DE69216554T2 - Verfahren und Einrichtung zur automatischen Abstimmkalibrierung von elektronisch abgestimmten Filtern - Google Patents

Verfahren und Einrichtung zur automatischen Abstimmkalibrierung von elektronisch abgestimmten Filtern

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DE69216554T2
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Description

  • Diese Erfindung bezieht sich allgemein auf das Gebiet der Abstimmungskalibrierung und insbesondere auf die automatische Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter.
  • Elektronisch abgestimmte Funkfrequenz-(HF)-Filter, wie solche, die mit Varactoren ausgeführt sind, produzieren sich variierende Abstimmungscharakteristika, z. B. Frequenzgegenüber Spannungsvariationen, die eine Funktion einer Anzahl von Variablen sind. Sich variierende Abstimmcharakteristika können von einer Variationsmöglichkeit in Komponententoleranzen, gedruckten Verdrahtungsleiterplattendimensionen und der dielektrischen Konstanten des Leiterplattenmatenals, einer Streuinduktivität und Kapazitätsvariationen aufgrund einer Komponenten- und Abschirmungs- oder Masse-Ebenen- Anordnung entstehen. Die US-A-4 334 323 beschreibt spannungsabgestimmte Schaltkieise zusammen mit einem sich selbst spurenden bzw. nachlaufenden Tuner. Die EP-A-0 109 661 beschreibt elektronisch abgestimmte Schaltkreise, die auf eine digitale Steuerung über D/A-Wandlerschaltkreise zum Abstimmen der resonanten Schaltkreise eines Empfängers ansprechen. Die EP-A-0 208470 beschreibt einen Empfänger, der ein Referenzsignal erzeugt, das Frequenzen erwünschter Kanalbänder überstreicht und dann das Referenzsignal zu einem Eingangsanschluß einer Empfängereinheit über einen Signalumschaltungsschaltkreis zuführt. Die EP-A-0 119 561 und die EP-A-116-350 beschreiben auch elektronisch abgestimmte Schaltkreise.
  • Viele Ausrüstungsdesigns, bei denen elektronisch abgestimmte Filter verwendet werden, enthalten Mikroprozessor-Steuereinheiten und eine nicht löschbare Speicherfähigkeit. Typische Filterkalibrierungstechniken machen nicht von dem Vorteil dieser zusätzlidien Komponenten beim sich Befassen mit dem Filterkalibrierungsproblem in elektronisch abgestimmten Filtern Gebrauch.
  • Unter typischen Maßnahmen, die zum Kalibrieren elektronisch abgestimmter Filter verwendet werden, werden einstellbare HF-Komponenten, die dazu verwendet werden, den Filter "zu trimmen", um eine vorbestimmte Abstimmungskurve nachzuführen, einstellbare oder im fest auswählbare Komponenten in einem analogen Spurungsschaltkreis, um eine Spannungs-Frequenz-Kurve den individuellen Charakteristika des Filters, und Komponenten mit sehr akkuraten Werttoleranzen, anzupassen, verwendet. Diese Techniken sind teuer im Hinblick auf ein Testlaboratorium, das erforderlich ist, und/oder auf Komponentenkosten.
  • Eine andere Maßnahme, um sich einer elektronisch abgestimmten Filterkalibrierung zuzuwenden, ist eine aktive Maßnahme, die die Phasenverschiebung zwischen einem angelegten festsignal und dem Filterausgang mißt und die einen einzigartigen Nullausgang liefert, der eine korrekte Abstimmung des Filters anzeigt. Diese aktive Servoschleifentechnik ist relativ arbeitsintensiv und teurer, erfordert allerdings verschiedene, direktionale Koppler und einen Phasendetektor und höhere Signalpegel für einen geeigneten Betrieb als Folge.
  • Es besteht deshalb ein Bedarf für ein Verfahren und ein Gerät zur automatischen Abstlmmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter, die relativ wenige Komponenten erfordern, relativ kostengünstig sind und keine Einjustierung in dem Herstellbetrieb erfordern. Die Maßnahme sollte bei einer HF-Ausrüstung, wie beispielsweise einen Sender, einen Empfänger oder einer Testausrüstung anwendbar sein, die elektronisch abgestimmte Filter erfordern und programmierbare HF-Quellen und mittels Mikroprozessor gesteuerte Systeme umfassen. Die Maßnahme sollte die Kosten der Filter reduzieren und eine präzise Abstimmung von Filtern mit sehr schmaler Bandbreite liefern, die ansonsteil aufgrund der hohen Spurungsgenauigkeit, die erforderlich ist, nicht durchführbar sein würden.
    • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein automatischer Abstimmungskalibrierer geschaffen, wie er im Anspruch 1 beansprucht ist.
  • Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein Verfahren zur automatischen Abstimmungskalibrierung geschaffen, wie es im Anspruch 7 beansprucht ist.
    • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • In Fig. 1 ist ein schematisches Schaltkreisdiagramm eines Schaltkreises zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter in einem Funkempfänger gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung dargestellt.
  • In Fig 2 ist eine repräsentative, graphische Darstellung einer Detektorspannungs-Ab- stimmspannungs-Kurve für ein bestimmtes Testsignal (Synthesizerfrequenz) gezeigt.
  • Fig 3 zeigt eine Flußdiagrammdarstellung eines Verfahrens einer automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung.
    • DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORM
  • Fig 1 stellt schematisch das Diagramm eines Schaltkreises zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter dar. Die Maßnahme kann bei einer HF-Ausrüstung, wie beispielsweise Transmitter bzw. Sender, Empfänger oder einer Testausrüstung, angewandt werden, d.h. irgendeine Anwendung, die elektronisch abgestimmte Filter verwendet und programmierbare HF-Quellen und mittels Mikroprozessor gesteuerte Systeme besitzt. Die Anwendung der Fig. 1 stellt das Verfahren und das Gerät dar, das bei dem Funkempfänger 11 angewandt wird.
  • In Fig. 1 ist eine Antenne 10 mit einem Filter 12 gekoppelt. Der Filter 12 ist über einen Verstärker 14 mit einer Verbindung 36 gekoppelt. Die Verbindung 36 ist sowohl über einen Filter 16 mit einem R-Anschluß 38 eines Mischers 18 als auch über einen Detektor 26 mit einem Wandler 24 gekoppelt. Der Wandler 24 ist mit einem Prozessor 22 gekoppelt. Der Prozessor 22 ist über einen Wandler 28 mit einer Verbindung 34 gekoppelt. Der Speicher 23 ist mit dem Prozessor 22 gekoppelt. Die Verbindung 34 ist mit dem Filter 12 und auch mit dem Filter 16 gekoppelt.
  • Der Prozessor 22 ist auch über einen Synthesizer 20 mit einem L-Anschluß 40 des Mischers 18 gekoppelt. Der Prozessor 22 ist auch über einen Bias-Schalter 30 mit einer Verbindung 32 gekoppelt. Die Verbindung 32 ist mit einem I-Anschluß 42 eines Mischers 18 verbunden. Die Verbindung 32 dient als der Zwischenfrequenz-(ZF)-Ausgang.
  • Die Filter 12 und 16 in den bevorzugten Ausführungsformen sollen im wesentlichen identische Filter sein. Die Filter 12 und 16 zeigen identische Funktionscharakteristika, was die Abstimmungskalibrierungsmessungen ermöglicht, um den Filter 16 zu testen, allerdings die Abstimmungsspannungen, die von den Abstimmungskalibrierungsmessungen resultieren, an den Empfängerfilter 12 anzulegen. Sollten die Filter nicht identisch sein, oder sollte es erwünscht sein, die Abstimmungscharakteristika des Filters 12 direkt zu charakterisieren, kann der Filter 12 in einer Art und Weise ähnlich zu der Kalibrierung des Filters 16 kalibriert weden.
  • Im Betrieb bestimmt der Schaltkreis der Fig. 1 automatisch die korrekte Abstimmungsspannung zum Abstimmen des empfangenden Abstimmungsfilters 12 in der folgenden Art und Weise: der Prozessor 22 gibt den Bias-Schalter 30 zu einem Bias- (Gleich-) Strom, d.h. IB, über die Verbindung 32 zu dem I-Anschluß 42 des mittels Diode balancierten Mischers 18 frei. Der Mischer 18 verbindet, entsprechend zu dem Bias-Strom an dem I-Anschluß 42, den R-Anschluß 38 mit dem L-Anschluß 40 des Mischers 18.
