JP2016053878A - Film-like touch panel sensor and inspection method thereof - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、フィルム状タッチパネルセンサーおよびその検査方法に関し、特にその配線パターンの検査に関する。 The present invention relates to a film-like touch panel sensor and an inspection method thereof, and more particularly to inspection of a wiring pattern thereof.
タッチパネルは、画面に表示された図や文字などのパターンを指やペンでタッチすることによって、装置の操作が出来るもので、近年特にモバイル装置を主とした表示装置に用いられるようになった。 A touch panel can operate a device by touching a pattern such as a figure or a character displayed on a screen with a finger or a pen. In recent years, a touch panel has been used in a display device mainly including a mobile device.
図９は、従来の静電容量式のタッチパネルの一例を示した説明図で、（ａ）は上方から見た説明図、（ｂ）は、図（ａ）のＡＡ’部分を断面で見た説明図である。 FIG. 9 is an explanatory diagram showing an example of a conventional capacitive touch panel, where (a) is an explanatory diagram viewed from above, and (b) is a cross-sectional view of the AA ′ portion of FIG. It is explanatory drawing.
静電容量タッチパネル１００は、横方向に平行に配置された複数の透明導電線（配線パターン）と、縦方向に平行に配置された複数の透明導電線（配線パターン）とを、マトリクス状にガラス基板に設けた構成をしている。それぞれの導電線は、タッチされたときの、透明導電間の静電容量、あるいは電界の変化を受ける電極となっている。図９では、横方向の透明導電線をドライブライン、縦方向の透明導電線をセンシングラインとしている。図１０は、ドライブ基板（Ｄ基板）とセンシング基板(Ｓ基板)とを上面で見た説明図である。ガラス基板にドライブライン電極を設けたドライブ基板に(図１０(ｂ))、ガラス基板にセンシングラインを設けたセンシング基板を(図１０(ａ))、ドライブライン電極とセンシング基板のガラス基板との間で、光学粘着シートＯＣＡ(Optically Clear Adhesive)で積層している。センシング基板の表面は、ＯＣＡを介してフロントガラス（図では表面硝子板と表示）で覆われている。フロントガラスは、静電容量タッチパネル１００の表面を形成し、保護する役目をしている。フロントガラスの裏面は、表示部分を除く周辺に、黒色の枠が設けられている。各電極は、黒枠の部分でセンシング電極部、ドライブ電極部としてまとめられ、表示装置と電気接続される。 The capacitive touch panel 100 is made of a plurality of transparent conductive lines (wiring patterns) arranged in parallel in the horizontal direction and a plurality of transparent conductive lines (wiring patterns) arranged in parallel in the vertical direction in a matrix. The configuration is provided on the substrate. Each conductive line serves as an electrode that receives a change in capacitance between the transparent conductors or an electric field when touched. In FIG. 9, the horizontal transparent conductive lines are drive lines, and the vertical transparent conductive lines are sensing lines. FIG. 10 is an explanatory view of the drive board (D board) and the sensing board (S board) as viewed from above. The drive substrate provided with the drive line electrode on the glass substrate (FIG. 10B), the sensing substrate provided with the sensing line on the glass substrate (FIG. 10A), the drive line electrode and the glass substrate of the sensing substrate. Between them, the optical adhesive sheet OCA (Optically Clear Adhesive) is laminated. The surface of the sensing substrate is covered with a windshield (indicated as a surface glass plate in the figure) via the OCA. The windshield serves to form and protect the surface of the capacitive touch panel 100. The back surface of the windshield is provided with a black frame around the periphery of the display portion. Each electrode is gathered as a sensing electrode part and a drive electrode part in a black frame part, and is electrically connected to the display device.
このような構成で、フロントガラス上で、たとえば指で触れた場合、それにより接触した部位で静電容量の変化、あるいはそれによる電界の変化を、センシング電極と、ドライブ電極とに出力され、その座標値を知ることが出来る。これから、表示装置でその操作内容が特定される。すなわち、タッチパネルからの信号の読み取りは、ドライブラインからパルス波形を与え、センシングラインで感知する。両ラインをそれぞれ、スキャニングして信号を与え、感知して、変化した部位を読み取る。一般には、感知した信号を加工して検知する。 In such a configuration, when touching with a finger on the windshield, for example, a change in capacitance or a change in electric field due to the contact is output to the sensing electrode and the drive electrode. You can know the coordinate value. From this, the operation content is specified by the display device. That is, reading of a signal from the touch panel gives a pulse waveform from the drive line and senses it with the sensing line. Each line is scanned to give a signal, sensed, and read the changed site. In general, the detected signal is processed and detected.
なお近年、実際のタッチパネルの構成としては、このようなドライブ基板やセンシング基板はフィルム状基材にパターンを形成しタッチパネルセンサーとし、ガラス基板に貼り付けた構成としているものが多い。また、フィルム状基材にパターン形成したそのものを基板として利用している場合もある。 In recent years, as a configuration of an actual touch panel, such a drive substrate and a sensing substrate are often configured such that a pattern is formed on a film-like base material to form a touch panel sensor and attached to a glass substrate. In some cases, a pattern formed on a film-like substrate itself is used as a substrate.
