JPH05312527A - スリッター丸刃の相対位置計測方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 スリッター丸刃の相対位置を高精度に計測す
る。 【構成】 通板方向から光を照射し、その反対側から２
次元撮像器で刃先を拡大撮像することによって２枚の丸
刃の刃先の画像を１画面内に得、予め求めた刃端部の元
パターンとの比較照合によって刃端部の画像内の仮想位
置を求め、その位置情報から２枚の丸刃の仮想エッジ位
置を求めることによって仮想クリアランス量，オーバー
ラップ量を検出し、事前に求めておいた各計測位置での
実際量との補正関数によって実際量に変換する。さら
に、撮像器の向きの経時変化を測定毎に校正板を撮像す
ることによって検知し、上記検出したクリアランス量，
オーバーラップ量に撮像器の向きの変化分だけの補正を
加える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、帯状体例えば鋼板、を
スリット加工するスリッター丸刃の、隣接する丸刃間の
クリアランス量あるいはオ−バラップ量、すなわち刃先
相対距離、の計測に関する。

【０００２】

【従来技術】従来から、スリッター丸刃のかかる相対距
離計測に適用可能な方法として、数々のものが提案され
ており、一部はすでに実用化されている。

【０００３】この中で代表的なものとして、隣接する２
枚の丸刃の、回転軸に沿う方向の距離を変位計で測定
し、この距離と丸刃の厚みからクリアランス量（回転軸
に沿う方向のギャップ幅）を求める方式がある。

【０００４】実開昭５９−１０６００６号公報には、ギ
ャップ幅（クリアランス量）を、レーザー光をシリンド
リカルレンズを介して平行光としラインセンサカメラで
検出する方式が示されている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし前述の変位計を
用いる測定では、鋼板をスリット加工する幅すなわちス
リット幅が非常に小さい場合は、隣接する２枚の丸刃の
間隙が狭いため物理的に変位計を挿入することができ
ず、測定は不可能となる。

【０００６】前記実開昭５９−１０６００６号公報に開
示の測定では、ラインセンサをギャップ幅方向に平行に
セッティングしなければクリアランス量を大きく検出し
てしまうため、数十μｍのクリアランス量の検出には検
出器の高精度なセッティングが必要となり、また丸刃が
傾いてセットされている場合はその傾きに合わせて検出
器を傾けなければ正確な検出は望めない。また、カメラ
の指向方向が、両丸刃の回転軸を含む面に対して垂直で
なければ、ギャップを斜め方向から見ていることにな
り、実際のギャップ量よりも小さく検出してしまう。ま
た、丸刃のような３次元形状を有する物体間のギャップ
を対象とするので、エッジボケが大きくこれが検出精度
の劣化の原因となる。

【０００７】上記いずれの方法でも、直径方向の相対距
離（重なり代）、すなわち隣接スリッター丸刃間のオー
バーラップ量は検出できない。

【０００８】本発明は、従来のかかるスリッター丸刃の
相対位置計測方法の欠点を解消して、対象が丸刃のよう
な３次元形状であっても、精密なセッテングを必要とせ
ずにクリアランス量，オーバーラップ量等を高精度に計
測することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本願の第１番の発明は、
帯状体のスリッターラインの、隣接する少くとも２枚の
スリッター丸刃間の刃先相対距離をオフラインで自動計
測するスリッター丸刃の相対位置計測方法において、光
源より隣接するスリッター丸刃に光を照射し、それらの
スリッタ−丸刃を間に置いて相対して配置した２次元撮
像器で刃端部を拡大撮像することによって隣接する少く
とも２枚の丸刃の刃端部の画像を一画面内に得、予め求
めた刃端部の元画像パターンとの比較照合によって該画
面上での刃端部の位置を求め、その位置情報から刃端部
のエッジを求めることによって丸刃の前記画面上の刃先
相対距離を検出する。すなわち、隣接するスリッタ−丸
刃に通板方向から光を照射し、その反対側から２次元撮
像器で刃先を拡大撮像することによって２枚の丸刃の刃
先の画像を１画面内に得、予め求めた刃端部の元パター
ンとの比較照合によって刃端部の画像内の仮想位置を求
め、その位置情報から２枚の丸刃の仮想エッジ位置を求
めることによって仮想クリアランス，オーバーラップ量
等を検出する。

