JPH05283840A - Printed board and its inspection - Google Patents

Printed board and its inspection

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JPH05283840A
JPH05283840A JP10534992A JP10534992A JPH05283840A JP H05283840 A JPH05283840 A JP H05283840A JP 10534992 A JP10534992 A JP 10534992A JP 10534992 A JP10534992 A JP 10534992A JP H05283840 A JPH05283840 A JP H05283840A
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
main printed
area
pattern
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Application number
JP10534992A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshio Tamura
俊夫 田村
Masayuki Yasuda
誠之 安田
Takao Ito
隆夫 伊藤
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP10534992A priority Critical patent/JPH05283840A/en
Publication of JPH05283840A publication Critical patent/JPH05283840A/en
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/11Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components

Abstract

PURPOSE:To conduct the test of circuit function simply and surely by separating copper patterns connected to circuit patterns from copper patterns connected to testing lands. CONSTITUTION:The part except the circuit component packaging part of a circuit pattern 4 formed on a main printed board region and joints 9 of copper patterns 6, 7 are coated with solder resist, and cream solder is supplied to the circuit component packaging part of the circuit pattern 4 and the joints 9 so that copper patterns 6 connected to the circuit pattern 4 may make a continuity with copper patterns 7 connected to testing lands 5 by solder 8. After the circuitry is packaged, probing terminals of a prober are brought into contact with testing lands 5 formed on extra-circuit board region 2, thereby testing the state of circuit function to check the state of circuit function. Thereafter, the extra-circuit board region 2 is cut off to constitute the main printed board region 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、各種の電子機器に内蔵
される回路構成用のプリント基板に関するものであり、
いわゆる捨て基板上にテスト用ランドを設けたプリント
基板及びその検査方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board for circuit construction incorporated in various electronic devices.
The present invention relates to a printed circuit board provided with a test land on a so-called discarded board and an inspection method thereof.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、例えばテレビジョン受像機、
ラジオ受信機等の各種電子機器においては、回路構成部
品を実装するのに所定の回路パターンが形成されたプリ
ント基板が多用されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, a television receiver,
In various electronic devices such as radio receivers, printed circuit boards on which a predetermined circuit pattern is formed are often used to mount circuit components.

【0003】近年では、各種電子機器の高性能化、小型
化が進み、電子機器内部に多くの回路をコンパクトに収
容する必要があり、上記のようなプリント基板において
は、基材の両面に回路パターンを形成し、回路の高密度
化、プリント基板の小型化を図っている。
In recent years, the performance and miniaturization of various electronic devices have advanced, and it is necessary to compactly accommodate many circuits inside the electronic devices. In the above-mentioned printed circuit board, circuits are formed on both sides of the base material. By forming a pattern, the density of the circuit is increased and the printed circuit board is downsized.

【0004】一方、一般にプリント基板に回路構成部品
をマウントした場合には、回路の動作状態を確認するた
めに、各種測定器を用いて入出力等をテストする必要が
ある。
On the other hand, in general, when a circuit component is mounted on a printed circuit board, it is necessary to test the input / output and the like using various measuring instruments in order to confirm the operating state of the circuit.

【0005】そこで、従来より、プリント基板に配設さ
れる回路構成部品を接続する回路パターン内にテスト用
ランドを設けたプリント基板を用い、上記測定器の測定
端子をテスト用ランドに当接させ、テストを行ってい
た。しかし、上記テスト用ランドはプリント基板の完成
時には不要な部材であり、これを回路パターン中に形成
することは、プリント基板の小型化を妨げるものであっ
た。さらに、上述のように小型化を図るために、構成部
品を高密度に配設したプリント基板上に面積の小さいテ
スト用ランドを設けたプリント基板を用いてテストを行
った場合には、測定器の測定端子の当接時の信頼性に欠
け、また上記測定端子の先端でテスト用ランドに隣接す
る構成部品を破損する恐れもあった。
Therefore, conventionally, a printed circuit board provided with a test land in a circuit pattern for connecting circuit components arranged on the printed circuit board is used, and the measuring terminal of the measuring instrument is brought into contact with the test land. I was doing a test. However, the test land is an unnecessary member when the printed circuit board is completed, and forming the test land in the circuit pattern hinders downsizing of the printed circuit board. Furthermore, in order to achieve miniaturization as described above, when a test is performed using a printed circuit board in which a small area of test land is provided on a printed circuit board on which the components are densely arranged, However, the reliability of the measuring terminal when contacting the measuring terminal is not sufficient, and the tip of the measuring terminal may damage the components adjacent to the test land.

【0006】そこで、回路構成部品を接続する回路パタ
ーンの形成される主プリント基板領域の支持部材として
該主プリント基板領域の周部に形成される捨て基板領域
に、上記テスト用ランドを形成したプリント基板を用
い、測定器の測定端子を該テスト用ランドに当接させ、
テストを行う検査方法が提案されている。
Therefore, a print in which the above-described test land is formed in a waste board area formed around the main printed board area as a supporting member of the main printed board area in which a circuit pattern for connecting circuit components is formed. Using the board, contact the measuring terminal of the measuring device with the test land,
Inspection methods for testing are proposed.

【0007】上記捨て基板領域は、回路パターンの形成
される主プリント基板領域にはんだディップを行う工程
の都合上、該主プリント基板領域の周部に支持部材とし
て形成されるものであり、機械等に捨て基板領域を保持
させることによって主プリント基板領域を効率よく加工
することを可能とし、主プリント基板の完成時には切断
され廃棄されるものである。
The above-mentioned discarded board region is formed as a supporting member in the peripheral portion of the main printed circuit board region for the convenience of the process of solder dipping in the main printed circuit board region where the circuit pattern is formed. The main printed circuit board region can be efficiently processed by holding the discarded printed circuit board region, and is cut and discarded when the main printed circuit board is completed.

