JPH05309835A - インクジェットヘッド及びその製造方法 - Google Patents

インクジェットヘッド及びその製造方法

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JPH05309835A
JPH05309835A JP11584192A JP11584192A JPH05309835A JP H05309835 A JPH05309835 A JP H05309835A JP 11584192 A JP11584192 A JP 11584192A JP 11584192 A JP11584192 A JP 11584192A JP H05309835 A JPH05309835 A JP H05309835A
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真一 紙透
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 非常に高密度で高精度なインクジェットヘッ
ドをシリコン基板を用いて簡単に大量に製造する方法を
提供する。 【構成】 (110)面方位のシリコンウェハー上にパ
ターニングし、その特定の位置に孔明け加工を施して、
その後に湿式結晶異方性エッチングを行う事によりウェ
ハー表面に対して直角な(111)面で構成されたイン
クノズル孔とインク圧力室を一体成形で形成されたイン
クジェットヘッド。 【効果】 非常に高密度かつ高精度なインクジェットヘ
ッドが大量にかつ容易に製造できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、インクジェットヘッド
及びその微細加工に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、インクジェットプリンター用記録
印字ヘッド等は高精細印字の要求により、精密微細加工
と複雑な所望形状が要求されるようになり、様々な製造
方法が開発されている。
【0003】その中で、特公昭58−40509号公報
等、半導体製造技術を応用した(100)面方位のシリ
コンウェハーの印字ヘッドの製造技術開発が急速に進め
られている。その理由としては、フォトリソグラフィ技
術及び湿式結晶異方性エッチングを応用して、高精度な
インクジェットヘッドを容易にかつ大量に製造できるか
らである。しかし、(100)面方位のシリコンウェハ
ーは、湿式結晶異方性エッチングにより出現する極端に
エッチング速度が遅い(111)面がウェハー表面に対
し55度の角度で出現するため、インクノズル間ピッチ
を狭める事が出来ず、高いインクドット密度のインクジ
ェットヘッドの製造はできないと言う欠点がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記課題を解決するた
めに、(110)面方位のSiウェハーを用いた加工を
考えた。これは(110)面方位のSiウェハーは結晶
軸が<211>軸に沿って直線のパターンを形成し、水
酸化カリウム等のアルカリ水溶液で湿式結晶異方性エッ
チングするとウェハー表面に対して直角に(111)結
晶面が出現するために、非常に高いアスペクト比の溝等
の構造物を形成することが容易であり、この溝をインク
ノズル等に利用するとインクノズル間ピッチが極めて容
易に狭める事が出来、高いインクドット密度のインクジ
ェットヘッドの製造が極めて容易に行う事が出来る等の
理由が挙げられる。
【0005】しかし(110)面方位のSiウェハーに
は、2つの<211>軸に沿った直線パターンの交点か
らウェハー表面に対して35度の角度で(111)面が
出現し、その面が出現するとこれ以上深い孔を湿式異方
性エッチングにより形成する事はできないため、ウェハ
ー表面に対して垂直なSi(111)面で囲まれた深い
穴、貫通孔及びインク圧力室等の複雑な形状を要求され
る高密度のインクジェットヘッドの製造はできなかっ
た。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は(110)面方位のSiウェハーを用いて
インクジェットプリンター用印字ヘッドを製造する方法
において、Siウェハー上に耐エッチングマスク膜を形
成し、一方のウェハー面にフォトリソグラフィ工程によ
りインク圧力室及びインクだまりとなるべき耐エッチン
グマスクパターンを形成し、もう一方のウェハー面にイ
ンクノズル孔となるべき前記耐エッチングマスクパター
ンを形成し、そのインクノズル孔マスクパターンの中に