【００１０】本願の第２番の発明は、各組が隣接する２
枚のスリッター丸刃でなる複数組のスリッタ−丸刃を並
設したスリッターラインの、各組のスリッター丸刃間の
刃先相対距離をオフラインで自動計測するスリッター丸
刃の相対位置計測方法において、各組のスリッタ−丸刃
の相対位置計測のそれぞれにおいて、光源よりスリッタ
ー丸刃に光を照射し、スリッタ−丸刃を間に置いて相対
して配置した２次元撮像器で２枚のスリッタ−丸刃の刃
端部を拡大撮像することによって２枚の丸刃の刃端部の
画像を一画面内に得、予め求めた刃端部の元画像パター
ンとの比較照合によって該画面上での刃端部の位置を求
め、その位置情報から刃端部のエッジを求めることによ
って隣接する丸刃の前記画面上の刃先相対距離を検出し
これを、事前に求めておいた現在測定対象としている組
の並設位置に宛てられている、検出距離に対応する実際
距離の関係を表わす変換関数で実際量に変換する。該変
換関数とは、クリアランス量，オーバーラップ量等の真
値の明らかな２枚のスリッタ−丸刃を各組の並設位置に
置いて本計測方法で計測した場合の、各並設位置での真
値（実際量）と画面上の値（仮想検出量）との関数関係
（並設位置対応）予め求めたものである。

【００１１】

【作用】丸刃のような３次元形状を有する物体間のギャ
ップを撮影すると、エッジボケが大きく、エッジの検出
が難かしいが、本願の第１番および第２番の発明では、
画像認識技術により、予め求めた刃端部の元画像パタ−
ンとの比較照合により刃端部を認識するので、刃端部の
特定もしくは摘出が正確となり、エッジボケによる検出
精度低下が回避される。また、第２番の発明では、画面
上で得た相対距離を、並設位置対応で事前に求めておい
た、変換関数で実際量に変換するので、各組それぞれ
で、正確なクリアランス量，オーバーラップ量等が得ら
れる。

【００１２】本発明の好ましい実施例では、通板方向よ
り２枚の丸刃の刃間部に光を照射し、その照射方向と丸
刃をはさんで反対方向から拡大鏡を介して２次元カメラ
で撮像し、グレイスケールでのパターン認識によって特
徴点を複数抽出し、その座標情報からクリアランス量，
オーバーラップ量等に関する情報を得、事前に求めた変
換関数によって実際量に変換する。本発明の好ましい実
施例ではさらに、２次元撮像器の向きの経時変化を測定
毎に校正板を撮像することによって検知し、上記のよう
にして得たクリアランス量，オーバーラップ量等に２次
元撮像器の向きの変化分だけの補正を加えることによっ
て、２次元撮像器の向きの経時変化があっても高精度に
クリアランス量，オーバーラップ量等を検出する。２次
元撮像器の向きの変化分だけの補正とは、測定対象を模
擬した真値の明らかな校正板を撮像した場合の、本計測
方法による計測値と真値との関係より求めた補正量で、
変換値に施正をほどこす補正である。これにより、２次
元撮像器の向きが衝撃等によってずれても、測定前に２
次元撮像器の向きのずれを定量的に把握し、変換値に向
きのずれ分の補正を施すことによって、２次元撮像器の
向きのずれによる計測精度の低下が回避される。

