JPH05281484A - 走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方法 - Google Patents
走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方法Info
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- JPH05281484A JPH05281484A JP11217392A JP11217392A JPH05281484A JP H05281484 A JPH05281484 A JP H05281484A JP 11217392 A JP11217392 A JP 11217392A JP 11217392 A JP11217392 A JP 11217392A JP H05281484 A JPH05281484 A JP H05281484A
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- Japan
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- optical system
- laser
- laser beam
- scanning optical
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 Fナンバーを小さくすることなく、スポット
サイズを小さくすることができる走査光学系におけるス
ポットサイズ狭小化方法を提供する。 【構成】 半導体レーザ1とポリゴンミラー8との間
で、半導体レーザ1からのレーザービームLを2本に分
割し、それら分割レーザービームL1 、L2 のうち一方
の分割レーザービームL2 を部分遮光し、光合成器5
(ビーム合成位置)に導くとともに、部分遮光を受けな
い残りの分割レーザービームL1 を光合成器5に導い
て、合成ビームL´を形成した後、その合成ビームL´
をポリゴンミラー8に入射する。
サイズを小さくすることができる走査光学系におけるス
ポットサイズ狭小化方法を提供する。 【構成】 半導体レーザ1とポリゴンミラー8との間
で、半導体レーザ1からのレーザービームLを2本に分
割し、それら分割レーザービームL1 、L2 のうち一方
の分割レーザービームL2 を部分遮光し、光合成器5
(ビーム合成位置)に導くとともに、部分遮光を受けな
い残りの分割レーザービームL1 を光合成器5に導い
て、合成ビームL´を形成した後、その合成ビームL´
をポリゴンミラー8に入射する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、レーザープリンタや
スキャナなどの走査光学系において像面に形成されるビ
ームスポットのサイズを小さくする方法、すなわちスポ
ットサイズ狭小化方法に関する。
スキャナなどの走査光学系において像面に形成されるビ
ームスポットのサイズを小さくする方法、すなわちスポ
ットサイズ狭小化方法に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の走査光学系では、半導体レーザ
等の光源から1本のレーザービームが回転するポリゴン
ミラーのミラー面により偏向され、走査レンズを介して
像面上にビームスポットが形成される。ここで、従来よ
り周知のように、像面上に形成されるビームスポットの
サイズ、つまりスポットサイズω0 は、 ω0 =k・λ・F ただし、k:定数 λ:レーザービームの波長 F:走査光学系のFナンバー で与えられる。この式から、Fナンバーが小さくなるに
つれて、この走査光学系におけるスポットサイズω0 が
小さくなることがわかる。したがって、Fナンバーを小
さくし、スポットサイズω0 を小さくすれば、走査光学
系によって形成される画像の微細化を図ることができる
とともに、画像品質を向上させることができる。
等の光源から1本のレーザービームが回転するポリゴン
ミラーのミラー面により偏向され、走査レンズを介して
像面上にビームスポットが形成される。ここで、従来よ
り周知のように、像面上に形成されるビームスポットの
サイズ、つまりスポットサイズω0 は、 ω0 =k・λ・F ただし、k:定数 λ:レーザービームの波長 F:走査光学系のFナンバー で与えられる。この式から、Fナンバーが小さくなるに
つれて、この走査光学系におけるスポットサイズω0 が
小さくなることがわかる。したがって、Fナンバーを小
さくし、スポットサイズω0 を小さくすれば、走査光学
系によって形成される画像の微細化を図ることができる
とともに、画像品質を向上させることができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Fナン