このように配線された基板は、その配線パターンの断線や短絡を検査する必要がある。このため、例えば電極部の電極パターンと電極（配線パターン）端部とにプローブを当て、導通検査を行う。しかし、これでは時間がかかるため、たとえば、図１１に示すように隣接する配線パターンの端部を導電線からなる補助パターンで接続したものをタッチパネルセンサーとしておく。そして、隣接する配線パターンに接続された電極部の電極を、プローブを当て、導通検査を行う。この後、良好であれば、補助パターンを除去する。これは、エッチングによる方法や、補助パターンをフィルム状基材と共に切断する方法などに
よる。このように、いろいろな補助パターンを設け検査し、後にそれを除去する方法が採用されている(特許文献１)。
The board thus wired needs to be inspected for disconnection or short circuit of the wiring pattern. For this reason, for example, a probe is applied to the electrode pattern of the electrode portion and the end portion of the electrode (wiring pattern) to conduct a continuity test. However, since this takes time, for example, as shown in FIG. 11, a touch panel sensor is formed by connecting the ends of adjacent wiring patterns with an auxiliary pattern made of conductive lines. Then, a probe is applied to the electrode of the electrode part connected to the adjacent wiring pattern, and a continuity test is performed. Thereafter, if it is satisfactory, the auxiliary pattern is removed. This is due to an etching method, a method of cutting the auxiliary pattern together with the film-like substrate, or the like. In this way, a method is employed in which various auxiliary patterns are provided and inspected, and later removed (Patent Document 1).
本従来例では、静電容量方式のタッチパネルで説明したが、この検査については、抵抗方式の配線パターンでも、同様の方法でタッチパネルセンサーの検査を実施している。 In this conventional example, the capacitive touch panel has been described. However, for this inspection, the touch panel sensor is also inspected by the same method even for the resistance type wiring pattern.
このようにして配線パターンを検査する方法では、検査の後に配線パターンに接続した補助パターンを削除する必要がある。また削除することによって、補助パターンを形成する導体(金属)紛が発生し、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがある。 In the method of inspecting the wiring pattern in this way, it is necessary to delete the auxiliary pattern connected to the wiring pattern after the inspection. Further, by deleting, conductor (metal) powder forming the auxiliary pattern is generated, which may damage the wiring pattern or cause a short circuit.
本発明は、このような問題を解決するもので、検査後、補助パターンを除去せずともよく、また除去しても導体（金属）粉の発生しないフィルム状タッチパネルセンサーおよびその検査方法を提供することを課題とする。 The present invention solves such a problem, and provides a film-like touch panel sensor that does not require removal of an auxiliary pattern after inspection and does not generate conductor (metal) powder even after the removal, and an inspection method thereof. This is the issue.
本発明は係る課題に鑑みなされたものであり、請求項１の発明は、
フィルム状基材の一端部に複数の電極パターンが配置され、複数の電極パターンより他端部に向け、配線パターンが配置され、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間に線状の導体パターンよりなるコモンパターンが配置され、コモンパターンは、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げたときに配線パターン部端部と重なるように配置されたことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサー
としたものである。
The present invention has been made in view of the problems, and the invention of claim 1
A plurality of electrode patterns are arranged at one end of the film-like substrate, a wiring pattern is arranged from the plurality of electrode patterns toward the other end, and the plurality of wiring pattern ends and the other end of the film-like substrate A common pattern consisting of a linear conductor pattern is disposed between the common pattern so that the common pattern overlaps the end of the wiring pattern when folded between the ends of the plurality of wiring patterns and the other end of the film-like substrate It is set as the film-like touch panel sensor characterized by having been arrange | positioned.
本発明の請求項２の発明は、
コモンパターンが、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンであって、線部分の長さが隣接した複数の配線パターン間を接続する長さであることを特徴とする請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
The invention of
The common pattern is a broken-line conductor pattern including a line portion and a separation portion, and the length of the line portion is a length connecting between a plurality of adjacent wiring patterns. This is a film-like touch panel sensor.
本発明の請求項３の発明は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことを特徴とする請求項１または２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
The invention of claim 3 of the present invention
The film touch panel sensor according to
本発明の請求項４の発明は、
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
The invention of claim 4 of the present invention
An inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 1,
Bending between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-shaped substrate, and connecting the wiring pattern end portions and the common pattern;
A method for inspecting a film-like touch panel sensor, comprising the step of measuring the presence / absence of conduction between the electrode pattern portion and the common pattern portion.
本発明の請求項５の発明は、
請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
The invention of claim 5 of the present invention
An inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 1,
Bending between the plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate toward the back surface of the film substrate, and overlapping the wiring pattern end portions and the common pattern;
A method for inspecting a film-like touch panel sensor, comprising: obtaining capacitances of an electrode pattern portion and a common pattern portion and measuring the presence or absence of a short circuit between wiring patterns.