【0008】すなわち、上記検査方法は、上記主プリン
ト基板領域に形成される回路の動作状態をテストするテ
スト用ランドを上記捨て基板領域に導電金属によって形
成し、該テスト用ランドと主プリント基板領域に形成さ
れる回路パターンを接続パターンにより導通させたプリ
ント基板を用い、回路の動作状態をテストを行うもので
ある。なお、回路の動作状態をテストした後、捨て基板
領域を切断し、プリント基板を得る。このプリント基板
においては、テスト用ランドを主プリント基板領域に形
成される回路パターン中に形成する必要がないため、プ
リント基板の小型化が可能であり、またテスト用ランド
の面積も充分に確保できるため、測定器の測定端子の当
接が容易となり、テストを確実に行うことができる。
That is, in the above inspection method, a test land for testing the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area is formed in the waste board area by a conductive metal, and the test land and the main printed circuit board area. The operating state of the circuit is tested by using a printed circuit board in which the circuit pattern formed in 1) is made conductive by a connection pattern. After testing the operating state of the circuit, the discarded substrate area is cut to obtain a printed circuit board. In this printed circuit board, it is not necessary to form the test lands in the circuit pattern formed in the main printed circuit board area, so that the printed circuit board can be downsized and the area of the test lands can be sufficiently secured. Therefore, the measurement terminals of the measuring device can easily come into contact with each other, and the test can be reliably performed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上述のよう
に、主プリント基板領域に形成される回路の動作状態を
テストするテスト用ランドを捨て基板領域に導電金属に
よって形成し、該テスト用ランドと主プリント基板領域
に形成される回路パターンを接続パターンにより導通さ
せ、回路の動作状態をテストした後、捨て基板領域を切
断して得たプリント基板においては、次のような不都合
が生じる。
However, as described above, the test lands for testing the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area are formed of conductive metal in the discarded board area, and the test lands are The following inconvenience occurs in the printed circuit board obtained by conducting the circuit pattern formed in the main printed circuit board area by the connection pattern, testing the operating state of the circuit, and then cutting the discarded board area.

【0010】上記プリント基板においては、上述のよう
に、主プリント基板領域に形成される回路の動作状態を
テストした後、捨て基板領域を主プリント基板領域と捨
て基板領域の切断部において切断する。この時の切断の
手法としては、ルータービットによる切断とせん断によ
る切断が挙げられる。前者は、切断面の状態が比較的良
好ではあるが、量産性に乏しく、生産コストが高くなっ
てしまう。また、後者においては、切断面の状態が悪
く、切断された接続パターンが、銅の延性によって延
び、めくれ上がったり、逆に垂れ下がってしまい、他面
に形成された接続パターンに接し、各種電子機器に実装
する際に、両面の回路間で短絡してしまう。
In the printed circuit board, as described above, after the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area is tested, the discarded board area is cut at the cut portion between the main printed circuit board area and the discarded board area. Cutting methods at this time include cutting with a router bit and cutting with shear. In the former, the state of the cut surface is relatively good, but the mass productivity is poor and the production cost is high. In the latter case, the cut surface is in a bad condition, and the cut connection pattern extends due to the ductility of copper and turns up or hangs down, making contact with the connection pattern formed on the other surface, and When mounting, short circuit will occur between circuits on both sides.

【0011】このような短絡を防止するために、基材の
表面と裏面に形成される回路パターンの形成位置をずら
すことも考えられるが、両面に回路パターンが形成され
ている限り、短絡を完全に防止することは不可能であ
り、また回路パターン形成に要する面積が大きくなり、
プリント基板の小型化を妨げることになる。
In order to prevent such a short circuit, it is conceivable to shift the formation positions of the circuit patterns formed on the front surface and the back surface of the base material. However, as long as the circuit patterns are formed on both surfaces, the short circuit is completely eliminated. It is impossible to prevent, and the area required for circuit pattern formation becomes large,
This hinders the miniaturization of the printed circuit board.

【0012】さらには、切断部において銅が露出された
状態となるため、この部分から腐食し易く、プリント基
板の製品寿命を短くする。
Further, since copper is exposed at the cut portion, corrosion is likely to occur from this portion, shortening the product life of the printed circuit board.

【0013】そこで本発明は、かかる実情に鑑みて提案
されたものであって、主プリント基板領域に形成される
回路の動作状態のテストを簡便、確実に行うことが可能
であり、テストの実施後、捨て基板領域の切断を簡便に
行うことができ、切断後、プリント基板の両面に形成さ
れた回路間で短絡が起こることのないプリント基板及び
その検査方法を提供することを目的とする。
Therefore, the present invention has been proposed in view of the above circumstances, and it is possible to easily and surely perform the test of the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area, and to carry out the test. It is an object of the present invention to provide a printed circuit board and a method for inspecting the printed circuit board, which can easily cut the discarded substrate region after that and does not cause a short circuit between the circuits formed on both surfaces of the printed circuit board after cutting.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】本発明のプリント基板
は、上述の目的を達成するために、回路パターンが形成
される主プリント基板領域と上記主プリント基板領域の
支持部として用いられる捨て基板領域を有し、主プリン
ト基板領域に形成される回路の動作状態をテストするテ
スト用ランドを捨て基板領域に有するプリント基板にお
いて、上記主プリント基板領域に形成される回路パター
ンに接続される銅パターンと上記捨て基板領域に形成さ
れるテスト用ランドに接続される銅パターンが、主プリ
ント基板領域と捨て基板領域の切断部において分断され
ていることを特徴とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, a printed circuit board according to the present invention has a main printed circuit board area in which a circuit pattern is formed and a waste board area used as a supporting portion of the main printed circuit board area. And a copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board area, in a printed circuit board having a test land for testing the operating state of a circuit formed in the main printed circuit board area in the discarded board area. It is characterized in that the copper pattern connected to the test land formed in the abandoned substrate region is divided at the cut portion of the main printed circuit board region and the abandoned substrate region.