  • Der Prozessor 22 führt simultan ein Programm aus, das den Synthesizer 20 verwendet, um ein Testsignal zu erzeugen, d.h. ein Synthesizersignal bei der Frequenz FS. Wenn der R-Anschluß 38 des Mischers 18 mit dem L-Anschluß 40 des Mischers 18 verbunden wird, wird das Testsignal FS in den Filter 16 eingegeben. Das Testsignal FS führt durch den Filter 16 zu der Verbindung 36 hindurch und dann in den Detektor 26.
  • Der Prozessor 22 überträgt eine digitale Abstimmungsspannung zu dem Wandler 28. Der Wandler 28, ein Digital-Analog-Wandler, erzeugt ein analoges Abstimmungsspannungssignal von der digitalen Abstimmungsspannung des Prozessors 28 und legt die analoge Abstimmungsspannung VT2 an der Verbindung 34, und demzufolge an den Filter 16, art An der Verbindung 34 wird die analoge Abstimmungsspannung auch in den Filter 12 als VT1 eingegeben. Die Abstimmungsspannungen VT1 und VT2 sind identisch.
  • Der Filter 16 produziert einen Ausgang basierend auf dem Synthesizersignal bei der Frequenz FS und der Abstimmungsspannung VT2, die zu dem Filter 16 eingegeben ist.
  • Der Ausgang des Filters 16 wird durch den Detektor 26 aufgenommen, der eine erfaßte Spannung, VDET, abhängig davon produziert.
  • Der Prozessor 22 stellt die erste Synthesizerfrequenz, FS1, auf eine erste Kalibrierungsfrequenz, d.h. die niedrigste Filterfrequenz für beide Filter 12 und 16, ein. Während des Eizeugens des festgelegten Testsignals, FS1, produziert der Prozessor 22 auch das digitale Abstimmungsspannungssignal in Schritten. Die abgestufte, digitale Abstimmungsspannung produziert einen Bereich von analogen Abstimmungsspannungen von dem Wandler 28, der wiederum eine Reihe erfaßter, analoger Spannungen, VDET, von dem Detektor 26 produziert.
  • Fig 2 stellt dar, welche Kurve der erfaßten Spannung, VDET, gegenüber der Abstimmungsspannung, VT1 oder VT2, auf der Abszisse als VTUNE dargestellt, für den Filter 12 oder den Filter 16 spuren bzw. folgen könnte. Die erfasste Spannung steigt an, wenn sich die Abstimmungsspannung erhöht, erreicht ein relativ lokales Maximum und erniedrigt sich. Das lokale Maximum tritt dann auf, wenn die Abstimmungsspannung VTUNE = VPK gilt, und VLOW und VHIGH sind als die Abstimmungsspannungen definiert, die ein Ansteigen der Detektorspannungswerte von 0,7VDET maximal liefern.
  • Der Schaltkreis der Fig. 1 verarbeitet die Informationen der Fig. 2 wie folgt. Der Prozessor 22, der eine digitale Version der erfaßten Spannung von dem Detektor 26 über den Wandler 24 empfängt, speichert die erfaßte Spannung entsprechend jedem Abstimmungsschritt in dem Speicher 23. Der Prozessor speichert die Abstimmungsspannung eiitsprecliend der maximalen, erfaßten Spannung als VPK. Der Prozessor 22 fährt fort, die Abstimmungsspannung abzustufen, bis die erfaßte Spannung unterhalb eines Werts von 0,7 V abfällt. Dieser Wert wurde für die bevorzugte Ausführungsform ausgewählt, kann alleidings unterschiedlich ausgewählt werden, und zwar in Abhängigkeit von der erwünschten Anwendung und dem Effekt, ohne die Betriebsweise des automatischen Filterkalibrierverfahrens zu beeinflussen. Der Prozessor 22 speichert die Abstimmungsspannung entsprechend zu VDET = 0,7VPK als VHIGH in dem Speicher 23. Der Prozessor 22 prüft dann zuvor gespeicherte Detektorspannungen von Abstimmungsspannungen geringer als VPK und definiert die Abstimmungsspannung, die dem ersten Schritt vorausgeht, wobei VDET größer oder gleich 0,7 VPK als VLOW war. VLOW wird auch in dem Speicher 23 gespeichert.
