CN219776935U - 一种ptc阻温测试装置 - Google Patents
一种ptc阻温测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN219776935U CN219776935U CN202321349874.9U CN202321349874U CN219776935U CN 219776935 U CN219776935 U CN 219776935U CN 202321349874 U CN202321349874 U CN 202321349874U CN 219776935 U CN219776935 U CN 219776935U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- ptc
- testing
- test
- controller
- power supply
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 132
- 230000008859 change Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本实用新型提供一种PTC阻温测试装置，包括控制器、用于提供控制器工作电压的可编程电源，可编程电源与控制器串联形成控制回路，PTC阻温测试装置还包括提供各种测试电压的直流电源、用于提供测试环境温度的高低温试验箱，待测的PTC电阻元件放置于高低温试验箱内，所述直流电源、控制器、待测的PTC电阻元件串联形成测试回路，控制器用于控制所述测试回路的通断，PTC阻温测试装置还包括用于捕捉测试回路瞬时电流的示波器。
Description
技术领域
本实用新型涉及热敏电阻测试领域，尤其涉及一种PTC阻温测试装置。
背景技术
PTC电阻元件是一种以钛酸钡或高分子聚合材料为主要成分的半导体热敏电阻元件，当温度达到某恒定值时，其电阻会呈现跃迁，尤其是在居里温度点附近电阻值将跃升数个量级。
PTC电阻元件具有电压效应，即在不同电压下测试其阻值，测得的阻值随着施加的测试电压增大而减小，而且电压的影响随测试温度的增加而增大，呈现出随着测试电压的升高，PTC电阻元件的温度系数变小的现象(温度系数越小，PTC电阻元件对温度变化的反应越不灵敏)。
PTC电阻元件的R-T特性(阻温特性)是衡量PTC电阻元件性能的最佳标尺，精确测得PTC电阻元件的R-T特性对研发PTC电阻元件的材料、工艺以及用途具有重大意义。现有常用的R-T测试系统(阻温测试系统)通常通过施加2VDC以下的测试电压，来测试PTC电阻元件无功功率时的输出电流进而得到PTC电阻元件的电阻，无法适用于不同电压下的PTC阻温测试，因此有必要设计一种新的PTC阻温测试装置，以克服上述问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种PTC阻温测试装置，可用于不同电压下的PTC阻温测试，本实用新型至少解决了现有技术中的部分问题。
本实用新型是这样实现的：
本实用新型提供一种PTC阻温测试装置，包括控制器、用于提供控制器工作电压的可编程电源，可编程电源与控制器串联形成控制回路，PTC阻温测试装置还包括提供各种测试电压的直流电源、用于提供测试环境温度的高低温试验箱，待测的PTC电阻元件放置于高低温试验箱内，所述直流电源、控制器、待测的PTC电阻元件串联形成测试回路，控制器用于控制所述测试回路的通断，PTC阻温测试装置还包括用于捕捉测试回路瞬时电流的示波器。
进一步地，在高低温试验箱内，与PTC电阻元件电连接的导线采用耐高温导线。
进一步地，PTC阻温测试装置还包括夹持测试回路导线的电流钳，电流钳与示波器的信号接口电连接。
本实用新型具有以下有益效果：
1、本实用新型提供一种PTC阻温测试装置，可用于不同电压下的PTC阻温测试，解决了现有PTC电阻元件阻温测试系统中无法精准测试出PTC电阻元件在不同测试电压的阻值，从而导致被测PTC电阻元件的阻温测试结果缺乏准确性的问题。
2、使用2VDC以下的电压进行测试，PTC电阻基本上不做功，可持续通电进行PTC阻温测试，但在进行不同电压下的PTC阻温测试时，测试电压通常会高于PTC的启动电压，持续通电的测试会导致PTC电阻因通电发热做功而引起自身阻值变化，无法精准测出PTC电阻元件在不同测试电压的阻值，影响测试的准确度，本实用新型提供的PTC阻温测试装置较好地解决了该问题。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本实用新型实施例提供的PTC阻温测试装置示意图；
图2为本实用新型实施例提供的PTC电阻元件在不同工作电压下的R-T特性曲线。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
