JP2865559B2 - トランジスタの検査方法 - Google Patents
トランジスタの検査方法Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はインバータに組み込まれ
た状態でインバータを構成するトランジスタの良否を検
査するトランジスタの検査方法に関する。
た状態でインバータを構成するトランジスタの良否を検
査するトランジスタの検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】インバータに組み込まれているトランジ
スタはインバータの信頼性を維持するために、常温にお
けるトランジスタのエミッタ−コレクタ間飽和電圧−エ
ミッタ電流特性（ＶCE−ＩC 特性）の検査、さらに所定
温度にまで昇温後のトランジスタのＶCE−ＩC 特性の検
査が必要とされる。そこで、インバータを構成するトラ
ンジスタの良否を検査するためにはインバータを構成し
ている状態から、インバータからトランジスタを取り外
して検査対象トランジスタとし、検査対象トランジスタ
のＶCE−ＩC 特性をカーブトレーサによって特性曲線の
形で描かせて、その特性曲線が検査対象トランジスタの
基準ＶCE−ＩC 特性曲線から所定の範囲内にあるか否か
によって良否を判定していた。またこのＶCE−ＩC 特性
は接合部の温度である接合温度が常温、たとえば２５℃
の場合と、１２５℃の場合の両方を測定することによっ
てなされている。両温度の時におけるＶCE−ＩC 特性が
共に、検査対象トランジスタの基準ＶCE−ＩC 特性曲線
から所定範囲内にあるとき良としていた。
スタはインバータの信頼性を維持するために、常温にお
けるトランジスタのエミッタ−コレクタ間飽和電圧−エ
ミッタ電流特性（ＶCE−ＩC 特性）の検査、さらに所定
温度にまで昇温後のトランジスタのＶCE−ＩC 特性の検
査が必要とされる。そこで、インバータを構成するトラ
ンジスタの良否を検査するためにはインバータを構成し
ている状態から、インバータからトランジスタを取り外
して検査対象トランジスタとし、検査対象トランジスタ
のＶCE−ＩC 特性をカーブトレーサによって特性曲線の
形で描かせて、その特性曲線が検査対象トランジスタの
基準ＶCE−ＩC 特性曲線から所定の範囲内にあるか否か
によって良否を判定していた。またこのＶCE−ＩC 特性
は接合部の温度である接合温度が常温、たとえば２５℃
の場合と、１２５℃の場合の両方を測定することによっ
てなされている。両温度の時におけるＶCE−ＩC 特性が
共に、検査対象トランジスタの基準ＶCE−ＩC 特性曲線
から所定範囲内にあるとき良としていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たような従来のトランジスタの検査方法によるときは、
トランジスタの検査のたびにインバータからトランジス
タを取り外さなければならず、現に使用しているインバ
ータにおいてはきわめて工数がかかるという問題点があ
った。さらに温度を常温（２５℃）から１２５℃へ昇温
したりする必要があってこのために時間がかかるという
問題点があった。さらに、測定のために例えばカーブト
レーサ等の専用の測定器を必要とし、さらに、トランジ
スタ検査のために量産ラインにおいては、トランジスタ
の受け入れ検査のための工数が過大になるという問題点
があった。
たような従来のトランジスタの検査方法によるときは、
トランジスタの検査のたびにインバータからトランジス
タを取り外さなければならず、現に使用しているインバ
ータにおいてはきわめて工数がかかるという問題点があ
った。さらに温度を常温（２５℃）から１２５℃へ昇温
したりする必要があってこのために時間がかかるという
問題点があった。さらに、測定のために例えばカーブト
レーサ等の専用の測定器を必要とし、さらに、トランジ
スタ検査のために量産ラインにおいては、トランジスタ
の受け入れ検査のための工数が過大になるという問題点
があった。
【０００４】本発明は、検査精度を損なうことなくイン
バータに組み込まれた状態でインバータを構成するトラ
ンジスタの良否を検査できるトランジスタの検査方法を
提供することを目的とする。
バータに組み込まれた状態でインバータを構成するトラ
ンジスタの良否を検査できるトランジスタの検査方法を
