JPH05312860A - 抵抗体の温度特性測定方法 - Google Patents
抵抗体の温度特性測定方法Info
- Publication number
- JPH05312860A JPH05312860A JP11882092A JP11882092A JPH05312860A JP H05312860 A JPH05312860 A JP H05312860A JP 11882092 A JP11882092 A JP 11882092A JP 11882092 A JP11882092 A JP 11882092A JP H05312860 A JPH05312860 A JP H05312860A
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- Japan
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- thermistor
- temperature
- measured
- resistance
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体素子などの抵抗温度特性を正確かつ迅
速に測定する方法を提供する。 【構成】 サーミスタを目的温度に設定するために必要
な供給電流及びその印加時間を予め算出しておき（ＳＴ
１）、前記供給電流値を前記印加時間だけサーミスタに
供給して（ＳＴ２〜ＳＴ４）、抵抗値測定用の基準電流
を供給して、その状態で当該サーミスタの両端電圧を測
定し（ＳＴ５〜ＳＴ７）、この両端電圧値を基準電流値
で除算することによって目的温度におけるサーミスタの
抵抗値を測定する（ＳＴ８）。
速に測定する方法を提供する。 【構成】 サーミスタを目的温度に設定するために必要
な供給電流及びその印加時間を予め算出しておき（ＳＴ
１）、前記供給電流値を前記印加時間だけサーミスタに
供給して（ＳＴ２〜ＳＴ４）、抵抗値測定用の基準電流
を供給して、その状態で当該サーミスタの両端電圧を測
定し（ＳＴ５〜ＳＴ７）、この両端電圧値を基準電流値
で除算することによって目的温度におけるサーミスタの
抵抗値を測定する（ＳＴ８）。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ダイオード、トラン
ジスタ等の半導体素子の抵抗値の温度特性を測定する方
法に関し、特に、サーミスタの生産ラインにおいて特定
温度におけるサーミスタの抵抗値を素早く測定して、迅
速に当該サーミスタの適否を検査できる抵抗体の温度特
性測定方法に関する。
ジスタ等の半導体素子の抵抗値の温度特性を測定する方
法に関し、特に、サーミスタの生産ラインにおいて特定
温度におけるサーミスタの抵抗値を素早く測定して、迅
速に当該サーミスタの適否を検査できる抵抗体の温度特
性測定方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】サーミスタは、その抵抗−温度特性が重
要な意味をもっているので、生産工程においてサーミス
タの温度特性を測定し、当該サーミスタの抵抗温度特性
の適否を検査をする場合がある。かかる場合、従来は、
例えば加温装置を用いてサーミスタを特定の温度まで加
温し、その後、そのサーミスタに基準電流を供給しつつ
両端電圧を測定して、測定された両端電圧値と基準電流
値の比率によって、特定温度におけるサーミスタの抵抗
値を把握していた。
要な意味をもっているので、生産工程においてサーミス
タの温度特性を測定し、当該サーミスタの抵抗温度特性
の適否を検査をする場合がある。かかる場合、従来は、
例えば加温装置を用いてサーミスタを特定の温度まで加
温し、その後、そのサーミスタに基準電流を供給しつつ
両端電圧を測定して、測定された両端電圧値と基準電流
値の比率によって、特定温度におけるサーミスタの抵抗
値を把握していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、加温装置を用
いて特定温度まで加温するには少なからず時間を要する
ので、生産工程における特性検査としては適当でない。
特に、測定ポイントが複数点ある場合には、各測定ポイ
ントに素早く設定できないので、特性検査に長時間を要
してしまうという問題がある。
いて特定温度まで加温するには少なからず時間を要する
ので、生産工程における特性検査としては適当でない。
特に、測定ポイントが複数点ある場合には、各測定ポイ
