JPH0528518A - 光学式記録再生装置 - Google Patents

光学式記録再生装置

Info

Publication number
JPH0528518A
JPH0528518A JP3180639A JP18063991A JPH0528518A JP H0528518 A JPH0528518 A JP H0528518A JP 3180639 A JP3180639 A JP 3180639A JP 18063991 A JP18063991 A JP 18063991A JP H0528518 A JPH0528518 A JP H0528518A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
photodetector
photodetectors
optical
focus error
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3180639A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2870236B2 (ja
Inventor
Tsuyoshi Nagano
強 長野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP3180639A priority Critical patent/JP2870236B2/ja
Publication of JPH0528518A publication Critical patent/JPH0528518A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2870236B2 publication Critical patent/JP2870236B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】回折素子の光発生手段からの出射光の光軸に関
して対称な2つの領域による回折光から、焦点誤差を検
出する光学式記録再生装置において、構成部品の位置ず
れにより焦点誤差信号に生じるオフセットを除去する。 【構成】半導体レーザ1からの出射光は、レンズ3によ
って、光ディスク4に集光される。光ディスク4からの
反射光は回折素子13で回折され、光検出器14、15
で受光される。光検出器14,15は、半導体レーザ1
からの出射光の光軸を通る直線により分割される2分割
光検出部14a,15aを有し、回折素子13の領域1
3a,13bからの回折光は、それぞれ分割線15b,
14b上に集光スポット23a,23bを形成する。こ
の構成によれば、構成部品の光軸方向の位置ずれにより
焦点誤差信号に生じるオフセットは、回折素子13を光
軸の周りに回転させることにより除去できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンパクトディスク再
生装置等、光ピックアップを有し、この光ピックアップ
に焦点検出機構を備えた光学式記録再生装置に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】回折素子を用いた従来の光学式記録再生
装置は、例えばシャープ技法(1989年9月、第42
号、p45〜p52)に開示されている。その基本構成
を図9(a)に示す。半導体レーザ1から出射された光
は、回折素子31を透過し、レンズ3によって光ディス
ク4上に集光される。光ディスク4からの反射光は、レ
ンズ3によって光学系内に取り込まれ、回折素子31に
よって回折され、光検出器に集光する。
【0003】回折素子31は、同図(b)に示すとお
り、入射光の光量が等分されるように領域31a,31
bの2つの領域に分割されていて、領域31bによる回
折光は、光検出器32の2分割光検出部32aの分割線
32b上に集光され、領域31aによる回折光は、光検
出器32の光検出部32e上に集光されるようになって
いる。
【0004】2分割光検出部32aおよび光検出部32
e、2分割光検出部32a上の集光スポット33aおよ
び光検出部32e上の集光スポット33bを図10に示
す。半導体レーザ1からの出射光が、レンズ3によって
光ディスク上に集光されているとき、すなわち合焦点の
ときには図10(b)に示すように、回折素子31の領
域31bからの回折光は分割線32b上に焦点を結び、
2分割光検出部32aの光検出部32cと光検出部32
dの出力は等しくなる。一方、光ディスク4がレンズ3
に近づくと、回折光は光検出器32の後方に焦点を結ぶ
ために、集光スポットは同図(a)に示すような半円状
のパタンとなる。また逆に、光ディスク4がレンズ3か
ら遠ざかると、回折光は光検出器32の前方に焦点を結
ぶために、同図(c)に示すような集光スポットとな