【0015】また、上記プリント基板において、回路パ
ターンが形成される主プリント基板領域と上記主プリン
ト基板領域の支持部として用いられる捨て基板領域の切
断部が、V字溝によって形成されていることを特徴とす
るものである。
Further, in the above-mentioned printed circuit board, the main printed circuit board area in which the circuit pattern is formed and the cut portion of the discarded board area used as a support portion of the main printed circuit board area are formed by V-shaped grooves. It is a feature.

【0016】さらに、本発明の検査方法においては、上
記プリント基板の主プリント基板領域と捨て基板領域の
切断部において分断される上記主プリント基板領域に形
成される回路パターンに接続される銅パターンと上記捨
て基板領域に形成されるテスト用ランドに接続される銅
パターンをはんだによって接続し、主プリント基板領域
に形成される回路の動作状態をテストすることを特徴と
するものである。
Further, in the inspection method of the present invention, a copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board region of the printed circuit board and the main printed circuit board region which is divided at the cut portion of the waste printed circuit board region. The copper patterns connected to the test lands formed in the abandoned board area are connected by solder to test the operating state of the circuit formed in the main printed board area.

【0017】[0017]

【作用】本発明のプリント基板においては、回路パター
ンが形成される主プリント基板領域と上記主プリント基
板領域の支持部として用いられる捨て基板領域を有し、
主プリント基板領域に形成される回路の動作状態をテス
トするテスト用ランドを捨て基板領域に有するプリント
基板において、上記主プリント基板領域に形成される回
路パターンに接続される銅パターンと上記捨て基板領域
に形成されるテスト用ランドに接続される銅パターン
が、主プリント基板領域と捨て基板領域の切断部におい
て分断されているため、主プリント基板領域に形成され
る回路の動作状態をテストした後、捨て基板領域を切断
する際、回路にストレスを与えることがなく、また、切
断後、各種電子機器に実装する際にプリント基板の両面
に形成された回路間で短絡が起こることもない。
In the printed circuit board of the present invention, the printed circuit board has a main printed circuit board area on which a circuit pattern is formed and a discarded board area used as a supporting portion of the main printed circuit board area.
In a printed circuit board having a test land for testing the operating state of a circuit formed in the main printed circuit board area in the discarded board area, a copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board area and the discarded board area Since the copper pattern connected to the test land formed in is separated at the cutting part of the main printed circuit board area and the discarded board area, after testing the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area, No stress is applied to the circuit when the waste board region is cut, and a short circuit does not occur between the circuits formed on both surfaces of the printed board when the circuit board is mounted on various electronic devices after cutting.

【0018】また、回路パターンが形成される主プリン
ト基板領域と上記主プリント基板領域の支持部として用
いられる捨て基板領域の切断部が、V字溝によって形成
されているため、捨て基板領域の切断が簡便であり、且
つ切断位置の位置精度が高い。
Further, since the main printed circuit board region in which the circuit pattern is formed and the cut portion of the discarded printed circuit board region used as a support portion of the main printed circuit board region are formed by the V-shaped groove, the discarded printed circuit board region is cut. Is simple and the position accuracy of the cutting position is high.

【0019】さらには、本発明の検査方法においては、
主プリント基板領域と捨て基板領域の切断部において分
断される上記主プリント基板領域に形成される回路パタ
ーンに接続される銅パターンと上記捨て基板領域に形成
されるテスト用ランドに接続される銅パターンをはんだ
によって接続し、主プリント基板領域に形成される回路
の動作状態をテストするため、回路パターンへのはんだ
ディップを行う工程と同時に分断される銅パターン間に
はんだを供給して接続を行えるため、簡便にテストを行
うことができ、捨て基板領域に充分な面積を有するテス
ト用ランドを形成することから確実にテストを行うこと
ができる。また、テストの実施後、捨て基板領域を切断
し、主プリント基板領域の切断部のはんだを再度加熱す
ることにより、はんだが銅パターンの分断される位置ま
で後退するため、プリント基板の両面に形成された回路
間で短絡が起こることもない。さらに、銅パターン端部
がはんだによって被覆された状態となるため、腐食も起
こりにくい。
Furthermore, in the inspection method of the present invention,
A copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board area and a copper pattern connected to a test land formed in the waste printed circuit board area, which is divided at a cut portion between the main printed circuit board area and the discarded board area. To test the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area by soldering, so that solder can be supplied between the copper patterns that are divided at the same time as the process of solder dipping into the circuit pattern to make the connection. The test can be easily performed, and the test land having a sufficient area can be formed in the discarded substrate region, so that the test can be surely performed. Also, after the test is performed, the waste board area is cut, and the solder in the cut part of the main printed board area is heated again, so that the solder retreats to the position where the copper pattern is cut off, so it is formed on both sides of the printed board. No short circuit will occur between the connected circuits. Furthermore, since the end of the copper pattern is covered with solder, corrosion is unlikely to occur.