ントに素早く設定できないので、特性検査に長時間を要
してしまうという問題がある。
【０００４】この発明は、この問題点に着目してなされ
たものであって、半導体素子などの抵抗温度特性を正確
かつ迅速に測定する方法を提供することを目的とする。
たものであって、半導体素子などの抵抗温度特性を正確
かつ迅速に測定する方法を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】上記の目的を達
成する為、この発明に係る抵抗体の温度特性測定方法
は、被測定物を目的温度に設定するために必要な供給
電流及びその印加時間を予め算出しておき、温度特性
測定時に、前記被測定物に対して前記供給電流値を前記
印加時間だけ供給して、その後、前記被測定物に対し
て抵抗値測定用の基準電流を供給して、その状態で当該
被測定物の両端電圧を測定し、この両端電圧値を前記
基準電流値で除算することによって前記目的温度におけ
る前記被測定物の抵抗値を測定する。
成する為、この発明に係る抵抗体の温度特性測定方法
は、被測定物を目的温度に設定するために必要な供給
電流及びその印加時間を予め算出しておき、温度特性
測定時に、前記被測定物に対して前記供給電流値を前記
印加時間だけ供給して、その後、前記被測定物に対し
て抵抗値測定用の基準電流を供給して、その状態で当該
被測定物の両端電圧を測定し、この両端電圧値を前記
基準電流値で除算することによって前記目的温度におけ
る前記被測定物の抵抗値を測定する。
【０００６】
【実施例】以下、実施例に基づいて、この発明を更に詳
細に説明する。図１は、この発明を実現する為の温度特
性測定用装置のブロック図を図示したものである。この
装置は、被測定物たるサーミスタ１を接続する接続端子
ＴM1，ＴM2と、サーミスタ１に発熱用の定電流を供給す
る発熱用電流源２と、サーミスタ１に抵抗値測定用の基
準電流を供給する抵抗測定用電流源３と、逆方向の電流
を阻止するダイオードＤ1 ，Ｄ2 と、サーミスタ１の両
端電圧を測定する電圧計４と、電圧計４の測定電圧を受
けこれをデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ５
と、Ａ／Ｄコンバータ５の出力に基づいてサーミスタ１
の抵抗値を算出する演算ユニット６とで構成されてい
る。なお、電流源２，３の動作は、この装置に付随する
マイコンシステム（図示せず）によって制御される。
細に説明する。図１は、この発明を実現する為の温度特
性測定用装置のブロック図を図示したものである。この
装置は、被測定物たるサーミスタ１を接続する接続端子
ＴM1，ＴM2と、サーミスタ１に発熱用の定電流を供給す
る発熱用電流源２と、サーミスタ１に抵抗値測定用の基
準電流を供給する抵抗測定用電流源３と、逆方向の電流
を阻止するダイオードＤ1 ，Ｄ2 と、サーミスタ１の両
端電圧を測定する電圧計４と、電圧計４の測定電圧を受
けこれをデジタル信号に変換するＡ／Ｄコンバータ５
と、Ａ／Ｄコンバータ５の出力に基づいてサーミスタ１
の抵抗値を算出する演算ユニット６とで構成されてい
る。なお、電流源２，３の動作は、この装置に付随する
マイコンシステム（図示せず）によって制御される。
【０００７】図３は、ＰＴＣ(Positive Temperature Co
efficient)サーミスタの抵抗温度特性の一例を図示した
ものであり、図１の装置は、このような抵抗温度特性中
で適宜な測定点を定め、その測定点における抵抗値を検
出することによって生産工程で各サーミスタの温度特性
を検査せんとするものである。以下、サーミスタの特定
温度における抵抗値を測定する手順を、図２のフローチ
ャートにしたがって説明する。
efficient)サーミスタの抵抗温度特性の一例を図示した
ものであり、図１の装置は、このような抵抗温度特性中
で適宜な測定点を定め、その測定点における抵抗値を検
出することによって生産工程で各サーミスタの温度特性
を検査せんとするものである。以下、サーミスタの特定
温度における抵抗値を測定する手順を、図２のフローチ
ャートにしたがって説明する。
【０００８】サーミスタの検査処理を始める前に、図示
しないマイコンシステムは、サーミスタの抵抗測定を行
う測定温度点（目的温度）を決定し、その目的温度に被
検査サーミスタを設定する為に必要な発熱用の電流値Ｉ
1 、及び発熱用電流の印加継続時間Ｔを決定する（ステ
ップＳＴ１）。以上の準備が完了すると検査処理が開始
され、検査対象たるサーミスタ１が接続端子ＴM1，ＴM2