【００１３】本発明の他の目的および特徴は、図面を参
照した以下の実施例の説明より明らかになろう。

【００１４】

【実施例】図１に、本発明を一態様で実施する装置構成
の概要を示す。図１において、１ａ，１ｂはスリッター
のスタンドを、２ａ，２ｂは互に平行な丸刃の軸を、
（３ａ，４ａ），（３ｂ，４ｂ），（３ｃ，４ｃ）は、
測定対象である相隣り合う丸刃の各組を示し、５は拡大
鏡を、６は２次元撮像器を、７は光源を示す。拡大鏡５
と２次元撮像器６は、微動機構を内蔵するキャリッジ９
ｂに搭載されている。このキャリッジ９ｂは、軸２ａ，
２ｂと平行なガイドレ−ル８ｂに装着されている。同様
に、光源７は微動機構を内蔵するキャリッジ９ａに搭載
されており、このキャリッジ９ａは軸２ａ，２ｂと平行
な、水平方向Ｘに延びるガイドレ−ル８ａに装着されて
いる。軸２ａ，２ｂの中間にカメラ６の向きのずれを検
知するための校正板１０がありスタンド１ａに固定され
ている。

【００１５】２次元撮像器６には画像処理装置１１が接
続され、この画像処理装置１１が、２次元撮像器６の画
像信号をデジタル変換して装置１１内部の画像メモリに
画面単位で格納し、該画像メモリの画像デ−タをコンピ
ュ−タ１２に与える。コンピュ−タ１２はパタ−ン認識
により、撮像画面中の丸刃の画像エッジを検知して、丸
刃間のクリアランス量およびオ−バラップ量を算出し、
算出値に補正を施こして、最終的に得た値をディスプレ
イ１３に表示する。なおディスプレイ１３には、装置１
０の画像メモリの画像デ−タも与えられ、撮影画像も表
示される。

【００１６】光源７は、各組の丸刃（３ａ，４ａ），
（３ｂ，４ｂ），（３ｃ，４ｃ）の刃間部へ正面（軸２
ａ，２ｂの中心線を含む平面に実質上垂直な方向）から
光を照射する。図１には、キャリッジ９ａ，９ｂが水平
方向の第２位置Ｘｂにあって、光源７が第２組の丸刃
（３ｂ，４ｂ）に光を照射している状態を示す。その光
は拡大鏡５へ入射しており、拡大鏡５で適当な倍率に拡
大された映像は、２次元撮像器６によって画像信号（ビ
デオ信号）に変換される。拡大鏡５の倍率は、目標とす
る検出精度によって決定すべきであるが、数μｍ程度の
高精度が必要となる場合には、２次元撮像器６の光検出
素子上で１０倍以上の倍率が必要となるため、焦点深度
が浅くなり、対象が丸刃のように立体的なものの場合は
画面全体にピントの合った鮮明な画像を得ることは困難
である。よって前記の構成で得られる原画像は、図２に
示すように、丸刃のへり（軸２ａ，２ｂの外周面と平行
な外周面の、相対的に最短距離にある箇所）３ｂｔ，４
ｂｔの部分にピントを合せると、不鮮明（エッジボケ）
な部分（前記外周面の、軸２ａ，２ｂの軸心と２次元撮
像器６との間の箇所）が生じてしまう。すなわち、２次
元撮像器６に対してへり３ｂｔ，４ｂｔとは距離が異な
る箇所３ｂｓ，４ｂｓにボケを生ずる。

【００１７】このような原画像からクリアランス量およ
びオーバーラップ量を正確に検出するために、コンピュ
−タ１２が、装置１１の画像メモリの画像デ−タに、パ
ターン認識による画像処理を適用する。この画像処理の
実施のために、予め、クリアランス量Ｘcaおよびオ−バ
ラップ量Ｙoaを正確に把握した丸刃（３ａ，４ａ）の画
像より、画面上で該クリアランス量対応値をもたらす側
面対応線Ｙα，Ｙβおよび該オ−バラップ量対応値をも
たらすへり対応線Ｘα，Ｘβをもとめて、側面対応線Ｙ
αおよびＹβとへり対応線ＸαおよびＸβのそれぞれを
基準コ−ナ（基準原点）とする所定辺長の方形領域すな
わち図３の（ａ）に示す参照画像パタ−ンを切出して、
図３の（ｂ）に示すように、これらのパタ−ン上の、側
面対応線Ｙα，Ｙβ上の所定位置α１，α２，α３およ
びβ１，β２，β３ならびにへり線Ｘα，Ｘβ上の所定
位置α４，α５，α６およびβ４，β５，β６の画像デ
−タを、基準原点を基準（０，０）とする位置情報に対
応付けてコンピュ−タ１２内のメモリ（参照パタ−ンデ
−タメモリ）に格納しておく。以下、左（Ｌ）パタ−ン
の側面対応線Ｙα上の所定位置α１，α２，α３および
へり線Ｘα上の所定位置α４，α５，α６の、それぞれ
の位置情報および画像デ−タを参照Ｌパタ−ンデ−タと
称し、右（Ｒ）パタ−ンの側面対応線Ｙβ上の所定位置
β１，β２，β３およびへり線Ｘβ上の所定位置β４，
β５，β６の、それぞれの位置情報および画像デ−タを
参照Ｒパタ−ンデ−タと称する。