穴明け加工を施して貫通穴を明けて、湿式結晶異方性エ
ッチングによりインク圧力室を所定深さだけエッチング
し、フォトリソグラフィ工程により前記Siウェハー表
面にインク流路の耐エッチングマスクパターンを形成し
て湿式エッチングにより所定深さだけエッチングする事
によりインク流路を形成して、インクノズル、インク圧
力室等を形成する結晶面の少なくとも3面以上のSi
(111)面がウェハー表面に対して直角で構成されて
いることを特徴としたインクジェットプリンター用印字
ヘッド及びその製造方法を提供する事を目的とする。
【0007】
【作用】本発明の作用について以下に説明する。図3
(b)は、本発明の構造によるインクジェットヘッドを
示す1例の斜視図である。この中でインクノズル孔を構
成するSi結晶面は(111)面で、ウェハー表面に対
して直角であり、<211>軸の交点からウェハー表面
に対して35度で形成される(111)面は存在してい
ないのが特徴であり、このために、インクノズル間ピッ
チを極端に詰める事が可能で、高密度なインクジェット
ヘッドの設計及び製造が非常に簡単に出来る。
【0008】図2(a)は、図2(e)の構造を製造す
るためのマスクパターンであり、このパターンの四辺<
211>軸に沿って形成されている。
【0009】このパターンに図2(b)の様にマスクパ
ターン13の内角が70度の角から0.1mmの所に貫通
穴をあける。そして、湿式結晶異方性エッチングを行う
と、<211>軸の交点からウェハー表面に対し35度
で出現するSi(111)面は、それが出現する場所に
Siが存在しないので出現しない。さらに、エッチング
により、ウェハー表面に対し直角で出現するSi(11
1)面により構成された図3(a)の様なインクノズル
穴を有したインクジェットヘッドが製造できる。
【0010】
【実施例】以下、本発明について、実施例に基づき詳細
を説明する。
【0011】(実施例1)図1は本発明の第1の実施例
を、インクジェットプリンター用印字ヘッドの製造工程
を例にして断面図で工程順に示している。この工程図に
従って本発明の実施例1を説明する。
【0012】まず、図1(a)の様に、厚さが500ミ
クロンであり、面方位が(110)面方位のシリコンウ
ェハー10の上に耐Siエッチング膜となる酸化シリコ
ン膜11を熱酸化法により膜の厚さを1ミクロンだけ形
成した。
【0013】もちろん、酸化シリコン膜だけでなく、窒
化シリコン膜または金属膜等、Siエッチング液に対し
て耐食性を示す膜であれば何でも良い。
【0014】次に、酸化シリコン膜11の付与されたシ
リコンウェハー10の上にレジストをスピンコート法に
よって塗布し、フォトリソグラフィ技術を用いてインク
圧力室及びインクだまりを形成するためのレジストパタ
ーンを形成する。
【0015】この後、緩衝フッ酸溶液を用いてレジスト
パターンを酸化シリコン膜に転写し、不要になったレジ
ストを剥離液として硫酸と過酸化水素水溶液の混合溶液
により剥離し、図1(b)の酸化シリコン膜のインク圧
力室のマスクパターン13及びインクだまりのマスクパ
ターン12を形成する。
【0016】次に、図2(a)のインク圧力室のマスク
パターン13の特定の位置に孔明け加工を行なう。その
孔明け位置は図2(b)に示されるように<211>方
向に沿って形成された細長い平行四辺形のインク圧力室
の中に行う。本実施例では、孔明け加工はYAGレーザ
ーを用いて行った。もちろん、孔明け加工はYAGレー
ザーだけでなく、ドリルを用いても良いし、放電加工に
よる孔明けでも、シリコンウェハーに孔明け加工出来る
物なら何でも良い。
【0017】さらに、前記シリコンウェハーを、摂氏8
0度に加熱した20重量%KOH水溶液に浸漬してSi
湿式結晶異方性エッチングを行い、300ミクロンエッ
チングし、インク圧力室16、インクだまり17及びイ
ンクノズル孔15を、図1(d)に示すように形成し
た。
【0018】本実施例において、Si湿式結晶異方性エ
ッチングに使用するエッチング液はKOH水溶液を用い
たが、この濃度はその状況に応じて変更しても良いし、
また、その組成もKOH水溶液に限定されるものでもな
い。特に、本実施例のインクジェットヘッドはSi基板
を用いているので、インクジェットヘッドの駆動回路を
同一基板上に形成する事も出来る。しかしこの場合、カ
リウムまたはナトリウム等のアルカリ金属を含んだエッ
チング液では、回路を破壊する恐れがあるため、アルカ
リ金属を含まないアンモニア水溶液または有機アミン系
アルカリ水溶液が適している。