提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明のトランジスタの
検査方法は、インバータに組み込まれた状態でインバー
タを構成するトランジスタの良否を検査するトランジス
タの検査方法であって、インバータに組み込まれた状態
における検査対象トランジスタのみをオン状態に制御
し、コレクタに電流源から所定値の電流を、検査対象ト
ランジスタの接合温度が所定温度に達するまでの期間流
し、コレクタに電流源から所定値の電流を流したときに
おける検査対象トランジスタのコレクタ−エミッタ間飽
和電圧と前記期間の経過時における検査対象トランジス
タのコレクタ−エミッタ間飽和電圧との差が所定範囲内
の値のときに検査対象トランジスタを良品と判別するこ
とを特徴とする。
検査方法は、インバータに組み込まれた状態でインバー
タを構成するトランジスタの良否を検査するトランジス
タの検査方法であって、インバータに組み込まれた状態
における検査対象トランジスタのみをオン状態に制御
し、コレクタに電流源から所定値の電流を、検査対象ト
ランジスタの接合温度が所定温度に達するまでの期間流
し、コレクタに電流源から所定値の電流を流したときに
おける検査対象トランジスタのコレクタ−エミッタ間飽
和電圧と前記期間の経過時における検査対象トランジス
タのコレクタ−エミッタ間飽和電圧との差が所定範囲内
の値のときに検査対象トランジスタを良品と判別するこ
とを特徴とする。
【０００６】
【作用】本発明のトランジスタの検査方法は、インバー
タに組み込まれた状態における検査対象トランジスタの
みがオン状態に制御され、検査対象トランジスタのコレ
クタに電流源から所定値の電流が、検査対象トランジス
タの接合温度が所定値に達するまでの期間流され、検査
対象トランジスタのコレクタに電流源から所定値の電流
を流したときにおける検査対象トランジスタのコレクタ
−エミッタ間飽和電圧と前記期間の経過時における検査
対象トランジスタのコレクタ−エミッタ間飽和電圧との
差が所定範囲内の値のとき、検査対象トランジスタは良
品と判別される。したがって、検査対象トランジスタは
インバータに組み込まれた状態で検査できることになっ
て、検査に要する工数が少なくなる。
タに組み込まれた状態における検査対象トランジスタの
みがオン状態に制御され、検査対象トランジスタのコレ
クタに電流源から所定値の電流が、検査対象トランジス
タの接合温度が所定値に達するまでの期間流され、検査
対象トランジスタのコレクタに電流源から所定値の電流
を流したときにおける検査対象トランジスタのコレクタ
−エミッタ間飽和電圧と前記期間の経過時における検査
対象トランジスタのコレクタ−エミッタ間飽和電圧との
差が所定範囲内の値のとき、検査対象トランジスタは良
品と判別される。したがって、検査対象トランジスタは
インバータに組み込まれた状態で検査できることになっ
て、検査に要する工数が少なくなる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明にかかるトランジスタの検査方
法を、添付の図面を参照しながら説明する。
法を、添付の図面を参照しながら説明する。
【０００８】図１は本発明方法を実施するための回路が
接続された状態におけるインバータの構成を示すブロッ
ク図である。
接続された状態におけるインバータの構成を示すブロッ
ク図である。
【０００９】インバータ１０は直列接続されたトランジ
スタＱ1 とＱ2 、直列接続されたトランジスタＱ3 とＱ
4 、直列接続されたトランジスタＱ5 とＱ6 と、トラン
ジスタＱ1 〜Ｑ6 を夫々のタイミングでオン状態におよ
びオフ状態に制御する制御回路７と、トランジスタＱ1
〜Ｑ6 のそれぞれに並列接続されたフライホイールダイ
オードＤ1 〜Ｄ6 とを備え、直列接続された夫々のトラ
ンジスタ対におよび平滑コンデンサＣ1 に直流電圧を印
加するように構成されている。
スタＱ1 とＱ2 、直列接続されたトランジスタＱ3 とＱ
4 、直列接続されたトランジスタＱ5 とＱ6 と、トラン
ジスタＱ1 〜Ｑ6 を夫々のタイミングでオン状態におよ
びオフ状態に制御する制御回路７と、トランジスタＱ1
〜Ｑ6 のそれぞれに並列接続されたフライホイールダイ
オードＤ1 〜Ｄ6 とを備え、直列接続された夫々のトラ
ンジスタ対におよび平滑コンデンサＣ1 に直流電圧を印
加するように構成されている。
【００１０】インバータ１０中のトランジスタＱ1 の検