る。したがって光検出部32c、32d、32eの各出
力をSc、Sd、Seとすると、焦点誤差信号はSc−
Sdを演算することで得られる。また光学式記録再生装
置を作動させるのに必要な焦点誤差信号以外の信号、ト
ラック誤差信号および情報信号は、それぞれ(Sc+S
d)−Se、Sc+Sd+Seを演算することで得られ
る。光学式記録再生装置では、この焦点誤差信号および
トラック誤差信号に基づいて、図示しない駆動手段によ
り、光ピックアップを駆動することで、焦点制御及びト
ラック制御を行う。
【0005】一般に光学式記録再生装置の構成部品を完
全に設計通りの位置に固定することは不可能であり、焦
点誤差信号はオフセットをもつ。しかしこの光学式記録
再生装置においては半導体レーザ1とレンズ3と光検出
器32が固定された段階で、回折素子31を半導体レー
ザ1からの出射光の光軸の周りで回転することで、焦点
誤差信号に生じるオフセットを除去することが可能であ
る。この方法を図11および図12により説明する。図
11(a)は、構成部品が設計位置通りに固定されてい
る光学式記録再生装置において、光ディスク4上に焦点
が結ばれているときの光検出器32上の集光スポット3
3a,33bを示している。そして同図(b)は、光検
出器32が回折光の焦点の位置よりも、回折素子31に
近い方にずれて固定された光学式記録再生装置におい
て、光ディスク4上に焦点が結ばれているときの光検出
器32上の集光スポット33a,33bを示している。
同図(b)の集光スポット33a,33bが、同図
(a)のそれよりも右側にあるのは、光検出器32が回
折光の焦点の位置よりも、回折素子31に近い方に固定
されているからである。この場合、光ディスク4上に焦
点が結ばれているにもかかわらず、レンズ3が光ディス
ク4に近すぎるという焦点誤差信号が出力され、焦点誤
差信号はオフセットをもつ。このような装置において、
回折素子31を前記光軸の周りに、時計周りに回転させ
たときの光検出器32条の集光スポット33a,33b
を同図(c)に示す。このとき光検出部32c、32d
で受光される光量は等しくなり、したがって焦点誤差信
号のオフセットは除去される。
【0006】図12(a)は、構成部品が設計位置通り
に固定されている光学式記録再生装置において、光ディ
スク4上に焦点が結ばれているときの光検出器32上の
集光スポット33a、33bを示している。そして同図
(b)は、光検出器32が回折素子31による回折光の
焦点の位置よりも、回折素子31から遠い方にずれて固
定された光学式記録再生装置において、光ディスク4上
に焦点が結ばれているときの光検出器32上の集光スポ
ット33a,33bを示している。同図(b)の集光ス
ポット33a、33bが、同図(a)のそれよりも左側
にあるのは、光検出器32が回折素子31による回折光
の焦点の位置よりも、回折素子31から遠い方に固定さ
れているからである。この場合、光ディスク4上に焦点
が結ばれているにもかかわらず、レンズ3が光ディスク
4から遠すぎるという焦点誤差信号が出力され、焦点誤
差信号はオフセットをもつ。このような装置において、
回折素子31を前記光軸の周りに、反時計周りに回転さ
せたときの光検出器32上の集光スポット33a、33
bを同図(c)に示す。このとき光検出部32c、32
dで受光される光量は等しくなり、したがって焦点誤差
信号のオフセットは除去される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】従来の光学式記録再生
装置は、焦点誤差検出に利用できる集光スポット33
a、33bの内、集光スポット33aのみを用いて焦点
誤差を検出するが、両方の集光スポットを用いて焦点誤
差を検出する光学式記録再生装置の方が、光検出部の面
内方向の位置ずれによる焦点誤差信号のオフセットが相
殺されるため、光検出部の面内方向の位置ずれの許容量
が大きいという点と、焦点誤差信号の大きさが大きいと
いう利点を有している。
【0008】ところが、従来の光学式記録再生装置にお
いて、構成部品が半導体レーザ1からの出射光の光軸方
向にずれているときに生じる焦点誤差信号のオフセット
を除去する方法は、焦点誤差検出に利用できる集光スポ
ット33a、33bの内、一方の集光スポット33aの
みを利用した光学式記録再生装置にしか利用できない。
なぜならば集光スポット33bを焦点誤差検出に用いる
ために、光検出部32eを2分割光検出部にした場合、
焦点誤差信号のオフセットを除去するために必要とされ
る回折素子の回転の方向は、集光スポット33aと集光
スポット33bで反対方向となるからである。したがっ
て従来の光学式記録再生装置は、焦点誤差信号のオフセ
ットは除去できるが、光検出部の面内方向の位置ずれの
許容量が小さく、かつ焦点誤差信号の大きさが小さいと
いう課題があった。
【0009】本発明の目的は、焦点誤差信号のオフセッ
