JPH05314760A - ラインメモリ用半導体装置 - Google Patents

ラインメモリ用半導体装置

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JPH05314760A
JPH05314760A JP4116340A JP11634092A JPH05314760A JP H05314760 A JPH05314760 A JP H05314760A JP 4116340 A JP4116340 A JP 4116340A JP 11634092 A JP11634092 A JP 11634092A JP H05314760 A JPH05314760 A JP H05314760A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shift register
data
output
input
speed ram
Prior art date
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Pending
Application number
JP4116340A
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English (en)
Inventor
Haruyoshi Fujii
治義 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP4116340A priority Critical patent/JPH05314760A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 シフトレジスタと低速RAMを内蔵し、外部
データをシフトレジスタに取り込み、シフトレジスタに
データがセットされると、低速RAMに転送し、また低
速RAMのデータをシフトレジスタに転送し、シフトレ
ジスタから外部へ出力する。このことにより入力、出力
データは、シフトレジスタが動作可能な高い周波数で動
作し、低速RAMを使用しても高速のラインメモリ用半
導体装置が実現できる。 【構成】 入力端子11からシリアルデータの信号Si
Nが入力用シフトレジスタ3、4に入力され、データが
全てセットされると、低速RAM1にセットされ、低速
RAM1の出力が出力用シフトレジスタ5、6にセット
され、コンプレックス回路9を介して、出力端子12か
らシリアルデータの信号SOUTが出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、高速動作可能なライ
ンメモリ用半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ラインメモリは高速動作可能なD
RAMで構成されており、DRAMのアクセススピード
がラインメモリのスピードを決定していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の技術の
ラインメモリは、高速動作可能なDRAMの技術が必要
で、その技術なしには、高速ラインメモリ用半導体装置
を実現できないという欠点があった。この発明は、従来
のこのような欠点を解決するためにシフトレジスタを低
速RAMの前後に接続することによって、ラインメモリ
の高速化を目的としている。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明は入力用レジスタと出力用レジスタと低速
RAMを内蔵し、入力データを入力用シフトレジスタに
取り込み、入力用シフトレジスタに、データがセットさ
れると低速RAMに書き込み、低速RAMのデータを出
力用シフトレジスタに読み出し、出力用シフトレジスタ
はデータをシリアルに出力するようにした。
【0005】
【作用】ラインメモリ用半導体装置の書き込み動作は、
入力データを入力用シフトレジスタに取り込み、入力用
レジスタにデータがセットされると別の入力用シフトレ
ジスタに切り換えて、入力データを取り込みその間にデ
ータがセットされた入力用シフトレジスタを低速RAM
に書き込む。さらに別の入力用シフトレジスタにデータ
がセットされたらデータを低速RAMに書き込み終了し
た入力用シフトレジスタに切り換えて入力データの取り
込みを行う。ラインメモリ用半導体装置の読み出し動作
は、低速RAMのデータを出力用シフトレジスタに読み
出し、出力用レジスタはシリアルにデータを出力する。
その間に別の出力用シフトレジスタに低速RAMのデー
タを読み出す。
【0006】
【実施例】図1に本発明のラインメモリ用半導体装置の
実施例を示す。図1において、ラインメモリ用半導体装
置の書き込みは、入力端子11に図2に示すシリアルデ
ータD0からDnを有するシリアルデータ信号SiNが
入力され、入力端子11に接続されたnビット入力用シ
フトレジスタ3のD端子に入力される。入力端子10に
クロック信号CLKが入力され、図2のタイムチャート
の示すように、入力端子10に接続された制御回路2か
らクロック信号CLKiN1、CLKiN2がnビット
入力用シフトレジスタ3とnビット入力用シフトレジス
タ4に入力され、クロック信号CLKOUT1、CLK
OUT2がnビット出力用シフトレジスタ5とnビット
出力用シフトレジスタ6に入力される。
【0007】クロック信号CLKiN1に同期してシフ
トされるnビット入力用シフトレジスタ3がセットされ
たら信号SiNはnビット入力用シフトレジスタ4に入
力され、信号CLKiN2に同期してシフトされる。ク
ロック信号CLKiN1、CLKiN2は図2に示すよ
うにnクロックごとに切り換わる。nビット入力用シフ
トレジスタ4にシリアルデータ信号SiNが入力されて
いる間にnビット入力用シフトレジスタ3のnビットデ
ータは、nビットコンプレックス回路7に入力され、n
ビットコンプレックス回路7の出力が低速RAM1に書
き込まれる。ラインメモリ用半導体装置の読み出しは、
低速RAM1のnビットデータが、nビットコンプレッ
クス回路8を介して、nビット出力用シフトレジスタ5
に読み出され、信号CLKOUT1に同期してnビット
出力用シフトレジスタ5の出力がコンプレックス回路9
を介して出力端子12に出力される。
【0008】nビット出力用シフトレジスタ5がシリア
ル出力している間に、次のnビットデータが低速RAM
1からnビットコンプレックス回路8を介してnビット
出力用シフトレジスタ6に読み出され、その後、nビッ
トシフトレジスタ5のデータが全てシフトされると信号
CLKOUT2に同期してnビット出力用シフトレジス
タ6の出力が、コンプレックス回路9を介して出力端子
に出力される。
【0009】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明は、低速R
AMのアクセスをnビットに1回にすることにより、低
速RAMを使用してもラインメモリ用半導体装置の高速
動作を可能にする効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるラインメモリ用半導体装置の概略
図である。
【図2】図1に示すラインメモリ用半導体装置のタイム
チャートである。
【符号の説明】
1 低速RAM 2 制御回路 3、4 nビット入力用シフトレジスタ 5、6 nビット出力用シフトレジスタ 7、8 nビットコンプレックス回路 9 コンプレックス回路 10、11 入力端子 12 出力端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の入力用シフトレジスタと、前記シ
    フトレジスタの出力を切り換えるコンプレックス回路
    と、前記コンプレックス回路の出力を入力する低速RA
    Mと、前記低速RAMの出力を選択的に入力する複数の
    出力用シフトレジスタと、前記シフトレジスタの出力を
    切り換えるコンプレックス回路と、制御用のクロック信
    号を発生する制御回路とからなるラインメモリ用半導体
    装置。
JP4116340A 1992-05-08 1992-05-08 ラインメモリ用半導体装置 Pending JPH05314760A (ja)

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JPH05314760A true JPH05314760A (ja) 1993-11-26

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