  • Der Prozessor 22 berechnet in dieser bevorzugten Ausführungsform unter Verwendung eines Filters mit einer relativ schmalen Bandbreite dann die korrekte Abstimmungsspannung FS1 unter Verwendung der Gleichung:
  • VTSi = (VLOW - VHIGH)/2 + VCORR (Gleichung 1)
  • wobei i = 1 ist. VCORR ist ein empirischer Korrekturfaktor von einer Durchsichtstabelle, die in dem Speicher 23 gespeichert ist, und stellt eine Abstimmungsspannungskorrektur basierend auf der besonderen Filterform und der Filtermittenfrequenz, die verwendet wird, dar. Die Verwendung von VCORR ermöglicht dem Prozessor 22, eine Abstimmungsspannung leicht von der Durchlaßbandmittenfrequenz versetzt einzustellen, um die anderen Betrachtungen, wie beispielsweise eine Sperrbereichssymmetrie oder eine Zurückweisung bei der maximalen, hohen Seite oder der niedrigen Seite, usw., falls dies so erwünscht ist, zu optimieren. Der Prozessor 22 speichert VTS1 als die korrekte Abstimmungsspannung bei einer Frequenz FS1. (In Abhängigkeit davon, wie schmal das Band der Filter 12 oder 16 ist, könnte der Prozessor 22 auch die Abstimmungsspannung unter Verwendung eines anderen Algorithmus, z.B. als die geometrische Mitte von VLOW und VHIGH, berechnen).
  • Der Prozessor 22 stellt eine nächste Kalibrierfrequenz, FS2, ein, d.h. ein Hochstufung von der niedrigsten Filterfrequenz für beide Filter 12 und 16. Während der Synthesizer das festgelegte Testsignal, FS2, produziert, produziert der Prozessor 22 auch die digitale Abstimmungsspannung in Stufen. Die abgestufte, digitale Abstimmungsspannung produziert einen Bereich analoger Abstimmungsspannungen von dem Wandler 28, der wiederum eine andere Reihe von erfaßten, analogen Spannungen, VDET, von dem Detektor 26 für das zweite Testsignal, FS2, produziert. Auf derselben Art und Weise, die zur Bestimmung von VPK, VLOW und VHIGH für das erste Testsignal, FS1, beschrieben ist, werden neue VPK, VLOW und VHIGH-Werte für F durch den Prozessor 22 erzeugt und in dem Speicher 23 gespeichert.
  • Dasselbe Kalibrierverfahren wird für Testsignale FS3 bis FSN wiederholt, wobei FSN die höchste, verwendbare Frequenz für die Filter 12 und 16 ist. Die Zahl der Kalibrieriterationen, N, kann in Abhängigkeit von dem Abstimmungsbereich und der Linearität der Ansprechverhalten der Filter 12 und 16 über diesen Bereich variiert werden. Eine korrekte Abstimmung sspannung, VTSi, wird deshalb erzeugt und für jedes Testsignal FSi über die verwendbeien Frequenzen der Filter 12 und 16 hinweg erzeugt und gespeichert.
  • Die Liste, oder Tabelle, korrekter Abstimmungsspannungen in Abhängigkeit von der Frequenz, die in dem Speicher 23 gespeichert ist, kann dazu verwendet werden, den Filter 16 zu kalibrieren, wenn er als ein Empfänger-Filter in Fig. 1 betrieben wird. Die Antenne in Fig. 1 empfängt ein externes Signal, das zu dem Filter 12 übertragen wird. Die korrekte Abstimmungsspannung für irgendeine Betriebsfrequenz FX innerhalb der Betriebsfrequenzgrenzen des Filters 12, d.h. von FS1 bis FSN, wird durch eine lineare Interpolation durch den Prozessor 22 unter Verwendung von zwei Abstimmungsspannungskalibrierungspunkten, die am nächsten in der Frequenz zu FX liegen, berechnet.
  • Fig 3 stellt das automatische Filterabstimmungsnäherungsverfahren dar, das bei dem Schaltkreis in Fig. 1 angewandt wird. Der Bias-Schalter 30 wird durch den Prozessor 22 freigegeben, wie dies in dem Kasten 50 der Fig. 3 dargestellt ist. Der Bias-Strom IB wird au den Mischer 18 angelegt, wie dies in dem Kasten 52 dargestellt ist. Der Synthesizer 20 wird durch den Prozessor 22 programmiert, um ein Signal bei der niedrigsten, verwendbaren Frequenz der Filter 12 und 16 zu produzieren. Der Synthesizer 20 produziert ein Signal bei der Frequenz FS, wie dies im Kasten 53 dargestellt ist. Das Synthesizersigual bei der Frequenz FS wird zu dem Filter 16 übertragen, wie dies in dem Kasten 54 dargestellt ist. Der Kasten 56 der Fig. 3 stellt die Filterung des Synthesizersignals dar uiid die Kästen 58 und 60 beschreiben jeweils eine Erfassung und Digitalisierung der sich ergebenden Detektorspannung.