【0019】この時、インクだまり17はウェハー表面
に対し35度の角度で出現するSi(111)面30に
より形成されることになる。
【0020】次に、前記シリコンウェハーのインクだま
り17とインク圧力室16の間にインク流路となるべき
マスクパターンをフォトリソグラフィ技術を用いて形成
する。そして、このシリコンウェハーをさらに異方性エ
ッチングにより、50ミクロン程エッチングしてインク
流路19を形成し、図1(e)に示すような形状にな
る。この時、インク流路はフッ酸と硝酸の混合液等によ
る等方性エッチングで形成しても良い。
【0021】その後、ウェハーに付与されている酸化シ
リコン膜を全て緩衝フッ酸溶液に浸漬する事により除去
した後、シリコンウェハーのインク濡れ性を向上させる
ために、熱酸化工程によりウェハー表面に0.2ミクロ
ンの酸化シリコン膜を形成する。
【0022】そして、前記シリコンウェハーのインク圧
力室を形成してある側に、あらかじめインク供給用孔2
7を明けたガラス振動板28を陽極接合することにより
図1(f)のように張り合わせる。最後に、ガラス振動
板28上のインク圧力室16の位置に圧電素子29を接
着した。ここでは、圧電素子29は接着剤でガラス振動
板28に接着されているが、スパッタ装置等を用いて、
乾式薄膜形成法により圧電素子29を形成しても良い。
それから、ダイシングにより前記シリコンウェハーを所
望形状に切断し、ガラス振動板28の孔27にインク供
給用のパイプを接着して図1(g)に示すようなインク
ジェットヘッドが完成する。
【0023】このインクジェットヘッドのインクノズル
孔の寸法は、孔明け加工の時の孔径寸法とほぼ同じであ
り非常に寸法精度が良く、ほぼ所望の寸法が得られた。
【0024】完成したインクジェットヘッドを実際にプ
リンター装置に組み込み、インクをいれて印字すると、
非常に細密な印字が得られた。今回試作したインクジェ
ットヘッドはノズル間ピッチが70ミクロンと非常に近
接してしており、1インチ当たり360ドットの印字密
度が得られた。
【0025】(実施例2)図4は本発明の第2の実施例
を、インクジェットプリンター用印字ヘッドの製造工程
を例にして断面図で示した工程図である。この工程図に
従って本発明の実施例2を説明する。
【0026】まず、図4(a)の様に、厚さが500ミ
クロンであり、面方位が(110)面方位のシリコンウ
ェハー10の上に耐Siエッチング膜となる酸化シリコ
ン膜11を熱酸化法により膜の厚さを1ミクロンだけ形
成した。
【0027】次に、酸化シリコン膜11の付与されたシ
リコンウェハー10の上にレジストをスピンコート法に
よって塗布し、フォトリソグラフィ技術を用いてインク
圧力室及びインクだまりを形成するためのレジストパタ
ーンを形成する。さらに、インク圧力室等を形成した側
と反対の面にフォトリソグラフィ技術を用いて、インク
ノズル孔を形成するためのレジストマスクパターンを形
成する。この後、緩衝フッ酸溶液を用いてレジストパタ
ーンを酸化シリコン膜に転写し、不要になったレジスト
をレジスト剥離液により剥離し、図4(b)の酸化シリ
コン膜のインク圧力室のマスクパターン13、インクだ
まりのマスクパターン12及びインクノズル孔のマスク
パターン70を形成した。これらのマスクパターンを斜
め上から見た図が図5(a)である。なお、インクノズ
ル孔のマスクパターン70はウェハーの裏側にあり、破
線で示してある。
【0028】次に、図4(c)の様にインク圧力室のマ
スクパターン13の特定の位置に孔14を明ける加工を
行なう。その孔明け位置は図5(b)及び(c)に示さ
れるように<211>方向に沿って形成された細長い平
行四辺形のインクノズル孔のマスクパターン70の中に
行なう。本実施例では、孔明け加工はYAGレーザーを
用いて行った。もちろん、孔明け加工はYAGレーザー
だけでなく、ドリルを用いても良いし、放電加工による
孔明けでも、シリコンウェハーに孔明け加工出来る物な
ら何でも良い。また、インクノズル孔の孔径寸法精度は
孔明け加工時の孔径寸法精度によらず、インクノズル孔
マスクパターン70のパターン精度によるために、孔明
け時の孔形状も真円でなくても良い。インクノズル孔の
マスクパターン70を破壊しないならば、インクノズル
孔のマスクパターンの何処に明けても良い。そのために
比較的孔径精度の低い孔明け加工方法も使用でき、高価
な高精度孔明け加工機械を必要としなくとも非常に高精
度なインクノズル孔が確保できる。
【0029】さらに、前記シリコンウェハーを、摂氏8
0度に加熱した20重量%KOH水溶液に浸漬してSi