バーを小さくした場合、次のような問題が生じる。すな
わち、焦点深度はFナンバーの2乗に比例するので、F
ナンバーが小さくなると、急速に焦点深度が浅くなり、
走査光学系がデリケートになるという問題がある。
バーを小さくした場合、次のような問題が生じる。すな
わち、焦点深度はFナンバーの2乗に比例するので、F
ナンバーが小さくなると、急速に焦点深度が浅くなり、
走査光学系がデリケートになるという問題がある。
【0004】また、Fナンバーが小さくなると、偏向器
を大型化する必要があるとともに、走査レンズの構成が
複雑になる。その結果、走査光学系のコストが高くなる
という問題がある。
を大型化する必要があるとともに、走査レンズの構成が
複雑になる。その結果、走査光学系のコストが高くなる
という問題がある。
【0005】この発明は、上記課題を解消するためにな
されたもので、Fナンバーを小さくすることなく、スポ
ットサイズを小さくすることができる走査光学系におけ
るスポットサイズ狭小化方法を提供することを目的とす
る。
されたもので、Fナンバーを小さくすることなく、スポ
ットサイズを小さくすることができる走査光学系におけ
るスポットサイズ狭小化方法を提供することを目的とす
る。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明は、レーザービ
ームを出射する光源と、前記光源からのレーザービーム
を偏向する偏向器と、前記偏向器によって偏向されたレ
ーザービームのスポットを像面上に形成する走査レンズ
とを備えた走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方
法であって、上記目的を達成するために、前記光源と前
記偏向器との間で、前記光源からのレーザービームを複
数本に分割し、それら分割レーザービームのうち少なく
とも1本以上の分割レーザービームを部分遮光し、ビー
ム合成位置に導くとともに、部分遮光を受けない残りの
分割レーザービームを前記ビーム合成位置に導いて、合
成ビームを形成した後、その合成ビームを前記偏向器に
入射している。
ームを出射する光源と、前記光源からのレーザービーム
を偏向する偏向器と、前記偏向器によって偏向されたレ
ーザービームのスポットを像面上に形成する走査レンズ
とを備えた走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方
法であって、上記目的を達成するために、前記光源と前
記偏向器との間で、前記光源からのレーザービームを複
数本に分割し、それら分割レーザービームのうち少なく
とも1本以上の分割レーザービームを部分遮光し、ビー
ム合成位置に導くとともに、部分遮光を受けない残りの
分割レーザービームを前記ビーム合成位置に導いて、合
成ビームを形成した後、その合成ビームを前記偏向器に
入射している。
【0007】
【作用】この発明によれば、光源からのレーザービーム
が複数本に分割され、それら分割レーザービームのうち
少なくとも1本以上の分割レーザービームが部分遮光さ
れ、ビーム合成位置に導かれる。また、部分遮光を受け
ない残りの分割レーザービームも前記ビーム合成位置に
導かれる。そして、これらの分割レーザービームが前記
ビーム合成位置で合成され、偏向器に入射される。偏向
器で偏向された合成ビームは走査レンズに入射し、像面
上にビームスポットが形成される。したがって、部分遮
光を受けたレーザービームと部分遮光を全く受けなかっ
たレーザービームとの相互干渉によって、スポットサイ
ズがより小さくなる。
が複数本に分割され、それら分割レーザービームのうち
少なくとも1本以上の分割レーザービームが部分遮光さ
れ、ビーム合成位置に導かれる。また、部分遮光を受け
ない残りの分割レーザービームも前記ビーム合成位置に
導かれる。そして、これらの分割レーザービームが前記
ビーム合成位置で合成され、偏向器に入射される。偏向
器で偏向された合成ビームは走査レンズに入射し、像面
上にビームスポットが形成される。したがって、部分遮
光を受けたレーザービームと部分遮光を全く受けなかっ
たレーザービームとの相互干渉によって、スポットサイ
ズがより小さくなる。
【0008】
【実施例】図1はこの発明にかかるスポットサイズ狭小
化方法を適用可能な走査光学系を示す斜視図である。こ
の走査光学系では、半導体レーザ1からのレーザービー
ムLがコリメートレンズ2に入射され、平行ビームに整
形される。そして、その平行ビームはハーフミラーなど
の光分割器3に入射され、2本のレーザービームL1 ,
L2 に分割される。
化方法を適用可能な走査光学系を示す斜視図である。こ
の走査光学系では、半導体レーザ1からのレーザービー
ムLがコリメートレンズ2に入射され、平行ビームに整