  • Der Prozessor 22 liest und speichert die digitalisierte Detektorspannung VDET, wie dies im Kasten 62 dargestellt ist. Der Prozessor 22 stuft auch die Abstimmungsspannung zu dem Filter 16 ab, wie dies in dem Kasten 64 dargestellt ist. Wenn die Detektorspannung, die in dem Stromabstimmungsspannungsschritt gelesen ist, nicht die maximale Detektorspannung ist, überträgt der Kasten 66 eine Steuerung zu dem Kasten 64 über den NEIN-Pfad und das System fährt fort, die Filterabstimmungsspannung abzustufen, um die maximale Spannung zu finden. Wenn die Detektorspannung, die für den Stromabstimmspannungsschritt gelesen ist, die maximale Detektorspannung ist, wird dieser maximale Wert in dem Speicher 23 als VPK gespeichert, wie dies durch den Kasten 66 dargestellt ist, was die Steuerung zu dem Kasten 67 überträgt, fortschreitend auf dem JA-Pfad.
  • In dem Kasten 68 fährt die Filterabstimmungsspannung fort, daß sie abgestuft wird, um VHIGH zu lokalisieren, was die Abstimmungsspannung ist, für die sich die erfaßte Spannung von VPK zu 0,7 VPK erniedrigt hat. Wenn die erfaßte Spannung VDET nicht VHIGH ist, wird die Steuerung von dem Kasten 69 zu dem Kasten 68 über den NEIN-Pfad überführt und das System fährt fort, die Abstimmungsspannung abzustufen. Wenn allerdings die momentaue VDET gleich zu VHIGH ist, dann wird, über den JA-Pfad, der Kasten 69 zu dem Kasten 70 genommen und VDET wird in dem Speicher 23 als VHIGH gespeichert, wie dies in dem Kasten 70 dargestellt ist.
  • VLOW wird durch den Prozessor 22 unter Vergleichen zuvor gespeicherter VDET-Werte in dem Speicher 23 mit VPK verglichen. VLOW wird gleich zu der Abstimmungsspannung eingestellt, die dem ersten Abstimmungsspannungsschritt vorausgeht, wo VDET größer als oder gleich zu 0,7 VPK war, wie dies in dem Kasten 71 dargestellt ist.
  • Der empirische Korrekturfaktor VCORR wird aus dem Speicher 23 gelesen, wie dies in dem Kasten 72 dargestellt ist, und, wie im Kasten 74 dargestellt ist, berechnet der Prozessor 22 den Abstimmungsspannungswert für die bestimmte Synthesizerfrequenz VSi unter Verwendung der Gleichung 1 und speichert ihn.
  • Wenn die momente FS nicht die höchste verwendbare Frequenz des Filters 16 ist, wird die Steuerung von dem Kasten 76 über den NEIN-Pfad zu dem Kasten 78 überführt, wo eine neue Synthesizerfrequenz F erzeugt wird. Die Steuerung wird zu dem Kasten 54 überführt und das FS-Signal bei der neuen Synthesizerfrequenz wird zu dem Filter 16 geschickt. Das System wiederholt e-Schritte, wie dies in den Flußdiagrammkästen dargestellt ist, um die Abstimmungsspannung VTS für die neue FS zu berechnen Falls F die höchste, verwendbare Frequenz des Filters 16 ist, wird die Steuerung von dem Kasten 76 zu dem Kasten 80 über den JA-Pfad überführt, und die Tabelle der Abstimmungsspannung in Abhängigkeit von der Frequenz wird vervollständigt und in dem Speicher 23 gespeichert. Für irgendeine Betriebsfrequenz FX, wie dies in dem Kasten 82 dargestellt ist, kann FX in der Abstimmungsspannungstabelle nachgesehen werden, wie dies in dem Kasten 84 dargestellt ist. Wie in dem Kasten 86 dargestellt ist, kann eine lineare Interpolation verwendet werden, um die geeignete Abstimmungsspannung für FX zwischen irgendwelchen zwei Frequenzwerten in der Tabelle zuzuordnen. Die Abstimmungsspannung entsprechend der Betriebsfrequenz FX kann dann verwendet werden, um den Filter 16 (oder den Filter 12) zu kalibrieren, wie dies in dem Kasten 88 dargestellt ist. Das Verfahren ist dann abgeschlossen.
