JPH05291556A - 半導体発光装置 - Google Patents

半導体発光装置

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JPH05291556A
JPH05291556A JP8865092A JP8865092A JPH05291556A JP H05291556 A JPH05291556 A JP H05291556A JP 8865092 A JP8865092 A JP 8865092A JP 8865092 A JP8865092 A JP 8865092A JP H05291556 A JPH05291556 A JP H05291556A
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JP
Japan
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light emitting
semiconductor
emitting device
layer
region
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Application number
JP8865092A
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English (en)
Inventor
Yukihiro Kusumi
之博 楠見
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 発光素子アレイ上に空間光変調素子又は他の
発光素子アレイをモノリシックに集積化することがで
き、空間光変調素子との間で2次元方向の集積度を向上
させることができる半導体発光装置を提供する。 【構成】 低濃度にドーピングされた第1半導体層12
の表面に選択的に高濃度にドーピングすることにより、
第1及び第2の半導体領域13,14を形成する。そし
て、これらの第1及び第2の半導体領域13,14を挟
む2位置に選択的に不純物を注入して高抵抗領域15を
形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ニューロチップ等の
光を情報とする大規模な光情報処理装置に使用され、ベ
クトルと行列のマトリクス乗算を大規模に行うのに必要
とされる2次元方向に広がりを持つ入力光を出力する半
導体発光装置に関し、特に半導体発光素子を高密度に集
積化することが可能な半導体発光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の光ニューロチップとしては、発光
素子アレイ、空間光変調素子及び受光素子アレイを個別
に形成し、これらを樹脂により接続して構成されたもの
が報告されている(特開平2-226127)。図4はこの従来
の光ニューロチップの構造概念図を示す。図4におい
て、発光部41は細線状の発光ダイオードアレイ41a
を有する。そして、空間光変調部42は発光部41から
の2次元並列光を変調する。受光部43は空間光変調部
42で変調された光を受光する細線状のフォトダイオー
ドアレイ43aを有する。電気絶縁層44は発光部41
と空間光変調部42との間及び空間光変調部42と受光
部43との間を絶縁する絶縁層であり、光学的には透明
な電気絶縁層である。
【0003】上述の如く、従来の半導体発光装置には、
図4の発光素子アレイ41aに示すように、2次元方
向、即ち発光素子アレイ41aの素子配列方向及びこの
方向に直交する方向に広がりを持つ光を発光する発光部
41として、細線状の発光ダイオードを2次元配列した
発光素子アレイが使用されている。この発光素子アレイ
41aにおいては、図3の構造断面図に示すように、例
えば、p型半導体層のオーミック電極31として金属薄
膜AuZnと、例えば、n型半導体層のオーミック電極
35として金属薄膜AuGe/Ni/Auとが素子の上
部と下部に分かれて設けられている。
【0004】この図3に示す従来技術に係る発光ダイオ
ードは、構成材料としてAlGaAsを使用した場合の
ものである。即ち、n型AlGaAs層34の表面に、
絶縁層32を設け、その所定の領域を開口した後、この
絶縁層32をマスクとしてp型不純物を注入することに
より、p型AlGaAs領域33がn型AlGaAs層
34の表面に形成されている。また、このn型AlGa
As層34の表面上には、AuZnからなるオーミック
電極31がパターン形成されており、n型AlGaAs
層34の下面にはAuGe/Ni/Auからなるオーミ
ック電極35が形成されている。
【0005】このように構成された発光素子において
は、電流はAuZnからなるオーミック電極31からp
型AlGaAs領域33及びn型AlGaAs層34内
に注入され、オーミック電極35から引き出される。