形される。そして、その平行ビームはハーフミラーなど
の光分割器3に入射され、2本のレーザービームL1 ,
L2 に分割される。
【0009】一方の分割レーザービームL1 は、ミラー
4を介してビーム合成位置に導かれ、ハーフミラーなど
の光合成器5に入射される。また、もう一方の分割レー
ザービームL2 はミラー6を介して部分遮光板7に入射
される。この部分遮光板7は透明ガラス7aの表面中央
部に遮光部材7bをコーティングしたものであり、入射
レーザービームの中央部を遮光し、その他の領域を透過
するように構成されている。こうして部分遮光を受けた
レーザービームL2Sはビーム合成位置に配置された光合
成器5に入射される。なお、この実施例では、光分割器
3からミラー4を経由した光合成器5までの光路長と、
ミラー6及び部分遮光板7を経由した光路長とはほぼ同
じ長さである。
4を介してビーム合成位置に導かれ、ハーフミラーなど
の光合成器5に入射される。また、もう一方の分割レー
ザービームL2 はミラー6を介して部分遮光板7に入射
される。この部分遮光板7は透明ガラス7aの表面中央
部に遮光部材7bをコーティングしたものであり、入射
レーザービームの中央部を遮光し、その他の領域を透過
するように構成されている。こうして部分遮光を受けた
レーザービームL2Sはビーム合成位置に配置された光合
成器5に入射される。なお、この実施例では、光分割器
3からミラー4を経由した光合成器5までの光路長と、
ミラー6及び部分遮光板7を経由した光路長とはほぼ同
じ長さである。
【0010】そして、ビーム合成位置に導かれたレーザ
ービームL1 ,L2Sは光合成器5で合成されて、合成ビ
ームL´が形成される。この合成ビームL´は、図1に
示すように、ポリゴンミラー8に入射される。このポリ
ゴンミラー8で偏向されたレーザービームは2枚のレン
ズ9a,9bからなる走査レンズ9を介して像面10に
結像される。こうして、像面10に所望のビームスポッ
トが形成される。
ービームL1 ,L2Sは光合成器5で合成されて、合成ビ
ームL´が形成される。この合成ビームL´は、図1に
示すように、ポリゴンミラー8に入射される。このポリ
ゴンミラー8で偏向されたレーザービームは2枚のレン
ズ9a,9bからなる走査レンズ9を介して像面10に
結像される。こうして、像面10に所望のビームスポッ
トが形成される。
【0011】次に、像面10に形成されたビームスポッ
トの強度について説明する。この実施例では、上述のよ
うにして像面10にビームスポットを形成しているた
め、ビームスポットの強度を考察する上で、部分遮光を
受けた分割レーザービームL2Sと部分遮光を全く受けて
いない分割レーザービームL1 との分けて議論すること
ができる。
トの強度について説明する。この実施例では、上述のよ
うにして像面10にビームスポットを形成しているた
め、ビームスポットの強度を考察する上で、部分遮光を
受けた分割レーザービームL2Sと部分遮光を全く受けて
いない分割レーザービームL1 との分けて議論すること
ができる。
【0012】図2は図1の走査光学系の断面図である。
なお、説明の便宜からミラー4,6、光合成器5及びポ
リゴンミラー8の図2への図示は省略している。
なお、説明の便宜からミラー4,6、光合成器5及びポ
リゴンミラー8の図2への図示は省略している。
【0013】まず、分割レーザービームL1 について説
明する。図2(a) に示すように、分割レーザービームL
1 は部分遮光を受けずに像面10に結像されるので、像
面10での振幅ψ1(x)はその中心部でガウシアン分布と
なる(図3(a) )。一方、レーザービームL2 は、中央
部が遮光された状態で像面10に結像されるため、像面
10での振幅ψ2(x)は、メインピークP以外にそのピー
クPと位相が半波長ずれたピーク、つまりサイドローブ
部P1 を有する(図3(b) )。
明する。図2(a) に示すように、分割レーザービームL
1 は部分遮光を受けずに像面10に結像されるので、像
面10での振幅ψ1(x)はその中心部でガウシアン分布と
なる(図3(a) )。一方、レーザービームL2 は、中央
部が遮光された状態で像面10に結像されるため、像面
10での振幅ψ2(x)は、メインピークP以外にそのピー
クPと位相が半波長ずれたピーク、つまりサイドローブ
部P1 を有する(図3(b) )。
【0014】そして、実際に像面10に形成されるビー
ムスポットはレーザービームL1 ,L2Sの合成ビーム
L′を結像することによって得られることから、像面1
0での振幅ψ(x) は、それら振幅ψ1(x),ψ2(x)の重ね
合わせであり、その波形はサイドローブ部P1 の影響に
よってメインピークが急峻なものとなる(図3(c) の実
線)。なお、参考のために、半導体レーザ1からのレー
