するチューニング電圧
は次に、ボックス88に示されるように、フィルタ16
(またはフィルタ12)を校正するために使用すること
ができる。本プロセスは完了する。
【0033】
【発明の効果】従って、特定の問題を克服しかつ従来技
術の方法および機構に対しある有利性を達成する電子的
同調フィルタの自動チューニング校正のための方法およ
び装置が説明された。改善は顕著なものである。電子的
同調フィルタの自動チューニング校正のための本方法お
よび装置は比較的少数の部品を必要とするのみであり、
比較的低価格であり、かつ工場における調整を必要とし
ない。本方法は、送信機、受信機、あるいは電子的に同
調されるフィルタを必要としかつプログラム可能RFソ
ースおよびマイクロプロセッサ制御システムを有する試
験機器のようなRF機器に適用可能である。本方法はフ
ィルタのコストを低減しかつ必要とされる高い追跡精度
のためにさもなければ実施できないかもしれない非常に
狭い帯域幅のフィルタの精密なチューニングを可能にす
る。
【0034】従ってまた、本発明の1実施例によれば、
特定の問題を克服しかつ幾つかの利点を与え、かつ上に
述べた目的および利点を完全に満足する電子的同調フィ
ルタの自動チューニング校正のための方法および装置が
提供された。本発明は特定の実施例に関して説明された
が、数多くの置換え、変更、および修正も上の説明に照
らして当業者により明らかであろう。従って、本発明は
添付の請求の範囲の精神および広い範囲内にあるすべて
のそのような交換、修正、および変更を含むものと考え
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例に係わる無線受信機における
電子的同調フィルタの自動チューニング校正のための回
路の概略的ブロック回路図である。
【図2】特定の試験信号(シンセサイザ周波数)に対す
る検出電圧対チューニング電圧カーブを示すグラフであ
る。
【図3】本発明の好ましい実施例に係わる電子的に同調
されるフィルタの自動チューニング校正の方法を表すフ
ローチャートである。
【符号の説明】
10 アンテナ 11 無線受信機 12,16 フィルタ 14 増幅器 18 ミキサ 20 シンセサイザ 22 プロセッサ 24 A/Dコンバータ 26 検出器 28 D/Aコンバータ 23 メモリ 30 バイアススイッチ 32,34,36 接続点
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成5年3月30日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例に係わる無線受信機における
電子的同調フィルタの自動チューニング校正のための回
路の概略的ブロック回路図である。
【図2】特定の試験信号(シンセサイザ周波数)に対す
る検出電圧対チューニング電圧カーブを示すグラフであ
る。
【図3】図4と共に本発明の好ましい実施例に係わる電
子的に同調されるフィルタの自動チューニング校正の方
法を表すフローチャートである。
【図4】図3と共に本発明の好ましい実施例に係わる電
子的に同調されるフィルタの自動チューニング校正の方
法を表すフローチャートである。
【符号の説明】 10 アンテナ 11 無線受信機 12,16 フィルタ 14 増幅器 18 ミキサ 20 シンセサイザ 22 プロセッサ 24 A/Dコンバータ 26 検出器 28 D/Aコンバータ 23 メモリ 30 バイアススイッチ 32,34,36 接続点
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル・エヌ・ピケット アメリカ合衆国アリゾナ州85028、フェニ ックス、イースト・シャングリア・ロード 3836

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子的に同調されるフィルタ(12,1
    6)の自動チューニング校正装置(11)であって、 校正周波数信号を生成する(53)ためのプログラム可
    能周波数発生器手段(20,18,30)、 前記周波数発生器手段(20,18,30)に結合され
    前記校正周波数信号をろ波する(54)ためのフィルタ
    手段(16)、 前記フィルタ手段(16)に結合され検出器電圧(V
    DET)を生成する(58)ための検出器手段(26,
    24)、 前記検出器手段(26,24)および前記周波数発生器
    手段(20,18,30)に結合され、階段状に変化す
    るフィルタのチューニング電圧(VT1,VT2)を生
    成し(64,66)かつ該階段状に変化するフィルタの
    チューニング電圧(VT1,VT2)に応じて前記検出
    器電圧(VDET)を記憶する(67)ためのプロセッ
    サ手段(22,23)、そして前記プロセッサ手段(2
    2,23)におよび前記フィルタ手段(16)に結合さ
    れ、前記階段状に変化するフィルタのチューニング電圧
    (VT1,VT2)のデジタル−アナログ変換のための
    コンバータ手段(28)、 を具備することを特徴とする電子的に同調されるフィル
    タ(16,16)の自動チューニング校正装置(1
    1)。
  2. 【請求項2】 無線受信機(11)における電子的に同
    調されるフィルタ(12,16)の自動チューニング校
    正装置(11)であって、該自動チューニング校正装置
    (11)は、 校正周波数信号を生成する(53)ためのプログラム可
    能周波数発生器手段(20,18,30)、 前記周波数発生器手段(20,18,30)に結合さ
    れ、前記校正周波数信号からろ波された校正周波数信号
    を生成する(54)ための第1のフィルタ手段(1
    6)、 前記第1のフィルタ手段(16)に結合され、検出器電
    圧(VDET)を生成する(58,60)ための検出器
    手段(26,24)、 前記検出器手段(26,24)および前記周波数発生器
    手段(20,18,30)に結合され、階段状に変化す
    るフィルタのチューニング電圧(VT1,VT2)を生
    成しかつ該階段状に変化するフィルタのチューニング電
    圧(VT1,VT2)に応じて前記検出器電圧(V
    DET)を記憶する(67,70)ためのプロセッサ手
    段(22,23)、 前記プロセッサ手段(22,23)および前記第1のフ
    ィルタ手段(16)に結合され、前記階段状に変化する
    フィルタのチューニング電圧(VT1,VT2)のデジ
    タル−アナログ変換を行うためのコンバータ手段(2
    8)、そして前記第1のフィルタ手段(16)、前記検
    出器手段(26,24)、そして前記コンバータ手段
    (28)に結合され、動作周波数信号を受信するための
    無線受信機手段(10,12,14)、 を具備することを特徴とする自動チューニング校正装
    置。
  3. 【請求項3】 電子的に同調されるフィルタ(12,1
    6)の自動チューニング校正方法であって、 プログラム可能な周波数発生器(20,18,30)に
    おいて校正周波数信号を生成する段階(53)、 第1のフィルタ(16)において前記校正周波数信号か
    らろ波された校正周波数信号を生成する段階(56)、 検出器(26,24)において検出器電圧(VDET
    を生成する段階(58)、 プロセッサ(22,23)において階段状に変化するフ
    ィルタのチューニング電圧(VT1,VT2)を生成す
    る段階(64,68)、 前記プロセッサ(22,23)において前記階段状に変
    化するフィルタのチューニング電圧(VT1,VT2
    に応じて前記検出器電圧(VDET)を記憶する段階
    (67,70)、そして前記プロセッサ(22,23)
    において前記検出器電圧(VDET)からフィルタのチ
    ューニング電圧(VTS1)を計算する段階、(74−
    88)、を具備することを特徴とする電子的に同調され
    るフィルタ(12,16)の自動チューニング校正方
    法。
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