【００１８】また、第１組の丸刃（３ａ，４ａ）の位置
Ｘａに対しては、上述の実クリアランス量Ｘcaおよびオ
−バラップ量Ｙoaと画面上の対応値すなわち仮想クリア
ランス量および仮想オ−バラップ量（画素単位の長さ。
3Ｙa−4Ｙa間距離＝Ｘ34as，3Ｘa−4Ｘa間距離＝Ｙ34a
t）の関係を規定する基準関数 Ｘca＝ｆca（Ｘ34as） ・・・(1sx) Ｙoa＝ｆoa（Ｙ34at） ・・・(1sy) および位置対応の補正関数 Ｘpa＝ｆpxa（Ｘca）＝Ｘca ・・・(2ax) Ｙpa＝ｆpxa（Ｙoa）＝Ｙoa ・・・(2ay) を求めて、これらを、位置Ｘａ対応で、変換関数レジス
タ（メモリ）に格納する。 第２組の丸刃（３ｂ，４
ｂ）の位置Ｘｂに対しては、第２組の丸刃（３ｂ，４
ｂ）の位置に実クリアランス量Ｘcbおよびオ−バ−ラッ
プ量Ｙobを正確に把握した丸刃を置いてカメラ６で撮影
し、前述の参照Ｌパタ−ンデ−タおよび参照Ｒパタ−ン
デ−タを用いた、後述の仮想クリアランス量および仮想
オ−バラップ量の検出と同様にして、丸刃（３ｂ，４
ｂ）間の仮想クリアランス量Ｘ34bsおよび仮想オ−バラ
ップ量Ｙ34btを算出し、これらの算出値を上記(1sx)，
(1sy)式で表わされる基準関数に代入してクリアランス
量ｆca（Ｘ34bs）およびオ−バ−ラップ量ｆoa（Ｙ34b
t）を算出し、実クリアランス量Ｘcbおよびオ−バ−ラ
ップ量Ｙobに対するこれらの算出値ｆca（Ｘ34bs），ｆ
oa（Ｙ34bt）の誤差を零とする補正関数 Ｘpb＝ｆpxb（ｆca（Ｘ34bs）） ・・・(2bx) Ｙpb＝ｆpxb（ｆoa（Ｙ34bt）） ・・・(2by) を求めてこれらを、位置Ｘｂ対応で変換関数レジスタ
（メモリ）に格納する。