ザービームLを光分割することなく図1の走査光学系と
光学的に等価な走査光学系を用いて像面10にビームス
ポットを形成した場合の振幅ψ(x) を同図(c) の点線に
示しておく。
ムスポットはレーザービームL1 ,L2Sの合成ビーム
L′を結像することによって得られることから、像面1
0での振幅ψ(x) は、それら振幅ψ1(x),ψ2(x)の重ね
合わせであり、その波形はサイドローブ部P1 の影響に
よってメインピークが急峻なものとなる(図3(c) の実
線)。なお、参考のために、半導体レーザ1からのレー
ザービームLを光分割することなく図1の走査光学系と
光学的に等価な走査光学系を用いて像面10にビームス
ポットを形成した場合の振幅ψ(x) を同図(c) の点線に
示しておく。
【0015】また、光強度は振幅の2乗に比例すること
から、像面10での光強度は図4に示すような分布を示
す。同図において、実線はこの実施例にかかる走査光学
系(図1)の結果を示す一方、点線は従来例、すなわち
レーザービームLを光分割することなく図1の走査光学
系と光学的に等価な走査光学系を用いて像面10にビー
ムスポットを形成した場合の結果を示すものである。こ
の図からわかるように、サイドローブでの干渉によって
メインピークの形状がシャープとなり、中央強度が一定
のところ、例えば強度I1 をビームスポットのしきい値
とした時、この実施例にかかるスポットサイズDが従来
例のスポットサイズD´より小さくなる。
から、像面10での光強度は図4に示すような分布を示
す。同図において、実線はこの実施例にかかる走査光学
系(図1)の結果を示す一方、点線は従来例、すなわち
レーザービームLを光分割することなく図1の走査光学
系と光学的に等価な走査光学系を用いて像面10にビー
ムスポットを形成した場合の結果を示すものである。こ
の図からわかるように、サイドローブでの干渉によって
メインピークの形状がシャープとなり、中央強度が一定
のところ、例えば強度I1 をビームスポットのしきい値
とした時、この実施例にかかるスポットサイズDが従来
例のスポットサイズD´より小さくなる。
【0016】以上のように、この実施例によれば、半導
体レーザ1とポリゴンミラー8との間で、半導体レーザ
1からのレーザービームLを2本に分割し、それら分割
レーザービームL1 ,L2 のうち分割レーザービームL
2 を部分遮光し、ビーム合成位置に導くとともに、部分
遮光を受けない分割レーザービームL1 をビーム合成位
置に導いて、合成ビームL´を形成した後、その合成ビ
ームL´をポリゴンミラー8に入射するようにしている
ので、走査光学系のFナンバーを変化させることなく、
像面10でのスポットサイズを小さくすることができ
る。
体レーザ1とポリゴンミラー8との間で、半導体レーザ
1からのレーザービームLを2本に分割し、それら分割
レーザービームL1 ,L2 のうち分割レーザービームL
2 を部分遮光し、ビーム合成位置に導くとともに、部分
遮光を受けない分割レーザービームL1 をビーム合成位
置に導いて、合成ビームL´を形成した後、その合成ビ
ームL´をポリゴンミラー8に入射するようにしている
ので、走査光学系のFナンバーを変化させることなく、
像面10でのスポットサイズを小さくすることができ
る。
【0017】ところで、光分割器3から光合成器5まで
の光路長がミラー4を経由した場合と、ミラー6及び部
分遮光板7を経由した場合とで異なる(ただし、光路長
の差が波長の整数倍の場合を除く)と、レーザービーム
L1 ,L2 (L2S)が伝播する距離が相違し、像面10
での光強度の分布が図4の分布からずれて所望のビーム
スポットが得られない。例えば、光強度分布にサイドロ
ーブが生じてしまうことがある。この場合、複数のビー
ムスポットが像面10に形成されてしまう。また、別の
ケースとして、ビームスポットの中心強度が極端に減少
してしまうこともある。したがって、光分割器3からミ
ラー4を経由した光合成器5までの光路長と、ミラー6
及び部分遮光板7を経由した光路長とが常に同一あるい
は波長の整数倍に保たれることが好ましい。
の光路長がミラー4を経由した場合と、ミラー6及び部
分遮光板7を経由した場合とで異なる(ただし、光路長
の差が波長の整数倍の場合を除く)と、レーザービーム
L1 ,L2 (L2S)が伝播する距離が相違し、像面10
での光強度の分布が図4の分布からずれて所望のビーム
スポットが得られない。例えば、光強度分布にサイドロ
ーブが生じてしまうことがある。この場合、複数のビー
ムスポットが像面10に形成されてしまう。また、別の
ケースとして、ビームスポットの中心強度が極端に減少
してしまうこともある。したがって、光分割器3からミ
ラー4を経由した光合成器5までの光路長と、ミラー6