トが除去可能であり、しかも光検出部の面内方向の位置
ずれの許容量が大きく、かつ焦点誤差信号の大きさが大
きい光学式記録再生装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の光学式記録再生
装置は、前記の課題を解決するために、光発生手段と、
この光発生手段から出射された光を記録媒体上に集光さ
せるレンズと、前記光発生手段と前記レンズの間に設け
られ、前記光発生手段からの出射光の光軸に関して対称
な少なくとも2つの領域を有した回折素子と、前記記録
媒体で反射された後、前記回折素子によって開設された
複数の回折光を受光して、光信号を電気信号に変換する
光検出部を有した複数の光検出器とを備え、前記複数の
光検出器の内、少なくとも前記回折素子の2つの領域か
らの回折光を受光する2つの光検出器が、前記光軸を通
る直線により分割される2分割光検出部を有し、前記回
折素子の2つの領域は、いずれも前記光軸の周りの回転
方向に関して、前記2つの光検出器の分割線の反対側に
位置する構成である。
【0011】
【作用】光学式記録再生装置の構成部品が、光発生手段
からの出射光の光軸方向にずれた場合、2つの2分割検
出部上のそれぞれの集光スポットは、前記光軸の周りの
回転方向に関して同じ側の光検出部にできる。したがっ
て前記記録媒体上に焦点が結ばれているときに、前記2
分割光検出部を構成する2つの光検出部で受光される光
量が等しくなるように、前記回折素子を前記光軸の周り
で回転し固定すれば、焦点誤差信号に生じるオフセット
除去できる。また2つの集光スポットを生て誤差検出に
用いるので、光検出部の面内方向の位置ずれによる焦点
誤差信号のオフセットが相殺され、光検出部の面内方向
の位置ずれの許容量が大きい。
【0012】
【実施例】本発明の第1実施例を図1に基づいて以下に
説明する。
【0013】本実施例に係る光学式記録再生装置は、図
1(a)に示すように、光発生手段である半導体レーザ
1と、回折素子13を透過した光を記録媒体である光デ
ィスク4に集光すると共に、光ディスク4からの反射光
を回折素子13に導くレンズ3と、この反射光をレンズ
の光軸外に回折する回折素子13と、その回折光を受光
して光信号を電気信号に変換する光検出器14,15か
ら構成されている。
【0014】図1(b)に回折素子13と光検出器14
の2分割光検出部14a、光検出器15の2分割光検出
部15aと集光スポット23a、23bを示す。回折素
子13は、入射光の光量が等分されるように領域13
a、13bの2つの領域に分割されていて、領域13a
による回折光は、2分割光検出部14aの分割線14b
上に集光される。
【0015】本実施例に係る光学式光記録再生装置は、
光検出部14c,14d,15c,15dの各出力をT
c,Td,Uc,Udとすると、焦点誤差信号として
(Tc−Td)+(Uc−Ud)を、またトラック誤差
信号および情報信号として、それぞれ(Tc+Td)−
(Uc+Ud)、Tc+Td+Uc+Udを用いる。
【0016】本実施例に係る光学式記録再生装置は、焦
点誤差検出に、回折素子13の領域13aによる回折光
と、領域13bによる回折光の両方を利用する装置であ
るが、この装置を構成する構成部品の位置がずれたこと
により生じた焦点誤差信号のオフセットは、回折素子1
3を半導体レーザ1からの出射光の光軸の周りに回転さ
せることにより除去できることを図2、図3により以下
に示す。
【0017】図2(a)は、構成部品が設計位置通りに
固定されている本実施例の光学式記録再生装置におい
て、光ディスク4上に焦点が結ばれているときの2分割
光検出部14a,15a上の集光スポット23a,23
bと半導体レーザ1の発光点24を示している。そして
同図(b)は、前記構成部品が前記光軸方向にずれてい
るために、光検出器14,15が回折光の焦点の位置よ
りも、回折素子13に近い方に固定された光学式記録再
生装置において、光ディスク4上に焦点が結ばれている
ときの2分割光検出部14a,15a上の集光スポット
23a,23bと半導体レーザ1の発光点24を示して
いる。同図(b)において、集光スポット23a,23
bが、同図(a)よりも発光点24に近い方にあるの
は、光検出器14,15が回折光の焦点の位置よりも、
回折素子13に近い方に固定されているからである。こ
の場合、光ディスク4上に焦点が結ばれているにもかか
わらず、レンズ3が光ディスク4に近すぎるという焦点
誤差信号が出力され、焦点誤差信号にオフセットを生じ
る。このような装置において、回折素子13を前記光軸
の周りに、時計周りに回転させたときの2分割光検出部
14a,15a上の集光スポット23a,23bと半導
体レーザ1の発光点24を同図(c)に示す。このとき
光検出部14c,14dで受光される光量は等しくな
り、また光検出部15c、15dで受光される光量も等
しくなるので、焦点誤差信号のオフセットは除去され