【0020】[0020]

【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、図面を参照しながら説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Specific embodiments to which the present invention is applied will be described below with reference to the drawings.

【0021】実施例 1 本実施例のプリント基板は図1に示されるように、切断
部3によって主プリント基板領域1と捨て基板領域2に
区分されており、切断部3にはミシン目穴3aが形成さ
れ、捨て基板領域2は折り取り自在となっている。
Embodiment 1 As shown in FIG. 1, the printed board of this embodiment is divided into a main printed board area 1 and a waste board area 2 by a cutting portion 3, and the cutting portion 3 has a perforation hole 3a. Is formed, and the discarded substrate area 2 is foldable.

【0022】上記主プリント基板領域1には、回路構成
部品が配設され、各回路構成部品を導通する図示しない
回路パターン4が形成されており、一方、捨て基板領域
2にはテスト用ランド5が形成されている。上記主プリ
ント基板領域1に形成される回路パターン4において回
路の動作状態をテストする必要のある部分には、銅パタ
ーン6が一端部6aにおいて接続されており、他端部6
bは切断部3において断線されている。また、捨て基板
領域2に形成されるテスト用ランド5には、銅パターン
7が一端部7aにおいて接続されており、他端部7bは
切断部3において断線されている。
Circuit components (not shown) are formed in the main printed circuit board area 1 to connect the circuit components to each other. On the other hand, in the discarded board area 2, a test land 5 is formed. Are formed. A copper pattern 6 is connected at one end 6a to a portion of the circuit pattern 4 formed in the main printed circuit board area 1 where the operation state of the circuit needs to be tested, and the other end 6
b is broken at the cutting portion 3. A copper pattern 7 is connected to the test land 5 formed in the discarded substrate area 2 at one end 7a, and the other end 7b is disconnected at the cutting portion 3.

【0023】このように形成されたプリント基板の主プ
リント基板領域に形成される回路の動作状態をテストす
るために、次のような検査方法でテストを行った。先
ず、主プリント基板領域に形成される回路パターンの回
路構成部品実装部と図2に示されるような銅パターン
6,7の接続部9を除いた部分に図示しないソルダーレ
ジストをコートし、クリームはんだを回路パターン4の
回路構成部品実装部と接続部9に供給し、回路パターン
4に接続される銅パターン6とテスト用ランド5に接続
される銅パターン7の導通が、はんだ8によって可能と
なるようにした。そして、回路構成部品を実装した後、
捨て基板領域2に形成されるテスト用ランド5に図示し
ない測定器の測定端子を当接することにより主プリント
基板領域1の回路の動作状態をテストし、回路の動作状
態を確認した。
In order to test the operating state of the circuit formed in the main printed board area of the printed board thus formed, a test was conducted by the following inspection method. First, a portion other than the circuit component mounting portion of the circuit pattern formed in the main printed circuit board area and the connecting portions 9 of the copper patterns 6 and 7 as shown in FIG. Is supplied to the circuit component mounting portion of the circuit pattern 4 and the connecting portion 9, and the copper pattern 6 connected to the circuit pattern 4 and the copper pattern 7 connected to the test land 5 can be electrically conducted by the solder 8. I did it. And after mounting the circuit components,
The operating state of the circuit in the main printed circuit board area 1 was tested by abutting the measuring terminal of a measuring device (not shown) to the test land 5 formed in the discarded substrate area 2, and the operating state of the circuit was confirmed.

【0024】上述のように主プリント基板領域に形成さ
れる回路の動作状態を確認した後、図3に示すように捨
て基板領域2を折り取り、主プリント基板領域1によっ
て構成されるプリント基板を得た。捨て基板領域2の折
り取り後の主プリント基板領域1の切断部3付近のはん
だ8aの状態を図4に示す。主プリント基板領域1の一
方の面に形成されたはんだ8aはその延性によって下方
に垂れ、他方の面に形成されるはんだ10に接した状態
となっていた。
After confirming the operating state of the circuit formed in the main printed board area as described above, the discarded board area 2 is broken off as shown in FIG. Obtained. FIG. 4 shows a state of the solder 8a in the vicinity of the cut portion 3 of the main printed circuit board area 1 after the discarded board area 2 is broken. The solder 8a formed on one surface of the main printed circuit board area 1 drooped downward due to its ductility and was in contact with the solder 10 formed on the other surface.

【0025】そこで、このようなはんだ8a,10に再
度加熱を施したところ、はんだ8aは、その表面張力に
よって銅パターン6の周辺部に集まり、はんだ10にお
いても図示しない該面に形成される銅パターン周辺部に
集まった。すなわち、図5に示すように、はんだ8aは
加熱前には銅パターン6の端部6bから切断部3に渡っ
て形成されていたが、加熱後、図6に示されるように、
はんだ8aは表面張力により銅パターン6の端部6b周
辺に集積された。
Then, when the solder 8a, 10 is heated again, the solder 8a gathers in the peripheral portion of the copper pattern 6 due to the surface tension of the solder 8a, and the copper formed on the surface (not shown) of the solder 10 also. Gathered around the pattern. That is, as shown in FIG. 5, the solder 8a was formed from the end portion 6b of the copper pattern 6 to the cut portion 3 before heating, but after heating, as shown in FIG.
The solder 8a was accumulated around the end 6b of the copper pattern 6 due to surface tension.

