JPH0529800A - 実装プリント基板の機能検査装置 - Google Patents
実装プリント基板の機能検査装置Info
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- JPH0529800A JPH0529800A JP20467791A JP20467791A JPH0529800A JP H0529800 A JPH0529800 A JP H0529800A JP 20467791 A JP20467791 A JP 20467791A JP 20467791 A JP20467791 A JP 20467791A JP H0529800 A JPH0529800 A JP H0529800A
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- Japan
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- printed circuit
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 機能検査装置のコンタクトプローブを実装プ
リント基板の実装面のリードピンに対して確実に接触さ
せる。 【構成】 ガイドブロック１０に一体的に設けられたソ
ケット固定台５の貫通穴１２に嵌着された複数のコンタ
クトプローブ６の下端部は貫通穴１２内で摺動可能であ
る。ガイドブロック１０は上ぶた４に螺着され、下端に
は実装プリント基板１のコネクタ７を収容可能な第２の
凹部１３を備えている。上ぶた４が下降して実装プリン
ト基板１の表面に近づくと、コネクタ７は第２の凹部１
３に収容されガイドブロック１０の貫通穴１２の下端部
がコネクタ７のリードピン８に嵌合する。上ぶた４が引
き続き下降することによってコンタクトプローブ６がリ
ードピン８に当接され、コネクタ７に機能検査のための
入力信号が与えられる。
リント基板の実装面のリードピンに対して確実に接触さ
せる。 【構成】 ガイドブロック１０に一体的に設けられたソ
ケット固定台５の貫通穴１２に嵌着された複数のコンタ
クトプローブ６の下端部は貫通穴１２内で摺動可能であ
る。ガイドブロック１０は上ぶた４に螺着され、下端に
は実装プリント基板１のコネクタ７を収容可能な第２の
凹部１３を備えている。上ぶた４が下降して実装プリン
ト基板１の表面に近づくと、コネクタ７は第２の凹部１
３に収容されガイドブロック１０の貫通穴１２の下端部
がコネクタ７のリードピン８に嵌合する。上ぶた４が引
き続き下降することによってコンタクトプローブ６がリ
ードピン８に当接され、コネクタ７に機能検査のための
入力信号が与えられる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板に部品を
実装した実装プリント基板の機能検査装置に関し、特に
コンタクトプローブを実装プリント基板の実装面のリー
ドに当接してテスト用の入力信号を与えるように構成さ
れた機能検査装置に関するものである。
実装した実装プリント基板の機能検査装置に関し、特に
コンタクトプローブを実装プリント基板の実装面のリー
ドに当接してテスト用の入力信号を与えるように構成さ
れた機能検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】実装後のプリント基板については、該基
板が仕様通りに機能するか否かをチェックするための機
能検査が行われる。これは別名ファンクッションテスト
と呼ばれるもので、コンタクトプローブを実装プリント
基板のコネクタのリードに接触させて入力信号を与え、
該コネクタの出力信号が正常か否かを調べるものであ
る。従来から使用されている機能検査装置は図３にその
一例を示すように、まず、実装プリント基板２１を位置
決めピン２２を有する置き台２３上にセットした後、上
方に配置された上ぶた２４を駆動手段（図示せず）によ
って実装プリント基板２１に向って下降させることによ
り、上ぶた２４のソケット固定台２５に保持されたコン
タクトプローブ２６を実装プリント基板２１の実装部品
であるコネクタ２７のリードピン２８に当接させる。こ
のようにしてコネクタ２７に束線２５ａを介して入力信
号を与え、その出力を調べることによって実装プリント
基板の機能検査が行われる。
板が仕様通りに機能するか否かをチェックするための機
能検査が行われる。これは別名ファンクッションテスト