る。
【0018】図3(a)は、構成部品が設計位置通りに
固定されている本実施例の光学式記録再生装置におい
て、光ディスク4上に焦点が結ばれているときの2分割
光検出部14a,15a上の集光スポット23a,23
bと半導体レーザ1の発光点24を示している。そして
同図(b)は、前記構成部品が前記光軸方向にずれてい
るために、光検出器14,15が回折光の焦点の位置よ
りも、回折素子13から遠い方に固定された光学式記録
再生装置において、光ディスク4上に焦点が結ばれてい
るときの2分割光検出部14a,15a上の集光スポッ
ト23a,23bと半導体レーザ1の発光点24を示し
ている。同図(b)において、集光スポット23a,2
3bが、同図(a)よりも発光点24から遠い方にある
のは、光検出器14,15が回折光の焦点の位置より
も、回折素子13から遠い方に固定されているからであ
る。この場合、光ディスク4上に焦点が結ばれているに
もかかわらず、レンズ3が光ディスク4から遠すぎると
いう焦点誤差信号が出力され、焦点誤差信号にオフセッ
トを生じる。このような装置において、回折素子13を
前記光軸の周りに、反時計周りに回転させたときの2分
割光検出部14a,15a上の集光スポット23a,2
3bと半導体レーザ1の発光点24を同図(c)に示
す。このとき光検出部14c,14dで受光される光量
は等しくなり、また光検出部15c,15dで受光され
る光量も等しくなるので、焦点誤差信号のオフセットは
除去される。
【0019】図1には、回折素子13により回折光の
内、光検出器14,15に向かう回折光(+1次回折
光)しか図示していないが、回折素子13は、+1次回
折光の他に、半導体レーザ1からの出射光の光軸に関し
て、光検出器14,15と対称な位置に向かう回折光
(−1次回折光)も発生する。回折素子2にブレーズ加
工等を施すことによって、+1次回折光の光量を多くし
て、−1次回折光の光量を少なくすることができる。
【0020】本発明の第2実施例を図4に基づいて以下
に説明する。
【0021】本実施例に係る光学式記録再生装置は、図
4(a)に示すように、光発生手段である半導体レーザ
1と、回折素子2を透過した光を記録媒体である光ディ
スク4に集光すると共に、光ディスク4からの反射光を
回折素子2に導くレンズ3と、この反射光をレンズの光
軸外に回折する回折素子2と、その回折光を受光して光
信号を電気信号に変換する光検出器5,6,7,8から
構成されている。
【0022】図4(b)に回折素子2と光検出器5の2
分割光検出部5a、光検出器6の2分割光検出部6a、
光検出器7の光検出部7a、光検出器8の光検出部8a
と集光スポット21a,21b,21c,21dを示
す。回折素子2は、入射光の光量が等分されるように領
域2a,2b,2c,2dの4つの領域に分割されてい
て、領域2aによる回折光は、2分割光検出部5aの分
割線5b上に集光され、領域2bによる回折光は、2分
割光検出部6aの分割線6b上に集光される。また領域
2cによる回折光は光検出部7a上に集光され、領域2
dによる回折光は光検出部8a上に集光されるようにな
っている。
【0023】本実施例に係る光学式光記録再生装置は、
光検出部5c,5d,6c,6d,7a,8aの各出力
をTc,Td,Uc,Ud,Va,Waとすると、焦点
誤差信号として(Tc−Td)+(Uc−Ud)を、ま
たトラック誤差信号および情報信号として、それぞれV
a−Wa、Tc+Td+Uc+Ud+Va+Waを用い
る。第1実施例の光学式光記録再生装置に比べ、上記の
演算によりトラック誤差を検出する本実施例の光学式記
録再生装置の方が、焦点誤差信号へのトラック誤差信号
の回り込みを防止できるので優れている。
【0024】本実施例に係る光学式記録再生装置は、焦
点誤差検出に回折素子2の領域2aによる回折光と、領
域2dによる回折光の両方を利用する装置であるが、そ
の装置を組み立てたときに発生した焦点誤差信号のオフ
セットを、回折素子2を半導体レーザ1からの出射光の
光軸の回りに回転させることにより除去できることを図
5、図6により示す。
【0025】図5(a)は、構成部品が設計位置通りに
固定されている本実施例の光学式記録再生装置におい
て、光ディスク4上に焦点が結ばれているときの2分割
光検出部5a,6aおよび光検出部7a,8a上の集光
スポット21a,21b,21c,21dを示してい
る。そして同図(b)は、前記構成部品が前記光軸方向
にずれているために、光検出器5,6,7,8が回折光
の焦点の位置よりも、回折素子2に近い方に固定された
光学式記録再生装置において、光ディスク4上に焦点が
結ばれているときの2分割光検出部5a,6aおよび光
検出器7a,8a上の集光スポット21a,21b,2
1c,21dを示している。同図(b)において、集光
スポット21a,21b,21c,21dが、同図