【0026】よって、本実施例のプリント基板の検査方
法においては、回路パターンへのクリームはんだの供給
と同時に銅パターン間にはんだを供給して銅パターンの
接続を行うため、簡便にテストを行うことができ、ま
た、捨て基板領域に充分な面積を有するテスト用ランド
を形成することから確実にテストを行うことができるこ
とが確認された。また、本実施例のプリント基板におい
ては、主プリント基板領域に形成される回路の動作状態
をテストした後、捨て基板領域を切断する際、銅パター
ンが分断されているため、回路にストレスを与えること
がなく、また、切断後、はんだを再度加熱することによ
り、はんだが銅パターンの分断される位置まで後退する
ため、切断後にプリント基板の両面に形成された回路間
で短絡が起こることがないことが確認された。
Therefore, in the method for inspecting a printed circuit board according to the present embodiment, since the solder is supplied between the copper patterns and the copper patterns are connected at the same time as the cream solder is supplied to the circuit pattern, the test can be performed easily. It has been confirmed that the test can be performed reliably because the test lands having a sufficient area are formed in the discarded substrate region. Further, in the printed circuit board of this embodiment, when the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area is tested and then the discarded board area is cut, the copper pattern is divided, so that stress is applied to the circuit. In addition, by reheating the solder after cutting, the solder retreats to the position where the copper pattern is divided, so there is no short circuit between the circuits formed on both sides of the printed circuit board after cutting. It was confirmed.

【0027】次に比較例として、図12に示されるよう
な、切断部3によって主プリント基板領域1と捨て基板
領域2に区分され、切断部3にはミシン目穴3aが形成
され、捨て基板領域2は折り取り自在となっており、上
記主プリント基板領域1には、回路構成部品が配設さ
れ、各回路構成部品を導通する図示しない回路パターン
4が形成されており、捨て基板領域2にはテスト用ラン
ド5が形成され、回路パターン4において回路の動作状
態をテストする必要のある部分に接続パターン11が一
端部11aにおいて接続されており、接続パターン11
の他端11bがテスト用ランド5に接続され回路パター
ン4とテスト用ランド5が導通するようになされている
プリント基板を作成した。
Next, as a comparative example, as shown in FIG. 12, a main printed circuit board area 1 and a waste board area 2 are divided by a cutting section 3, and a perforation hole 3a is formed in the cutting section 3 to form a waste board. The area 2 is foldable, and circuit components are arranged in the main printed circuit board area 1 and a circuit pattern 4 (not shown) for conducting each circuit component is formed. A test land 5 is formed in the connection pattern 11, and a connection pattern 11 is connected at one end 11a to a portion of the circuit pattern 4 that needs to be tested for the operating state of the circuit.
The other end 11b was connected to the test land 5 so that the circuit pattern 4 and the test land 5 were electrically connected to each other.

【0028】このようなプリント基板についても、回路
構成部品の実装後、回路の動作状態をテストし、回路の
動作状態の確認を行った後、図13に示すように捨て基
板領域2を折り取り、主プリント基板領域1によって構
成されるプリント基板を得た。捨て基板領域2の折り取
り後の主プリント基板領域1の切断部3付近の接続パタ
ーン11の様子を図14に示す。主プリント基板領域1
に一方の面に形成された接続パターン11はその延性に
よって下方に垂れ、他方の面に形成される銅パターン1
2に接した状態となっていた。上記のような接続パター
ン11を除去する方法はなく、この状態のまま各種電子
機器に実装した場合には、プリント基板の両面に形成さ
れる回路間で短絡が起こってしまう。
Also for such a printed circuit board, after the circuit components are mounted, the operating state of the circuit is tested, the operating state of the circuit is confirmed, and then the discarded substrate area 2 is broken off as shown in FIG. A printed circuit board constituted by the main printed circuit board area 1 was obtained. FIG. 14 shows a state of the connection pattern 11 near the cut portion 3 of the main printed circuit board area 1 after the discarded board area 2 is broken. Main printed circuit board area 1
The connection pattern 11 formed on one surface of the copper pattern hangs downward due to its ductility, and the copper pattern 1 formed on the other surface
It was in contact with 2. There is no method of removing the connection pattern 11 as described above, and when it is mounted in various electronic devices in this state, a short circuit occurs between the circuits formed on both surfaces of the printed board.

【0029】実施例 2 本実施例においては、主プリント基板領域と捨て基板領
域の切断部をV字溝によって形成した例について述べ
る。
Embodiment 2 In this embodiment, an example will be described in which the cut portions of the main printed board area and the discarded board area are formed by V-shaped grooves.

【0030】本実施例のプリント基板においても実施例
1のプリント基板と同様に、図7に示すように回路パタ
ーン4の形成される主プリント基板領域1とテスト用ラ
ンド5の形成される捨て回路領域2が、切断部13によ
って区分されており、回路パターン4において回路の動
作状態をテストする必要のある部分には、銅パターン6
が一端部6aにおいて接続されており、他端部6bは切
断部3において断線され、また捨て基板領域2に形成さ
れるテスト用ランド5には、銅パターン7が一端部7a
において接続されており、他端部7bは切断部3におい
て断線されている。この時、本実施例のプリント基板に
おいては、図8に示すように、主プリント基板領域1と
捨て基板領域2の切断部13がV字溝13aによって形
成されており、捨て基板領域2の切断が容易にできるよ
うになされている
Also in the printed circuit board of this embodiment, as in the printed circuit board of the first embodiment, as shown in FIG. 7, the main printed circuit board area 1 in which the circuit pattern 4 is formed and the discard circuit in which the test lands 5 are formed are disposed. The area 2 is divided by the cut portion 13, and the portion of the circuit pattern 4 where the operating state of the circuit needs to be tested has the copper pattern 6
Are connected at one end portion 6a, the other end portion 6b is disconnected at the cutting portion 3, and a copper pattern 7 is provided at one end portion 7a on the test land 5 formed in the discarded substrate area 2.
And the other end portion 7b is disconnected at the cutting portion 3. At this time, in the printed circuit board of the present embodiment, as shown in FIG. 8, the cut portion 13 of the main printed circuit board area 1 and the discarded substrate area 2 is formed by the V-shaped groove 13a, and the cut of the discarded substrate area 2 is performed. Is made easy