本発明の請求項６の発明は、
請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーとしたものである。
The invention of claim 6 of the present invention
An inspection method for a film-like touch panel sensor according to
Bending between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-shaped substrate, and connecting the wiring pattern end portions and the common pattern;
And a step of measuring the presence or absence of conduction between electrode pattern portions of a plurality of adjacent wiring patterns connected by a common pattern.
本発明の請求項７の発明は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられ、測定後に切り離す工程を有することを特徴とする請求項４〜６のいずれかに記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法としたものである。
The invention of claim 7 of the present invention
The inspection method for a film-like touch panel sensor according to any one of claims 4 to 6, further comprising a step of providing a score line between the end portions of the plurality of wiring patterns and the common pattern and separating after the measurement. Is.
本発明の請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは以上のような構成であって、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間に線状の導体パターンよりなるコモンパターン（補助パターン）が配置され、コモンパターンは、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げたときに配線パターン部端部と重なるように配置されている。 The film-like touch panel sensor according to claim 1 of the present invention is configured as described above, and is a common composed of a linear conductor pattern between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate. A pattern (auxiliary pattern) is disposed, and the common pattern is disposed so as to overlap the end portion of the wiring pattern portion when the end portions of the plurality of wiring pattern portions and the other end portion of the film-like base material are folded.
これから、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン部端部と重ねることによって、コモンパターンで複数の配線パターン端部を接続できる。これにより、各配線パターンに接続された電極パターンとコモンパターンとの間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。この場合、従来より、工程数を減少できる。また、分離しても、コモンパターンと複数の配線パターン端部との間には接続パターンが形成されておらず、フィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーである。 From this, a plurality of wiring pattern end portions can be connected with a common pattern by bending between the plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate and overlapping the wiring pattern portion end portions. Thereby, the electrical connection state between the electrode pattern connected to each wiring pattern and the common pattern can be measured, and the disconnection of the wiring pattern can be inspected. In the state where the common pattern and the wiring pattern are not bent, they are not connected and insulated, so that it is not necessary to separate the common pattern portion after the inspection. In this case, the number of processes can be reduced as compared with the prior art. In addition, even when separated, no connection pattern is formed between the common pattern and the ends of the plurality of wiring patterns, and only the film-like substrate is cut and separated, so that metal powder or the like is not generated. It is a film-like touch panel sensor from which the effect of is obtained.
本発明の請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは以上のような構成であって、コモンパターンが、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンで、線部分の長さが隣接した複数の配線パターン間を接続する長さである請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしている。
The film-like touch panel sensor according to
これから、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン部端部と重ねることによって、コモンパターンで隣接する複数の配線パターン端部を接続できる。これにより、コモンパターンで接続された隣接する複数の配線パターンに接続された電極パターン間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。これにより、検査回数を減少できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。また、分離しても、コモンパターンと複数の配線パターン端部との間には接続パターンが形成されて折らず、フィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーである。 From this, it is possible to connect a plurality of adjacent wiring pattern ends in the common pattern by bending between the plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate and overlapping the wiring pattern portion end portions. Thereby, the electrical connection state between the electrode patterns connected to the plurality of adjacent wiring patterns connected by the common pattern can be measured, and the disconnection of the wiring pattern can be inspected. As a result, the number of inspections can be reduced. In the state where the common pattern and the wiring pattern are not bent, they are not connected and insulated, so that it is not necessary to separate the common pattern portion after the inspection. In addition, even if separated, a connection pattern is not formed between the common pattern and the ends of the plurality of wiring patterns, and only the film-like substrate is cut and separated, so that metal powder or the like is not generated. It is a film-like touch panel sensor from which the effect of is obtained.
本発明の請求項３に記載のフィルム状タッチパネルセンサーは、複数の配線パターン端
部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことを特徴とする請求項１または２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーとしている。
The film-like touch panel sensor according to claim 3 of the present invention is characterized in that a score line is provided between a plurality of wiring pattern end portions and a common pattern. It is a sensor.
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことによって、さらに、分離が容易であるという効果を有する。 Since the cut line is provided between the end portions of the plurality of wiring patterns and the common pattern, there is an effect that the separation is easy.
本発明の請求項４に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有する。 The inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 4 of the present invention is the inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 1, wherein a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate are provided. And a step of connecting the end portion of the wiring pattern and the common pattern, and a step of measuring the presence / absence of conduction between the electrode pattern portion and the common pattern portion.
このような方法により、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。また、分離しても接続パターンが形成されて折らずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生しない、などの効果が得られるフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法である。 By such a method, in a state where the common pattern and the wiring pattern are not bent, they are not connected and are insulated, so that it is not necessary to separate the common pattern portion after the inspection. Moreover, even if it isolate | separates, since a connection pattern is formed and it does not fold and only cuts and isolate | separates only a film-form base material, it is an inspection method of the film-form touch panel sensor with the effect that a metal powder etc. are not generated.