(a)よりも半導体レーザ1に近い方にあるのは、光検
出器5,6,7,8が回折光の焦点の位置よりも、回折
素子2に近い方に固定されているからである。この場
合、光ディスク4上に焦点が結ばれているにもかかわら
ず、レンズ3が光ディスク4に近すぎるという焦点誤差
信号が出力され、焦点誤差信号にオフセットを生じる。
このような装置において、回折素子2を前記光軸の周り
に、反時計周りに回転させたときの2分割光検出部5
a,6aおよび光検出部7a,8a上の集光スポット2
1a,21b,21c,21dを同図(c)に示す。こ
のとき光検出部5c,5dで受光される光量は等しくな
り、また光検出部6c、6dで受光される光量も等しく
なるので、焦点誤差信号のオフセットは除去される。
【0026】図6(a)は、構成部品が設計位置通りに
固定されている本実施例の光学式記録再生装置におい
て、光ディスク4上に焦点が結ばれているときの2分割
光検出部5a,6aおよび光検出部7a,8a上の集光
スポット21a,21b,21c,21dを示してい
る。そして同図(b)は、前記構成部品が前記光軸方向
にずれているために、光検出器5,6,7,8が回折光
の焦点の位置よりも、回折素子2から遠い方に固定され
た光学式記録再生装置において、光ディスク4上に焦点
が結ばれているときの2分割光検出部5a,6aおよび
光検出部7a,8a上の集光スポット21a,21b,
21c,21dを示している。同図(b)において、集
光スポット21a,21b,21c,21dが、同図
(a)よりも半導体レーザ1から遠い方にあるのは、光
検出器5,6,7,8が回折光の焦点の位置よりも、回
折素子2から遠い方に固定されているからである。この
場合、光ディスク4上に焦点が結ばれているにもかかわ
らず、レンズ3が光ディスク4から遠すぎるという焦点
誤差信号が出力され、焦点誤差信号にオフセットを生じ
る。このような装置において、回折素子2を前記光軸の
回りに、時計回りに回転させたときの2分割光検出部5
a,6aおよび光検出部7a,8a上の集光スポット2
1a,21b,21c,21dを同図(c)に示す。こ
のとき光検出部5c,5dで受光される光量は等しくな
り、また光検出部6c,6dで受光される光量も等しく
なるので、焦点誤差信号のオフセットは除去される。
【0027】図4には、回折素子2による回折光の内、
光検出器5,6,7,8に向かう回折光(+1次回折
光)しか図示していないが、回折素子2は、+1次回折
光の他に、半導体レーザ1からの出射光の光軸に関して
光検出器5,6,7,8と対称な位置に向かう回折光
(−1次回折光)も発生する。回折素子2にブレーズ加
工等を施すことによって、+1次回折光の光量を多くし
て、−1次回折光の光量を少なくすることができる。
【0028】本発明の第3実施例を図7に基づいて以下
に説明する。なお、前記第1実施例と同一の機能を有す
る部材には同一の符号を付記し、その説明を省略してあ
る。
【0029】第3実施例に係る光学式記録再生装置は、
図7(a)に示すように第1実施例に係る光学式記録再
生装置に、光検出器16,17を加えた構成である。た
だし図7(a)には、図1(a)に図示しない+1次回
折光も図示している。
【0030】図7(b)の集光スポットの内、集光スポ
ット23a,23bは、第1実施例に示す+1次回折光
であり、集光スポット25a,25bはそれぞれ対応す
る−1次回折光である。第3実施例に係る光学式記録再
生装置は、2分割光検出部14a,15aの他に、半導
体レーザ1からの出射光の光軸に対して、2分割光検出
部14a,15aと対称な位置に、光検出部16a,1
7aを設けることにより、トラック誤差及び情報の検出
に+1次回折光の他に−1次回折光も利用することがで
きる構成である。
【0031】本発明の第4実施例を図8に基づいて以下
に説明する。なお、前記第2実施例と同一の機能を有す
る部材には同一の符号を付記し、その説明を省略してあ
る。
【0032】第4実施例に係る光学式記録再生装置は、
図8(a)に示すように第2実施例に係る光学式記録再
生装置に、光検出器9,10,11,12を加えた構成
である。ただし図8(a)には、図4(a)に図示しな
い−1次回折光も図示している。
【0033】図8(b)の集光スポットの内、集光スポ
ット21a,21b,21c,21dは、第2実施例に
示す+1次回折光であり、集光スポット22a,22
b,22c,22dはそれぞれ対応する−1次回折光で
ある。第4実施例に係る光学式記録再生装置は、2分割
光検出部5a,6aおよび光検出部7a,8aの他に、
半導体レーザ1からの出射光の光軸に対して、2分割光
検出部5a,6aおよび光検出部7a,8aと対称な位
置に、光検出部9a,10a,11a,12aを設ける
ことにより、トラック誤差及び情報の検出に、+1次回
折光の他に−1次回折光も利用することができる構成で
ある。
【0034】