湿式結晶異方性エッチングを行い、300ミクロンエッ
チングし、インク圧力室16、インクだまり17及びイ
ンクノズル孔15を、図4(d)に示すように形成し
た。
【0030】形成されたインクノズル孔15は、図6
(a)に示すようにウェハー表面に対して直角に出現す
る(111)面31により構成されているため、ノズル
孔内部は非常に平滑であり、インクの流れ及び気泡の排
出性が良い。
【0031】また、ノズルの寸法はウェハーの厚みやイ
ンクノズル間ピッチ等の影響を受けないので、ウェハー
の厚みの厳密な管理は必要なく非常に精度の良いインク
ノズル寸法が確保できる。
【0032】次に、前記シリコンウェハーのインクだま
り17とインク圧力室16の間にインク流路となるべき
マスクパターンをフォトリソグラフィ技術を用いて形成
する。
【0033】そして、このシリコンウェハーをさらに異
方性エッチングにより、50ミクロン程エッチングして
インク流路19を形成し、図4(e)または斜視図で示
した図5(e)に示すような形状になる。この時、イン
ク流路はフッ酸と硝酸の混合液等による等方性エッチン
グで形成しても良い。
【0034】その後、前記シリコンウェハーに付与され
ている酸化シリコン膜を全て緩衝フッ酸溶液に浸漬する
事により除去した後、シリコンウェハーのインク濡れ性
を向上させるために、熱酸化工程によりウェハー表面に
0.2ミクロンの酸化シリコン膜を形成する。
【0035】そして、前記シリコンウェハーのインク圧
力室を形成してある側に、あらかじめインクを供給する
ための孔27を明けたガラス振動板28を陽極接合する
ことにより図4(f)のように張り合わせを行う。最後
に、ダイシングにより前記シリコンウェハーを所望形状
に切断し、ガラス振動板28上のインク圧力室16の位
置に圧電素子29を接着した。ここでは、圧電素子29
は接着剤でガラス振動板28に接着されているが、スパ
ッタ装置等を用いて、乾式薄膜形成法により圧電素子2
9を形成しても良い。それから、ガラス振動板28の孔
27にインク供給用のチューブ26を接着してインクジ
ェットヘッドが完成する。
【0036】このインクジェットヘッドのインクノズル
孔の寸法は、フォトマスクの精度とほぼ同じであり、非
常に寸法精度と孔形状が良く、ほぼ所望の寸法が得られ
た。
【0037】完成したインクジェットヘッドを実際にプ
リンター装置に組み込み、インクをいれて印字すると非
常に、細密な印字が得られた。今回試作したインクジェ
ットヘッドはノズル間ピッチが70ミクロンと非常に近
接してしており、1インチ当たり360ドットの印字密
度が容易に得られた。
【0038】また、圧電素子29を10KHzで駆動さ
せ、最大170CPSの印字速度を実現できた。
【0039】本実施例では、圧電素子29の駆動による
インク吐出について述べてきたが、静電引力及び反発力
による振動板の振動を駆動源としたインクジェットヘッ
ドも同様の効果得られるし、薄膜発熱体をインク圧力室
に形成し、その発熱体を通電加熱する事によりインクを
発泡させる事によりインクを吐出させる方式でも同等の
効果があった。
【0040】(実施例3)実施例2で作製したインクジ
ェットヘッドのインクノズル孔15は<211>軸に沿
って孔が形成されているため開口部が平行四辺形であ
る。
【0041】OHPシート等インクの浸透力の弱い印字
用紙には、インク滴を細かくし多数のインク滴で1つの
ドットを形成することによりインク表面積を大きくし速
乾性を得る必要がある。そのためにもインク滴をさらに
細かくするためにもノズル孔を小さく丸くする方が有利
である。ノズル孔を丸くするには電鋳加工等によってノ
ズル孔を丸い形状に作られたノズルプレート80を実施
例2で試作したインクジェットヘッドのインクノズル孔
15に接着することにより実現できた。図7に本実施例
の、インクジェットプリンター用印字ヘッドの製造工程
を例にした断面構成図を示す。
【0042】本実施例により試作したインクジェットヘ
ッドを実際にインク吐出を行って見ると非常に細かいイ
ンク滴が安定して吐出していた。そのインク滴の重さ
は、実施例2で製造したインクジェットヘッドで吐出し
たインク滴の重さの約1/10であった。このインクジ
ェットヘッドを使用してOHPシートに印字してみると
非常にきれいに印字でき、インクの乾き方も非常に早
く、OHPシートがこすれても印字がにじんだり、汚れ
たりする事はなかった。
【0043】本実施例では、ノズルプレートは電鋳加工
により作製したが、勿論ステンレス薄板にレーザーによ