本発明の請求項５に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、請求項１に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程と、を有する。
The inspection method of the film-like touch panel sensor according to claim 5 of the present invention is the inspection method of the film-like touch panel sensor according to claim 1,
Bending between the plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate toward the back surface of the film substrate, and overlapping the wiring pattern end portions and the common pattern;
Determining the capacitance between the electrode pattern portion and the common pattern portion and measuring the presence or absence of a short circuit between the wiring patterns.
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンが変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。 Capacitance can be easily formed by bending the substrate film between the electrode pattern part and the common pattern part in this way, and by measuring this capacitance value, there is no short circuit between the wiring patterns. Can be judged. That is, when the wiring pattern is short-circuited, the electrode pattern forming the capacitance is changed, so that the capacitance value is changed, and it can be determined whether or not there is a short-circuit.
本発明の請求項６のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、
請求項２に記載のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法であって、
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程と、を有する。
The method for inspecting a film-like touch panel sensor according to claim 6 of the present invention includes:
An inspection method for a film-like touch panel sensor according to
Bending between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-shaped substrate, and connecting the wiring pattern end portions and the common pattern;
Measuring the presence or absence of conduction between electrode pattern portions of a plurality of adjacent wiring patterns connected by a common pattern.
このようにして、隣接した複数の配線パターンの電極パターン部間の導通の有無を測定することによって、隣接した複数の配線パターン両方の断線を判断できる。このため、全配線パターンの半分の回数で測定し、段線の判断できる。 Thus, by measuring the presence or absence of conduction between the electrode pattern portions of a plurality of adjacent wiring patterns, it is possible to determine the disconnection of both of the adjacent wiring patterns. For this reason, it is possible to determine the step line by measuring the number of times half of all the wiring patterns.
本発明の請求項７のフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法は、
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられ、測定後に切り離す工程を有する請求項４〜６のいずれかに記載のタッチパネルセンサーの検査方法である。
The inspection method of the film-like touch panel sensor according to claim 7 of the present invention includes:
7. The touch panel sensor inspection method according to claim 4, wherein a cut line is provided between a plurality of wiring pattern end portions and the common pattern, and the method includes a step of separating after measurement.
複数の配線パターン端部とコモンパターンとの間に切り目線が設けられたことによって、さらに、分離が容易であるという効果を有する。 Since the cut line is provided between the end portions of the plurality of wiring patterns and the common pattern, there is an effect that the separation is easy.
以上のように、本発明のフィルム状タッチパネルセンサー及びその検査方法では、フィルム状基材にコモンパターンという補助パターンを設けるが、これは配線パターンをフィルム状基材に形成する工程で同時に設けることができる。例えば、別途、フィルム基材にコモンパターンを設け、検査時にこれを接触して測定することもあるが、フィルム上タッチパネルセンサーとは別途製造するため、工程数が増えてしまう。また接触する手段が本発明に比べて容易でない。さらに、そのようなコモンフィルムを幾度か利用した場合、汚れて使用できなくなるが、本発明ではこのような欠点が生じない。 As described above, in the film-like touch panel sensor and the inspection method thereof according to the present invention, an auxiliary pattern called a common pattern is provided on the film-like substrate, which can be simultaneously provided in the process of forming the wiring pattern on the film-like substrate. it can. For example, a common pattern may be separately provided on the film base material, and this may be measured by touching the film base material. However, since the film is manufactured separately from the on-film touch panel sensor, the number of processes increases. Also, the means for contacting is not easy compared to the present invention. Furthermore, when such a common film is used several times, it becomes dirty and cannot be used, but the present invention does not have such a drawback.
以下本発明を実施するための形態につき説明する。図１は、本発明のフィルム状タッチパネルセンサーの第１の実施形態例を上から見た説明図である。 Hereinafter, modes for carrying out the present invention will be described. FIG. 1 is an explanatory view of a first embodiment of the film-like touch panel sensor of the present invention as viewed from above.
第１の実施他形態のフィルム状タッチパネルセンサー１０では、フィルム状基材２０の一端部に複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２よりなる電極部８０が配置され、複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２より他端部６０に向け、
配線パターン４０が配置されている。また、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間には補助パターンとして、線状の導体パターンよりなるコモンパターン３０が配置されている。コモンパターン３０は、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げたときに配線パターン部端部５０と重なるように配置されている。
In the film-like touch panel sensor 10 according to the first embodiment, the electrode unit 80 including a plurality of electrode patterns P1, P2, P3,... From the patterns P1, P2, P3,..., P12 toward the other end 60,
A wiring pattern 40 is arranged. Further, a common pattern 30 made of a linear conductor pattern is disposed as an auxiliary pattern between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like substrate 20. The common pattern 30 is disposed so as to overlap the wiring pattern portion end 50 when the space between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like substrate 20 is folded.