に接続されると、マイコンシステムが発熱用電流源２を
ＯＮ状態に制御する（ステップＳＴ２）。すると、発熱
用の電流Ｉ1 がダイオードＤ1を介してサーミスタ１に
流れ始め、その電流に伴う電力損失によって、サーミス
タ１は発熱を開始する。尚、この状態で抵抗測定用電流
源３はＯＦＦ状態でありサーミスタ１には発熱用電流Ｉ
1 のみが流れている。
しないマイコンシステムは、サーミスタの抵抗測定を行
う測定温度点（目的温度）を決定し、その目的温度に被
検査サーミスタを設定する為に必要な発熱用の電流値Ｉ
1 、及び発熱用電流の印加継続時間Ｔを決定する（ステ
ップＳＴ１）。以上の準備が完了すると検査処理が開始
され、検査対象たるサーミスタ１が接続端子ＴM1，ＴM2
に接続されると、マイコンシステムが発熱用電流源２を
ＯＮ状態に制御する（ステップＳＴ２）。すると、発熱
用の電流Ｉ1 がダイオードＤ1を介してサーミスタ１に
流れ始め、その電流に伴う電力損失によって、サーミス
タ１は発熱を開始する。尚、この状態で抵抗測定用電流
源３はＯＦＦ状態でありサーミスタ１には発熱用電流Ｉ
1 のみが流れている。
【０００９】次に、マイコンシステムは、ステップＳＴ
１で定めた印加継続時間Ｔに達するまで時間を消費する
（ステップＳＴ３）。尚、短時間の電流供給によって目
的温度に達するよう、発熱用電流値Ｉ1 は予め適当な値
に設定されている。印加継続時間Ｔを経過するとマイコ
ンシステムは、発熱用電流源２をＯＦＦ状態に制御し
て、発熱用電流の印加を終了する（ステップＳＴ４）。
その後、マイコンシステムは、抵抗測定用電流源３をＯ
Ｎ状態に制御して、サーミスタ１に抵抗測定用の電流Ｉ
0 を供給する（ステップＳＴ５）。サーミスタ１に抵抗
測定用電流Ｉ0 が流れることによって、サーミスタの抵
抗値ｒに応じた電圧降下Ｖ0 が生じるが、その電圧降下
分は電圧計４によって測定される。
１で定めた印加継続時間Ｔに達するまで時間を消費する
（ステップＳＴ３）。尚、短時間の電流供給によって目
的温度に達するよう、発熱用電流値Ｉ1 は予め適当な値
に設定されている。印加継続時間Ｔを経過するとマイコ
ンシステムは、発熱用電流源２をＯＦＦ状態に制御し
て、発熱用電流の印加を終了する（ステップＳＴ４）。
その後、マイコンシステムは、抵抗測定用電流源３をＯ
Ｎ状態に制御して、サーミスタ１に抵抗測定用の電流Ｉ
0 を供給する（ステップＳＴ５）。サーミスタ１に抵抗
測定用電流Ｉ0 が流れることによって、サーミスタの抵
抗値ｒに応じた電圧降下Ｖ0 が生じるが、その電圧降下
分は電圧計４によって測定される。
【００１０】Ａ／Ｄコンバータ５は、この状態における
電圧計４の測定電圧Ｖ0 をデジタル信号に変換して演算
ユニット６に加え、演算ユニット６は、その値Ｖ0 を記
憶する（ステップＳＴ６）。その後、マイコンシステム
は、抵抗測定用電流源３をＯＦＦ状態に戻してサーミス
タ１への電流供給を停止する（ステップＳＴ７）。演算
ユニット６は、ステップＳＴ６の処理で得たサーミスタ
１の両端電圧値Ｖ 0 と、予め記憶している抵抗測定用の
電流値Ｉ0 に基づいて、検査対象のサーミスタの測定温
度点における抵抗値ｒ（＝Ｖ0 ／Ｉ0 ）を算出する（ス
テップＳＴ８）。そして、その抵抗値の応じて、検査対
象のサーミスタ１は適宜な処理をされる。
電圧計４の測定電圧Ｖ0 をデジタル信号に変換して演算
ユニット６に加え、演算ユニット６は、その値Ｖ0 を記
憶する（ステップＳＴ６）。その後、マイコンシステム
は、抵抗測定用電流源３をＯＦＦ状態に戻してサーミス
タ１への電流供給を停止する（ステップＳＴ７）。演算
ユニット６は、ステップＳＴ６の処理で得たサーミスタ
１の両端電圧値Ｖ 0 と、予め記憶している抵抗測定用の
電流値Ｉ0 に基づいて、検査対象のサーミスタの測定温
度点における抵抗値ｒ（＝Ｖ0 ／Ｉ0 ）を算出する（ス
テップＳＴ８）。そして、その抵抗値の応じて、検査対
象のサーミスタ１は適宜な処理をされる。
【００１１】尚、図２のフローチャートでは、測定温度
点を１ヵ所にしているが、これに限定されないのは勿論
であり、例えば発熱用電流源２の電流値を制御すれば、
任意の測定温度点に設定することができる。
点を１ヵ所にしているが、これに限定されないのは勿論
であり、例えば発熱用電流源２の電流値を制御すれば、
任意の測定温度点に設定することができる。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、この発明に係る抵
抗体の温度特性測定方法は、被測定対象物たる抵抗体に
