JPH05273052A - 温度監視装置 - Google Patents
温度監視装置Info
- Publication number
- JPH05273052A JPH05273052A JP7406992A JP7406992A JPH05273052A JP H05273052 A JPH05273052 A JP H05273052A JP 7406992 A JP7406992 A JP 7406992A JP 7406992 A JP7406992 A JP 7406992A JP H05273052 A JPH05273052 A JP H05273052A
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- Japan
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- temperature
- conductors
- matrix
- conductor
- thermistor
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 低コストで広い範囲の温度を監視できる温度
監視装置を得る。 【構成】 計測対象位置にマトリックス状に交差させ、
かつ同交差部ａを接近させて配置した複数の導体１，
２、同複数の導体１，２の交差部ａに少くとも設けら
れ、所定温度で溶解する絶縁体３、複数の導体１，２に
接続され、各交差部ａの絶縁抵抗を計り温度を計測する
温度計測手段である切替器４および表示器５を設ける。
監視装置を得る。 【構成】 計測対象位置にマトリックス状に交差させ、
かつ同交差部ａを接近させて配置した複数の導体１，
２、同複数の導体１，２の交差部ａに少くとも設けら
れ、所定温度で溶解する絶縁体３、複数の導体１，２に
接続され、各交差部ａの絶縁抵抗を計り温度を計測する
温度計測手段である切替器４および表示器５を設ける。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、溶解炉、煙道等の耐熱
材の損傷位置確認に適用される温度監視装置に関する。
材の損傷位置確認に適用される温度監視装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】鋼製の円筒体の内面を耐熱材でライニン
グされた、炉あるいは煙道などにおいて、使用中ライニ
ングに亀裂が生じたり、焼損、剥離等した場合、外側の
外郭鋼構造物も損傷する恐れがある。
グされた、炉あるいは煙道などにおいて、使用中ライニ
ングに亀裂が生じたり、焼損、剥離等した場合、外側の
外郭鋼構造物も損傷する恐れがある。
【０００３】従来、このような耐火物ライニング損傷に
よる外郭構造物過熱の監視には、熱電対による温度計測
か、放射温度計による監視を行っていた。
よる外郭構造物過熱の監視には、熱電対による温度計測
か、放射温度計による監視を行っていた。
【０００４】図１０に熱電対を用いた監視装置の一例を
示す。炉あるいは煙道等の外郭構造物６内には、耐火物
ライニング７が設けられている。外部構造物６の表面に
は、格子状の各点１１に熱電対１０が配置され、各熱電
対１０の温度が計測される。
示す。炉あるいは煙道等の外郭構造物６内には、耐火物
ライニング７が設けられている。外部構造物６の表面に
は、格子状の各点１１に熱電対１０が配置され、各熱電
対１０の温度が計測される。
【０００５】図１１は放射温度計を用いた監視装置の一
例を示す。所定の複数位置に放射温度計１２が配置さ
れ、外郭構造物６の外面温度が計測される。
例を示す。所定の複数位置に放射温度計１２が配置さ
れ、外郭構造物６の外面温度が計測される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の方法は次の
ような問題点があった。
ような問題点があった。
【０００７】（ａ）熱電対を用いる場合 計測対象の炉、あるいは煙道等の構造が大型であれば測
定面積が広くなる。従って精度良く監視しようとすれば
非常に多くの点の計測が必要となり実用的でない。
定面積が広くなる。従って精度良く監視しようとすれば
非常に多くの点の計測が必要となり実用的でない。
【０００８】（ｂ）放射温度計を用いる場合 計測対象が平面の場合、精度を要求しなければ一台
の設置でよいが、精度が要求されると複数の温度計を必
要とする。特に円筒形などの平面でない場合、円周上に
複数の温度計を設置する必要がある。
の設置でよいが、精度が要求されると複数の温度計を必
要とする。特に円筒形などの平面でない場合、円周上に
複数の温度計を設置する必要がある。
【０００９】 放射温度計は高価であることから、非
常に不経済となる。
常に不経済となる。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため次の手段を講ずる。
するため次の手段を講ずる。
【００１１】すなわち、 （１）計測対象位置にマトリックス状に交差させ、かつ
同交差部を接近させて配置した複数の導体と、同複数の
導体の交差部に少くとも設けられ、所定温度で溶解する
絶縁手段と、上記複数の導体に接続され、上記各交差部
の絶縁抵抗を計り温度を計測する温度計測手段とを設け
る。 （２）計測対象位置にマトリックス状に配置された直列
接続の整流器およびサーミスタと、上記マトリックスの