本実施形態では、このような構成であるので、次のようにして検査を実施できる。 In this embodiment, since it is such a structure, it can test | inspect as follows.
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３０とを接続する。図２は、第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１０の基板のコモンパターン３０を折り畳んだ説明図である。 First, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like substrate 20 is bent to connect the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 30. FIG. 2 is an explanatory diagram in which the common pattern 30 of the substrate of the film-like touch panel sensor 10 according to the first embodiment is folded.
つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する。測定は、電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２とコモンパターン３０との間をそれぞれ実施する。 Next, the presence / absence of conduction between the electrode pattern portion and the common pattern portion is measured. Measurement is performed between the electrode patterns P1, P2, P3,..., P12 and the common pattern 30.
これにより、各配線パターンに接続された電極パターンとコモンパターンとの間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。そして、コモンパターンと配線パターンは折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン部分を分離する必要が無い。この場合、従来と比べ、工程数を減少できる。また、分離しても接続パターンが形成されておらずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生せず、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがない、などの効果が得られる。 Thereby, the electrical connection state between the electrode pattern connected to each wiring pattern and the common pattern can be measured, and the disconnection of the wiring pattern can be inspected. In the state where the common pattern and the wiring pattern are not bent, they are not connected and insulated, so that it is not necessary to separate the common pattern portion after the inspection. In this case, the number of steps can be reduced as compared with the conventional case. In addition, since the connection pattern is not formed even when separated, only the film-like substrate is cut / separated, so that metal powder or the like is not generated, and there is no risk of damage to the wiring pattern or short circuit. Is obtained.
また、本実施形態では、複数の配線パターン端部５０とコモンパターン３０との間に切り目線７０が設けられている。検査後に、不要となったコモンパターン部は切り離して処分することができるが、切り目線７０が設けられたことによって、さらに、分離が容易である。 In the present embodiment, a score line 70 is provided between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the common pattern 30. After the inspection, the common pattern portion that has become unnecessary can be separated and disposed of, but the separation line 70 is further facilitated by the provision of the score line 70.
第１の実施形態で、別の検査方法について説明する。図３は、第１の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１０のフィルム状基材２０のコモンパターン３０を裏面に折り畳んだ説明図である。 In the first embodiment, another inspection method will be described. FIG. 3 is an explanatory view in which the common pattern 30 of the film-like substrate 20 of the film-like touch panel sensor 10 of the first embodiment is folded on the back surface.
本検査方法では、まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間をフィルム基材２０の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３０とを重ねる。配線パターン端部５０とコモンパターン３０との間に、２枚分のフィルム基材が挟まれた、静電容量が形成される。つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する。 In this inspection method, first, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like base material 20 is bent toward the back surface of the film base material 20 so that the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 30 are joined. Overlapping. A capacitance is formed in which two film base materials are sandwiched between the wiring pattern end 50 and the common pattern 30. Next, the capacitance between the electrode pattern portion and the common pattern portion is obtained, and the presence or absence of a short circuit between the wiring patterns is measured.
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンの面積が変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。 Capacitance can be easily formed by bending the substrate film between the electrode pattern part and the common pattern part in this way, and by measuring this capacitance value, there is no short circuit between the wiring patterns. Can be judged. That is, when the wiring pattern is short-circuited, the area of the electrode pattern that forms the capacitance changes, so that the capacitance value changes and it can be determined whether or not there is a short-circuit.
つぎに本発明の第２の実施形態について説明する。図４は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーを、上から見た説明図である。 Next, a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is an explanatory view of the film-like touch panel sensor of the second embodiment as viewed from above.
本実施形態のフィルム状タッチパネルセンサー１１では、実施形態１のコモンパターン
を、線部分と分離部分からなる破線状のコモンパターン３１としている。破線の線部分の長さが隣接配線パターン間を接続する長さで、破線のピッチが配線パターンのピッチと同じである。図では、最近接配線パターン間の長さとそれにマッチしたピッチとしている。
In the film-like touch panel sensor 11 of the present embodiment, the common pattern of the first embodiment is a broken line-shaped common pattern 31 including a line portion and a separation portion. The length of the broken line portion is the length connecting adjacent wiring patterns, and the pitch of the broken lines is the same as the pitch of the wiring patterns. In the figure, the length between the closest wiring patterns and the pitch matched with it are shown.
本実施形態では、このような構成であるので、次のようにして検査を実施できる。
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３１とを接続する。図５は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１１の基板のコモンパターン３１を折り畳んだ説明図である。これにより、近接配線パターン端部がコモンパターンで接続される。つぎに、コモンパターン３１で接続された隣接配線パターンの電極パターン部間の導通の有無を測定する。
In this embodiment, since it is such a structure, it can test | inspect as follows.
First, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like substrate 20 is bent to connect the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 31. FIG. 5 is an explanatory diagram in which the common pattern 31 of the substrate of the film-like touch panel sensor 11 according to the second embodiment is folded. Thereby, the end portions of the adjacent wiring pattern are connected by the common pattern. Next, the presence / absence of conduction between electrode pattern portions of adjacent wiring patterns connected by the common pattern 31 is measured.
このようにして、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間を折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ねることによって、コモンパターン３１で隣接する配線パターン端部５０を接続できる。これにより、コモンパターン３１で接続された隣接する配線パターンに接続された電極パターン間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。図４、５で、たとえば電極パターンＰ１、Ｐ２にそれぞれ接続された配線パターンＭ１、Ｍ２を、電極パターンＰ１、Ｐ２間の導通状態を測定し、配線パターンの断線を検査できる。 In this manner, the wiring pattern end portions adjacent to each other in the common pattern 31 are formed by bending between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like substrate 20 and overlapping the wiring pattern portion end portions 50. 50 can be connected. Thereby, the electrical connection state between the electrode patterns connected to the adjacent wiring patterns connected by the common pattern 31 can be measured, and the disconnection of the wiring pattern can be inspected. 4 and 5, for example, the wiring patterns M1 and M2 connected to the electrode patterns P1 and P2, respectively, can be inspected for disconnection of the wiring patterns by measuring the conduction state between the electrode patterns P1 and P2.
第２の実施形態で、別の検査方法について説明する。図６は、第２の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサー１１のフィルム状基材２０のコモンパターン３１を裏面に折り畳んだ説明図である。 In the second embodiment, another inspection method will be described. FIG. 6 is an explanatory diagram in which the common pattern 31 of the film-like base material 20 of the film-like touch panel sensor 11 of the second embodiment is folded on the back surface.
本検査方法では、まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間をフィルム基材２０の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３１とを重ねる。配線パターン端部５０とコモンパターン３１との間に、２枚分のフィルム基材が挟まれた、静電容量が形成される。つぎに、電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する。 In this inspection method, first, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 60 of the film-like base material 20 is bent toward the back surface of the film base material 20 so that the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 31 are formed. Overlapping. An electrostatic capacity is formed in which two film base materials are sandwiched between the wiring pattern end 50 and the common pattern 31. Next, the capacitance between the electrode pattern portion and the common pattern portion is obtained, and the presence or absence of a short circuit between the wiring patterns is measured.
このように裏面に向け折り曲げ、電極パターン部とコモンパターン部とで基材フィルムを挟む事によって容易に静電容量を形成でき、そしてこの容量値を計測することにより、配線パターン間のショートの有無を判断できる。すなわち、配線パターンがショートした場合、静電容量を形成する電極パターンの面積が変化するので、容量値が変化し、ショートの有無を判断できる。この場合、たとえば、電極パターンＰ２、Ｐ３間をショートし、Ｐ１、Ｐ４間の容量値(配線パターンＭ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４により形成される直列に接続された静電容量４個の値)を測定することにより、Ｐ１からＰ４間でのショートも検出できる。ショートが検出された場合、配線パターンＭ１、Ｍ２の間と、Ｍ３、Ｍ４の間とを測定することにより、ショート部位を絞り込むことができる。 Capacitance can be easily formed by bending the substrate film between the electrode pattern part and the common pattern part in this way, and by measuring this capacitance value, there is no short circuit between the wiring patterns. Can be judged. That is, when the wiring pattern is short-circuited, the area of the electrode pattern that forms the capacitance changes, so that the capacitance value changes and it can be determined whether or not there is a short-circuit. In this case, for example, the electrode patterns P2 and P3 are short-circuited, and the capacitance value between P1 and P4 (the value of four capacitances connected in series formed by the wiring patterns M1, M2, M3, and M4) is set. By measuring, a short circuit between P1 and P4 can also be detected. When a short is detected, the short part can be narrowed down by measuring between the wiring patterns M1 and M2 and between M3 and M4.
第２の実施形態ではこのように、近接した配線パターンの検査が一度の測定でできるので、全配線パターンの多くとも半分の回数で測定し、断線の判断ができる。 In the second embodiment, the wiring patterns close to each other can be inspected by one measurement as described above, and therefore, it is possible to determine the disconnection by measuring at most half of all the wiring patterns.
そして実施形態１と同様に、コモンパターン３１と配線パターン４０は折り曲げない状態では、接続されておらず絶縁されているので、検査後にコモンパターン３１部分を分離する必要が無い。また、分離しても接続パターンが形成されておらずフィルム状基材のみを切断・分離するので、金属粉などが発生せず、配線パターンを毀損したり、ショートする恐れがない、などの効果が得られる。 As in the first embodiment, since the common pattern 31 and the wiring pattern 40 are not connected and insulated when not bent, it is not necessary to separate the common pattern 31 after the inspection. In addition, since the connection pattern is not formed even when separated, only the film-like substrate is cut / separated, so that metal powder or the like is not generated, and there is no risk of damage to the wiring pattern or short circuit. Is obtained.