電流を流すことによって抵抗体の温度を目的値に設定し
ており、従って目的温度に達するまでの時間を短くする
ことができる。このように、目標温度に達するまでの時
間が短いので、この発明の方法で抵抗体の生産工程など
の特性検査を行えば円滑・迅速な検査を実現することが
できる。
抗体の温度特性測定方法は、被測定対象物たる抵抗体に
電流を流すことによって抵抗体の温度を目的値に設定し
ており、従って目的温度に達するまでの時間を短くする
ことができる。このように、目標温度に達するまでの時
間が短いので、この発明の方法で抵抗体の生産工程など
の特性検査を行えば円滑・迅速な検査を実現することが
できる。
【００１３】また、発熱用印加電流を可変制御すれば、
多くの温度ポイントでの抵抗値測定や任意の目的温度で
の抵抗値測定が可能となる。
多くの温度ポイントでの抵抗値測定や任意の目的温度で
の抵抗値測定が可能となる。
【図１】この発明を実現する抵抗体の温度特性測定装置
のブロック図を図示したものである。
のブロック図を図示したものである。
【図２】図１の装置の動作を説明する為のフローチャー
トである。
トである。
【図３】図１の装置で検査するサーミスタの抵抗温度特
性の一例を図示したものである。
性の一例を図示したものである。
ＳＴ１ 発熱用電流値、印加時間の算出処理 ＳＴ２〜ＳＴ４ 発熱用電流の供給処理 ＳＴ５〜ＳＴ７ サーミスタの両端電圧測定処理 ＳＴ８ 抵抗値の算出処理
Claims (1)
- 【請求項１】被測定物を目的温度に設定するために必要
な供給電流及びその印加時間を予め算出しておき、 温度特性測定時に、前記被測定物に対して前記供給電流
値を前記印加時間だけ供給して、 その後、前記被測定物に対して抵抗値測定用の基準電流
を供給して、その状態で当該被測定物の両端電圧を測定
し、 この両端電圧値を前記基準電流値で除算することによっ
て前記目的温度における前記被測定物の抵抗値を測定す
ることを特徴とする抵抗体の温度特性測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11882092A JPH05312860A (ja) | 1992-05-12 | 1992-05-12 | 抵抗体の温度特性測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11882092A JPH05312860A (ja) | 1992-05-12 | 1992-05-12 | 抵抗体の温度特性測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05312860A true JPH05312860A (ja) | 1993-11-26 |
Family
ID=14745955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11882092A Pending JPH05312860A (ja) | 1992-05-12 | 1992-05-12 | 抵抗体の温度特性測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05312860A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100432711B1 (ko) * | 1997-06-17 | 2005-08-18 | 주식회사 엘지이아이 | 서미스터의 이상상태 감지방법 |
| CN113588130A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-11-02 | 格力电器（武汉）有限公司 | 热敏电阻的监测方法、装置、电子设备和存储介质 |
-
1992
- 1992-05-12 JP JP11882092A patent/JPH05312860A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100432711B1 (ko) * | 1997-06-17 | 2005-08-18 | 주식회사 엘지이아이 | 서미스터의 이상상태 감지방법 |
| CN113588130A (zh) * | 2021-06-18 | 2021-11-02 | 格力电器（武汉）有限公司 | 热敏电阻的监测方法、装置、电子设备和存储介质 |
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