及び部分遮光板7を経由した光路長とが常に同一あるい
は波長の整数倍に保たれることが好ましい。
【0018】しかしながら、上記実施例のように走査光
学系を構成した場合、周辺温度の変化などによってミラ
ー4,6あるいは部分遮光板7が移動して、光路長がず
れるおそれがある。また、走査光学系を組み立てる際に
も、この点を考慮して調整する必要がある。
学系を構成した場合、周辺温度の変化などによってミラ
ー4,6あるいは部分遮光板7が移動して、光路長がず
れるおそれがある。また、走査光学系を組み立てる際に
も、この点を考慮して調整する必要がある。
【0019】そこで、このような問題を解決するには、
例えば光分割器3、ミラー4,6、光合成器5及び部分
遮光板7の代わりに図5の光分割・合成器14を用いれ
ばよい。
例えば光分割器3、ミラー4,6、光合成器5及び部分
遮光板7の代わりに図5の光分割・合成器14を用いれ
ばよい。
【0020】この光分割・合成器14は、断面が台形形
状をした2枚のプリズム11,12を貼合わせたもので
あり、その貼合わせ面14aがビームスプリット面及び
ビーム合成面として機能する。すなわち、レーザービー
ムLが光分割・合成器14の面14bに垂直入射される
と、プリズム11を透過し、貼合わせ面14aで2本の
レーザービームL1 ,L2 に分割される。その一方の分
割レーザービームL1(同図の2点鎖線)はプリズム1
1内を進み、光分割・合成器14の面14cで全反射さ
れ、再度貼合わせ面14aのビーム合成位置に導かれ
る。
状をした2枚のプリズム11,12を貼合わせたもので
あり、その貼合わせ面14aがビームスプリット面及び
ビーム合成面として機能する。すなわち、レーザービー
ムLが光分割・合成器14の面14bに垂直入射される
と、プリズム11を透過し、貼合わせ面14aで2本の
レーザービームL1 ,L2 に分割される。その一方の分
割レーザービームL1(同図の2点鎖線)はプリズム1
1内を進み、光分割・合成器14の面14cで全反射さ
れ、再度貼合わせ面14aのビーム合成位置に導かれ
る。
【0021】また、もう一方の分割レーザービームL2
は光分割・合成器14の面14dに入射される。この面
14dには、反射防止コーティング13が部分的に設け
られているため、入射ビームL2 (同図の1点鎖線)の
中央部が遮光され、その他の領域がその面14dで反射
されて、部分遮光を受けたレーザービームL2Sが貼合わ
せ面14aのビーム合成位置に導かれる。なお、反射防
止コーティング13の代わりに直角プリズムを貼付けた
り、その領域の表面を粗くして乱反射を生じるようにし
てもよい。
は光分割・合成器14の面14dに入射される。この面
14dには、反射防止コーティング13が部分的に設け
られているため、入射ビームL2 (同図の1点鎖線)の
中央部が遮光され、その他の領域がその面14dで反射
されて、部分遮光を受けたレーザービームL2Sが貼合わ
せ面14aのビーム合成位置に導かれる。なお、反射防
止コーティング13の代わりに直角プリズムを貼付けた
り、その領域の表面を粗くして乱反射を生じるようにし
てもよい。
【0022】そして、貼合わせ面14aのビーム合成位
置でこれらのレーザービームL1 ,L2Sが合成されて、
合成ビームL´が形成され、図1のポリゴンミラー8に
入射される。
置でこれらのレーザービームL1 ,L2Sが合成されて、
合成ビームL´が形成され、図1のポリゴンミラー8に
入射される。
【0023】以上のように、この改良例によれば、レー
ザービームLの分割、分割レーザービームL2 の部分遮
光及びレーザービームL1 ,L2Sの合成を一体化された
光分割・合成器14によって行うようにしているので、
分割レーザービームの伝播距離は常に同一となり、走査
光学系の周辺温度などの影響を受けずに、スポットサイ
ズを狭小化することができる。
ザービームLの分割、分割レーザービームL2 の部分遮
光及びレーザービームL1 ,L2Sの合成を一体化された
光分割・合成器14によって行うようにしているので、
分割レーザービームの伝播距離は常に同一となり、走査
光学系の周辺温度などの影響を受けずに、スポットサイ
ズを狭小化することができる。
【0024】なお、上記実施例では、半導体レーザ1か
らのレーザービームLを2本のレーザービームに分割し
ているが、3本以上に分割し、それらの分割レーザービ
ームのうち少なくとも1本以上の分割レーザービームを
部分遮光し、ビーム合成位置に導くとともに、部分遮光
を受けない残りの分割レーザービームをビーム合成位置
に導いて、合成ビームを形成するようにしてもよい。
らのレーザービームLを2本のレーザービームに分割し
ているが、3本以上に分割し、それらの分割レーザービ
ームのうち少なくとも1本以上の分割レーザービームを