【００１９】第３組の丸刃（３ｃ，４ｃ）の位置Ｘｃに
対しては、第３組の丸刃（３ｃ，４ｃ）の位置に実クリ
アランス量Ｘccおよびオ−バ−ラップ量Ｙocを正確に把
握した丸刃を置いてカメラ６で撮影し、前述の参照Ｌパ
タ−ンデ−タおよび参照Ｒパタ−ンデ−タを用いた、後
述の仮想クリアランス量および仮想オ−バ−ラップ量の
検出と同様にして、丸刃（３ｃ，４ｃ）間の仮想クリア
ランス量Ｘ34csおよび仮想オ−バ−ラップ量Ｙ34ctを算
出し、これらの算出値を上記(1sx)，(1sy)式で表わされ
る基準関数に代入してクリアランス量ｆca（Ｘ34cs）お
よびオ−バ−ラップ量ｆoa（Ｙ34ct）を算出し、実クリ
アランス量Ｘccおよびオ−バラップ量Ｙocに対するこれ
らの算出値ｆca（Ｘ34cs），ｆoa（Ｙ34ct）の誤差を零
とする補正関数 Ｘpc＝ｆpxc（ｆca（Ｘ34cs）） ・・・(2cx) Ｙpc＝ｆpxc（ｆoa（Ｙ34ct）） ・・・(2cy) を求めてこれらを、位置Ｘｃ対応で変換関数レジスタ
（メモリ）に格納しておく。 そして、クリアランス量
およびオーバーラップ量が未知の対象を測定するときに
は、すなわち現実の測定では、光源７，拡大鏡６および
カメラ６を、各組の測定位置Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃ（例えば
Ｘｂ位置）に置き、コンピュ−タ１２に該設定位置（Ｘ
ｂ）を与えて測定を指示する。コンピュ−タ１２は、カ
メラ６で撮影し画像処理装置１１内の画像メモリに格納
した画像デ−タ（１画面の画像）の、左半分の画像領域
の画像デ−タを２値化して丸刃（３ｂ）のおよその右下
コ−ナを検出し、これを中心とする所定領域の画素をコ
−ナ候補点として、各候補点について、それを原点とす
る所定位置α１，α２，α３およびα４，α５，α６に
対応する位置Ａ１，Ａ２，Ａ３およびＡ４，Ａ５，Ａ６
の画像デ−タ（対象パタ−ンデ−タ）を摘出して、この
対象パタ−ンデ−タとＬパタ−ンデ−タとの相関値（合
致度合を示す値）を算出してコ−ナ候補点宛てにレジス
タ（メモリ）に記憶する。全候補点についてこれを終了
すると、最も高い合致度合を示す相関値を得たコ−ナ候
補点を、丸刃（３ｂ）の右下コ−ナと確定する。このよ
うに確定したときの、所定位置α１，α２，α３および
α４，α５，α６に対応する位置Ａ１，Ａ２，Ａ３およ
びＡ４，Ａ５，Ａ６を図４に示す。

【００２０】コンピュ−タ１２は次に、カメラ６で撮影
し画像処理装置１１内の画像メモリに格納した画像デ−
タの、右半分の画像領域の画像デ−タを２値化して丸刃
（４ｂ）のおよその左上コ−ナを検出し、これを中心と
する所定領域の画素をコ−ナ候補点として、各候補点に
ついて、それを原点とする所定位置β１，β２，β３お
よびβ４，β５，β６に対応する位置Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３
およびＢ４，Ｂ５，Ｂ６の画像デ−タ（対象パタ−ンデ
−タ）を摘出して、この対象パタ−ンデ−タとＲパタ−
ンデ−タとの相関値を算出してコ−ナ候補点宛てにレジ
スタに記憶する。全候補点についてこれを終了すると、
最も高い合致度合を示す相関値を得たコ−ナ候補点を、
丸刃（４ｂ）の左上コ−ナと確定する。このように確定
したときの、所定位置β１，β２，β３およびβ４，β
５，β６に対応する位置Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３およびＢ４，
Ｂ５，Ｂ６を図４に示す。

【００２１】このように特定した、図４に示す左側の丸
刃（３ｂ）の６点Ａ１，Ａ２，Ａ３およびＡ４，Ａ５，
Ａ６より、近似直線３Ｙｂ，３Ｘｂを計算し、また右側
の丸刃（４ｂ）の６点Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３およびＢ４，Ｂ
５，Ｂ６についても同様な直線４Ｙｂ，４Ｘｂを抽出
し、２つの線分３Ｙｂ，４Ｙｂの平均距離Ｘ34bsを上記
(1sx)式に示す基準関数に従って、クリアランス量Ｘcb
＝ｆca（Ｘ34bs）に変換し、また、２つの線分３Ｘｂ，
４Ｘｂの平均距離Ｙ34atを上記(1sy)式に示す基準関数
に従って、オ−バ−ラップ量Ｙob＝ｆoa（Ｙ34at）に変
換する。そして、位置Ｘｂに宛てられている上記補正関
数 Ｘpb＝ｆpxb（ｆca（Ｘ34bs）） ・・・(2bx) Ｙpb＝ｆpxb（ｆoa（Ｙ34bt）） ・・・(2by) に従って、位置Ｘｂ対応の補正を施したクリアランス量
Ｘpbおよびオ−バ−ラップ量Ｙpbを算出する。他の組
（他の位置Ｘａ，Ｘｃ）の各量の計測も上述と同様であ
る。