如图1，本实用新型实施例提供一种PTC阻温测试装置，包括控制器2、用于提供控制器2工作电压的可编程电源1，可编程电源1与控制器2串联形成控制回路，PTC阻温测试装置还包括提供各种测试电压的直流电源3、用于提供测试环境温度的高低温试验箱4，待测的PTC电阻元件6放置于高低温试验箱4内，与PTC电阻元件6电连接的导线伸出高低温试验箱4，所述直流电源3、控制器2、待测的PTC电阻元件6串联形成测试回路，控制器2用于控制测试回路的通断，PTC阻温测试装置还包括用于捕捉测试回路瞬时电流的示波器5。在高低温试验箱4内，与PTC电阻元件6电连接的导线采用耐高温导线。PTC阻温测试装置还包括夹持测试回路导线的电流钳，电流钳与示波器5的信号接口电连接。
本实用新型提供一种PTC阻温测试装置，可用于不同电压下的PTC阻温测试，包括可编程电源1、控制器2、提供各种测试电压的直流电源3、高低温试验箱4、示波器5、PTC电阻元件6(PTC热敏电阻元件)；可编程电源1用于提供控制器2的瞬时工作电压，控制器2用于控制测试回路的通断，可编程电源1通过导线和控制器2连接，可编程电源1和控制器2串联形成控制回路(可编程电源1与控制器2的第一信号接口、第二信号接口电连接，串联成形成控制回路)；直流电源3接入电路，用于提供测试电压；PTC电阻元件6放置于高低温试验箱4内，高低温试验箱4用于提供测试环境温度；直流电源3、控制器2、待测的PTC电阻元件6通过导线串联形成测试回路(控制器2的第三信号接口、第四信号接口接入测试回路)；高低温试验箱4内的导线采用耐高温导线，PTC电阻元件6与耐高温导线电连接；示波器5用于捕捉测试回路的瞬时电流，在本实施例中，示波器5采用电流钳夹住测试回路的导线以捕捉测试回路的瞬时电流，电流钳与示波器5的信号接口相连，电流钳具有测试方便，测试精准的优点。
在本实施例中，可编程电源1、控制器2、直流电源3、高低温试验箱4、示波器5、电流钳均为实验室的常规设备，是现有且可购买的，其使用方法均为现有技术，在此不再赘述。可编程电源1为常规设备的固有名称，其使用方法是现有技术，不需要付出创造性的编程行为，使用时仅需输入实验对应的参数即可改变输出电压的时长，以控制控制器2的工作时长，在本实施例中，可编程电源1的型号可采用致茂chroma62012p-40-120；高低温试验箱4的型号可采用爱斯佩克高温试验箱SEG-021H(设备参数：环境温度+20℃～300℃)；直流电源3的型号可采用大功率直流开关电源DWW-QD；示波器5的型号可采用泰克tektronixmdo3024；控制器2的型号可采用FR39金脉控制器；电流钳的型号可采用汉泰电流钳CC65。
在本实施例中，不同电压下的PTC阻温测试装置可按如下方法使用：可编程电源1输出20ms的控制器2工作电压，使得控制器2同步工作20ms，控制器2工作20ms，则可以使得测试回路形成20ms的通导状态；示波器5可捕捉此20ms测试回路的瞬时电流，即可根据欧姆定律，算得当前测试电压、温度时的PTC电阻元件6的阻值。
本实用新型采用可编程电源1瞬时驱动控制器2控制测试回路的通断，可有效地精准测试出在工作电压下被测PTC电阻元件的阻值，避免因为PTC电阻元件通电发热而引起自身阻值变化，影响测试的准确度；同时在保持恒温的情况下，可以通过更改测试直流电源3的输出电压，来快速测试出被测PTC电阻元件在同一温度、不同电压下的阻值。同一温度下各种测试电压的测完后，改变高低温试验箱4内的温度，继续同一温度、不同电压下的阻值测试。在本实施例中，高低温试验箱4用于改变测试温度，直流电源3用于改变测试电压。
不断测试PTC电阻元件6在不同工作电压、不同温度时的PTC电阻元件的阻值，即可绘制出被测试的PTC电阻元件在不同工作电压下的R-T特性曲线，如图2。
本实用新型提供一种PTC阻温测试装置，可用于不同电压下的PTC阻温测试，解决了现有PTC电阻元件阻温测试系统中无法精准测试出PTC电阻元件在不同测试电压的阻值，从而导致被测PTC电阻元件的阻温测试结果缺乏准确性的问题。
使用2VDC以下的电压进行测试，PTC电阻基本上不做功，可持续通电进行PTC阻温测试，但在进行不同电压下的PTC阻温测试时，测试电压通常会高于PTC的启动电压，持续通电的测试会导致PTC电阻因通电发热做功而引起自身阻值变化，无法精准测出PTC电阻元件在不同测试电压的阻值，影响测试的准确度，本实用新型提供的PTC阻温测试装置较好地解决了该问题。
2VDC以下的测试电压相对PTC启动电压而言很低，基本认为在2VDC以下的测试电压PTC不做功，即属于无功功率状态下的PTC测试，当用来测试不同工作电压下的PTC电阻元件时的电阻时，因为PTC热敏电阻元件会因通电发热而引起自身阻值变化，影响测试的准确度，无法反映真实工作状态下PTC电阻元件的R-T特性，因此需要使用本实用新型提供的PTC阻温测试装置。
现有常用的测试系统一般是持续通2VDC以下的测试电压进行测试，本实用新型采用瞬时通工作电压进行测试，前者是测试电压低，后者是测试时间短，都可以保证在测试时PTC处于无功功率状态，避免测试结果失去准确性。
本说明书未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种PTC阻温测试装置，其特征在于：包括控制器、用于提供控制器工作电压的可编程电源，可编程电源与控制器串联形成控制回路，PTC阻温测试装置还包括提供各种测试电压的直流电源、用于提供测试环境温度的高低温试验箱，待测的PTC电阻元件放置于高低温试验箱内，所述直流电源、控制器、待测的PTC电阻元件串联形成测试回路，控制器用于控制所述测试回路的通断，PTC阻温测试装置还包括用于捕捉测试回路瞬时电流的示波器。