と呼ばれるもので、コンタクトプローブを実装プリント
基板のコネクタのリードに接触させて入力信号を与え、
該コネクタの出力信号が正常か否かを調べるものであ
る。従来から使用されている機能検査装置は図３にその
一例を示すように、まず、実装プリント基板２１を位置
決めピン２２を有する置き台２３上にセットした後、上
方に配置された上ぶた２４を駆動手段（図示せず）によ
って実装プリント基板２１に向って下降させることによ
り、上ぶた２４のソケット固定台２５に保持されたコン
タクトプローブ２６を実装プリント基板２１の実装部品
であるコネクタ２７のリードピン２８に当接させる。こ
のようにしてコネクタ２７に束線２５ａを介して入力信
号を与え、その出力を調べることによって実装プリント
基板の機能検査が行われる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術によれ
ば、前述した通り、それぞれの上端を上ぶた２４のソケ
ット固定台２５に挿入したコンタクトプローブ２６を、
上ぶた２４の下降によってコネクタ２７のリードピン２
８に当接させるため、コネクタ２７のプリント基板上の
実装位置のずれ又はねじれ等によってリードピン２８が
所定の位置にない場合に、コンタクトプローブの接触不
良が発生し、機能検査の信頼性が損なわれる。また上述
の接触不良によってコンタクトプローブに予期しないス
トレスがかかり、それによって彎曲するという問題もあ
った。
ば、前述した通り、それぞれの上端を上ぶた２４のソケ
ット固定台２５に挿入したコンタクトプローブ２６を、
上ぶた２４の下降によってコネクタ２７のリードピン２
８に当接させるため、コネクタ２７のプリント基板上の
実装位置のずれ又はねじれ等によってリードピン２８が
所定の位置にない場合に、コンタクトプローブの接触不
良が発生し、機能検査の信頼性が損なわれる。また上述
の接触不良によってコンタクトプローブに予期しないス
トレスがかかり、それによって彎曲するという問題もあ
った。
【０００４】本発明は上記従来の技術の問題点に鑑みて
なされたものであり、機能検査装置のコンタクトプロー
ブを実装プリント基板のコネクタ等の実装部品のリード
ピンに接触させるに当って、両者の接触不良を防ぎかつ
機能検査中にコンタクトプローブが変形することのない
実装プリント基板の機能検査装置を提供することを目的
とするものである。さらに、本発明のもう一つの目的
は、実装工程のミスによってコネクタ等の実装部品が左
右または前後に逆向きの状態でプリント基板に実装され
ている場合、機能検査の過程においてこれを発見するこ
とのできる実装プリント基板の機能検査装置を提供する
ことを目的とするものである。
なされたものであり、機能検査装置のコンタクトプロー
ブを実装プリント基板のコネクタ等の実装部品のリード
ピンに接触させるに当って、両者の接触不良を防ぎかつ
機能検査中にコンタクトプローブが変形することのない
実装プリント基板の機能検査装置を提供することを目的
とするものである。さらに、本発明のもう一つの目的
は、実装工程のミスによってコネクタ等の実装部品が左
右または前後に逆向きの状態でプリント基板に実装され
ている場合、機能検査の過程においてこれを発見するこ
とのできる実装プリント基板の機能検査装置を提供する
ことを目的とするものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の実装プリント基板の機能検査装置は、実
装プリント基板を保持する保持手段と、前記保持手段に
接近および離反自在に支持されたコンタクトプローブ挿
入手段を有する可動盤とを備えた実装プリント基板検査
装置において、前記可動盤には、前記コンタクトプロー
ブ挿入手段に挿入されるコンタクトプローブの先端部を
案内するためのガイド孔を有するブロツクが固着されて
いることを特徴とする。
めに、本発明の実装プリント基板の機能検査装置は、実
装プリント基板を保持する保持手段と、前記保持手段に
接近および離反自在に支持されたコンタクトプローブ挿
入手段を有する可動盤とを備えた実装プリント基板検査
装置において、前記可動盤には、前記コンタクトプロー
ブ挿入手段に挿入されるコンタクトプローブの先端部を
案内するためのガイド孔を有するブロツクが固着されて
いることを特徴とする。
【０００６】また、前記ブロックの下端に実装プリント
基板の実装部品の外形に対応する形状を持つ凹部を設け
てもよい。
基板の実装部品の外形に対応する形状を持つ凹部を設け
てもよい。
【０００７】
【作用】本発明の装置によれば、実装プリント基板の機
能検査装置のコンタクトプローブの先端が実装プリント
基板の実装部品のリードピンに接触する前に、ブロック
のガイド孔の下端が前記リードピンに係合して、前記コ
ンタクトプローブとリードピンとの間の相対的位置ずれ
を補正する。また、ブロックの下端の凹部の形状を実装
プリント基板の実装部品の外形に対応させることで、該
実装部品の実装ミスを発見することが可能である。
能検査装置のコンタクトプローブの先端が実装プリント
基板の実装部品のリードピンに接触する前に、ブロック
のガイド孔の下端が前記リードピンに係合して、前記コ
ンタクトプローブとリードピンとの間の相対的位置ずれ
を補正する。また、ブロックの下端の凹部の形状を実装
プリント基板の実装部品の外形に対応させることで、該
実装部品の実装ミスを発見することが可能である。
【０００８】
【実施例】本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例の一部分を示す部
分縦断面図である。
分縦断面図である。
【００１０】本実施例において、実装プリント基板１は
位置決めピン２によって置き台３上の所定位置に保持さ
れ、置き台３の上方には可動盤である上ぶた４が配置さ
れ、上ぶた４の下面にはガイドブロック１０がねじ９に
より螺着されている。ガイドブロック１０の図示上面に
は第１の凹部１１が形成され、その底部としてソケット
固定台５が一体的に設けられている。ソケット固定台５
の複数の貫通穴１２にはそれぞれコンタクトプローブ６
が挿入される。実装プリント基板１の実装部品であるコ
ネクタ７は、実装プリント基板１の実装面に突出する複
数のリードピン８を備えている。
位置決めピン２によって置き台３上の所定位置に保持さ
れ、置き台３の上方には可動盤である上ぶた４が配置さ
れ、上ぶた４の下面にはガイドブロック１０がねじ９に
より螺着されている。ガイドブロック１０の図示上面に
は第１の凹部１１が形成され、その底部としてソケット
固定台５が一体的に設けられている。ソケット固定台５
の複数の貫通穴１２にはそれぞれコンタクトプローブ６
が挿入される。実装プリント基板１の実装部品であるコ
ネクタ７は、実装プリント基板１の実装面に突出する複
数のリードピン８を備えている。
【００１１】本実施例ではソケット固定台５を別体と
し、これをガイドブロック１０に固定することにより一
体的に設けられているが、これに限らず、ソケット固定
台をガイドブロックと一体に設けてもよい。
し、これをガイドブロック１０に固定することにより一
体的に設けられているが、これに限らず、ソケット固定
台をガイドブロックと一体に設けてもよい。
【００１２】第１の凹部１１の底部でもある前記ソケッ
ト台５に設けられた各貫通穴１２には、それぞれコンタ
クトプローブ６が嵌着されるとともに、その下端部（ニ
ードル部）が摺動可能に挿入される。ガイドブロック１
０の下端面には第２の凹部１３が設けられ、第２の凹部
１３の周壁はコネクタ７の外縁に沿った形状をもち、該
周壁の一部にはコネクタ７の端縁に設けられた突起１４
を収容するための溝１５が設けられる（図２に示す）。
ト台５に設けられた各貫通穴１２には、それぞれコンタ
クトプローブ６が嵌着されるとともに、その下端部（ニ
ードル部）が摺動可能に挿入される。ガイドブロック１
０の下端面には第２の凹部１３が設けられ、第２の凹部
１３の周壁はコネクタ７の外縁に沿った形状をもち、該
周壁の一部にはコネクタ７の端縁に設けられた突起１４
を収容するための溝１５が設けられる（図２に示す）。
【００１３】実装プリント基板１の機能検査を開始する
に当って、上方に位置する上ぶた４を駆動手段（図示せ
ず）によって実装プリント基板１に向って下降させる
と、上ぶた４にソケット固定台５を介して保持されたコ
ンタクトプローブ６がガイドブロック１０と共にコネク
タ７のリードピン８に向って下降する。ガイドブロック
１０の下端が実装プリント基板１の表面に近づくと、コ
ネクタ７はガイドブロック１０の第２の凹部１３内に収
容されると共に、コネクタ７の側面に設けられた突起１
４は第２の凹部１３の周壁に設けられた溝１５に挿入さ
れる（図２に示す）。このとき、実装プリント基板１の
実装工程におけるミスで実装プリント基板１に対するコ
ネクタ７の実装位置が左右または前後方向に逆であった
場合、すなわち逆付けの場合には、コネクタ７をガイド
ブロック１０の第２の凹部１３に収容することが不可能
であり、従って上ぶた４の下降運動が妨げられる。これ
によってコネクタ７の実装ミスを容易に発見することが
できる。
に当って、上方に位置する上ぶた４を駆動手段（図示せ
ず）によって実装プリント基板１に向って下降させる
と、上ぶた４にソケット固定台５を介して保持されたコ
ンタクトプローブ６がガイドブロック１０と共にコネク
タ７のリードピン８に向って下降する。ガイドブロック
１０の下端が実装プリント基板１の表面に近づくと、コ
ネクタ７はガイドブロック１０の第２の凹部１３内に収
容されると共に、コネクタ７の側面に設けられた突起１
４は第２の凹部１３の周壁に設けられた溝１５に挿入さ
れる（図２に示す）。このとき、実装プリント基板１の
実装工程におけるミスで実装プリント基板１に対するコ
ネクタ７の実装位置が左右または前後方向に逆であった
場合、すなわち逆付けの場合には、コネクタ７をガイド
ブロック１０の第２の凹部１３に収容することが不可能
であり、従って上ぶた４の下降運動が妨げられる。これ
によってコネクタ７の実装ミスを容易に発見することが
できる。
【００１４】上述の実装ミスがない場合には、ガイドブ
ロック１０の第２の凹部１３にコネクタ７がスムーズに
収容され、上ぶた４が引き続き下降してガイドブロック
１０の貫通穴１２の下端部がリードピン８に嵌合する。
この状態でさらに上ぶた４が下降すると、各コンタクト
プローブ６の先端がそれぞれリードピン８の上端に当接
され、続いて内蔵するバネ（図示せず）に抗してわずか
にその全長を縮小させる。
ロック１０の第２の凹部１３にコネクタ７がスムーズに
収容され、上ぶた４が引き続き下降してガイドブロック
１０の貫通穴１２の下端部がリードピン８に嵌合する。
この状態でさらに上ぶた４が下降すると、各コンタクト
プローブ６の先端がそれぞれリードピン８の上端に当接
され、続いて内蔵するバネ（図示せず）に抗してわずか
にその全長を縮小させる。
【００１５】すなわち、各コンタクトプローブ６は前記
内蔵バネの弾性によって各リードピン８に対して押圧さ
れ、コネクタ７に束線５ａを介して入力信号を与える。
各コンタクトプローブ６とリードピン８との間の相対的
位置ずれは、各コンタクトプローブ６がそれぞれリード
ピン８に接触する直前にガイドブロック１０の貫通穴１
２の下端がリードピン８に係合することによって補正さ
れるため、コンタクトプローブ６の接触不良が発生する
ことはない。
内蔵バネの弾性によって各リードピン８に対して押圧さ
れ、コネクタ７に束線５ａを介して入力信号を与える。
各コンタクトプローブ６とリードピン８との間の相対的
位置ずれは、各コンタクトプローブ６がそれぞれリード
ピン８に接触する直前にガイドブロック１０の貫通穴１
２の下端がリードピン８に係合することによって補正さ
れるため、コンタクトプローブ６の接触不良が発生する
ことはない。
【００１６】また、ガイドブロック１０によって各コン
タクトプローブ６の横方向の移動が限定されるため、該
コンタクトプローブ６がリードピン８に当接する際のス
トレスによって著しく彎曲する恐れもない。
タクトプローブ６の横方向の移動が限定されるため、該
コンタクトプローブ６がリードピン８に当接する際のス
トレスによって著しく彎曲する恐れもない。
【００１７】上述した通り、本実施例によれば、リード
ピン８に多少の位置ずれがある場合でも、コンタクトプ
ローブ６を各リードピン８に対して確実に接触させるこ
とができるため、実装プリント基板１の機能検査をスム
ーズに行うことが可能であり、またその検査結果は信頼
性の高いものとなる。
ピン８に多少の位置ずれがある場合でも、コンタクトプ
ローブ６を各リードピン８に対して確実に接触させるこ
とができるため、実装プリント基板１の機能検査をスム
ーズに行うことが可能であり、またその検査結果は信頼
性の高いものとなる。
【００１８】
【発明の効果】本発明は上述のとおりに構成されている
ので以下に記載するような効果を奏する。
ので以下に記載するような効果を奏する。
【００１９】実装プリント基板の機能検査装置のコンタ
クトプローブを、実装部品のリードピンに対して確実に
接触させることができるため、検査結果の信頼性が向上
する。また実装プリント基板の機能検査中にコンタクト
プローブが変形または破損する恐れがない。さらに実装
プリント基板の機能検査の過程において実装部品の実装
ミスを発見できるという利点もある。
クトプローブを、実装部品のリードピンに対して確実に
接触させることができるため、検査結果の信頼性が向上
する。また実装プリント基板の機能検査中にコンタクト
プローブが変形または破損する恐れがない。さらに実装
プリント基板の機能検査の過程において実装部品の実装
ミスを発見できるという利点もある。
【図１】本発明の一実施例の主要部を示す部分縦断面図
である。
である。
【図２】図１のＡ−Ａ’線に沿ってとった部分断面図で
ある。
ある。
【図３】従来例の主要部を示す部分縦断面図である。
１ 実装プリント基板
３ 置き台
４ 上ぶた
５ ソケット固定台
６ コンタクトプローブ
７ コネクタ
８ リードピン
１０ ガイドブロック
１１ 第１の凹部
１２ 貫通穴
１３ 第２の凹部
１４ 突起
１５ 溝
Claims (2)
- 【請求項１】 実装プリント基板を保持する保持手段
と、前記保持手段に接近および離反自在に支持されたコ
ンタクトプローブ挿入手段を有する可動盤とを備えた実
装プリント基板検査装置において、 前記可動盤には、前記コンタクトプローブ挿入手段に挿
入されるコンタクトプローブの先端部を案内するための
ガイド孔を有するブロツクが固着されていることを特徴
とする実装プリント基板の機能検査装置。 - 【請求項２】 ブロックの下端に実装プリント基板の実
装部品の外形に対応する形状を持つ凹部が設けられてい
ることを特徴とする請求項１記載の実装プリント基板の
機能検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204677A JP2805551B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 実装プリント基板の機能検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3204677A JP2805551B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 実装プリント基板の機能検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0529800A true JPH0529800A (ja) | 1993-02-05 |
| JP2805551B2 JP2805551B2 (ja) | 1998-09-30 |
Family
ID=16494472
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3204677A Expired - Fee Related JP2805551B2 (ja) | 1991-07-19 | 1991-07-19 | 実装プリント基板の機能検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2805551B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0188860U (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-12 | ||
| JPH02150773A (ja) * | 1988-12-01 | 1990-06-11 | Fujitsu Ltd | インサーキットテスタ用試験治具のプローブピン構造 |
| JP3048778U (ja) * | 1997-11-10 | 1998-05-22 | 重雄 田中 | 駐車場の区画表示用Ｎｏ．プレート |
-
1991
- 1991-07-19 JP JP3204677A patent/JP2805551B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0188860U (ja) * | 1987-12-04 | 1989-06-12 | ||
| JPH02150773A (ja) * | 1988-12-01 | 1990-06-11 | Fujitsu Ltd | インサーキットテスタ用試験治具のプローブピン構造 |
| JP3048778U (ja) * | 1997-11-10 | 1998-05-22 | 重雄 田中 | 駐車場の区画表示用Ｎｏ．プレート |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2805551B2 (ja) | 1998-09-30 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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