【0031】本実施例のプリント基板においても、実施
例1のプリント基板と同様に、クリームはんだによって
銅パターン6,7間を接続し、導通させ、回路構成部品
の実装後、回路の動作状態のテストを行い、回路の動作
状態の確認をした後、図9に示すように捨て基板領域2
を折り取り、主プリント基板領域1によって構成される
プリント基板を得た。捨て基板領域2の折り取り後の主
プリント基板領域1の切断部13付近のはんだ8aは、
その延性によって下方に垂れ、V字溝13aによって形
成される切断部13に付着し、他方の面に形成されるは
んだもV字溝13aに付着し、両者が接した状態となっ
ていた。
Also in the printed circuit board of this embodiment, similar to the printed circuit board of the first embodiment, the copper patterns 6 and 7 are connected by cream solder to make them conductive, and after the circuit components are mounted, the operating state of the circuit is checked. After conducting the test and confirming the operation state of the circuit, as shown in FIG.
Then, a printed circuit board constituted by the main printed circuit board area 1 was obtained. The solder 8a in the vicinity of the cut portion 13 of the main printed circuit board area 1 after the discarding of the discarded board area 2 is
Due to its ductility, it drooped downward and adhered to the cut portion 13 formed by the V-shaped groove 13a, and the solder formed on the other surface also adhered to the V-shaped groove 13a, and both were in contact with each other.

【0032】そこで、このような両面のはんだに再度加
熱を施したところ、図10に示すように、はんだ8a、
他方の面に形成されるはんだ10共にその表面張力によ
って後退し、分断された。
Then, when the solder on both sides is heated again, as shown in FIG. 10, the solder 8a,
With the solder 10 formed on the other surface, the solder 10 receded due to its surface tension and was separated.

【0033】よって、本実施例のプリント基板の検査方
法においても、実施例1と同様、簡便、確実にテストを
行えることが確認された。また、捨て基板領域を切断す
る際、回路にストレスを与えることがなく、切断後、は
んだを再度加熱することにより、はんだが分断されるた
め、切断後にプリント基板の両面に形成された回路間で
短絡が起きないことも確認された。
Therefore, it has been confirmed that the printed circuit board inspection method of this embodiment can also perform a simple and reliable test as in the first embodiment. Also, when cutting the discarded substrate area, stress is not applied to the circuit, and the solder is divided by reheating the solder after cutting, so that the circuit is formed between the circuits formed on both sides of the printed circuit board after cutting. It was also confirmed that no short circuit occurred.

【0034】実施例 3 本実施例においては、主プリント基板領域に形成される
回路パターンに接続される銅パターンと捨て基板領域に
形成されるテスト用ランドに接続される銅パターンを接
続するはんだによる接続部の形状の実施例について述べ
る。
Embodiment 3 In this embodiment, solder is used to connect a copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board area and a copper pattern connected to a test land formed in the discarded board area. An example of the shape of the connecting portion will be described.

【0035】実施例1で述べたように、回路パターンに
接続される銅パターンとテスト用ランドに接続される銅
パターンを接続するはんだによる接続部の形状は、回路
パターン等の形成後にコートされるソルダーレジストに
よって決定される。ソルダーレジストは、はんだ付けの
不必要な部分を覆う絶縁膜であり、回路パターン等の形
成後、例えば、インク状の光硬化性ソルダーレジストを
塗布した後、所定のパターンに応じたマスクを介して、
露光し、硬化させ、現像を行い形成するものである。よ
って、はんだによる接続部の形状は、自由に決定するこ
とができる。
As described in the first embodiment, the shape of the connection portion made of solder for connecting the copper pattern connected to the circuit pattern and the copper pattern connected to the test land is coated after the circuit pattern or the like is formed. Determined by solder resist. The solder resist is an insulating film that covers unnecessary portions of soldering, and after forming a circuit pattern or the like, for example, after applying an ink-like photo-curable solder resist, through a mask corresponding to a predetermined pattern. ,
It is formed by exposing, curing, and developing. Therefore, the shape of the connection portion made of solder can be freely determined.