各行に配置された上記各整流器の端子につながれる第１
の導体と、上記マトリックスの各列に配置された上記各
サーミスタの端子につながれる第２の導体と、上記各導
体につながれ、上記各直列接続の整流器およびサーミス
タ間の抵抗を計り温度を計測する温度計測手段とを設け
る。
同交差部を接近させて配置した複数の導体と、同複数の
導体の交差部に少くとも設けられ、所定温度で溶解する
絶縁手段と、上記複数の導体に接続され、上記各交差部
の絶縁抵抗を計り温度を計測する温度計測手段とを設け
る。 （２）計測対象位置にマトリックス状に配置された直列
接続の整流器およびサーミスタと、上記マトリックスの
各行に配置された上記各整流器の端子につながれる第１
の導体と、上記マトリックスの各列に配置された上記各
サーミスタの端子につながれる第２の導体と、上記各導
体につながれ、上記各直列接続の整流器およびサーミス
タ間の抵抗を計り温度を計測する温度計測手段とを設け
る。
【００１２】
（１）上記（１）の手段において、例えば、計測対象位
置の或る部分の温度が所定温度以上になると、その部分
の絶縁手段溶解し、交差部の近接導体間がさらに接近す
る。または接触する。
置の或る部分の温度が所定温度以上になると、その部分
の絶縁手段溶解し、交差部の近接導体間がさらに接近す
る。または接触する。
【００１３】従って温度計測手段により、交差部の絶縁
抵抗が計られると、絶縁抵抗の低下により温度上昇が、
またその交差部の位置により温度上昇場所が計測され
る。
抵抗が計られると、絶縁抵抗の低下により温度上昇が、
またその交差部の位置により温度上昇場所が計測され
る。
【００１４】このようにして、広い範囲の温度監視が、
安価で簡単な装置で容易に行われるようになる。 （２）上記（２）の手段において、例えば、計測対象位
置のある部分の温度が上昇すると、その部分のサーミス
タの抵抗は温度に応じて変化する。
安価で簡単な装置で容易に行われるようになる。 （２）上記（２）の手段において、例えば、計測対象位
置のある部分の温度が上昇すると、その部分のサーミス
タの抵抗は温度に応じて変化する。
【００１５】これを計測するため、温度計測手段によ
り、各行および列の導体間に順次電圧を加えて行く。こ
の電圧は整流器の導通方向に加える。すると、電圧の加
えられた行と列の交点部のみのサーミスタに電流がれ、
その抵抗より温度が計測される。
り、各行および列の導体間に順次電圧を加えて行く。こ
の電圧は整流器の導通方向に加える。すると、電圧の加
えられた行と列の交点部のみのサーミスタに電流がれ、
その抵抗より温度が計測される。
【００１６】このようにして、広い範囲の温度が簡単な
装置で計測され、温度監視が、容易に行われるようにな
る。
装置で計測され、温度監視が、容易に行われるようにな
る。
【００１７】
（１）請求項１の発明の第１実施例を図１〜図３により
説明する。なお、従来例で説明した部分は、同一の番号
をつけ説明を省略し、この発明に関する部分を主体に説
明する。
説明する。なお、従来例で説明した部分は、同一の番号
をつけ説明を省略し、この発明に関する部分を主体に説
明する。
【００１８】図１にて、行方向に配置した複数の導体１
と、列方向に配置した複数の導体２とが、それぞれをマ
トリックス状に交差させ、かつ各交差部ａを接近させて
配置される。また導体１と導体２間にはシート状の絶縁
体３を挿入して、交差部ａに絶縁体３を配置する。絶縁
体３は所定温度で溶解する絶縁体３であり、低い温度域
ではワックス、比較的高い温度域では硅酸ソーダ、無機
物を主成分とするものである。この絶縁体は互いの導体
を絶縁している。
と、列方向に配置した複数の導体２とが、それぞれをマ
トリックス状に交差させ、かつ各交差部ａを接近させて
配置される。また導体１と導体２間にはシート状の絶縁
体３を挿入して、交差部ａに絶縁体３を配置する。絶縁
体３は所定温度で溶解する絶縁体３であり、低い温度域
ではワックス、比較的高い温度域では硅酸ソーダ、無機
物を主成分とするものである。この絶縁体は互いの導体
を絶縁している。
【００１９】導体１，２は銅線を用いるが、温度が高い
場合は、ステンレス線等を用いてもよい。
場合は、ステンレス線等を用いてもよい。
【００２０】各導体１，２はそれぞれ切替器４につなが
れる。また切替器４は表示器５につながれる。
れる。また切替器４は表示器５につながれる。
【００２１】上記の導体１，２と絶縁体３部を、円筒状
の外部構造物６の表面にセットした場合を図２に示す。
の外部構造物６の表面にセットした場合を図２に示す。
【００２２】以上の構成において、切替器４は電子的切
替え作用により、各導体１と導体２に順次切替え接続
し、各交差部ａの絶縁抵抗を順次計測する。その結果が
表示器５に、位置に応じて表示される。
替え作用により、各導体１と導体２に順次切替え接続
し、各交差部ａの絶縁抵抗を順次計測する。その結果が
表示器５に、位置に応じて表示される。
【００２３】図３に示すように、耐火物ライニング７が
欠損すると、欠損部９の温度が所定値以上に上る。する
と、その部分１０の絶縁体３が溶解し、その部分の導体
１と導体２間は接近または接触する。従って、この部分
にある交差部の絶縁抵抗は他部のものに比べ大幅に低下
する。これが表示器５に位置に応じて表示される。また
抵抗が所定値以下になったとき、警報を発するようにし
てもよい。
欠損すると、欠損部９の温度が所定値以上に上る。する