また、本実施形態でも、複数の配線パターン端部５０とコモンパターン３１との間に切
り目線７０が設けられている。検査後に、不要となったコモンパターン部は切り離して処分することができるが、切り目線７０が設けられたことによって、さらに、分離が容易である。
Also in this embodiment, a score line 70 is provided between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the common pattern 31. After the inspection, the common pattern portion that has become unnecessary can be separated and disposed of, but the separation line 70 is further facilitated by the provision of the score line 70.
第２の実施形態では、コモンパターンの破線を最近接する２本の配線パターンで例示したが、とくにこれにこだわらず、破線の線部分を複数の配線パターン間の長さとし、それに整合したピッチとしてもよい。図８は、第２の実施形態で、隣接した４つの配線パターンを接続した説明図である。４つの電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４に接続された配線パターンＭ１、Ｍ２、Ｍ３、Ｍ４を、コモンパターンの線部分で接続している。この場合の測定方法を例示すれば、最近接間の配線パターンの組み合わせ（Ｍ１、Ｍ２）、（Ｍ３、Ｍ４）を、それぞれ電極パターン（Ｐ１、Ｐ２）、（Ｐ３、Ｐ４）間の導通状態を測定し、配線パターンの不具合を検査する。配線パターン（Ｍ３、Ｍ４）で不具合が見つかった場合、配線パターン（Ｍ２、Ｍ３）間を検査することで、不具合が配線パターンＭ３、Ｍ４のいずれが、不具合があったのか、絞り込むことができる。 In the second embodiment, the common pattern dashed line is exemplified by the two wiring patterns that are closest to each other. However, the broken line portion is the length between the plurality of wiring patterns and the pitch is matched to this. Good. FIG. 8 is an explanatory diagram in which four adjacent wiring patterns are connected in the second embodiment. The wiring patterns M1, M2, M3, and M4 connected to the four electrode patterns P1, P2, P3, and P4 are connected by the line portion of the common pattern. As an example of the measurement method in this case, the combination (M1, M2), (M3, M4) of the wiring patterns between the nearest neighbors, and the conduction state between the electrode patterns (P1, P2), (P3, P4), respectively. Measure and inspect the wiring pattern for defects. When a defect is found in the wiring patterns (M3, M4), it is possible to narrow down which of the wiring patterns M3, M4 has a defect by inspecting between the wiring patterns (M2, M3).
本発明の第３の実施の形態として、第１の実施の形態と第２の実施の形態とを組み合わせたフィルム状タッチパネルセンサー１０を例示できる。図７は、第３の実施形態例のフィルム状タッチパネルセンサーを上から見た説明図である。 As a third embodiment of the present invention, a film-like touch panel sensor 10 that combines the first embodiment and the second embodiment can be exemplified. FIG. 7 is an explanatory view of the film-like touch panel sensor of the third embodiment as viewed from above.
第３の実施他形態のフィルム状タッチパネルセンサー１２では、フィルム状基材２１の一端部に複数の電極パターンＰ１、Ｐ２、Ｐ３・・・Ｐ１２が配置され、複数の電極パターンより他端部６１に向け、配線パターン４０が配置されている。また、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間には直線状の導体パターンよりなるコモンパターン３２と、線部分と分離部分からなる破線状の導体パターンコモンパターン３３とが配置されている。破線の線部分の長さが隣接配線パターン間を接続する長さで、破線のピッチが配線パターンのピッチと同じである。図７では、最近接配線パターン間の長さとそれにマッチしたピッチとしている。コモンパターン３２、３３は、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げたときに配線パターン部端部５０と重なるように配置されている。 In the film-like touch panel sensor 12 according to the third embodiment, a plurality of electrode patterns P1, P2, P3,... P12 are arranged at one end portion of the film-like base material 21, and the other electrode portion 61 is arranged from the plurality of electrode patterns. A wiring pattern 40 is arranged. Further, between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like base material 21, a common pattern 32 made of a linear conductor pattern and a broken line-like conductor pattern common made of a line portion and a separation portion. A pattern 33 is arranged. The length of the broken line portion is the length connecting adjacent wiring patterns, and the pitch of the broken lines is the same as the pitch of the wiring patterns. In FIG. 7, the length between the closest wiring patterns and the pitch matching the length are set. The common patterns 32 and 33 are arranged so as to overlap the wiring pattern portion end portion 50 when folded between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like base material 21.
本実施形態では、このような構成であるので、次のような検査を実施できる。 In this embodiment, since it is such a structure, the following inspections can be implemented.
まず、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３２とを接続する。このようにして、第１の実施の形態例と同様の検査を実施できる。 First, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like substrate 21 is bent, and the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 32 are connected. In this way, the same inspection as that of the first embodiment can be performed.
つぎに、複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン端部５０とコモンパターン３３とを接続する。このようにして、第２の実施の形態例と同様の検査を実施できる。 Next, a portion between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like base material 21 is bent to connect the wiring pattern end portions 50 and the common pattern 33. In this way, the same inspection as in the second embodiment can be performed.