  • Demzufolge sind ein Verfahren und ein Gerät zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter beschrieben worden, die spezifische Probleme beseitigen Lind bestimmte Vorteile in Relation zu Verfahren und Mechanismen nach dem Stand der technik mit sich bringen. Die Verbesserungen sind signifikant. Das Verfahren uiid das Gerät zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter erfordern relativ wenige Komponenten, sind relativ kostengünstig und erfordern keine Einstellung in dem Herstellbetrieb. Die Maßnahme ist bei einer HF-Ausrüstung, wie beispielsweise einem Sender, einem Empfänger oder einer Testausrüstung, anwendbar, die elektronisch abgestimmte Filter erfordern und programmierbare HF-Quellen und mittels Mikroprozessor gesteuerte Systeme besitzen. Die Maßnahme reduziert die Kosten der Filter und liefert eine präzise Abstimmung von Filtern mit sehr schmaler Bandbreite, die ansonsten aufgrund der hohen Spurungsgenauigkeit, die erforderlich ist, nicht durchführbar wären.
  • Demzufolge sind auch gemäß einer Ausführungsform der Erfindung ein Verfahren und ein Gerät zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter geschaffen worden, die spezifische Probleme beseitigen und bestimmte Vorteile mit sich bringen und die vollständig die Ziele und Vorteile, die vorstehend angegeben sind, zufriedenstellen. Während die Erfindung in Verbindung mit einer spezifischen Ausführungsform beschrieben worden ist, werden viele Alternativen, Modifikationen und Variationen für Fachleute auf dem betreffenden Fachgebiet unter Berücksichtigung der vorstehenden Beschreibung ersichtlich werden. Demgemäß ist die Erfindung dahingehend beabsichtigt, alle solchen Alternativen, Modifikationen und Variationen als innerhalb des Schutzumfangs der beigefügten Ansprüche fallend einzuschließen.

Claims (7)

1. Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) für elektronisch abgestimmte Filter (12, 16) der eine programmierbare Frequenzgeneratoreinrichtung (20, 18, 30) zum Produzieren (53) eines Kalibrierfrequenzsignals; eine Filtereinrichtung (16) zum Filtern (54) des Kalibrierfrequenzsignals, wobei die Filtereinrichtung (16) mit der Frequenzgeneratoreinrichtung (20, 18, 30) gekoppelt ist; eine Detektoreinrichtung (26 24) zum Produzieren (58) einer Detektorspannung (VDET), wobei die Detektoreinrichtung (26, 24) mit der Filtereinrichtung (16) gekoppelt ist; eine Prozessoreinrichtung (22, 23) zum Produzieren (64, 66) einer abgestuften Filterabstimmuiigsspannung (VT1, VT2) und zum Speichern (67) der Detektorspannung (VDET) in Abhängigkeit der abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2), wobei die Prozessoreinrichtung (22, 23) mit der Detektoreinrichtung (26, 24) und mit der Frequenzgeneratoreinrichtung (20, 18, 30) gekoppelt ist; und eine Wandlereinrichtung (28) für eine Digital-Analog-Wandlung der abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2), wobei die Wandreinrichtung (28) mit der Prozessoreinrichtung (22, 23) und mit der Filtereinrichtung (16) gekoppelt ist, aufweist, GEKENNZEICHNET DADURCH, daß die Frequenzgeneratoreinrichtung (20, 18, 30) aufweist:
eine Synthesizereinrichtung (20) zum Produzieren (53) des Kalibrierfrequenzsignals;
eine Mischereinrichtung (18) zum Verbinden der Synthesizereinrichtung (20) mit der Filtereinrichtung (16), wobei die Mischereinrichtung (18) mit der Synthesizereiririchtung (20) und mit der Filtereinrichtung (16) gekoppelt ist; und
eine Bias-Umschalteinrichtung (30) zum Freigeben (50, 52) der Mischereinrichtung (18) wobei die Bias-Umschalteinrichtung (30) mit der Mischereinrichtung (18) und mit der Prozessoreinrichtung (22, 23) gekoppelt ist.
2. Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) nach Anspruch 1, wobei die Detektoreinrichtung (26, 24) aufweist:
eine analoge Spannungsdetektoreinrichtung (26) zum Erfassen (58) des gefilterten Kalibrierfrequenzsignals und zum Produzieren (58) eines analogen Detektorspannungsausgangs, wobei die analoge Spannungsdetektoreinrichtung (26) mit der Filtereinrichtung (16) gekoppelt ist; und
eine Analog-Digital-Wandlereinrichtung (24) zum Produzieren (60) des Detektorspannungsausgangs von dem analogen Spannungsausgang, wobei die Analog-Digital-Wandlereinrichtung (24) mit der analogen Spannungsdetektoreinrichtung 26 und mit der Prozessoreinrichtung (22, 23) gekoppelt ist.
3 Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) nach Anspruch 1, wobei die Prozessoreinrichtung (22, 23) aufweist:
eine Speichereinrichtung (23) zum Aufzeichnen (62) des digitalisierten Detektorspannungsausgangs; und
eine Mikroprozessoreinrichtung (22) zum Freigeben (50, 52) der Bias-Umschalteinrichtung (18), zum Programmieren (53, 64, 68) der Synthesizereinrichtung (20), zum Produzieren (64, 68) einer abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2) und zum Bestimmen (64-68) einer berechneten Abstimmungsspannung (VTs1) von der Detektorspannung (VDET), wobei die Mikroprozessoreinrichtung (22) mit der Speichereinrichtung (23) gekoppelt ist.
4. Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) nach Anspruch 3, wobei die Speichereinrichtung (23) einen nicht löschbaren Speicher (23) aufweist.
5. Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) nach Anspruch 1, der weiterhin eine Funkempfängereinrichtung (10, 12, 14) zum Empfang eines Betriebsfrequenzsignals, wobei die Funkempfängereinrichtung (10, 12, 14) mit der ersten Filtereinrichtung (16), mit der Detektoreinrichtung (26, 24) und der Wandlereinrichtung (28) gekoppelt ist, aufweist.
6. Automatischer Abstimmungskalibrierer (11) nach Anspruch 1, wobei die Prozessoreinrichtung (22, 23) aufweist:
einen nicht löschbaren Speicher (23) zum Aufzeichnen der Detektorspannung (VDET); und
eine Mikroprozessoreinrichtung (22) zum Freigeben (50, 52) der Bias-Umschalteinrichtuiig (18), zum Programmieren (53) der Synthesizereinrichtung (20), zum Produzieren (64, 68) einer abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2) und zum Bestimmen (64-68) einer berechneten Abstimmungsspannung (VTS1) aus der Detektorspannung (VDET), wobei die Mikroprozessoreinrichtung (22) mit der Speichereinrichtung (23) gekoppelt ist.
7 Verfahren zur automatischen Abstimmungskalibrierung elektronisch abgestimmter Filter (12, 16), das die Schritte aufweist:
Produzieren (53) eines Kalibrierfrequenzsignals in einem programmierbaren Frequenzgenerator (20, 18, 30); Produzieren (56) eines gefilterten Kalibrierfrequenzsignals aus dem Kalibrierfrequenzsignal in einem ersten Filter (16); Produzieren (58) einer Detektorspannung (VDET) in einem Detektor (26, 24); Produzieren (64, 68) einer abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2) in einem Prozessor (22, 23); Speichern (67, 70) der Detktorspannung (VDET) in Abhängigkeit der abgestuften Filterabstimmungsspannung (VT1, VT2) in dem Prozessor (22, 23); und Berechnen (74-88) einer Filterabstimmungsspannung (VTS1) von der Detektorspannung (VDET) in dem Prozessor (22, 23), wobei das Verfahren dadurch gekennzeichnet ist, daß das Verfahren einen Schritt eines Vorspannens eines Mischers (18), der mit der Syntliesizereinrichtung (20) und der Filtereinrichtung (16) gekoppelt ist, um den programmierbaren Frequenzgenerator (20, 18, 30) mit dem ersten Filter (16) über einen Bias-Schalter (30) zu verbinden, um den Mischer (18) freizugeben (50, 52); wobei der Bias-Schalter (30) mit dem Mischer (18) und mit dem Prozessor (22, 23) gekoppelt ist, umfaßt.
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