と、その部分１０の絶縁体３が溶解し、その部分の導体
１と導体２間は接近または接触する。従って、この部分
にある交差部の絶縁抵抗は他部のものに比べ大幅に低下
する。これが表示器５に位置に応じて表示される。また
抵抗が所定値以下になったとき、警報を発するようにし
てもよい。
【００２４】このようにして、広い範囲に設けられた耐
火物ライニング７の欠損部の位置が、容易に、かつ低コ
ストで検出できる。
火物ライニング７の欠損部の位置が、容易に、かつ低コ
ストで検出できる。
【００２５】図３中、８は耐熱性絶縁シートを示す。
【００２６】第２実施例を図５、図６により説明する。
導体１には、図５に示すように絶縁体３が被覆されてい
る。
導体１には、図５に示すように絶縁体３が被覆されてい
る。
【００２７】導体１と導体２は、図４に示すように交互
に編まれてマトリックス状に配置される。この構成によ
り、各交差部ａには絶縁体３が配置された状態になる。
その他は第１実施例と同様なので説明を省略する。
に編まれてマトリックス状に配置される。この構成によ
り、各交差部ａには絶縁体３が配置された状態になる。
その他は第１実施例と同様なので説明を省略する。
【００２８】（２）請求項２の発明の一実施例を図６〜
図９により説明する。
図９により説明する。
【００２９】図６にて、マトリックス状に、直列接続の
整流器１３およびサーミスタ１４が配置される。また各
行に第１の導体１ａが配置され、その行上の各整流器１
３の端子につながれる。さらに各列に第２の導体２ａが
配置され、その列上の各サーミスタ１４の端子につなが
れる。
整流器１３およびサーミスタ１４が配置される。また各
行に第１の導体１ａが配置され、その行上の各整流器１
３の端子につながれる。さらに各列に第２の導体２ａが
配置され、その列上の各サーミスタ１４の端子につなが
れる。
【００３０】各導体１ａ，２ａはそれぞれ切替器１５に
つながれる。また切替器１６の出力は表示器１６につな
がれる。
つながれる。また切替器１６の出力は表示器１６につな
がれる。
【００３１】上記の整流器１３およびサーミスタ１４部
を円筒状の外郭構造物６の表面にセットした場合を図７
に示す。
を円筒状の外郭構造物６の表面にセットした場合を図７
に示す。
【００３２】以上において、切替器１５は、電子的切替
え作用により各導体１ａと導体２ａに順次切替え接続
し、各マトリックス上のサーミスタ１４の抵抗を計測す
る。その結果が表示器１５に、位置に応じて温度表示さ
れる。
え作用により各導体１ａと導体２ａに順次切替え接続
し、各マトリックス上のサーミスタ１４の抵抗を計測す
る。その結果が表示器１５に、位置に応じて温度表示さ
れる。
【００３３】すなわち、例えば図８に示すように導体１
ａのａ2 の導体と、導体２ａのｂ2の導体が接続され、
ａ2 に正電圧が加えられる。すると配置（ａ2 ，ｂ2 ）
の整流器１３にのみ順電流が流れ、これにつながったサ
ーミスタ１４の抵抗が測られる。
ａのａ2 の導体と、導体２ａのｂ2の導体が接続され、
ａ2 に正電圧が加えられる。すると配置（ａ2 ，ｂ2 ）
の整流器１３にのみ順電流が流れ、これにつながったサ
ーミスタ１４の抵抗が測られる。
【００３４】この場合整流器１３がないと、図９に点線
の矢印で示すように、他のバイパス回路が生じ、測定精
度が低下する。
の矢印で示すように、他のバイパス回路が生じ、測定精
度が低下する。
【００３５】以上のようにして、広い範囲のマトリック
ス状に配置された各部の温度が精度よく計測される。
ス状に配置された各部の温度が精度よく計測される。
【００３６】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明によれば
次の効果が得られる。 （１）．互いに交差する導体をマトリックス状に配置
したため、広い範囲の中のホットスポットの位置を精度
よく確認できる。
次の効果が得られる。 （１）．互いに交差する導体をマトリックス状に配置
したため、広い範囲の中のホットスポットの位置を精度
よく確認できる。
【００３７】導体と所定温度で溶解する絶縁体とで構
成されており装置が安価にできる。
成されており装置が安価にできる。
【００３８】マトリックス状になっているため、設置
する面が円筒形、球面等であっても容易に密着設置でき
る。 （２）．互いに交差する導体をマトリックス状に配置
したため、広い範囲の中のホットスポットの位置を精度
よく確認できる。
する面が円筒形、球面等であっても容易に密着設置でき
る。 （２）．互いに交差する導体をマトリックス状に配置
したため、広い範囲の中のホットスポットの位置を精度
よく確認できる。
【００３９】整流器をサーミスタと直列に接続したた
め、広い範囲のマトリックス配置の各サーミスタ部の温
度が正確に計測できる。
め、広い範囲のマトリックス配置の各サーミスタ部の温
度が正確に計測できる。
【図１】請求項１の発明の第１実施例を示す構成系統図
である。
である。
【図２】同実施例の導体部の適用例図である。
【図３】同実施例の作用説明図である。
【図４】同発明の第２実施例の導体部の構成図である。
【図５】同実施例の導体１の詳細図である。
【図６】請求項２の発明の一実施例を示す構成系統図で
ある。
ある。
【図７】同実施例のサーミスタ部の適用例図である。
【図８】同実施例の作用説明図である。
【図９】同実施例の作用説明図である。