【発明の効果】以上に述べたように、本発明によれば構
成部品が光発生手段からの出射光の項軸方向にずれてい
ても焦点誤差信号に生じるオフセットを除去することが
可能である。しかも回折素子の2つの領域からの回折光
の両方を焦点誤差の検出に用いるため、光検出部の面内
方向の位置ずれの許容量が大きく、かつ焦点誤差信号の
大きさが大きい光学式記録再生装置が提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例の厚生を示す概略図であ
る。
【図2】本発明の第1実施例において、焦点誤差信号の
オフセットを除去する方法を説明する説明図である。
【図3】本発明の第1実施例において、焦点誤差信号の
オフセットを除去する方法を説明する説明図である。
【図4】本発明の第2実施例の構成を示す概略図であ
る。
【図5】本発明の第2実施例において、焦点誤差信号の
オフセットを除去する方法を説明する説明図である。
【図6】本発明の第2実施例において、焦点誤差信号の
オフセットを除去する方法を説明する説明図である。
【図7】本発明の第3実施例の構成を示す概略図であ
る。
【図8】本発明の第4実施例の構成を示す概略図であ
る。
【図9】従来例の構成を示す概略図である。
【図10】従来例において、光ディスクの位置と光検出
器上の集光スポットの関係を説明する説明図である。
【図11】従来例において、焦点誤差信号のオフセット
を除去する方法を説明する説明図である。
【図12】従来例において、焦点誤差信号のオフセット
を除去する方法を説明する説明図である。
【符号の説明】
1 半導体レーザ 2 回折素子 2a 領域 2b 領域 2c 領域 2d 領域 3 レンズ 4 光ディスク 5 光検出器 5a 2分割光検出部 5b 分割線 6 光検出器 6a 2分割光検出部 6b 分割線 6c 光検出部 6d 光検出部 7 光検出器 7a 光検出部 8 光検出器 8a 光検出部 9 光検出器 9a 光検出部 10 光検出器 10a 光検出部 11 光検出器 11a 光検出部 12 光検出器 12a 光検出部 13 回折素子 13a 領域 14 光検出器 14a 2分割光検出部 14b 分割線 14c 光検出部 14d 光検出部 15 光検出器 15a 2分割光検出部 15b 分割線 15c 光検出部 15d 光検出部 16 光検出器 16a 光検出部 17 光検出器 17a 光検出部 21a 集光スポット 21b 集光スポット 21c 集光スポット 21d 集光スポット 22a 集光スポット 22b 集光スポット 22c 集光スポット 22d 集光スポット 23a 集光スポット 23b 集光スポット 24 発光点 25a 集光スポット 25b 集光スポット 31 回折素子 31a 領域 31b 領域 32 光検出器 32a 2分割光検出部 32b 光検出部 32d 光検出部 32e 光検出部 33a 集光スポット 33b 集光スポット

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 光発生手段と、この光発生手段から出射
    された光を記録媒体上に集光させるレンズと、前記光発
    生手段と前記レンズの間に設けられ、前記光発生手段か
    らの出射光の光軸に関して対称な少なくとも2つの領域
    を有した回折素子と、前記記録媒体で反射された後、前
    記回折素子によって回折された複数の回折光を受光し
    て、光信号を電気信号に変換する光検出部を有した複数
    の光検出器とを備え、前記複数の光検出器の内、少なく
    とも前記回折素子の2つの領域からの回折光を受光する
    2つの光検出器が、前記光軸を通る直線により分割され
    る2分割光検出部を有し、前記回折素子の2つの領域
    は、いずれも前記光軸の周りの回転方向に関して、前記
    2つの光検出器の分割線の反対側に位置することを特徴
    とする光学式記録再生装置。
JP3180639A 1991-07-22 1991-07-22 光学式記録再生装置 Expired - Fee Related JP2870236B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3180639A JP2870236B2 (ja) 1991-07-22 1991-07-22 光学式記録再生装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3180639A JP2870236B2 (ja) 1991-07-22 1991-07-22 光学式記録再生装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0528518A true JPH0528518A (ja) 1993-02-05
JP2870236B2 JP2870236B2 (ja) 1999-03-17