【００２２】丸刃が軸に対して直角に設定されていない
場合は、刃間の像が検出素子の軸方向に対して傾いてし
まう場合が考えられる。このような像の傾きによってパ
ターン認識が不可能な状態を避けるため、認識の評点は
ある程度低く設定することが望ましい。前記の直線近似
による方法であれば、検出値導出の際には像の傾きによ
る誤差は無視出来る程小さい。

【００２３】対象の計測値が１００μｍ以下と非常に微
小な場合、カメラ６の向きのずれによる誤差が無視出来
なくなるため、カメラ６の向きの設定には高い精度が必
要となる。しかし、丸刃の設定位置が一定でない場合、
カメラ６も丸刃設定位置に合せるため移動式にせねばな
らず、支持部（８ｂ）のたわみ等によるカメラ６の向き
のずれを抑えるのは容易でない。しかし、支持部（８
ｂ）のたわみはカメラ６の位置（Ｘａ，Ｘｂ，Ｘｃ）に
よって変化するものであって再現性があるので、検出す
べき各位置で前述の変換処理、特に上記(2bx)式等を用
いる補正処理を施せば検出精度に影響を与えることは無
い。計測位置が計測の度に変化する場合は、補正関数に
計測位置のパラメータを導入すればよい。支持部のたわ
みによる撮像器の向きの変化は位置に対して連続である
と考えられるから、その影響も計測位置に対して連続で
ある。よって、上述のように計測位置をＸａ，Ｘｂ，Ｘ
ｃとした場合の補正関数は同時に計測位置の関数となっ
ているといえる。

【００２４】拡大鏡５及びカメラ６の方向が衝撃や振動
によって変化した場合は、前述の補正処理（特にそのた
めの上記(2bx)式等の設定＝校正）でも補正できるが、
この校正方法では、クリアランス量およびオーバーラッ
プ量の明らかな２対の丸刃もしくはそれに等価な物体を
準備し、各測定位置に設定する必要があり、測定のたび
に実行することは現実には困難である。そこで、設定ず
れは各測定位置に等価な影響を与えるものとすれば、校
正は測定の各位置で行う必要はなく１点で行えばよいこ
とになる。すなわち測定前に、クリアランス量およびオ
ーバーラップ量の明らかな２枚の丸刃の刃先と同等な、
図５に示すマーク付きの透明な校正板１０を測定したと
きの、測定クリアランス量をＸ３、測定オーバーラップ
量をＹ３とし、真のクリアランス等価量をＸ４、真のオ
ーバーラップ等価量をＹ４とすると、拡大鏡５及びカメ
ラ６の向きの変化の影響を打ち消すための校正関数は、
クリアランス校正関数をＦｃ３（Ｘ）、オーバーラップ
校正関数をＦｒ３（Ｙ）とすれば式（３）、式（４）で
表わせる。Ｘは上記(1xs)式又は(2ax)〜(2cx)式の算出
値、Ｙは上記(1ys)式又は(2ay)〜(2cy)式の算出値であ
る。

【００２５】 Ｆｃ３（Ｘ）＝（Ｘ４／Ｘ３）・Ｘ ・・・（３） Ｆｒ３（Ｙ）＝（Ｙ４／Ｙ３）・Ｙ ・・・（４） この校正動作によって、移動機構の直線性の精度が悪く
ても、またカメラ及び拡大鏡の向きが長期使用によって
正面方向からずれても、それらによる検出精度への影響
を最小限に抑えることができ、高精度なクリアランス量
およびオーバーラップ量の検出が可能となる。