査をする場合について説明する。
査をする場合について説明する。
【００１１】電流源１からの電流をスイッチ手段２およ
び電流計３を通して、トランジスタＱ1 のコレクタが接
続されたＡ点に供給するように接続し、トランジスタＱ
1 のエミッタが接続されたＣ点をアースする。また電圧
計４によってＡ点とＣ点との間の電圧を測定するように
接続すると共にトランジスタＱ1 のベースに直流電源５
の電圧を印加してトランジスタＱ1 のみオン状態に制御
する。インバータ１０を非動作状態にして、スイッチ手
段２をオン状態に制御しトランジスタＱ1 にのみ通電す
る。
び電流計３を通して、トランジスタＱ1 のコレクタが接
続されたＡ点に供給するように接続し、トランジスタＱ
1 のエミッタが接続されたＣ点をアースする。また電圧
計４によってＡ点とＣ点との間の電圧を測定するように
接続すると共にトランジスタＱ1 のベースに直流電源５
の電圧を印加してトランジスタＱ1 のみオン状態に制御
する。インバータ１０を非動作状態にして、スイッチ手
段２をオン状態に制御しトランジスタＱ1 にのみ通電す
る。
【００１２】ここで、電流源１の出力電流値が通電開始
時から電流値ＩC に達したときのトランジスタＱ1 の接
合温度をＴｊ（０）、例えば２５℃とし、スイッチ手段
２は電流計３による測定電流値が電流値ＩC に達した
後、トランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば
１２５℃に達したときにオフ状態にするように設定され
ている。
時から電流値ＩC に達したときのトランジスタＱ1 の接
合温度をＴｊ（０）、例えば２５℃とし、スイッチ手段
２は電流計３による測定電流値が電流値ＩC に達した
後、トランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば
１２５℃に達したときにオフ状態にするように設定され
ている。
【００１３】スイッチ手段２をオン状態にしたことによ
ってトランジスタＱ1 のコレクタに流れる電流は順次増
加し、所定電流値ＩC に維持される。電流値ＩC は電流
計３によって測定され、電流はトランジスタＱ1 のコレ
クタからエミッタに流れ、コレクタ電流の波形は図２
（ａ）に示すごとくである。図２（ａ）において縦軸は
電流計３によって測定した電流値を示し、横軸はスイッ
チ手段２がオン状態にされたときから計時した時間を示
してある。電流計３の測定電流値が電流値ＩC に達した
時点におけるトランジスタＱ1 のエミッタ−コレクタ間
飽和電圧ＶCE（ｓａｔ）｛以下、エミッタ−コレクタ間
飽和電圧ＶCE（ｓａｔ）をエミッタ−コレクタ間電圧Ｖ
CE、または単にＶCEと記す｝は電圧計４によって測定さ
れ、ＶCEは図２（ｂ）に示すごとくである。
ってトランジスタＱ1 のコレクタに流れる電流は順次増
加し、所定電流値ＩC に維持される。電流値ＩC は電流
計３によって測定され、電流はトランジスタＱ1 のコレ
クタからエミッタに流れ、コレクタ電流の波形は図２
（ａ）に示すごとくである。図２（ａ）において縦軸は
電流計３によって測定した電流値を示し、横軸はスイッ
チ手段２がオン状態にされたときから計時した時間を示
してある。電流計３の測定電流値が電流値ＩC に達した
時点におけるトランジスタＱ1 のエミッタ−コレクタ間
飽和電圧ＶCE（ｓａｔ）｛以下、エミッタ−コレクタ間
飽和電圧ＶCE（ｓａｔ）をエミッタ−コレクタ間電圧Ｖ
CE、または単にＶCEと記す｝は電圧計４によって測定さ
れ、ＶCEは図２（ｂ）に示すごとくである。
【００１４】この場合において、電流源１からの電流値
はコレクタ電流が増加してコレクタ電流ＩC に達したと
きに、トランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（０）、例え
ばまだ２５℃であり、トランジスタＱ1 のコレクタ電流
がＩC に達したときにおける電圧計４による測定値を読
み取る。この時の測定値をＶCE（０）とする。
はコレクタ電流が増加してコレクタ電流ＩC に達したと
きに、トランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（０）、例え
ばまだ２５℃であり、トランジスタＱ1 のコレクタ電流
がＩC に達したときにおける電圧計４による測定値を読
み取る。この時の測定値をＶCE（０）とする。