【0006】このような断面構造の発光素子でp型Al
GaAs領域33の部分を紙面に垂直の方向に延びる細
線状に形成したものが細線状発光ダイオードであり、こ
の細線状発光ダイオード素子を2次元配列したものが発
光素子アレイである。従来の光ニューロチップでは、こ
のような構造の発光素子アレイ1層が半導体発光装置と
して利用されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
半導体発光装置では、発光素子として第1半導体層のオ
ーミック電極31と第2半導体層のオーミック電極35
とが、素子の上部と下部に分れた構造の発光ダイオード
を使用しているため、電極の形成に金属薄膜(AuZn
層)と絶縁層32とを使用する必要があった。このた
め、絶縁膜及び金属薄膜の上に半導体薄膜をモノリシッ
クに集積することができず、半導体薄膜製の空間光変調
素子をモノリシックに集積化することが困難であるとい
う問題点がある。
【0008】また、光学的に透明な電気絶縁層32が介
在しているため、1要素の発光素子と空間光変調素子の
距離を短くすることができず、発光素子からの光を信号
処理に利用するには強い発光強度が必要になるため、発
光素子が大きくなって、発光装置全体の集積度が上がら
ないという問題点がある。
【0009】一方、空間光変調素子については、高集積
化が可能な半導体薄膜製の空間光変調素子が提案されて
いる。このため、空間光変調素子とモノリシックに集積
可能で2次元方向の高集積化が可能な発光装置が要望さ
れている。
【0010】また、従来の発光装置は素子下面(裏面)
に全面に亘って金属のオーミック電極35が形成されて
いるため、この金属電極35が反射膜として作用する。
このため、発光素子アレイを3次元方向に集積化するこ
とが困難であるという問題点もある。
【0011】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
のであって、発光素子アレイ上に空間光変調素子又は他
層に設けた発光素子アレイをモノリシック集積化するこ
とを可能にし、空間光変調素子との間で2次元方向の集
積度の向上を可能にすることができる半導体発光装置を
提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体発光
装置は、低濃度(例えば、1016cm-3〜5×1017
-3)にドーピングされた第1半導体層の表面に選択的
に高濃度(例えば、1018cm-3以上)にドーピングさ
れて形成された第1及び第2の半導体領域と、これらの
第1及び第2の半導体領域を挟む2位置に選択的に不純
物を注入して形成された高抵抗領域とから構成された半
導体発光素子を有することを特徴とする。
【0013】そして、前記半導体発光素子は隣接するも
の同士が前記高抵抗領域を共通にして1の方向に複数個
並列されて発光素子アレイが構成されていることが好ま
しい。また、前記発光素子アレイは、バッファ層を介し
て複数層積層されていることが好ましい。
【0014】
【作用】本発明に係る半導体発光装置においては、高濃
度にドーピングされた第1及び第2の半導体領域を電極
として利用し、この高濃度にドーピングされた第1及び
第2の半導体領域間の領域を発光素子とする。そして、
この発光素子を2次元方向に集積化して発光素子アレイ
を構成している。また、本発明の半導体発光装置におい
ては、隣接する発光素子間の領域に選択的に不純物を注
入することにより形成した高抵抗領域により前記発光素
子間を電気的に分離している。更に、前記発光素子アレ
イが形成されている複数の層をバッファ層を介して積層
することもできる。この場合に、各層の発光素子アレイ
の発光波長を、同一にしても良いし、相互に異ならせて
も良い。
【0015】本発明に係る半導体発光装置においては、
例えば高濃度にドーピングされた細線状の第1半導体領
域をn型電極、このn型電極に向かい合わせに配置され
高濃度にドーピングされた細線状の第2半導体領域をp
型電極として、両電極間にp型電極が正となる順バイア
ス電圧を印加する。このp型電極から注入された電流は
pn接合部を通り、n型電極部に引き出され、両電極間
に所定のしきい値電圧以上の電圧を印加すると、前記n
型電極と向かい合う前記p型電極の周辺の細線状のpn
接合部で発光し、1対のp型及びn型電極間で発光素子
を形成することができる。
【0016】選択的に不純物を注入することにより形成
された高抵抗領域は、1対の細線状p型電極及び細線状
n型電極を挟む位置に形成されており、この1対の電極
が形成された領域を他の電極対が形成された領域から電
気的に分離することにより、発光素子アレイを構成して
いる。このように構成される半導体発光装置は同一の半
導体層で形成されているため、この半導体層の上に半導
体層をエピタキシャル成長によって形成することが可能
である。従って、半導体層で構成された空間光変調素子
とモノリシックに形成することが可能になる。また、各