【0036】従って、図11に示されるように、はんだ
による接続部9の形状は、四角形,円形,三角形等の銅
パターン6,7間がはんだにより接続されやすく、且つ
隣接する銅パターン間において導通しにくい形状であれ
ば良い。特に銅パターンが隣接する場合においては、銅
パターン間の間隔を大きくする等して、隣接する銅パタ
ーン間の導通を防ぐようにする必要がある。
Therefore, as shown in FIG. 11, the shape of the connecting portion 9 made of solder is such that the copper patterns 6, 7 having a square shape, a circular shape, a triangular shape or the like are easily connected by soldering, and the adjacent copper patterns are electrically connected. Any shape is acceptable as long as it is difficult to do. In particular, when the copper patterns are adjacent to each other, it is necessary to increase the interval between the copper patterns to prevent conduction between the adjacent copper patterns.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明のプリント基板においては、回路パターンが形成され
る主プリント基板領域と上記主プリント基板領域の支持
部として用いられる捨て基板領域を有し、主プリント基
板領域に形成される回路の動作状態をテストするテスト
用ランドを捨て基板領域に有するプリント基板におい
て、上記主プリント基板領域に形成される回路パターン
に接続される銅パターンと上記捨て基板領域に形成され
るテスト用ランドに接続される銅パターンが、主プリン
ト基板領域と捨て基板領域の切断部において分断されて
いるため、主プリント基板領域に形成される回路の動作
状態をテストした後、捨て基板領域を切断する際、回路
にストレスを与えることがなく、また、切断後に基材の
両面に形成された回路間で短絡が起こることもないた
め、品質の良好なプリント基板を得ることが可能であ
る。
As is apparent from the above description, the printed circuit board of the present invention has the main printed circuit board area in which the circuit pattern is formed and the discarded board area used as a supporting portion of the main printed circuit board area. Then, in a printed circuit board having a test land for testing the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area in the discarded board area, the copper pattern connected to the circuit pattern formed in the main printed circuit board area and the discarded Since the copper pattern connected to the test land formed in the board area is divided at the cut portion between the main printed board area and the discarded board area, the operating state of the circuit formed in the main printed board area was tested. After that, when cutting the discarded substrate area, stress is not applied to the circuit, and the circuit formed on both sides of the substrate after cutting. Since it is no occurring short circuit between, it is possible to obtain a good print board quality.

【0038】また、回路パターンが形成される主プリン
ト基板領域と上記主プリント基板領域の支持部として用
いられる捨て基板領域の切断部が、V字溝によって形成
されているため、捨て基板領域の切断が簡便であり、且
つ切断位置の位置精度が高いため、寸法精度の良好なプ
リント基板を得ることができる。
Further, since the main printed circuit board region where the circuit pattern is formed and the cut portion of the discarded printed circuit board region used as a support portion of the main printed circuit board region are formed by the V-shaped groove, the discarded printed circuit board region is cut. Since it is simple and the positional accuracy of the cutting position is high, it is possible to obtain a printed circuit board with good dimensional accuracy.

【0039】さらには、本発明の検査方法においては、
主プリント基板領域と捨て基板領域の切断部において分
断される上記主プリント基板領域に形成される回路パタ
ーンに接続される銅パターンと上記捨て基板領域に形成
されるテスト用ランドに接続される銅パターンをはんだ
によって接続し、主プリント基板領域に形成される回路
の動作状態をテストするため、回路パターンへのはんだ
ディップを行う工程と同時に分断される銅パターン間に
はんだを供給して接続を行え、簡便にテストを行うこと
ができ、工程も増加しないため、生産性が高い。また、
捨て基板領域に充分な面積を有するテスト用ランドを形
成することから確実にテストを行うことができる。
Furthermore, in the inspection method of the present invention,
A copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board area and a copper pattern connected to a test land formed in the waste printed circuit board area, which is divided at a cut portion between the main printed circuit board area and the discarded board area. Is connected by solder, and in order to test the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area, solder can be supplied between the copper patterns that are divided at the same time as the step of performing a solder dip on the circuit pattern, and connection can be made. The productivity is high because the test can be done easily and the process does not increase. Also,
Since the test lands having a sufficient area are formed in the discarded substrate area, the test can be surely performed.

【0040】さらに、テストの実施後、捨て基板領域を
切断し、再度加熱することにより、はんだが銅パターン
の分断される位置まで後退するため、基材の両面に形成
された回路間で短絡が起こることがなく、その上、銅パ
ターン端部がはんだによって被覆された状態となるた
め、腐食も起こりにくく、プリント基板の製品寿命を延
ばすことが可能であり、品質の良好なプリント基板を得
ることができる。また、捨て基板領域切断後のはんだ
は、加熱によって処理されるため、特別な加工装置は必
要なく、生産性が高い。
Further, after the test is conducted, the waste substrate area is cut and heated again, so that the solder retreats to the position where the copper pattern is divided, so that a short circuit occurs between the circuits formed on both sides of the base material. Since it does not occur and the end of the copper pattern is covered with solder, corrosion does not easily occur, it is possible to extend the product life of the printed circuit board and obtain a good quality printed circuit board. You can Further, since the solder after cutting the discarded substrate region is processed by heating, no special processing device is required and the productivity is high.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を適用したプリント基板の一例を示す平
面図である。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a printed circuit board to which the present invention is applied.

【図2】本発明を適用したプリント基板の回路パターン
に接続される銅パターンとテスト用ランドに接続される
銅パターンをはんだによって接続した状態を示す平面図
である。
FIG. 2 is a plan view showing a state in which a copper pattern connected to a circuit pattern of a printed circuit board to which the present invention is applied and a copper pattern connected to a test land are connected by solder.

【図3】本発明を適用したプリント基板の主プリント基
板領域と捨て基板領域を切断した状態を示す平面図であ
る。
FIG. 3 is a plan view showing a state in which a main printed circuit board region and a discarded substrate region of a printed circuit board to which the present invention is applied are cut.

【図4】本発明を適用したプリント基板の捨て基板領域
切断後の主プリント基板領域の切断面におけるはんだの
状態を示す側面図である。
FIG. 4 is a side view showing a state of solder on a cut surface of a main printed circuit board area after cutting a discarded board area of a printed circuit board to which the present invention is applied.

【図5】本発明を適用したプリント基板の捨て基板領域
切断後の主プリント基板領域の切断面におけるはんだの
状態を示す平面図である。
FIG. 5 is a plan view showing a state of solder on the cut surface of the main printed circuit board area after cutting the waste board area of the printed circuit board to which the invention is applied.