【００１５】電流源１から流出する電流の電流値がＩC
に達したときから予め定めた所定期間、すなわちトラン
ジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば１２５℃に
達するまでの時間経過したとき、スイッチ手段２をオフ
状態に制御して電流源１からの電流の供給を停止させ
る。この結果、電流源１からトランジスタＱ1 のコレク
タへの通電は遮断される。スイッチ手段２をオフ状態に
制御した時点における電圧計４の測定値を読み取る。こ
の時の測定値をＶCE（ｔ）とする。スイッチ手段２のオ
ン状態時からオフ状態後までの間におけるトランジスタ
Ｑ1 のＶCEは図２（ｂ）に示すごとくである。
に達したときから予め定めた所定期間、すなわちトラン
ジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば１２５℃に
達するまでの時間経過したとき、スイッチ手段２をオフ
状態に制御して電流源１からの電流の供給を停止させ
る。この結果、電流源１からトランジスタＱ1 のコレク
タへの通電は遮断される。スイッチ手段２をオフ状態に
制御した時点における電圧計４の測定値を読み取る。こ
の時の測定値をＶCE（ｔ）とする。スイッチ手段２のオ
ン状態時からオフ状態後までの間におけるトランジスタ
Ｑ1 のＶCEは図２（ｂ）に示すごとくである。
【００１６】平滑コンデンサＣ1 に流入する電流はスイ
ッチ手段２のオン時の所定期間にのみ流れて、一定電圧
に充電された後には充電電流が流れず、スイッチ手段２
をオフ状態にしたときには平滑コンデンサＣ1 からの放
電電流がトランジスタＱ1 のコレクタに流れるがすぐに
低下して、測定の誤差になることはない。
ッチ手段２のオン時の所定期間にのみ流れて、一定電圧
に充電された後には充電電流が流れず、スイッチ手段２
をオフ状態にしたときには平滑コンデンサＣ1 からの放
電電流がトランジスタＱ1 のコレクタに流れるがすぐに
低下して、測定の誤差になることはない。
【００１７】スイッチ手段２のオン時から、電流源１か
らの電流がＩC に達するまでの期間はトランジスタＱ1
の接合温度がＴｊ（０）、例えば２５℃に達するまでの
期間であって、図２（ｂ）において初期期間と記してあ
る。電流源１からの電流が電流値ＩC に達してからスイ
ッチ手段２をオフにするまでの期間、すなわち電流が電
流値ＩC に維持されている期間は、トランジスタＱ1 の
接合温度がＴｊ（０）、例えば２５℃からＴｊ（ｔ）、
例えば１２５℃に達するまでの期間であって、図２
（ｂ）において加熱期間と記してある。この加熱期間に
よってトランジスタＱ1 の接合温度が通電によって増加
させられるためである。図２（ｂ）の関係を電圧ＶCEと
コレクタ電流との関係で示せば図２（ｃ）に示すごとく
初期期間から電流値ＩC にまで達し、加熱期間終了まで
電流値ＩC に保持され、電流値ＩC に維持されている期
間が加熱期間である。電流源１からの電流がＩC に達し
たときの電圧ＶCE（０）とスイッチ手段２のオフ時にお
ける電圧ＶCE（ｔ）、すなわち接合温度がＴｊ（ｔ）、
例えば１２５℃に達したときの電圧ＶCE（ｔ）との差を
ΔＶCEとすれば、ΔＶCE｛＝ＶCE（０）−ＶCE（ｔ）｝
が所定範囲内のときトランジスタＱ1 は正常であると判
断される。
らの電流がＩC に達するまでの期間はトランジスタＱ1
の接合温度がＴｊ（０）、例えば２５℃に達するまでの
期間であって、図２（ｂ）において初期期間と記してあ
る。電流源１からの電流が電流値ＩC に達してからスイ
ッチ手段２をオフにするまでの期間、すなわち電流が電
流値ＩC に維持されている期間は、トランジスタＱ1 の
接合温度がＴｊ（０）、例えば２５℃からＴｊ（ｔ）、
例えば１２５℃に達するまでの期間であって、図２
（ｂ）において加熱期間と記してある。この加熱期間に
よってトランジスタＱ1 の接合温度が通電によって増加
させられるためである。図２（ｂ）の関係を電圧ＶCEと
コレクタ電流との関係で示せば図２（ｃ）に示すごとく
初期期間から電流値ＩC にまで達し、加熱期間終了まで
電流値ＩC に保持され、電流値ＩC に維持されている期
間が加熱期間である。電流源１からの電流がＩC に達し
たときの電圧ＶCE（０）とスイッチ手段２のオフ時にお
ける電圧ＶCE（ｔ）、すなわち接合温度がＴｊ（ｔ）、