部分遮光し、ビーム合成位置に導くとともに、部分遮光
を受けない残りの分割レーザービームをビーム合成位置
に導いて、合成ビームを形成するようにしてもよい。
【0025】また、上記においては、偏向器としてポリ
ゴンミラー8を用いた走査光学系にこの発明にかかるス
ポットサイズ狭小化方法を適用した場合について説明し
たが、この発明にかかるスポットサイズ狭小化方法は、
光源からのレーザービームをガルバノミラーなどの偏向
器によって偏向し、さらに走査レンズによって像面にビ
ームスポットを形成する走査光学系全般に適用すること
ができる。
ゴンミラー8を用いた走査光学系にこの発明にかかるス
ポットサイズ狭小化方法を適用した場合について説明し
たが、この発明にかかるスポットサイズ狭小化方法は、
光源からのレーザービームをガルバノミラーなどの偏向
器によって偏向し、さらに走査レンズによって像面にビ
ームスポットを形成する走査光学系全般に適用すること
ができる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、光源と偏向器との間で、前記光源からのレーザービ
ームを複数本に分割し、それら分割レーザービームのう
ち少なくとも1本以上の分割レーザービームを部分遮光
し、ビーム合成位置に導くとともに、部分遮光を受けな
い残りの分割レーザービームを前記ビーム合成位置に導
いて、合成ビームを形成した後、その合成ビームを前記
偏向器に入射するようにしているので、Fナンバーを小
さくすることなく、スポットサイズを小さくすることが
できる。
ば、光源と偏向器との間で、前記光源からのレーザービ
ームを複数本に分割し、それら分割レーザービームのう
ち少なくとも1本以上の分割レーザービームを部分遮光
し、ビーム合成位置に導くとともに、部分遮光を受けな
い残りの分割レーザービームを前記ビーム合成位置に導
いて、合成ビームを形成した後、その合成ビームを前記
偏向器に入射するようにしているので、Fナンバーを小
さくすることなく、スポットサイズを小さくすることが
できる。
【図1】この発明にかかるスポットサイズ狭小化方法を
適用可能な走査光学系を示す斜視図である。
適用可能な走査光学系を示す斜視図である。
【図2】図1の走査光学系の断面図である。
【図3】この発明にかかるスポットサイズ狭小化方法の
原理を説明するための図である。
原理を説明するための図である。
【図4】像面におけるビームスポットの強度分布を示す
グラフである。
グラフである。
【図5】走査光学系の改良例を示す断面図である。
1 半導体レーザ 8 ポリゴンミラー(偏向器) 9 走査レンズ L レーザービーム L1 ,L2 ,L2S 分割レーザービーム
Claims (1)
- 【請求項1】 レーザービームを出射する光源と、前記
光源からのレーザービームを偏向する偏向器と、前記偏
向器によって偏向されたレーザービームのスポットを像
面上に形成する走査レンズとを備えた走査光学系におけ
るスポットサイズ狭小化方法であって、 前記光源と前記偏向器との間で、前記光源からのレーザ
ービームを複数本に分割し、それら分割レーザービーム
のうち少なくとも1本以上の分割レーザービームを部分
遮光し、ビーム合成位置に導くとともに、部分遮光を受
けない残りの分割レーザービームを前記ビーム合成位置
に導いて、合成ビームを形成した後、その合成ビームを
前記偏向器に入射することを特徴とする走査光学系にお
けるスポットサイズ狭小化方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11217392A JPH05281484A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11217392A JPH05281484A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05281484A true JPH05281484A (ja) | 1993-10-29 |
Family
ID=14580084
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11217392A Pending JPH05281484A (ja) | 1992-04-03 | 1992-04-03 | 走査光学系におけるスポットサイズ狭小化方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05281484A (ja) |
-
1992
- 1992-04-03 JP JP11217392A patent/JPH05281484A/ja active Pending
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