【００２６】以上述べたように、通板すべき方向より光
を照射し、光源と逆方向から２次元撮像器によって撮像
し、その像を画像処理することによって得た情報に、事
前に既知の対象の測定によって求めておいた校正関数で
校正することにより、移動機構の取りつけ精度にかかわ
らず高精度な検出を可能にし、且つ使用中の撮像器の向
きのずれに対しても測定毎に校正板を用いた校正を行う
ことによって簡単にその影響を除去でき、高精度に丸刃
のクリアランス量、オーバーラップ量を計測することが
できる。

【００２７】

【発明の効果】本願の第１番および第２番の発明では、
画像認識技術により、予め求めた刃端部の元画像パタ−
ンとの比較照合により刃端部を認識するので、刃端部の
特定もしくは摘出が正確となり、エッジボケによる検出
精度低下が回避される。また、第２番の発明では、画面
上で得た相対距離を、並設位置対応で事前に求めておい
た、変換関数で実際量に変換するので、各組それぞれ
で、正確なクリアランス量，オーバーラップ量等が得ら
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 図１は、本発明を一態様で実施する装置構成
の概要を示す斜視図である。

【図２】 図１に示す２次元撮像装置６が撮影した画像
の概要を示す平面図である。

【図３】 参照パタ−ンデ−タ生成のための、図１に示
す２次元撮像装置６で撮影した画像の一部（元画像パタ
−ン）を示す平面図である。

【図４】 実際の計測のための、２次元撮像装置６が撮
影した画像の概要を示す平面図である。

【図５】 図１に示す校正板１０の拡大平面図である。

【符号の説明】

１ａ，１ｂ：スリッタースタンド ２ａ，２ｂ：丸刃
の軸 ３ａ〜３ｃ，４ａ〜４ｃ：丸刃 ５：拡大鏡 ６：２次元撮像器 ７：光源 ８ａ，８ｂ：ガイドレ−ル ９ａ，９ｂ：微動
機構内蔵のキャリッジ １０：校正板 １１：画像処理
装置 １２：コンピュ−タ １３：ディスプ
レイ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 帯状体のスリッターラインの、隣接する
   少くとも２枚のスリッター丸刃間の刃先相対距離をオフ
   ラインで自動計測するスリッター丸刃の相対位置計測方
   法において、 光源より隣接するスリッター丸刃に光を照射し、それら
   のスリッタ−丸刃を間に置いて相対して配置した２次元
   撮像器で刃端部を拡大撮像することによって隣接する少
   くとも２枚の丸刃の刃端部の画像を一画面内に得、予め
   求めた刃端部の元画像パターンとの比較照合によって該
   画面上での刃端部の位置を求め、その位置情報から刃端
   部のエッジを求めることによって隣接する丸刃の前記画
   面上の刃先相対距離を検出することを特徴とするスリッ
   ター丸刃の相対位置計測方法。
2. 【請求項２】 各組が隣接する２枚のスリッター丸刃で
   なる複数組のスリッタ−丸刃を並設したスリッターライ
   ンの、各組のスリッター丸刃間の刃先相対距離をオフラ
   インで自動計測するスリッター丸刃の相対位置計測方法
   において、 各組のスリッタ−丸刃の相対位置計測のそれぞれにおい
   て、光源よりスリッター丸刃に光を照射し、スリッタ−
   丸刃を間に置いて相対して配置した２次元撮像器で２枚
   のスリッタ−丸刃の刃端部を拡大撮像することによって
   ２枚の丸刃の刃端部の画像を一画面内に得、予め求めた
   刃端部の元画像パターンとの比較照合によって該画面上
   での刃端部の位置を求め、その位置情報から刃端部のエ
   ッジを求めることによって隣接する丸刃の前記画面上の
   刃先相対距離を検出しこれを、事前に求めておいた現在
   測定対象としている組の並設位置に宛てられている、検
   出距離に対応する実際距離の関係を表わす変換関数で実
   際量に変換することを特徴とするスリッター丸刃の相対
   位置計測方法。
3. 【請求項３】 ２次元撮像器の向きの経時変化を測定毎
   に校正板を撮像することによって検知し、この分の補正
   を加える、請求項１又は請求項２記載のスリッター丸刃
   の相対位置計測方法。