例えば１２５℃に達したときの電圧ＶCE（ｔ）との差を
ΔＶCEとすれば、ΔＶCE｛＝ＶCE（０）−ＶCE（ｔ）｝
が所定範囲内のときトランジスタＱ1 は正常であると判
断される。
【００１８】一般に、通常ダイオードの熱抵抗Ｚｔｈ
（ｔ）はメーカにおいて公表されており、（１）式に示
すように定義されている。
（ｔ）はメーカにおいて公表されており、（１）式に示
すように定義されている。
【００１９】
【数１】
【００２０】（１）式において、Ｐはダイオードで消費
された電力を、Ｔｊｄ（０）、Ｔｊｄ（ｔ）、Ｔａｄは
それぞれ通電開始時から通電電流が所定電流値に達した
ときの接合温度（°Ｋ）、所定電流値の通電を所定期間
継続したときの接合温度（°Ｋ）、ダイオードの周囲温
度（°Ｋ）を示している。
された電力を、Ｔｊｄ（０）、Ｔｊｄ（ｔ）、Ｔａｄは
それぞれ通電開始時から通電電流が所定電流値に達した
ときの接合温度（°Ｋ）、所定電流値の通電を所定期間
継続したときの接合温度（°Ｋ）、ダイオードの周囲温
度（°Ｋ）を示している。
【００２１】上記から接合温度Ｔｊｄ（ｔ）を得るため
にダイオードで消費されるべき電力Ｐが得られる。これ
から目標接合温度に達するまでに要する電力が得られ
る。上記の例では目標接合温度１２５℃に達するまでの
通電時間が求められる。
にダイオードで消費されるべき電力Ｐが得られる。これ
から目標接合温度に達するまでに要する電力が得られ
る。上記の例では目標接合温度１２５℃に達するまでの
通電時間が求められる。
【００２２】一方、接合温度Ｔｊｄと順方向電圧Ｖｆと
の間には（２）式に示す関係がある。
の間には（２）式に示す関係がある。
【００２３】
【数２】
【００２４】（２）式において、ｎはエミッション係
数、ｋはボルツマン定数、ｑは電子の電荷、Ｉｆは順方
向電流、Ｉｓは飽和電流を示している。
数、ｋはボルツマン定数、ｑは電子の電荷、Ｉｆは順方
向電流、Ｉｓは飽和電流を示している。
【００２５】従って、接合温度がＴＪｄ（ｔ）、Ｔｊｄ
（０）のときにおける順方向電圧をＶｆ（ｔ）、Ｖｆ
（０）とすれば、ΔＶｆ＝｛Ｖｆ（ｔ）−Ｖｆ（０）｝
は（３）式に示すごとくになる。
（０）のときにおける順方向電圧をＶｆ（ｔ）、Ｖｆ
（０）とすれば、ΔＶｆ＝｛Ｖｆ（ｔ）−Ｖｆ（０）｝
は（３）式に示すごとくになる。
【００２６】
【数３】
【００２７】Ｔｊｄ（ｔ）およびＴｊｄ（０）に対する
ΔＶｆからダイオードの良否が判別されることが知られ
ている。すなわちΔＶｆが所定範囲内に入っているとき
はダイオードは良と判別される。
ΔＶｆからダイオードの良否が判別されることが知られ
ている。すなわちΔＶｆが所定範囲内に入っているとき
はダイオードは良と判別される。
【００２８】トランジスタについてもダイオードの場合
と同様に接合温度と相関を持った順方向電圧降下が利用
されることが知られており、電流源１からの電流値ＩC
が設定でき、さらにスイッチ手段２をオフ状態にする時
期、すなわち電流値ＩC を維持する期間が設定できる。
さらに、トランジスタの良否がダイオードの場合と同様
にΔＶCEによって評価できることが知られている。した
がって、ΔＶCEが所定範囲内に入っているときは、トラ
ンジスタＱ1 が良と判別され、所定範囲外のときには不
良と判別される。
と同様に接合温度と相関を持った順方向電圧降下が利用
されることが知られており、電流源１からの電流値ＩC
が設定でき、さらにスイッチ手段２をオフ状態にする時
期、すなわち電流値ＩC を維持する期間が設定できる。
さらに、トランジスタの良否がダイオードの場合と同様
にΔＶCEによって評価できることが知られている。した
がって、ΔＶCEが所定範囲内に入っているときは、トラ
ンジスタＱ1 が良と判別され、所定範囲外のときには不
良と判別される。
【００２９】ちなみに、カーブトレーサによってトラン
ジスタ単体について測定を行った場合、図２（ａ）と同
一波形でかつ電流値が同一の電流を通電したときにおけ
るΔＶCE｛＝ＶCE（ｔ）−ＶCE（０）｝と電流値ＩC と
の間の特性は図２（ｃ）と同一であって、良品のトラン
ジスタについては、ΔＶCEが所定範囲内に入っており、
不良の場合にはΔＶCEが所定範囲外に出ていて上記が裏
付けられている。
ジスタ単体について測定を行った場合、図２（ａ）と同
一波形でかつ電流値が同一の電流を通電したときにおけ
るΔＶCE｛＝ＶCE（ｔ）−ＶCE（０）｝と電流値ＩC と