2.如权利要求1所述的PTC阻温测试装置，其特征在于：在高低温试验箱内，与PTC电阻元件电连接的导线采用耐高温导线。
3.如权利要求1所述的PTC阻温测试装置，其特征在于：还包括夹持测试回路导线的电流钳，电流钳与示波器的信号接口电连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321349874.9U CN219776935U (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 一种ptc阻温测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202321349874.9U CN219776935U (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 一种ptc阻温测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN219776935U true CN219776935U (zh) | 2023-09-29 |
Family
ID=88135005
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202321349874.9U Active CN219776935U (zh) | 2023-05-30 | 2023-05-30 | 一种ptc阻温测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN219776935U (zh) |
-
2023
- 2023-05-30 CN CN202321349874.9U patent/CN219776935U/zh active Active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109188232B (zh) | 一种igbt模块状态评估与剩余寿命预测模型的构建方法 | |
| CN105891757B (zh) | 一种开环霍尔传感器测量准确度校验装置及其校验方法 | |
| JPH05501022A (ja) | 加熱プローブの温度制御 | |
| CN107271878A (zh) | 通过电流加热半导体器件的高温特性测试方法及装置 | |
| CN107345996A (zh) | 场效应管测试电路及测试方法 | |
| CN112526312A (zh) | 一种igbt器件的多应力作用测试系统及方法 | |
| JP3108455B2 (ja) | ブレークダウン電圧の測定方法 | |
| BR112017015960B1 (pt) | Aparelho para verificar um parâmetro de um transformador, sistema e método para verificar um parâmetro de um transformador | |
| CN104808041B (zh) | 一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置 | |
| CN219776935U (zh) | 一种ptc阻温测试装置 | |
| CN210720572U (zh) | 一种加热元件电阻温度系数的快速测定装置 | |
| CN114113836B (zh) | 一种隔离变压器的温升实验装置及方法 | |
| CN210225754U (zh) | 一种线圈实时温度检测装置 | |
| CN112162223B (zh) | Squid器件电磁参数测试方法、装置和计算机设备 | |
| CN114216581A (zh) | 一种短路工况下功率器件的实时结温无损测量方法 | |
| CN108918999B (zh) | 电场敏感型智能材料响应时间测试系统及方法 | |
| CN104698281A (zh) | 一种电阻温度特性测试装置 | |
| CN104698282A (zh) | 一种电阻温度特性的测试方法 | |
| JP3717270B2 (ja) | 半導体素子の特性試験方法及びその装置 | |
| CN217639376U (zh) | 一种半导体器件栅偏测试装置 | |
| CN214252481U (zh) | 一种tvs管的击穿检测电路 | |
| WO2024001883A1 (zh) | 互连结构阻抗测量电路、测量装置及测量方法 | |
| CN210005596U (zh) | 一种多路电性连续测量装置 | |
| CN214011423U (zh) | 一种igbt器件的多应力作用测试系统 | |
| CN218350426U (zh) | 一种高频高压功率二极管的开关功耗测量系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |