JPH0529262B2 - - Google Patents
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- JPH0529262B2 JPH0529262B2 JP16748687A JP16748687A JPH0529262B2 JP H0529262 B2 JPH0529262 B2 JP H0529262B2 JP 16748687 A JP16748687 A JP 16748687A JP 16748687 A JP16748687 A JP 16748687A JP H0529262 B2 JPH0529262 B2 JP H0529262B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J2003/283—Investigating the spectrum computer-interfaced
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Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
この発明は、赤外吸収スペクトルより、試料物
質の部分構造を解析する分子部分構造解析装置に
関し、詳しく言えば、吸収ピークの強度を考慮し
て解析を行うものに関する。 (ロ) 従来の技術 赤外分光分析は、分子がどのような部分構造を
有しているかを解析する有用な一手段である。こ
の赤外分光分析は、赤外分光光度計で得られた赤
外吸収スペクトルに現れる吸収ピークの位置（波
数）に基づいて、その波数に対応する部分構造が
分子中に含まれるか否かを解析していくものであ
る。この部分構造の解析を自動的に行う装置とし
ては、例えば以下に説明するものが知られてい
る。 この従来の分子部分構造解析装置は、種々の部
分構造について、必らず吸収ピークが存在する領
域（ウインドウ）、吸収ピークが存在しない領域
（ブラインド）、基準振動の中心波数等を内容とす
る基準振動波数データを備えている。 試料の赤外吸収スペクトルが入力されると、一
つ一つの部分構造について、ウインドウ及びブラ
インド内に吸収ピークが存在するか否かを判別す
る。ウインドウに吸収ピークが存在し、且つブラ
インド内に吸収ピークが存在しない時には、その
１分構造の存在する可能性があるとして、以下の
処理に進む。そうでない時は、その部分構造の存
在する可能性は少ないとして、他の部分構造の解
析に移る。 次に、各吸収ピークの中心波数が、対応する基
準振動の波数に対して、どのくらいずれているか
が評価される。これら評価を、例えば重みをつけ
て平均化し、この値（スコア）が所定以上である
場合には、試料にその部分構造が含まれている可
能性が高いと判定する。この処理が終われば、さ
らに他の部分構造の解析へ進む。 (ハ) 発明が解決しようとする問題点 上記従来の分子部分構造解析装置においては、
部分構造の解析は、赤外吸収スペクトルより、吸
収ピークの波数値という情報を取出して行われて
いるが、情報量が限られてしまうため、解析精度
の向上が困難である問題点があつた。 また、上記従来の分子部分構造解析装置では、
基準振動の波数データは、例えば同一の部分構造
を有する物質についての赤外吸収スペクトルをチ
ヤートに重ねて記録することによつて得られる。
従つて、多くの物質についてのデータを蓄積でき
れば、より高い解析精度を期待することができ
る。然るに、上記従来の分子部分構造解析装置で
は、新たなデータを基準振動の波数データに加え
るのが困難である問題点があつた。 この発明は、上記に鑑みなされたものであり、
解析精度の向上及びデータの蓄積化を可能とする
分子部分構造解析装置の提供を目的としている。 (ニ) 問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため、この発明の分子部
分構造解析装置は、以下の〜項に記載する構
成を備えるものである。 少なくとも部分構造の吸収ピーク出現波数領
域及び基準物質が有する部分構造の吸収ピーク
と吸収ピーク強度とをデータとして記憶するデ
ータ記憶手段、 試料の赤外吸収スペクトルより吸収ピークを
検出し、この検出された全ての吸収ピークの波
数値と、前記データ記憶手段に記憶されている
各部分構造の吸収ピーク出現波数領域とを比較
し、解析を行うべき１又は２以上の部分構造を
判別する判別手段、 この判別手段で判別された部分構造に対応す
る試料の各吸収ピークの規格化された強度を算
出する強度算出手段、 この強度算出手段で算出された試料の各吸収
ピーク強度と、前記データ記憶手段に記憶され
ている１又は２以上の基準物質についての、当
該部分構造の各吸収ピーク強度との評価係数を
算出する評価係数算出手段、 前記各基準物質についての評価係数の内、最
良のものを当該部分構造のスコアとするスコア
決定手段、 前記各部分構造についてのスコアを良いもの
から順に出力する出力手段。 (ホ) 作用 この発明の分子部分構造解析装置は、試料の赤
外吸収スペクトルの吸収ピークの波数値に加え、
各吸収ピークの強度をも用い、部分構造の解析を
行うため、解析精度の向上が可能となる。 (ヘ) 実施例 この実施例の一実施例を第１図乃至第３図に基
づいて以下説明する。 第２図は、この実施例分子部分構造解析装置１
の構成を説明するためのブロツク図である。２
は、CPUであり後述の解析処理を行なつたり、
入出力の制御をする機能を有している。CPU２
には、CPT３、プリンタ４及びデータ等を記憶
するためのメモリ（データ記憶手段）５が接続さ
れている。また、CPU２には、フロツピデイス
ク装置６が補助記憶手段として接続されている。
もちろん、フロツピイデイスク装置６に代えて、
あるいは、これに加えてハードデイスク装置、磁
気テープ装置や光デイスク装置を接続することも
できる。 CPU２には、さらにＩ／Ｏ装置７を介して、
赤外分光光度計８が接続されており、赤外分光光
度計８で得られた試料の赤外吸収スペクトルが
CPU２に転送されるように構成されている。 次に、この実施例分子部分構造解析装置の動作
を主に第１図を参照しながら以下に説明する。 先ず、赤外分光光度計８に試料をセツトし、試
料の赤外吸収スペクトルを測定し、これをCPU
２に転送する〔ステツプ（以下STという）１〕。
この赤外吸収スペクトルの例を第３図に示す。こ
れは、フエナセチン（CH3−CO−NH−C6H4−
Ｏ−C2H5）を拡散反射法で測定したスペクトル
である。 続いて、上記赤外吸収スペクトルを濃度による
誤差をなくすために規格化する。期規格化はスペ
クトルを吸光度変換し、吸光度スペクトルの最小
値が“０”に最大値が“99”になるように計算し
ている。この後、このスペクトルの吸収ピークの
波数（cm-1）及びそのピークの強度を求めリスト
アツプする（ST２）。このリストアツプの例を以
下の第１表に示す。 第１表 ＊＊データ、ピークの検出結果 ピーク情報 S328524，165980，155754，153731，151171， 148328，126738，124894.104835，083846， 082830， M319008，313508，307508，298513，293007， 160518，144815，141418，139409，137017， 132608，117612，111613，102008，092411， 078514，074519，060609，054816，052315 この例で、S328524のＳは、Ｓtrong PeakのＳ
であり、波数3285cm-1に、強度24のピークが存在
することを意味している。また、M319008のＭ
は、Ｍedium Peak のＭであり、波数3190cm-1
に強度08のピークが存在することを意味してい
る。この例では、Strong Peakは強度が20以上、
Ｍedium Peakは強度が19以下５以上のピークで
ある。 ST３は、再解析か否かを判定する。はじめに
再解析ではない場合を説明するので、ST８へ進
む。 ST８では、各部分構造についてマークされて
いる波数領域に試料吸収ピークが所定数以上存在
しているか否かが判定される。このST８の判定
がNOの場合には、その部分構造が存在する可能
性が低いとして処理を打切り、ST１２へ進む。
ST８の判定がYESの場合には、その部分構造の
存在する可能性があるとしてST９以下の処理に
進む。なお【式】（１，４−disubst， benzene）について波数領域を例として第２表に
示す（表中Stは伸縮、〓は面外変角縦ゆれ、ｄは
変角を表わしている）。 【表】 次に、ST９では、吸収ピーク強度を最強の吸
収ピーク強度で規格する。例えば、
【式】の場合についての一例を第３表に 示す。なお、第３表では、あわせてメモリ５に記
憶されるデータ中の３つの基準物質についての強
度比が示されている。 【表】 【表】 ST１０では、ST９で得られた強度比より評価
係数として相関係数Ｒを以下の式に基づいて算出
する。 ：吸収ピーク番号 Ｘ：基準物質の吸収ピーク強度比（吸光度） Ｙ：試料物質の吸収ピーク強度比（〃） ：基準物質の吸収ピーク強度比平均（〃） ：試料物質の吸収ピーク強度比平均（〃） 相関係数Ｒは、一つの部分構造に対して複数の基
準物質のデータが有るときは、その基準物質の１
つ１つについて算出される。例えば、第３表に示
す場合には、３つの基準物質のそれぞれについ
て、相関係数が算出される。マークされる波数領
域の内に吸収ピークのないものが含まれる場合に
は、その吸収ピークの強度比は０とする。 この相関係数Ｒは、高いほど、その部分構造が
存在する可能性が高くなる。なお、評価係数とし
ては、以下の２式に示すものも使用でき適宜変更
可能である。これらの場合には、係数の値が小さ
いほど、部分構造の存在可能性が高い。 ｎ：吸収ピーク数 続くST１１では、ST１０で算出された１又は
２以上の相関係数Ｒの内から、最大のものを抽出
し、当該部分構造についてのスコアＳとする。 ST１２では、さらに次の部分構造について解
析処理を行うか否かを判定する。すべての部分構
造に対して解析処理が行われた時には次のST１
３へ進む。 ST１３では、各部分構造についてのスコアＳ
を高いものから順に、CRT３及び／又はプリン
タ４から出力する。すなわち、存在する可能性の
高い部分構造から順に示される。 ST１４では、さらに、この試料について解析
条件を変更し、再解析するか否かを判定する。再
解析する場合は、ST１５に進む。再解析しない
のであれば、解析は終了である。 ST１５では、再解析のための解析条件の入力
を実行する。解析条件としては、次のようなもの
がある。 (1) ある特定の吸収ピークの指定（指定されたピ
ークを含む部分構造だけを出力する）。 (2) 質量分析から得られた結果（フラグメントイ
オン）を入力（指定されたフラグメントイオン
を含む部分構造だけを出力する）。 (3) 存在する元素を入力（入力された元素を最低
１つ以上含む部分構造だけを出力する）。 (4) 存在しない元素を入力（入力された元素を全
て含まない部分構造だけを出力する）。 (5) ピーク波数及び強度の修正（ピーク検出され
た波数値、強度値を消去、追加、修正してから
再解析する）。 このような、他の分析による結果など、赤外ス
ペクトル以外の付加情報を解析条件に含めれば、
解析の対象となる部分構造が絞り込まれ、解析に
要する時間を短縮することができる。 解析条件の入力、変更した後、この入力された
条件に対する処理がST４〜ST７で実行される。 ST４では、存在しないと入力された元素が、
その部分構造に含まれているかどうかを判定す
る。含まれていなければST５以下の処理に移る
が、含まれていれば、この部分構造が含まれるこ
とは有り得ないので、次の部分構造を調べるため
ST１２に進む。 ST５では、存在すると入力された元素が、そ
の部分構造に最低１つ以上含まれているかどうか
を判定する。含まれていれば、ST６以下の処理
に移るが、含まれていなければ、この部分構造が
含まれることはあり得ないので、次の部分構造を
調べるためST１２へ進む。 ST６では、存在すると思われる質量分析器か
ら得られたフラグメントイオンが、その部分構造
に含まれているか否かを判定する。含まれていれ
ば、ST７以下の処理に移るが、含まれていなけ
れば、この部分構造が含まれることは有り得ない
ので、次の部分構造を調べるためST１２へ進む。 ST７では、指定された特定波数域に吸収ピー
クが含まれる部分構造であるか否かを判定する。
含まれていれば、ST８以下の処理に移るが、含
まれていなければ、この部分構造が含まれること
は有り得ないので、次の部分構造を調べるため
ST１２へ進む。 ST８以下は、すでに説明した通りである。ST
４〜ST７により、赤外スペクトル以外の付加情
報を含め解析することができる。ST７の処理に
より解析対象スペクトルの着目する１本ごとの吸
収ピークを順次解析することが可能となる。 なお、ST15の再解析条件の入力は、ST2以下、
解析の初めで行つてもよい。また、赤外吸収スペ
クトルを測定した、スペクトルチヤートが有れば
ST1の測定なしで、直接吸収ピーク情報を、コン
ピユータに入力してもよい。 一方、測定データは、それがデータとして適し
たものである場合は、この部分構造解析用のデー
タベースフアイル内に記憶させ蓄積できるように
なつている。 (ト) 発明の効果 以上説明したように、この発明の分子部分構造
解析装置は、吸収ピークの強度を評価し、解析精
度の向上できる利点を有している。 また、試料のデータを基準物質のデータとし
て、データ記憶手段に蓄積可能に構成すれば、デ
ータの蓄積により解析精度を向上させることがで
きる利点を有している。 さらに、実施例に示すように、赤外スペクトル
以外の付加情報を含めて解析できるよう構成すれ
ば、解析の対象となる部分構造が絞られて、解析
に要する時間が短縮できる利点を有する。
質の部分構造を解析する分子部分構造解析装置に
関し、詳しく言えば、吸収ピークの強度を考慮し
て解析を行うものに関する。 (ロ) 従来の技術 赤外分光分析は、分子がどのような部分構造を
有しているかを解析する有用な一手段である。こ
の赤外分光分析は、赤外分光光度計で得られた赤
外吸収スペクトルに現れる吸収ピークの位置（波
数）に基づいて、その波数に対応する部分構造が
分子中に含まれるか否かを解析していくものであ
る。この部分構造の解析を自動的に行う装置とし
ては、例えば以下に説明するものが知られてい
る。 この従来の分子部分構造解析装置は、種々の部
分構造について、必らず吸収ピークが存在する領
域（ウインドウ）、吸収ピークが存在しない領域
（ブラインド）、基準振動の中心波数等を内容とす
る基準振動波数データを備えている。 試料の赤外吸収スペクトルが入力されると、一
つ一つの部分構造について、ウインドウ及びブラ
インド内に吸収ピークが存在するか否かを判別す
る。ウインドウに吸収ピークが存在し、且つブラ
インド内に吸収ピークが存在しない時には、その
１分構造の存在する可能性があるとして、以下の
処理に進む。そうでない時は、その部分構造の存
在する可能性は少ないとして、他の部分構造の解
析に移る。 次に、各吸収ピークの中心波数が、対応する基
準振動の波数に対して、どのくらいずれているか
が評価される。これら評価を、例えば重みをつけ
て平均化し、この値（スコア）が所定以上である
場合には、試料にその部分構造が含まれている可
能性が高いと判定する。この処理が終われば、さ
らに他の部分構造の解析へ進む。 (ハ) 発明が解決しようとする問題点 上記従来の分子部分構造解析装置においては、
部分構造の解析は、赤外吸収スペクトルより、吸
収ピークの波数値という情報を取出して行われて
いるが、情報量が限られてしまうため、解析精度
の向上が困難である問題点があつた。 また、上記従来の分子部分構造解析装置では、
基準振動の波数データは、例えば同一の部分構造
を有する物質についての赤外吸収スペクトルをチ
ヤートに重ねて記録することによつて得られる。
従つて、多くの物質についてのデータを蓄積でき
れば、より高い解析精度を期待することができ
る。然るに、上記従来の分子部分構造解析装置で
は、新たなデータを基準振動の波数データに加え
るのが困難である問題点があつた。 この発明は、上記に鑑みなされたものであり、
解析精度の向上及びデータの蓄積化を可能とする
分子部分構造解析装置の提供を目的としている。 (ニ) 問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため、この発明の分子部
分構造解析装置は、以下の〜項に記載する構
成を備えるものである。 少なくとも部分構造の吸収ピーク出現波数領
域及び基準物質が有する部分構造の吸収ピーク
と吸収ピーク強度とをデータとして記憶するデ
ータ記憶手段、 試料の赤外吸収スペクトルより吸収ピークを
検出し、この検出された全ての吸収ピークの波
数値と、前記データ記憶手段に記憶されている
各部分構造の吸収ピーク出現波数領域とを比較
し、解析を行うべき１又は２以上の部分構造を
判別する判別手段、 この判別手段で判別された部分構造に対応す
る試料の各吸収ピークの規格化された強度を算
出する強度算出手段、 この強度算出手段で算出された試料の各吸収
ピーク強度と、前記データ記憶手段に記憶され
ている１又は２以上の基準物質についての、当
該部分構造の各吸収ピーク強度との評価係数を
算出する評価係数算出手段、 前記各基準物質についての評価係数の内、最
良のものを当該部分構造のスコアとするスコア
決定手段、 前記各部分構造についてのスコアを良いもの
から順に出力する出力手段。 (ホ) 作用 この発明の分子部分構造解析装置は、試料の赤
外吸収スペクトルの吸収ピークの波数値に加え、
各吸収ピークの強度をも用い、部分構造の解析を
行うため、解析精度の向上が可能となる。 (ヘ) 実施例 この実施例の一実施例を第１図乃至第３図に基
づいて以下説明する。 第２図は、この実施例分子部分構造解析装置１
の構成を説明するためのブロツク図である。２
は、CPUであり後述の解析処理を行なつたり、
入出力の制御をする機能を有している。CPU２
には、CPT３、プリンタ４及びデータ等を記憶
するためのメモリ（データ記憶手段）５が接続さ
れている。また、CPU２には、フロツピデイス
ク装置６が補助記憶手段として接続されている。
もちろん、フロツピイデイスク装置６に代えて、
あるいは、これに加えてハードデイスク装置、磁
気テープ装置や光デイスク装置を接続することも
できる。 CPU２には、さらにＩ／Ｏ装置７を介して、
赤外分光光度計８が接続されており、赤外分光光
度計８で得られた試料の赤外吸収スペクトルが
CPU２に転送されるように構成されている。 次に、この実施例分子部分構造解析装置の動作
を主に第１図を参照しながら以下に説明する。 先ず、赤外分光光度計８に試料をセツトし、試
料の赤外吸収スペクトルを測定し、これをCPU
２に転送する〔ステツプ（以下STという）１〕。
この赤外吸収スペクトルの例を第３図に示す。こ
れは、フエナセチン（CH3−CO−NH−C6H4−
Ｏ−C2H5）を拡散反射法で測定したスペクトル
である。 続いて、上記赤外吸収スペクトルを濃度による
誤差をなくすために規格化する。期規格化はスペ
クトルを吸光度変換し、吸光度スペクトルの最小
値が“０”に最大値が“99”になるように計算し
ている。この後、このスペクトルの吸収ピークの
波数（cm-1）及びそのピークの強度を求めリスト
アツプする（ST２）。このリストアツプの例を以
下の第１表に示す。 第１表 ＊＊データ、ピークの検出結果 ピーク情報 S328524，165980，155754，153731，151171， 148328，126738，124894.104835，083846， 082830， M319008，313508，307508，298513，293007， 160518，144815，141418，139409，137017， 132608，117612，111613，102008，092411， 078514，074519，060609，054816，052315 この例で、S328524のＳは、Ｓtrong PeakのＳ
であり、波数3285cm-1に、強度24のピークが存在
することを意味している。また、M319008のＭ
は、Ｍedium Peak のＭであり、波数3190cm-1
に強度08のピークが存在することを意味してい
る。この例では、Strong Peakは強度が20以上、
Ｍedium Peakは強度が19以下５以上のピークで
ある。 ST３は、再解析か否かを判定する。はじめに
再解析ではない場合を説明するので、ST８へ進
む。 ST８では、各部分構造についてマークされて
いる波数領域に試料吸収ピークが所定数以上存在
しているか否かが判定される。このST８の判定
がNOの場合には、その部分構造が存在する可能
性が低いとして処理を打切り、ST１２へ進む。
ST８の判定がYESの場合には、その部分構造の
存在する可能性があるとしてST９以下の処理に
進む。なお【式】（１，４−disubst， benzene）について波数領域を例として第２表に
示す（表中Stは伸縮、〓は面外変角縦ゆれ、ｄは
変角を表わしている）。 【表】 次に、ST９では、吸収ピーク強度を最強の吸
収ピーク強度で規格する。例えば、
【式】の場合についての一例を第３表に 示す。なお、第３表では、あわせてメモリ５に記
憶されるデータ中の３つの基準物質についての強
度比が示されている。 【表】 【表】 ST１０では、ST９で得られた強度比より評価
係数として相関係数Ｒを以下の式に基づいて算出
する。 ：吸収ピーク番号 Ｘ：基準物質の吸収ピーク強度比（吸光度） Ｙ：試料物質の吸収ピーク強度比（〃） ：基準物質の吸収ピーク強度比平均（〃） ：試料物質の吸収ピーク強度比平均（〃） 相関係数Ｒは、一つの部分構造に対して複数の基
準物質のデータが有るときは、その基準物質の１
つ１つについて算出される。例えば、第３表に示
す場合には、３つの基準物質のそれぞれについ
て、相関係数が算出される。マークされる波数領
域の内に吸収ピークのないものが含まれる場合に
は、その吸収ピークの強度比は０とする。 この相関係数Ｒは、高いほど、その部分構造が
存在する可能性が高くなる。なお、評価係数とし
ては、以下の２式に示すものも使用でき適宜変更
可能である。これらの場合には、係数の値が小さ
いほど、部分構造の存在可能性が高い。 ｎ：吸収ピーク数 続くST１１では、ST１０で算出された１又は
２以上の相関係数Ｒの内から、最大のものを抽出
し、当該部分構造についてのスコアＳとする。 ST１２では、さらに次の部分構造について解
析処理を行うか否かを判定する。すべての部分構
造に対して解析処理が行われた時には次のST１
３へ進む。 ST１３では、各部分構造についてのスコアＳ
を高いものから順に、CRT３及び／又はプリン
タ４から出力する。すなわち、存在する可能性の
高い部分構造から順に示される。 ST１４では、さらに、この試料について解析
条件を変更し、再解析するか否かを判定する。再
解析する場合は、ST１５に進む。再解析しない
のであれば、解析は終了である。 ST１５では、再解析のための解析条件の入力
を実行する。解析条件としては、次のようなもの
がある。 (1) ある特定の吸収ピークの指定（指定されたピ
ークを含む部分構造だけを出力する）。 (2) 質量分析から得られた結果（フラグメントイ
オン）を入力（指定されたフラグメントイオン
を含む部分構造だけを出力する）。 (3) 存在する元素を入力（入力された元素を最低
１つ以上含む部分構造だけを出力する）。 (4) 存在しない元素を入力（入力された元素を全
て含まない部分構造だけを出力する）。 (5) ピーク波数及び強度の修正（ピーク検出され
た波数値、強度値を消去、追加、修正してから
再解析する）。 このような、他の分析による結果など、赤外ス
ペクトル以外の付加情報を解析条件に含めれば、
解析の対象となる部分構造が絞り込まれ、解析に
要する時間を短縮することができる。 解析条件の入力、変更した後、この入力された
条件に対する処理がST４〜ST７で実行される。 ST４では、存在しないと入力された元素が、
その部分構造に含まれているかどうかを判定す
る。含まれていなければST５以下の処理に移る
が、含まれていれば、この部分構造が含まれるこ
とは有り得ないので、次の部分構造を調べるため
ST１２に進む。 ST５では、存在すると入力された元素が、そ
の部分構造に最低１つ以上含まれているかどうか
を判定する。含まれていれば、ST６以下の処理
に移るが、含まれていなければ、この部分構造が
含まれることはあり得ないので、次の部分構造を
調べるためST１２へ進む。 ST６では、存在すると思われる質量分析器か
ら得られたフラグメントイオンが、その部分構造
に含まれているか否かを判定する。含まれていれ
ば、ST７以下の処理に移るが、含まれていなけ
れば、この部分構造が含まれることは有り得ない
ので、次の部分構造を調べるためST１２へ進む。 ST７では、指定された特定波数域に吸収ピー
クが含まれる部分構造であるか否かを判定する。
含まれていれば、ST８以下の処理に移るが、含
まれていなければ、この部分構造が含まれること
は有り得ないので、次の部分構造を調べるため
ST１２へ進む。 ST８以下は、すでに説明した通りである。ST
４〜ST７により、赤外スペクトル以外の付加情
報を含め解析することができる。ST７の処理に
より解析対象スペクトルの着目する１本ごとの吸
収ピークを順次解析することが可能となる。 なお、ST15の再解析条件の入力は、ST2以下、
解析の初めで行つてもよい。また、赤外吸収スペ
クトルを測定した、スペクトルチヤートが有れば
ST1の測定なしで、直接吸収ピーク情報を、コン
ピユータに入力してもよい。 一方、測定データは、それがデータとして適し
たものである場合は、この部分構造解析用のデー
タベースフアイル内に記憶させ蓄積できるように
なつている。 (ト) 発明の効果 以上説明したように、この発明の分子部分構造
解析装置は、吸収ピークの強度を評価し、解析精
度の向上できる利点を有している。 また、試料のデータを基準物質のデータとし
て、データ記憶手段に蓄積可能に構成すれば、デ
ータの蓄積により解析精度を向上させることがで
きる利点を有している。 さらに、実施例に示すように、赤外スペクトル
以外の付加情報を含めて解析できるよう構成すれ
ば、解析の対象となる部分構造が絞られて、解析
に要する時間が短縮できる利点を有する。
図面は何れもこの発明の一実施例を示し、第１
図は、この実施例に係る分子部分構造解析装置の
動作を説明するフロー図、第２図は、同分子部分
構造解析装置の回路構成を示すブロツク図、第３
図は、同分子部分構造解析装置の赤外分光光度計
で得られたフエナセチン赤外吸収スペクトルを示
す図である。 ２……CPU、３……CRT、４……プリンタ、
５……メモリ、８……赤外分光光度計。
図は、この実施例に係る分子部分構造解析装置の
動作を説明するフロー図、第２図は、同分子部分
構造解析装置の回路構成を示すブロツク図、第３
図は、同分子部分構造解析装置の赤外分光光度計
で得られたフエナセチン赤外吸収スペクトルを示
す図である。 ２……CPU、３……CRT、４……プリンタ、
５……メモリ、８……赤外分光光度計。
１ 液に入れられた測定電極と、
前記液に入れられた参照電極と、
前記液に入れられ、前記測定電極及び前記参照
電極と液を介し電気的に接続された補助電極と、 前記測定電極の端子に入力端が接続された第１
の増幅器と、 前記参照電極の端子に入力端が接続された第２
の増幅器と、 前記測定電極の端子と前記第１の増幅器の間の
信号線路とアース電位との間に接続された、抵抗
とスイツチとからなる直列回路で、このスイツチ
は前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試験
する期間、オンとされ、前記液を測定する期間、 オフとされるスイツチである直列回路と、 前記参照電極の端子と前記第２の増幅器との間
の信号線路とアース電位との間に接続された、抵
抗とスイツチとからなる直列回路で、このスイツ
チは前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試
験する期間、オンとされ、前記液を測定する期
間、オフとされるスイツチである直列回路と、 前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試験
する期間、オンとされるスイツチを介し、前記補
助電極に矩形波交流信号を与える矩形波交流信号
発生手段と、
電極と液を介し電気的に接続された補助電極と、 前記測定電極の端子に入力端が接続された第１
の増幅器と、 前記参照電極の端子に入力端が接続された第２
の増幅器と、 前記測定電極の端子と前記第１の増幅器の間の
信号線路とアース電位との間に接続された、抵抗
とスイツチとからなる直列回路で、このスイツチ
は前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試験
する期間、オンとされ、前記液を測定する期間、 オフとされるスイツチである直列回路と、 前記参照電極の端子と前記第２の増幅器との間
の信号線路とアース電位との間に接続された、抵
抗とスイツチとからなる直列回路で、このスイツ
チは前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試
験する期間、オンとされ、前記液を測定する期
間、オフとされるスイツチである直列回路と、 前記測定電極並びに前記参照電極の性能を試験
する期間、オンとされるスイツチを介し、前記補
助電極に矩形波交流信号を与える矩形波交流信号
発生手段と、
Claims (1)
- ク波数値及び吸収ピーク強度がデータとして適し
たものである場合には、これを前記データ記憶手
段に記憶させるデータ蓄積手段を備えてなる特許
請求の範囲第１項記載の分子部分構造解析装置。 ３ 他の分析装置による試料分析結果を入力する
入力手段を備え、前記判別手段は、この入力手段
により入力された試料分析結果も含めて、試料に
ついて解析を行うべき、１又は２以上の部分構造
を判別する特許請求の範囲第１項又は第２項記載
の分子部分構造解析装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16748687A JPS6412247A (en) | 1987-07-04 | 1987-07-04 | Analyzer for molecular partial structure |
| EP19880110581 EP0298398B1 (en) | 1987-07-04 | 1988-07-01 | Analyzer of partial molecular structures |
| DE3855783T DE3855783T2 (de) | 1987-07-04 | 1988-07-01 | Gerät zur Analyse von partiellen molekularen Strukturen |
| US07/214,439 US4987548A (en) | 1987-07-04 | 1988-07-01 | Analyzer of partial molecular structures |
| CN88104151A CN1010614B (zh) | 1987-07-04 | 1988-07-04 | 局部分子结构分析仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16748687A JPS6412247A (en) | 1987-07-04 | 1987-07-04 | Analyzer for molecular partial structure |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6412247A JPS6412247A (en) | 1989-01-17 |
| JPH0529262B2 true JPH0529262B2 (ja) | 1993-04-28 |
Family
ID=15850575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16748687A Granted JPS6412247A (en) | 1987-07-04 | 1987-07-04 | Analyzer for molecular partial structure |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4987548A (ja) |
| EP (1) | EP0298398B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6412247A (ja) |
| CN (1) | CN1010614B (ja) |
| DE (1) | DE3855783T2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5311445A (en) * | 1989-04-19 | 1994-05-10 | Board Of Regents Of The University Of Oklahoma | Deconvoluted band representation for infrared spectrum compression |
| US5777889A (en) * | 1994-09-22 | 1998-07-07 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for evaluating molecular structures using relativistic integral equations |
| JPH09184761A (ja) * | 1995-12-29 | 1997-07-15 | Horiba Ltd | ２つのスペクトルの一致度算出方法 |
| JP6178964B2 (ja) * | 2013-04-23 | 2017-08-16 | ナノフォトン株式会社 | ラマンスペクトルデータベースの構築方法 |
| US11726034B2 (en) * | 2019-03-07 | 2023-08-15 | Missouri State University | IR spectra matching methods |
| JP6947447B1 (ja) * | 2020-08-11 | 2021-10-13 | 株式会社山本製作所 | プラスチック判定装置及びプラスチック判定プログラム |
| JP7015579B1 (ja) * | 2020-08-11 | 2022-02-03 | 株式会社山本製作所 | プラスチック判定装置及びプラスチック判定プログラム |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA197804A (en) * | 1920-03-02 | The Libbey Glass Company | Assorting machine | |
| US3619072A (en) * | 1969-03-24 | 1971-11-09 | Mobil Oil Corp | Fluid sample cell with quick purging means |
| US3896312A (en) * | 1974-06-07 | 1975-07-22 | Christopher W Brown | Petroleum identification |
| US4093991A (en) * | 1977-01-26 | 1978-06-06 | Hunter Associates Laboratory, Inc. | Spectrophotometer-digital data processing system for appearance measurements providing fast and accurate standardization, ease of use for different appearance measurements and fast response |
| US4293222A (en) * | 1978-02-27 | 1981-10-06 | Baxter Travenol Laboratories, Inc. | Control apparatus for spectrophotometer |
| US4365303A (en) * | 1980-02-07 | 1982-12-21 | The Perkin-Elmer Corporation | Method and apparatus for determining the nature of an unknown chemical substance |
| US4357673A (en) * | 1980-04-18 | 1982-11-02 | Hewlett-Packard Company | Apparatus for performing measurements and error analysis of the measurements |
| US4458323A (en) * | 1980-04-18 | 1984-07-03 | Hewlett-Packard Company | Method of performing measurements and error analysis of the measurements |
| US4660151A (en) * | 1983-09-19 | 1987-04-21 | Beckman Instruments, Inc. | Multicomponent quantitative analytical method and apparatus |
| JPS60107554A (ja) * | 1983-11-16 | 1985-06-13 | Ube Ind Ltd | 未知物質の化学構造を決定する方法および装置 |
-
1987
- 1987-07-04 JP JP16748687A patent/JPS6412247A/ja active Granted
-
1988
- 1988-07-01 DE DE3855783T patent/DE3855783T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-07-01 EP EP19880110581 patent/EP0298398B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-07-01 US US07/214,439 patent/US4987548A/en not_active Expired - Fee Related
- 1988-07-04 CN CN88104151A patent/CN1010614B/zh not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6412247A (en) | 1989-01-17 |
| CN1030478A (zh) | 1989-01-18 |
| EP0298398A2 (en) | 1989-01-11 |
| CN1010614B (zh) | 1990-11-28 |
| EP0298398B1 (en) | 1997-02-05 |
| EP0298398A3 (en) | 1989-05-31 |
| DE3855783D1 (de) | 1997-03-20 |
| DE3855783T2 (de) | 1997-09-04 |
| US4987548A (en) | 1991-01-22 |
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