の間の特性は図２（ｃ）と同一であって、良品のトラン
ジスタについては、ΔＶCEが所定範囲内に入っており、
不良の場合にはΔＶCEが所定範囲外に出ていて上記が裏
付けられている。
【００３０】上記したように、トランジスタＱ1 につい
てインバータ１０に組み付けられている状態において良
否が判別されるため、判別に要する期間は少なくてす
む。
てインバータ１０に組み付けられている状態において良
否が判別されるため、判別に要する期間は少なくてす
む。
【００３１】また、上記した例において、Ｔｊ（０）を
２５℃として説明したが検査時における周囲温度として
もよく、このようにしたときは電流値ＩC を設定し、ト
ランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば１２５
℃に達するまでの維持時間を求めて、該維持時間電流値
ＩC を維持するようにしてもよい。
２５℃として説明したが検査時における周囲温度として
もよく、このようにしたときは電流値ＩC を設定し、ト
ランジスタＱ1 の接合温度がＴｊ（ｔ）、例えば１２５
℃に達するまでの維持時間を求めて、該維持時間電流値
ＩC を維持するようにしてもよい。
【００３２】さらに、上記した説明においてはトランジ
スタＱ1 の良否を判別する場合を例に説明したが、トラ
ンジスタＱ1 の場合と同様に、他のトランジスタＱ2 、
…、Ｑ6 についてもインバータ１０に接続された状態に
おいて良否が判別できることは明らかである。トランジ
スタＱ2 、…、Ｑ6 の良否を検査する場合は、検査対象
トランジスタのコレクタに電流計３と電圧計４の共通接
続点を接続して検査対象トランジスタのコレクタの電流
源１からの電流を流し、かつ検査対象トランジスタのコ
レクタ−エミッタ間の電圧ＶCEを測定するようにし、か
つ検査対象トランジスタのベースに直流電源５の電圧を
印加して検査対象トランジスタのみ作動状態にすること
によって行われる。
スタＱ1 の良否を判別する場合を例に説明したが、トラ
ンジスタＱ1 の場合と同様に、他のトランジスタＱ2 、
…、Ｑ6 についてもインバータ１０に接続された状態に
おいて良否が判別できることは明らかである。トランジ
スタＱ2 、…、Ｑ6 の良否を検査する場合は、検査対象
トランジスタのコレクタに電流計３と電圧計４の共通接
続点を接続して検査対象トランジスタのコレクタの電流
源１からの電流を流し、かつ検査対象トランジスタのコ
レクタ−エミッタ間の電圧ＶCEを測定するようにし、か
つ検査対象トランジスタのベースに直流電源５の電圧を
印加して検査対象トランジスタのみ作動状態にすること
によって行われる。
【００３３】また、電流値ＩC に維持される加熱時間
は、例えば電流値ＩC ＝４００Ａの場合に１秒程度であ
るため、電流計３および電圧計４に代わって、電流値Ｉ
C および電圧ＶCEは例えば２現象オシロスコープや２チ
ャンネルのデジタイザ等により同時に観測することによ
って得ることが好ましい。また、スイッチ手段２のオフ
状態への制御はスイッチ手段２のオン時から所定電圧に
より充電される時定数回路と、時定数回路の出力電圧を
基準電圧と比較する比較手段とを設けて、基準電圧をス
イッチ手段２のオン時から所定時間、例えばＴｊ（ｔ）
の接合温度に達するまでの時間充電したときにおける時
定数回路の出力電圧に設定しておき、時定数回路の充電
時の出力電圧が基準電圧を超えたときの比較手段の出力
によってスイッチ手段２をオフさせるようにしてもよ
い。
は、例えば電流値ＩC ＝４００Ａの場合に１秒程度であ
るため、電流計３および電圧計４に代わって、電流値Ｉ
C および電圧ＶCEは例えば２現象オシロスコープや２チ
ャンネルのデジタイザ等により同時に観測することによ
って得ることが好ましい。また、スイッチ手段２のオフ
状態への制御はスイッチ手段２のオン時から所定電圧に
より充電される時定数回路と、時定数回路の出力電圧を
基準電圧と比較する比較手段とを設けて、基準電圧をス
イッチ手段２のオン時から所定時間、例えばＴｊ（ｔ）
の接合温度に達するまでの時間充電したときにおける時
定数回路の出力電圧に設定しておき、時定数回路の充電
時の出力電圧が基準電圧を超えたときの比較手段の出力
によってスイッチ手段２をオフさせるようにしてもよ
い。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明のトランジス