【図6】本発明を適用したプリント基板の捨て基板領域
切断後の主プリント基板領域の切断面におけるはんだの
加熱後の状態を示す平面図である。
FIG. 6 is a plan view showing a state after heating the solder on the cut surface of the main printed circuit board area after cutting the discarded board area of the printed circuit board to which the invention is applied.

【図7】本発明を適用したプリント基板の他の例を示す
平面図である。
FIG. 7 is a plan view showing another example of a printed circuit board to which the present invention is applied.

【図8】本発明を適用したプリント基板の他の例を示す
側面図である。
FIG. 8 is a side view showing another example of the printed circuit board to which the present invention is applied.

【図9】本発明を適用したプリント基板の他の例におけ
る主プリント基板領域と捨て基板領域を切断した状態を
示す平面図である。
FIG. 9 is a plan view showing a state in which a main printed circuit board region and a discarded substrate region are cut in another example of the printed circuit board to which the invention is applied.

【図10】本発明を適用したプリント基板の他の例にお
ける捨て基板領域切断後の主プリント基板領域の切断面
におけるはんだの状態を示す要部拡大斜視図である。
FIG. 10 is an enlarged perspective view of an essential part showing a state of solder on a cut surface of the main printed circuit board area after cutting the waste board area in another example of the printed circuit board to which the invention is applied.

【図11】本発明を適用したプリント基板の回路パター
ンに接続される銅パターンとテスト用ランドに接続され
る銅パターンを接続する接続部の形状を示す平面図であ
る。
FIG. 11 is a plan view showing a shape of a connecting portion that connects a copper pattern connected to a circuit pattern of a printed circuit board to which the present invention is applied and a copper pattern connected to a test land.

【図12】従来の捨て基板領域にテスト用ランドを有す
るプリント基板を示す平面図である。
FIG. 12 is a plan view showing a conventional printed circuit board having test lands in a discarded substrate area.

【図13】従来の捨て基板領域にテスト用ランドを有す
るプリント基板の主プリント基板領域と捨て基板領域を
切断した状態を示す平面図である。
FIG. 13 is a plan view showing a state in which a main printed circuit board region and a discarded circuit board region of a conventional printed circuit board having a test land in the discarded circuit board region are cut.

【図14】従来の捨て基板領域にテスト用ランドを有す
るプリント基板の捨て基板領域切断後の主プリント基板
領域の切断面におけるはんだの状態を示す側面図であ
る。
FIG. 14 is a side view showing a state of solder on the cut surface of the main printed circuit board area after cutting the discarded board area of the printed board having the test lands in the conventional discarded board area.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1・・・・主プリント基板領域 2・・・・捨て基板領域 3・・・・切断部 3a・・・ミシン目穴 4・・・・回路パターン 5・・・・テスト用ランド 6・・・・銅パターン 7・・・・銅パターン 8・・・・はんだ 9・・・・接続部 13・・・切断部 13a・・V字溝 1 ... Main printed circuit board area 2 ... Discarded board area 3 ... Cut section 3a ... Perforation hole 4 ... Circuit pattern 5 ... Test land 6 ...・ Copper pattern 7 ・ ・ ・ ・ Copper pattern 8 ・ ・ ・ ・ ・ ・ Solder 9 ・ ・ ・ ・ Connecting part 13 ・ ・ ・ Cutting part 13a ・ ・ V-shaped groove

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路パターンが形成される主プリント基
板領域と上記主プリント基板領域の支持部として用いら
れる捨て基板領域を有し、該主プリント基板領域に形成
される回路の動作状態をテストするテスト用ランドを該
捨て基板領域に有するプリント基板において、 上記主プリント基板領域に形成される回路パターンに接
続される銅パターンと上記捨て基板領域に形成されるテ
スト用ランドに接続される銅パターンが、主プリント基
板領域と捨て基板領域の切断部において分断されている
ことを特徴とするプリント基板。
1. A main printed circuit board area on which a circuit pattern is formed, and a discarded board area used as a supporting portion of the main printed circuit board area, and the operating state of a circuit formed in the main printed circuit board area is tested. In a printed circuit board having a test land in the waste board area, a copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed board area and a copper pattern connected to the test land formed in the waste board area are provided. A printed circuit board, wherein the printed circuit board is divided at a cutting portion between the main printed circuit board area and the discarded board area.
【請求項2】 回路パターンが形成される主プリント基
板領域と上記主プリント基板領域の支持部として用いら
れる捨て基板領域の切断部が、V字溝によって形成され
ていることを特徴とする請求項1記載のプリント基板。
2. The main printed circuit board region in which a circuit pattern is formed and the cut part of the discarded substrate region used as a support part of the main printed circuit board region are formed by V-shaped grooves. The printed circuit board according to 1.
【請求項3】 主プリント基板領域と捨て基板領域の切
断部において分断される上記主プリント基板領域に形成
される回路パターンに接続される銅パターンと上記捨て
基板領域に形成されるテスト用ランドに接続される銅パ
ターンをはんだによって接続し、主プリント基板領域に
形成される回路の動作状態をテストことを特徴とする請
求項1記載のプリント基板の検査方法。
3. A copper pattern connected to a circuit pattern formed in the main printed circuit board region divided at a cutting portion between the main printed circuit board region and the discarded substrate region, and a test land formed in the waste substrate region. 2. The method for inspecting a printed circuit board according to claim 1, wherein the copper patterns to be connected are connected by solder, and the operating state of the circuit formed in the main printed circuit board area is tested.
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