層の発光素子アレイを同様の構造ではあるが、その構成
元素を別のものにすることにより、異なった発光波長の
発光装置をモノリシックに集積形成することもできる。
【0017】
【実施例】以下、本発明の実施例について添付の図面を
参照して具体的に説明する。
【0018】図1(a),(b)は本発明の第1の実施
例に係る半導体発光装置を示し、(a)はその模式的平
面図、(b)は同じくその破断斜視図である。
【0019】図1において、GaAs基板10上に、バ
ッファ層11を構成するノンドープGaAsバッファ層
11aと、その上にノンドープGa0.65Al0.35Asバ
ッファ層11bとが積層形成されている。そして、この
バッファ層11bの上に、2×1016〜5×1017cm
-3のキャリア密度を有するn型Ga0.65Al0.35As半
導体層12が、MBE(分子線エピタキシ成長法)又は
MOCVD(有機金属化学的気相成長法)によりエピタ
キシャル成長している。この半導体層12の表面には、
選択拡散法又はイオン注入法によって、Znを最大10
19cm-3のドーズ量で選択的にドーピングすることによ
り、高濃度にドーピングされた複数個の細線状の半導体
領域13が形成されている。
【0020】また、これらの半導体領域13が形成され
た半導体層12の表面には、選択拡散法又はイオン注入
法によって、くし形状をなす高濃度半導体領域14が形
成されている。この半導体領域14は、半導体層12の
表面に、Si又はSを最大1018cm-3のドーズ量で選
択的にドーピングすることによりパターン形成されてい
る。これらの高濃度半導体領域13,14は、ドーピン
グ後、熱処理によってドーパントの活性化を行ってい
る。
【0021】これらの各対の半導体領域13,14が向
かい合う領域により、半導体発光素子の発光領域が形成
される。そして、この各発光素子における発光領域を除
く部分の半導体領域13と半導体領域14との間の領域
に、くし形状をなす高抵抗領域15が形成されている。
この高抵抗領域15は、半導体層12の表面にH+イオ
ン又はO+イオンを注入することにより形成することが
できる。このようにして、この高抵抗領域15により電
気的に絶縁分離された発光素子が構成される。
【0022】これらの発光素子を1の方向に多数配列し
て細線状LEDアレイが形成され、更にこの発光素子ア
レイをその配列方向に直交する方向に複数個配置するこ
とにより、2次元的に広がる領域に発光素子が配置され
た発光装置が構成される。この発光装置の上方に空間光
変調装置を設け、更にこの空間光変調装置の上方に受光
装置を設けることにより光ニューロチップが完成する。
【0023】このように構成された発光装置において
は、高濃度にドーピングされた半導体領域13をp+
電極とし、高濃度にドーピングされた半導体領域14を
+型電極として両電極間に順方向バイアス電圧を印加
する。これにより、半導体領域13と半導体領域14と
が対向する領域から発光波長が660nmの光が出射され、
発光ダイオード(LED)が得られる。n+型電極(半
導体領域14)は各素子共通に同一電位で利用し、p+
型電極(半導体領域13)に個別的に印加する電圧V+
の大きさに応じて各発光素子の発光強度を独立して変え
ることが可能である。
【0024】また、この発光装置の上方に設けられる空
間光変調装置の集積度が高いために、発光素子の各要素
の大きさを小さくする必要がある場合には、本実施例の
発光装置の製造工程において、p+型電極用半導体領域
13、n+型電極用半導体領域14及び高抵抗領域15
の形成時に、各工程に必要な不純物を集束するイオンビ
ーム描画装置を利用すればよい。
【0025】次に、図2を参照して本発明の第2の実施
例について説明する。この実施例は、2層以上の半導体
発光装置を、同じく半導体で作成した空間光変調装置に
モノリシックに集積したものである。但し、図2は半導
体発光装置を2層に積層した実施例である。
【0026】このように、半導体発光装置を2層に積層
した場合は2系統の入力光を独立に利用することが可能
になり、光情報処理装置を高機能化することができる。
この場合に、2層の半導体発光装置の発光波長は同一で
もよい。
【0027】その場合は、図2に示すように、GaAs
基板10の上に、図1に示すものと同様の半導体発光装
置16aを形成し、この半導体発光装置16aの上にノ
ンドープのGa0.65Al0.35As層をバッファ層21と
してエピタキシャル成長させる。その後、このバッファ
層21の上に半導体発光装置16aと同一構造の半導体
発光装置16bを作製する。
【0028】一方、2層の半導体発光装置16a,16
bの発光波長が異なる場合には、例えば、第1層目の半
導体発光装置16aを以下のようにして形成する。以
下、この第1層目の半導体発光装置16aの製造工程に
ついて、図1(b)を参照して説明する。先ず、GaA
s基板10上にバッファ層11として単層のノンドープ