たとえば、第２の実施形態で検査をし、不具合が検出された部位について、第１の実施形態の検査をし、不具合の検出された、複数接続された配線パターンを絞り込むことができる。 For example, it is possible to narrow down the number of connected wiring patterns in which a defect is detected by inspecting in the second embodiment and inspecting the part in which the defect is detected in the first embodiment.
また、破線状のコモンパターン３３を複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間を折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ね、断線の検査を実施し、直線状のコモンパターン３２を複数の配線パターン端部５０とフィルム状基材２１の他端部６１との間をフィルム基材２１の裏面に向け折り曲げ、配線パターン部端部５０と重ね、ショートの検査を実施できる。 Further, the broken line-shaped common pattern 33 is bent between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like base material 21, overlapped with the wiring pattern portion end portions 50, and the disconnection is inspected. The common pattern 32 is bent between the plurality of wiring pattern end portions 50 and the other end portion 61 of the film-like base material 21 toward the back surface of the film base material 21 and overlapped with the wiring pattern portion end portion 50 to check for shorts. Can be implemented.
以上に記載したすべての実施形態で、配線パターン端部５０とフィルム状基材２０の他端部６０との間に、切り目線に替えて、折り目線を設け、折り易くしてもよい。 In all the embodiments described above, a crease line may be provided instead of the cut line between the wiring pattern end 50 and the other end 60 of the film-like substrate 20 to facilitate folding.
また、コモンパターン部と電極パターンには、それぞれに接続された測定用のパッドなどのパターンを設けて、測定を容易にしてよい。 The common pattern portion and the electrode pattern may be provided with a pattern such as a measurement pad connected to each of the common pattern portion and the electrode pattern to facilitate measurement.
１０、１１、１２・・・フィルム状タッチパネルセンサー
２０・・・フィルム状基材
３０、３１、３２、３３・・・コモンパターン
４０・・・配線パターン
５０・・・配線パターン端部
６０、６１・・・フィルム状基材他端
７０・・・切り目線
８０・・・電極部
Ｐ１、Ｐ２、Ｐ３、・・・、Ｐ１２・・・電極パターン
１００・・・静電容量タッチパネル
Ｄ電極Ｌ・・・左側ドライブライン
Ｄ電極Ｒ・・・右側ドライブライン
Ｓ電極Ｌ・・・左側センシングライン
Ｓ電極Ｒ・・・右側センシングライン
Ｄ基板・・・ドライブライン基板
Ｄ基板Ｌ・・・右側ドライブライン基板
Ｄ基板Ｒ・・・左側ドライブライン基板
Ｓ基板・・・センシングライン基板
Ｓ基板Ｌ・・・左側センシングライン基板
Ｓ基板Ｒ・・・右側センシングライン基板
10, 11, 12 ... film-like touch panel sensor 20 ... film-like substrate 30, 31, 32, 33 ... common pattern 40 ... wiring pattern 50 ... wiring pattern edge 60, 61 .... film-like base material other end 70 ... cut line 80 ... electrode portions P1, P2, P3, ..., P12 ... electrode pattern 100 ... capacitance touch panel D electrode L ... Left drive line D electrode R ... right drive line S electrode L ... left sensing line S electrode R ... right sensing line D substrate ... drive line substrate D substrate L ... right drive line substrate D substrate R ... Left side drive line board S board ... Sensing line board S board L ... Left side sensing line board S board R ... Right side sensing line board
Claims (7)
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との導通の有無を測定する工程とを有するBR>ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。 An inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 1,
Bending between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-shaped substrate, and connecting the wiring pattern end portions and the common pattern;
A method for inspecting a film-like touch panel sensor, comprising: a step of measuring the presence or absence of conduction between the electrode pattern portion and the common pattern portion.
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間をフィルム基材の裏面に向け折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを重ねる工程と、
電極パターン部とコモンパターン部との静電容量を求め、配線パターン間のショートの有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。 An inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 1,
Bending between the plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-like substrate toward the back surface of the film substrate, and overlapping the wiring pattern end portions and the common pattern;
A method for inspecting a film-like touch panel sensor, comprising: obtaining capacitances of an electrode pattern portion and a common pattern portion and measuring the presence or absence of a short circuit between wiring patterns.
複数の配線パターン端部とフィルム状基材の他端部との間を折り曲げ、配線パターン端部とコモンパターンとを接続する工程と、
コモンパターンで接続された隣接した複数の配線パターンの、電極パターン部間の導通の有無を測定する工程とを有する
ことを特徴とするフィルム状タッチパネルセンサーの検査方法。 An inspection method for a film-like touch panel sensor according to claim 2,
Bending between a plurality of wiring pattern end portions and the other end portion of the film-shaped substrate, and connecting the wiring pattern end portions and the common pattern;
And a step of measuring presence / absence of conduction between electrode pattern portions of a plurality of adjacent wiring patterns connected by a common pattern.
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