タの検査方法によればインバータに組み込まれた状態で
検査対象トランジスタの検査を行うことができるため、
インバータから取り外しおよび再組込の工数は不要とな
って、インバータを構成するトランジスタの検査に要す
る時間、工数が少なくてすむ効果がある。
タの検査方法によればインバータに組み込まれた状態で
検査対象トランジスタの検査を行うことができるため、
インバータから取り外しおよび再組込の工数は不要とな
って、インバータを構成するトランジスタの検査に要す
る時間、工数が少なくてすむ効果がある。
【００３５】さらに、量産ラインにおいてトランジスタ
の受け入れ検査をせず、完成品検査のみで効率よく検査
できるので工数が減る効果がある。
の受け入れ検査をせず、完成品検査のみで効率よく検査
できるので工数が減る効果がある。
【図１】本発明にかかるトランジスタ検査方法を実施す
るための回路が接続された状態におけるインバータの構
成を示すブロック図である。
るための回路が接続された状態におけるインバータの構
成を示すブロック図である。
【図２】本発明にかかるトランジスタ検査方法の説明に
供する模式説明図である。
供する模式説明図である。
１…電流源 ２…スイッ
チ手段 ３…電流計 ４…電圧計 ５…直流電源 ７…制御回
路 １０…インバータ Ｃ1 …平滑
コンデンサ Ｄ1 〜Ｄ6 …フライホイールダイオード Ｑ1 〜Ｑ6
…トランジスタ
チ手段 ３…電流計 ４…電圧計 ５…直流電源 ７…制御回
路 １０…インバータ Ｃ1 …平滑
コンデンサ Ｄ1 〜Ｄ6 …フライホイールダイオード Ｑ1 〜Ｑ6
…トランジスタ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01R 31/26
Claims (1)
- 【請求項１】インバータに組み込まれた状態でインバー
タを構成するトランジスタの良否を検査するトランジス
タの検査方法であって、インバータに組み込まれた状態
における検査対象トランジスタのみをオン状態に制御
し、コレクタに電流源から所定値の電流を、検査対象ト
ランジスタの接合温度が所定温度に達するまでの期間流
し、コレクタに電流源から所定値の電流を流したときに
おける検査対象トランジスタのコレクタ−エミッタ間飽
和電圧と前記期間の経過時における検査対象トランジス
タのコレクタ−エミッタ間飽和電圧との差が所定範囲内
の値のときに検査対象トランジスタを良品と判別するこ
とを特徴とするトランジスタの検査方法。
Priority Applications (9)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11274894A JP2865559B2 (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | トランジスタの検査方法 |
| DE69428326T DE69428326T2 (de) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Gerät zur Prüfung der elektrischen Bauteile eines Wechselrichters |
| EP00202365A EP1046923B1 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| EP94308219A EP0652445B1 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric components for inverter circuit |
| US08/337,479 US5497095A (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| EP03076066A EP1326085A3 (en) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Apparatus for inspecting electric component for inverter circuit |
| DE69433701T DE69433701T2 (de) | 1993-11-08 | 1994-11-08 | Gerät zur Prüfung der elektrischen Bauteile eines Wechselrichters |
| US08/610,754 US5694051A (en) | 1993-11-08 | 1996-03-04 | Inspecting transistors in an inverter circuit |
| US08/768,205 US5798648A (en) | 1993-11-08 | 1996-12-17 | Apparatus and method for inspecting an electrolytic capacitor in an inverter circuit containing transistor switching elements |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11274894A JP2865559B2 (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | トランジスタの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07318608A JPH07318608A (ja) | 1995-12-08 |
| JP2865559B2 true JP2865559B2 (ja) | 1999-03-08 |
Family
ID=14594573
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11274894A Expired - Fee Related JP2865559B2 (ja) | 1993-11-08 | 1994-05-26 | トランジスタの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2865559B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103168230A (zh) * | 2010-11-01 | 2013-06-19 | 卡普森泽公司 | 测量电容的方法和用途 |
| CN109828193A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-05-31 | 山西大学 | 一种偏流动态不变的结温标定及散热组件性能评估的装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5045325B2 (ja) * | 2007-09-14 | 2012-10-10 | トヨタ自動車株式会社 | トランジスタの検査方法と検査装置 |
| JP2014070895A (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-21 | Denso Corp | 半導体装置の検査方法および検査装置 |
| KR102626549B1 (ko) * | 2021-10-26 | 2024-01-19 | 한국에너지기술연구원 | 스위치 전압 특성을 이용한 스위치 노화 추정 방법 |
-
1994
- 1994-05-26 JP JP11274894A patent/JP2865559B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103168230A (zh) * | 2010-11-01 | 2013-06-19 | 卡普森泽公司 | 测量电容的方法和用途 |
| CN103168230B (zh) * | 2010-11-01 | 2015-03-18 | 卡普森泽公司 | 测量电容的方法和用途 |
| CN109828193A (zh) * | 2019-01-28 | 2019-05-31 | 山西大学 | 一种偏流动态不变的结温标定及散热组件性能评估的装置 |
| CN109828193B (zh) * | 2019-01-28 | 2020-11-10 | 山西大学 | 一种偏流动态不变的结温标定及散热组件性能评估的装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07318608A (ja) | 1995-12-08 |
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