る孔明け加工により製作しても良く、本実施例に限定さ
れる物ではない。
【0044】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、
(110)面方位のSiウェハーのマスクパターン上に
何らかの孔明け加工を施し、その後に湿式結晶異方性エ
ッチングを行う事により垂直なインクノズル孔を有する
高精度かつ高密度なインクジェットヘッドを容易に、し
かも大量に製造する事が出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1の実施例におけるインクジェッ
ト記録ヘッドの製造工程を示す図である。
【図2】 本発明の第1の実施例における各工程ごとの
詳細を説明するためのインクジェットヘッドの斜視図で
ある。
【図3】 本発明の第1の実施例における各工程ごとの
詳細を説明するためのインクジェットヘッドの斜視図で
ある。
【図4】 本発明の第2の実施例におけるインクジェッ
ト記録ヘッドの製造工程を示す図である。
【図5】 本発明の第2の実施例における各工程ごとの
詳細を説明するためのインクジェットヘッドの斜視図で
ある。
【図6】 本発明の第2の実施例における各工程ごとの
詳細を説明するためのインクジェットヘッドの斜視図で
ある。
【図7】 本発明の第3の実施例におけるインクジェッ
トヘッドの構造を説明するための断面図である。
【符号の説明】
10 シリコンウェハー 11 酸化シリコン膜 12 インクだまりマスパターン 13 インク圧力室マスクパターン 14 貫通孔 15 インクノズル孔 16 インク圧力室 17 インクだまり 19 インク流路 26 インク供給用チューブ 27 インク供給用孔 28 ガラス振動板 29 圧電素子 30 ウェハー表面に対して35度の傾斜で出現す
る(111)面 31 ウェハー表面に対して直角に出現する(11
1)面 70 インクノズル孔マスクパターン 80 ノズルプレート

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 インクを噴射するインクノズル孔と該イ
    ンクノズル孔に連通するインク圧力室と該インク圧力室
    の外側及び内側に配置された駆動素子を備えたインクジ
    ェットヘッドにおいて、表面が(110)面方位である
    Si単結晶基板で3つ以上の側壁の結晶面がウェハー表
    面に対して直角に出現する(111)面であり、残り1
    面の側壁の結晶面がウェハー表面に対して35度の傾斜
    を持って出現する(111)面により構成されているこ
    とを特徴とするインクジェットヘッド。
  2. 【請求項2】 (110)面方位のSi基板を用いてイ
    ンクジェットヘッドを製造する方法において、(a)S
    i基板上に耐エッチングマスク膜を形成し、(b)前記
    Si基板にフォトリソグラフィを用いてウェハーの上面
    にインク圧力室及びインクだまりとなるべき耐エッチン
    グマスクパターンを形成し、(c)前記インク圧力室と
    なるべき耐エッチングマスクパターンの中に、穴明け加
    工を施して貫通穴を明けて、(d)湿式結晶異方性エッ
    チングにより所定深さだけエッチングする事によりイン
    ク圧力室及びインクノズル孔を一体成形で製造すること
    を特徴としたインクジェットヘッドの製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項2記載のSiウェハーの穴明け方
    法がYAGレーザーまたは放電加工である事を特徴とす
    る請求項2記載のインクジェットヘッドの製造方法。
  4. 【請求項4】 請求項2記載の(b)の工程において、
    Siウェハーの下面にインクノズル孔となるべき耐エッ
    チングマスクパターンを開け、インク圧力室及びインク
    ノズル孔を一体成形で製造することを特徴とした請求項
    2記載のインクジェットヘッドの製造方法。
  5. 【請求項5】 請求項4記載のSi基板の穴明け位置が
    ウェハーのもう一方の面に開けられたインクノズル孔の
    マスクパターンの中である事を特徴としたインクジェッ
    トヘッドの製造方法。
  6. 【請求項6】 請求項1記載のインクジェットヘッドに
    おいてインクノズル部にノズルプレートを取り付けた構
    造を特徴とするインクジェットヘッド。
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