【図１０】従来の一例の構成図である。
【図１１】従来の他例の構成図である。
１，１ａ 導体 ２，２ａ 導体 ３ 絶縁体 ４，１４ 切替え器 ５，１５ 表示器 ６ 外郭構造物 ７ 耐火物ライニング ８ 耐熱シート ９ 損傷部 １０ 熱電対 １１ 測定点 １２ 放射温度計
Claims (2)
- 【請求項１】 計測対象位置にマトリックス状に交差さ
せ、かつ同交差部を接近させて配置した複数の導体と、
同複数の導体の交差部に少くとも設けられ、所定温度で
溶解する絶縁手段と、上記複数の導体に接続され、上記
各交差部の絶縁抵抗を計り温度を計測する温度計測手段
とを備えてなることを特徴とする温度監視装置。 - 【請求項２】 計測対象位置にマトリックス状に配置さ
れた直列接続の整流器およびサーミスタと、上記マトリ
ックスの各行に配置された上記各整流器の端子につなが
れる第１の導体と、上記マトリックスの各列に配置され
た上記各サーミスタの端子につながれる第２の導体と、
上記各導体につながれ、上記各直列接続の整流器および
サーミスタ間の抵抗を計り温度を計測する温度計測手段
とを備えてなることを特徴とする温度監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7406992A JPH05273052A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 温度監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7406992A JPH05273052A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 温度監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05273052A true JPH05273052A (ja) | 1993-10-22 |
Family
ID=13536528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7406992A Withdrawn JPH05273052A (ja) | 1992-03-30 | 1992-03-30 | 温度監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05273052A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006019578A1 (de) * | 2006-04-27 | 2007-10-31 | Abb Patent Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Gas oder Lufttemperatur in einem Gehäuse |
| DE102006059390A1 (de) * | 2006-12-15 | 2008-06-26 | Sze Spezial Elektronik Hagenuk Gmbh | Temperaturmessvorrichtung |
| DE102007019925A1 (de) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Forschungszentrum Dresden - Rossendorf E.V. | Anordnung zur zweidimensionalen Messung der Temperaturverteilung in einem Messquerschnitt |
-
1992
- 1992-03-30 JP JP7406992A patent/JPH05273052A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006019578A1 (de) * | 2006-04-27 | 2007-10-31 | Abb Patent Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Gas oder Lufttemperatur in einem Gehäuse |
| US8262285B2 (en) | 2006-04-27 | 2012-09-11 | Abb Ag | Device for measuring gas or air temperature in a casing box |
| DE102006059390A1 (de) * | 2006-12-15 | 2008-06-26 | Sze Spezial Elektronik Hagenuk Gmbh | Temperaturmessvorrichtung |
| DE102007019925A1 (de) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Forschungszentrum Dresden - Rossendorf E.V. | Anordnung zur zweidimensionalen Messung der Temperaturverteilung in einem Messquerschnitt |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990608 |