GaAs層を形成し、このバッファ層11の上に、2×
1016〜5×1017cm-3のキャリア密度を有するn型
GaAsからなる半導体層12をMBE又はMOCVD
によりエピタキシャル成長する。
【0029】このエピタキシャル半導体層12に選択拡
散又はイオン注入によって細線状の領域にZnを最大1
19cm-3のドーズ量でドーピングし、高濃度にドーピ
ングされたp+型電極半導体領域13を形成する。続い
て、選択拡散法又はイオン注入によって、くし形状の領
域にSi又はSを最大1018cm-3のドーズ量でドーピ
ングし、高濃度にドーピングされたn+型電極半導体領
域14を形成する。そして、熱処理によってドーパント
の活性化を行った後、所定の領域にH+イオン又はO+
オンを注入することにより、高抵抗領域15を形成す
る。これにより、発光波長900nmの細線状LEDアレイ
からなる発光装置16aが形成される。
【0030】次いで、図2に示すように、この発光装置
16aの層の上にノンドープのGa0.65Al0.35Asか
らなるバッファ層21を形成する。そして、このバッフ
ァ層21の上に、図1の実施例で説明した種類の層構成
を有する半導体発光装置16bを積層し、2層の半導体
発光装置を得る。
【0031】続いて、半導体発光装置16bの上に、ノ
ンドープのGa0.65Al0.35Asからなるバッファ層2
1aをMBE又はMOCVD法によりエピタキシャル成
長し、このバッファ層21aの上に、半導体で構成した
空間光変調素子22の層をモノリシックに積層する。そ
して、バッファ層21bを空間光変調素子22の上に形
成し、更にバッファ層21bの上に受光装置23を形成
する。これにより、光ニューロチップが完成する。
【0032】
【発明の効果】以上説明したように本願発明に係る半導
体発光装置においては、素子構造を、低濃度にドーピン
グされた第1半導体層の同一面内に選択的に高濃度にド
ーピングすることにより形成された第1及び第2の半導
体領域と、選択的に不純物を注入することにより形成さ
れた高抵抗領域とから構成するので、空間光変調素子と
モノリシックに集積可能であり、2次元方向に高集積化
することができる。このため、本発明は、光を情報とす
る大規模な2次元情報処理に必須の大容量の入力装置を
提供することができる。また、本発明によれば、発光素
子アレイを3次元方向に集積化することができるので、
複数系統の入力光を独立に利用することが可能になり、
光情報処理装置を高機能化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る半導体発光装置を
示す図であり、(a)は平面図、(b)は破断斜視図で
ある。
【図2】本発明の第2の実施例に係る半導体発光装置を
示し、2層以上の半導体発光装置を半導体で形成した空
間光変調装置にモノリシックに集積化する際の概念図で
ある。
【図3】従来の代表的な発光ダイオードを示す断面図で
ある。
【図4】従来の光ニューロチップの構造を示す破断斜視
図である。
【符号の説明】
10;基板 11,11a,11b;バッファ層 12;低能度にドーピングされた第1半導体層 13;高濃度にドーピングされた第2半導体領域 14;高濃度にドーピングされた第1半導体領域 15;不純物を注入された高抵抗領域 16,16a,16b;半導体発光装置 21,21a,21b;バッファ層 22;空間光変調装置 23;受光装置 31;p型層のオーミック電極 32;絶縁層 33;p型AlGsAs 34;n型AlGaAs 35;n型層オーミック電極AuGe/Ni/Au 41;発光部 41a;細線状の発光ダイオードアレイ 42;空間光変調部 43;受光部 43a;細線状フォトダイオードアレイ 44;光学的には透明な電気絶縁層

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 低濃度にドーピングされた第1半導体層
    の表面に選択的に高濃度にドーピングされて形成された
    第1及び第2の半導体領域と、これらの第1及び第2の
    半導体領域を挟む2位置に選択的に不純物を注入して形
    成された高抵抗領域とから構成された半導体発光素子を
    有することを特徴とする半導体発光装置。
  2. 【請求項2】 前記半導体発光素子は隣接するもの同士
    が前記高抵抗領域を共通にして1の方向に複数個並列さ
    れて発光素子アレイが構成されていることを特徴とする
    請求項1に記載の半導体発光装置。
  3. 【請求項3】 前記発光素子アレイは、バッファ層を介
    して複数層積層されていることを特徴とする請求項2に
    記載の半導体発光装置。
JP8865092A 1992-04-09 1992-04-09 半導体発光装置 Pending JPH05291556A (ja)

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