Family

ID=16086715

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3180639A Expired - Fee Related JP2870236B2 (ja) 1991-07-22 1991-07-22 光学式記録再生装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2870236B2 (ja)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6297141A (ja) * 1985-10-17 1987-05-06 フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ 光学走査装置
JPS62217425A (ja) * 1986-03-18 1987-09-24 Nec Corp 光ヘツド装置
JPS62217426A (ja) * 1986-03-18 1987-09-24 Nec Corp 光ヘツド装置
JPH02166629A (ja) * 1988-12-20 1990-06-27 Nec Corp 焦点誤差検出装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6297141A (ja) * 1985-10-17 1987-05-06 フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ 光学走査装置
JPS62217425A (ja) * 1986-03-18 1987-09-24 Nec Corp 光ヘツド装置
JPS62217426A (ja) * 1986-03-18 1987-09-24 Nec Corp 光ヘツド装置
JPH02166629A (ja) * 1988-12-20 1990-06-27 Nec Corp 焦点誤差検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2870236B2 (ja) 1999-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3549301B2 (ja) 光ヘッドのトラッキング誤差検出装置
JP3193105B2 (ja) チルトエラー検出装置
US5594714A (en) Focus error detection with two symmetrically splitted reflected beams
JPH05307759A (ja) 光ピックアップ
US5629514A (en) Critical angle focus error detector
US5909423A (en) Photo-detection device used in an optical pickup head for detecting focusing error signal
JP3108552B2 (ja) 光学ヘッド
JPH06274904A (ja) 光ピックアップ装置
JPH05151588A (ja) 光ヘツドの誤差検出装置
JP3044667B2 (ja) 光学式読取り装置
JPH0529969B2 (ja)
JPH0528518A (ja) 光学式記録再生装置
JP2595937B2 (ja) 光ヘツド装置
JP2763174B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP2638778B2 (ja) 光ヘツド装置
JP2616722B2 (ja) 光ヘッド装置
KR20020081437A (ko) 광 픽업 장치 및 광 디스크 장치
KR940012274A (ko) 광픽업 장치
JPS5984352A (ja) 焦点誤差検出装置
JP2715698B2 (ja) 光学式記録再生装置
JPH0863778A (ja) 光学ピックアップ
JP2886230B2 (ja) 光ヘッド及びこれを用いた焦点誤差検出装置
JP2788723B2 (ja) 光スポツト位置エラー検出装置
JPH0519852Y2 (ja)
JP2766348B2 (ja) 光学ヘッド

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080108

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090108

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100108

Year of fee payment: 11

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees