JPH05268419A - 画像読取装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数箇所におけるピント状態を検出する。 【構成】 ピントずれ判定用パターン１５を、プラテン
ガラスの原稿読取領域１２ａの周囲の複数箇所に配置
し、このピントずれ判定用パターン１５をイメージセン
サで読み取ることによって得られた画像データを用いて
複数箇所におけるピント状態を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ピント状態の検出が可
能な画像読取装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、複写機やファクシミリ装置や画像
処理装置等における画像入力手段として、原稿像をレン
ズ等によってイメージセンサ上に結像させ、このイメー
ジセンサによって原稿像を読み取る方式の画像読取装置
が広く使用されている。この画像読取装置では、出荷前
にピント調整が行われるが、輸送時や使用中における衝
撃等により光学系にずれが生じ、ピントがずれることが
ある。そうなると、像がぼけ正確な画像の読み取りがで
きなくなってしまう。

【０００３】これに対処するに、例えば特開平２−２３
７３６３号、特開平２−２３７３６４号、特開平２−２
３７３６５号、特開平２−２３７３６６号、特開平２−
２０８４８号、特開平２−２０８４９号の各公報には、
原稿読取位置の外側にピント判定用パターンを設け、こ
のパターンを読み取ってピント状態を判定する手段を有
する画像読取装置が示されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記各公報
に示される画像読取装置では、いずれもピント判定用パ
ターンは副走査方向の端部に配置されている。従って、
このピント判定用パターンの位置におけるピント状態し
か判定することができない。ところが、画像読取装置で
は、ジャムクリア時等における読取ユニットの開閉等に
よって読取部のフレームが変形した場合等に、ランプや
ミラー等の光学系部材の動きが副走査時に理想動作でな
くなり、副走査方向の位置によってピント状態が異なる
場合が生じる。このような場合に、前記各公報に示され
る画像読取装置では、ピントずれが発生していても、そ
れを検出できない場合があるという問題点がある。ま
た、一箇所におけるピント状態しか判定できないので、
副走査方向の位置によってピント状態が異なっているよ
うな場合にピント状態を正確に判定することができない
という問題点がある。

【０００５】また、レンズの傾きや位置ずれ等により、
主走査方向の位置によってピント状態が異なる場合も生
じる。このような場合にも、前記各公報に示される画像
読取装置では、上述と同様な不具合がある。すなわち、
特開平２−２３７３６３号ないし２３７３６６号の各公
報では、例えばピント判定用パターンの読取データの隣
接画素間の差の自乗和を１ラインにわたって演算してピ
ントを判定するため、主走査方向の位置によってピント
状態が異なってもこれを識別することができない。ま
た、特開平２−２０８４８号および２０８４９号の各公
報では、ピント判定用パターンが主走査方向の一部にし
か形成されていないため、その位置におけるピント状態
しか検出することができない。

【０００６】そこで本発明の目的は、複数箇所における
ピント状態を検出して、ピント状態をより正確に判定で
きるようにした画像読取装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明の画
像読取装置は、原稿像を読み取るイメージセンサと、こ
のイメージセンサ上に原稿像を結像させる結像手段と、
イメージセンサによって読取可能な複数箇所に形成され
たピントずれ判定用パターンと、このピントずれ判定用
パターンをイメージセンサで読み取ることによって得ら
れた画像データを用いて、ピントずれ判定用パターンが
形成された複数箇所におけるピント状態を検出するピン
ト状態検出手段とを備え、このピント状態検出手段によ
って複数箇所におけるピント状態を検出してピントずれ
の分布を検出することができるようにしたものである。

【０００８】請求項２記載の発明の画像読取装置は、原
稿像を読み取るイメージセンサと、このイメージセンサ
上に原稿像を結像させる結像手段と、イメージセンサに
よって読取可能な複数箇所に形成されたピントずれ判定
用パターンと、このピントずれ判定用パターンをイメー
ジセンサで読み取ることによって得られた画像データよ
り、ピント状態に依存するデータを求める演算手段と、
ピント調整時において演算手段によって求められるデー
タを、基準データとして各ピントずれ判定用パターンに
対応させて記憶する記憶手段と、各ピントずれ判定用パ
ターン毎に演算手段によって求められたデータを記憶手
段に記憶された各ピントずれ判定用パターン毎の基準デ
ータと比較することによって、ピントずれ判定用パター
ンが形成された複数箇所におけるピント状態を検出する
ピント状態検出手段とを備えたものである。

【０００９】この画像読取装置では、ピント調整時にお
いてピント判定用パターンを読み取って演算手段によっ
て求められるデータを基準データとして各ピントずれ判
定用パターンに対応させて記憶手段に記憶しておき、ピ
ント判定時には、ピント状態検出手段によって、各ピン
トずれ判定用パターン毎に演算手段によって求められた
データを記憶手段に記憶された各ピントずれ判定用パタ
ーン毎の基準データと比較することによって、ピントず
れ判定用パターンが形成された複数箇所におけるピント
状態を検出する。これにより、ピント状態の検出におけ
る装置間のばらつきや位置によるばらつきをなくすこと
ができる。

【００１０】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１ないし図７は本発明の第１実施例に係
るものである。

【００１１】図１は本実施例の画像読取装置の読取部の
概略の構成を示す説明図である。この図に示すように、
読取部は読取部本体（筐体）１１を有し、この読取部本
体１１の上面に、原稿１０を載置するためのプラテンガ
ラス１２が設けられている。このプラテンガラス１２上
には開閉自在な原稿押え１３が設けられている。また、
プラテンガラス１２の副走査開始側の端部の上には、主
走査方向に沿ってレジプレート１４が設けられている。

【００１２】図２はピントずれ判定用パターンの配置と
形態を示す説明図である。この図に示すように、プラテ
ンガラス１２の原稿読取領域１２ａの主走査方向の一端
部に隣接して、ピントずれ判定用パターン１５が設けら
れている。なお、図２（ａ）における符号１５ａは、ピ
ントずれ判定用パターン１５の配置位置を示すものであ
る。図２（ａ）に示すように、本実施例では、ピントず
れ判定用パターン１５を、副走査方向の位置の異なる３
箇所に設けている。また、図２（ｂ）に示すように、ピ
ントずれ判定用パターン１５は、主走査方向に沿って画
像読取装置の読み取り解像度より十分に大きい所定のピ
ッチで白の領域と黒の領域が交互に配列されたラダー状
のパターンとしている。

【００１３】図１に示すように、プラテンガラス１２の
下方には、副走査方向に移動可能なキャリッジ２０が設
けられている。このキャリッジ２０内には、原稿１０を
ライン状に照明するためのランプ２１と、このランプ２
１から出射された光を原稿１０に照射するリフレクタ２
２と、原稿１０からの反射光を反射する第１ミラー２３
とが設けられている。また、読取部本体１１内の底部に
は原稿像を読み取る１次元イメージセンサ２５が設けら
れ、読取部本体１１内には第１ミラー２３からの光を１
次元イメージセンサ２５へ導く第２ミラー２６および第
３ミラー２７が設けられている。また、イメージセンサ
２５の前方の光路上には、原稿像をイメージセンサ２５
上に結像させるレンズ２８が設けられている。

【００１４】キャリッジ２０は図示しない駆動装置によ
って副走査方向に往復動されるようになっている。ま
た、第２ミラーおよび第３ミラー２７は、図示しない駆
動装置によって、キャリッジ２０の移動方向と同一方向
に、キャリッジ２０の１／２の速度で移動されるように
なっている。これにより、原稿面とイメージセンサ２５
間の距離が変化することなく、原稿面を走査することが
できるようになっている。

【００１５】図３は画像読取装置の信号処理系を示すブ
ロック図である。この図に示すように信号処理系は、イ
メージセンサ２５の出力信号をディジタルの画像データ
に変換するアナログ−ディジタル変換器（以下、Ａ／Ｄ
変換器と記す。）３１と、このＡ／Ｄ変換器３１の出力
画像データに対してシェーディング補正を行うシェーデ
ィング補正回路３２と、このシェーディング補正回路３
２の出力画像データに対して画像処理を施す画像処理回
路３３と、画像読取装置全体を制御する中央処理装置
（以下、ＣＰＵと記す。）３４と、これらイメージセン
サ２５、Ａ／Ｄ変換器３１、シェーディング補正回路３
２、画像処理回路３３およびＣＰＵ３４に対してタイミ
ング信号を供給するタイミング発生回路３５とを備えて
いる。

【００１６】画像読取装置の信号処理系は、さらに、ラ
ンダム・アクセス・メモリ（以下、ＲＡＭと記す。）３
６と、シェーディング補正回路３２の出力画像データか
らピントずれ量を検出するピントずれ量検出回路４０
と、ＣＰＵ３４に接続され、ピントずれを報知する報知
回路３７とを備えている。シェーディング補正回路３
２、ＣＰＵ３４、タイミング発生回路３５、ＲＡＭ３６
およびピントずれ量検出回路４０は、互いにデータバ
ス、アドレスバスを含むＣＰＵバス３８によって接続さ
れている。

【００１７】また、ＣＰＵバス３８には、画像読取装置
と共にファクシミリ・複写システムを構成する通信制御
装置６１と画像出力装置６２が接続されている。画像処
理回路３３の出力画像データは通信制御装置６１と画像
出力装置６２に送られ、通信制御装置６１による画像送
信、画像出力装置６２による画像出力が可能になってい
る。また、通信制御装置６１の受信画像は画像出力装置
６２によって出力されるようになっている。

【００１８】図４は図３におけるピントずれ量検出回路
４０の構成を示すブロック図である。この図に示すよう
に、ピントずれ量検出回路４０は、シェーディング補正
回路３２の出力画像データをスレッショルドレベルＴＨ
で２値化する２値化回路４１と、この２値化回路４１の
出力２値化画像データより、ピントずれ判定用パターン
１５の白の領域に対応する画像の幅または黒の領域に対
応する画像の幅を検出する幅検出回路４２と、この幅検
出回路４２によって検出された画像の幅と予め設定され
た基準幅Ｗｒとを比較してピント状態を判定する判定回
路４３とを備えている。２値化回路４１におけるスレッ
ショルドレベルＴＨは、ピントずれ判定用パターン１５
の白の領域の濃度レベル（以下、白レベルと記す。）と
黒の領域の濃度レベル（以下、黒レベルと記す。）の中
間の濃度レベルであって白レベルと黒レベルの中心レベ
ルよりもどちらか一方に近い濃度レベルに設定されてい
る。

【００１９】図５は図４における幅検出回路４２の構成
の一例を示すブロック図である。この図に示す幅検出回
路４２は、カウンタ４４、ラッチ４５、フリップフロッ
プ４６、オアゲート４７およびインバータ４８を有して
いる。カウンタ４４のクロック入力端ＣＫにはクロック
５１が入力され、イネーブル入力端ＥＮには２値化回路
４１からの２値データ５２が入力されるようになってお
り、また、負論理入力のクリア入力端ＣＬにはオアゲー
ト４７の出力端が接続され、出力端Ｑはラッチ４５の入
力端Ｄに接続されている。ラッチ４５のクロック入力端
ＣＫにはインバータ４８の出力端が接続され、出力端Ｑ
は幅データ５３を出力するようになっている。また、ク
ロック５１はフリップフロップ４６のクロック入力端Ｃ
Ｋにも入力され、２値データ５２はフリップフロップ４
６の入力端Ｄ、オアゲート４７の一方の入力端およびイ
ンバータ４８にも入力されるようになっている。また、
フリップフロップ４６の出力端Ｄはオアゲート４７の他
方の入力端に接続されている。なお、クロック５１は各
画素ごとの２値データ５２の転送タイミングに同期して
いる。

【００２０】この幅検出回路４２では、カウンタ４４は
２値データ５２が“Ｈ”レベルの間、その画素の数と同
じ数のクロックをカウントする。２値データ５２が
“Ｌ”レベルになった時点で、その時のカウント値がラ
ッチ４５によってラッチされ、幅データ５３として判定
回路４３へ出力される。また、その後、フリップフロッ
プ４６およびオアゲート４７の働きによりカウンタ４４
はクリアされ、次の“Ｈ”レベルのカウントが繰り返さ
れる。従って、例えば２値データ５２の“Ｈ”レベルが
黒の領域に対応するものとすると、幅データ５３は黒の
領域に対応する画像の幅（画素数）を示すことになる。
なお、２値データ５２を反転させた後、図５に示す幅検
出回路４２に入力すれば、白の領域に対応する画像の幅
を検出することができる。

【００２１】次に、本実施例の動作について説明する。

【００２２】本実施例では、画像読取装置の電源投入時
やピントずれ検出モード設定時に、ピントずれ検出モー
ドとなりピント状態を判定する。このピントずれ検出モ
ードでは、キャリッジ２０を副走査方向に移動させなが
ら３箇所に形成されたピントずれ判定用パターン１５を
イメージセンサ２５によって順に読み取り、ピントずれ
判定用パターン１５が形成された各位置におけるピント
ずれ量を検出する。ピントずれ判定用パターン１５を読
み取ったイメージセンサ２５の出力信号は、Ａ／Ｄ変換
器３１でディジタルの画像データに変換され、シェーデ
ィング補正回路３２でシェーディング補正され、ピント
ずれ量検出回路４０に入力される。このピントずれ量検
出回路４０では、ピントずれ判定用パターン１５を読み
取って得られた画像データが２値化回路４１に入力され
る。この２値化回路４１は、白レベルと黒レベルの中間
の濃度レベルであって白レベルと黒レベルの中心レベル
よりもどちらか一方に近い濃度レベルに設定されたスレ
ッショルドレベルＴＨで、画像データを２値化する。こ
のように２値化して得られた画像のうち、ピントずれ判
定用パターン１５の白の領域に対応する画像の幅または
黒の領域に対応する画像の幅はピント状態に応じて変化
する。このことを図６を用いて説明する。

【００２３】図６（ａ）はピントずれ判定用パターン１
５の一部を示している。図中、符号５５は白の領域を示
し、５６は黒の領域を示す。このピントずれ判定用パタ
ーン１５を読み取った画像データの波形は、ピント良好
時には白の領域５５と黒の領域５６の境界が明確で、原
画に対して約２〜３画素程度の広がりを持つに過ぎない
が、ピント不良時には図６（ｃ）に示すように白の領域
５５と黒の領域５６の境界が広がり、原画に対して十数
画素にもなることがある。このピントずれ判定用パター
ン１５を読み取った画像データを前述のスレッショルド
レベルＴＨで２値化すると、ピント良好時には図６
（ｂ）に示すようになり、黒の領域に対応する画像の幅
Ｗ１はピントずれ判定用パターン１５の実際の黒の領域
の幅と略等しくなる。一方、ピント不良時には図６
（ｄ）に示すようになる。このように、ピント良好時の
黒の領域に対応する画像の幅Ｗ１とピント不良時の黒の
領域に対応する画像の幅Ｗ３は異なることとなる。同様
に、ピント良好時の白の領域に対応する画像の幅Ｗ２と
ピント不良時の白の領域に対応する画像の幅Ｗ４も異な
る。従って、２値化画像における黒の領域に対応する画
像の幅または白の領域に対応する画像の幅からピント状
態を判定することができる。なお、２値化回路４１にお
ける２値化のスレッショルドレベルを白レベルと黒レベ
ルの中心レベルにした場合には、ピント良好時とピント
不良時とで画像の幅はほとんど変化しない。

【００２４】２値化回路４１で２値化された画像データ
は幅検出回路４２に入力され、黒の領域に対応する画像
の幅または白の領域に対応する画像の幅が検出され、こ
の画像の幅が、判定回路４３で基準幅Ｗｒと比較され
る。例えば、図６（ｃ）に示すように、スレッショルド
レベルＴＨを白レベルに近い濃度レベルに設定すると、
ピントがずれるに従って黒の領域に対応する画像の幅は
大きくなり、白の領域に対応する画像の幅は小さくな
る。従って、幅検出回路４２で検出された幅と基準幅Ｗ
ｒとの差はピントのずれ量に対応することになる。そこ
で、判定回路４３は、例えば幅検出回路４２で検出され
た幅と基準幅Ｗｒとの差をピントずれ量を示すデータと
してＣＰＵ３４へ送る。

【００２５】なお、白の領域または黒の領域に対応する
画像の幅は、ピントずれ判定用パターン１５中の所定の
部分における白または黒の１本について求めても良い
し、複数本（全部を含む）について求めて、その和や平
均を求めても良い。

【００２６】ＣＰＵ３４は、ピントずれ判定用パターン
１５が形成された各位置におけるピントのずれ量を、ピ
ントずれ判定用パターン１５の副走査方向の位置に対応
させながら、ＲＡＭ３６の所定のアドレスに書き込んで
いく。そして、最終的にＲＡＭ３６には、副走査方向の
各位置におけるピントのずれ量、すなわちピントのずれ
量の分布が記憶される。そして、ＣＰＵ３４は、必要に
応じて、ＲＡＭ３６に記憶されたピントのずれ量の分布
を報知回路３７によってコントロールパネル等の表示装
置に表示してオペレータに報知したり、ＲＡＭ３６に記
憶されたピントのずれ量のデータを装置番号と合わせ
て、通信制御装置６１を用いてサービスセンタ等のメン
テナンスを行う部門に自動送信してサービスマンに知ら
せるようにする。自動送信を行う場合は、ＣＰＵ３４が
ＲＡＭ３６に記憶されたピントのずれ量のデータを、予
め決められたフォーマットに挿入して通信制御装置６１
へ送り、この通信制御装置６１を動作させて送信する。

【００２７】図７は、読取部のフレームの変形等によ
り、副走査動作に応じて副走査方向の位置によってピン
ト状態が変化するようなピントずれが生じた場合の空間
周波数特性（ＭＴＦ）を示す特性図である。この図にお
いて符号６５はピントが正常な場合、６６はピントがず
れている場合を示す。このように副走査方向の位置によ
ってピント状態が変化するようなピントずれが生じた場
合、従来のように副走査方向の一箇所でしかピント状態
を判定しない場合にはピントずれを検出できない場合が
ある。

【００２８】これに対し、本実施例では、副走査方向の
複数箇所におけるピント状態を検出してピントずれの分
布を検出することができるので、副走査方向の位置によ
ってピント状態が異なる場合が生じても、副走査方向の
一箇所で判定するものよりも一層正確にピントずれを検
出することができる。また、副走査方向のピントずれの
分布を検出することができることからピントずれの原因
究明も容易になる。

【００２９】また、本実施例によれば、特別オペレータ
の手を煩わせることなく迅速にピントずれを検出するこ
とができると共に、ピント不良時にオペレータやサービ
スセンタ等へ知らせる手段を設けたので、ピント不良に
対する迅速な対処が可能となる。

【００３０】図８は本発明の第２実施例におけるピント
ずれ判定用パターンの配置と形態を示す説明図である。
図２に示す第１実施例で用いたピントずれ判定用パター
ン１５は主走査方向のピント状態を判定するためのもの
である。ところが、ピント状態は、主走査方向と副走査
方向とで異なる場合がある。その原因としては、レンズ
２８の焦点が縦方向と横方向とで異なる場合や、レンズ
２８やキャリッジ２０の位置ずれや傾き等がある。

【００３１】そこで、本実施例は副走査方向のピント状
態を判定できるようにしたものである。本実施例では、
図８（ａ）に示すように第１実施例と同様の位置にピン
トずれ判定用パターン１５を設けているが、その形態は
図８（ｂ）に示すように、主走査方向に延びる帯状の白
の領域と黒の領域を、副走査方向に沿って画像読取装置
の読み取り解像度より十分に大きい所定のピッチで交互
に配列したパターンとしている。

【００３２】そして、このピントずれ判定用パターン１
５を、キャリッジ２０を移動させながら読み取り、イメ
ージセンサ２５の同一画素に対応する各ラインごとの画
像データから、白または黒の領域に対応する画像の幅を
検出することにより、副走査方向のピント状態を判定す
ることができる。ピント状態の判定の方法は、第１実施
例と同様である。

【００３３】なお、本実施例において画像の幅を検出す
るには、例えば図５に示す回路において、クロック５１
を１ライン毎にイメージセンサ２５の同一画素のときに
発生させるようにするか、あるいは２値データ５２を１
ライン毎にイメージセンサ２５の同一画素のときにサン
プリングすれば良い。

【００３４】なお、本実施例においても、白の領域また
は黒の領域に対応する画像の幅は、ピントずれ判定用パ
ターン１５中の所定の部分における白または黒の１本に
ついて求めても良いし、複数本（全部を含む）について
求めて、その和や平均を求めても良い。

【００３５】その他の構成、作用および効果は第１実施
例と同様である。

【００３６】図９は本発明の第３実施例におけるピント
ずれ判定用パターンを示す説明図である。図９はプラテ
ンガラス１２を下側から見た状態を示すものであり、こ
の図に示すように、本実施例では、プラテンガラス１２
の原稿読取領域１２ａに隣接して設けられたレジプレー
ト１４の裏面すなわちプラテンガラス１２側の面に、シ
ェーディング補正用の白色基準領域１６と共にピントず
れ判定用パターン１５を設けている。本実施例における
ピントずれ判定用パターン１５は、主走査方向に沿って
画像読取装置の読み取り解像度より十分に大きい所定の
ピッチで白の領域と黒の領域が交互に配列されたラダー
状のパターンとし、このパターンを主走査方向の略全範
囲にわたって設けている。このピントずれ判定用パター
ン１５は主走査方向のピント状態を判定するためのパタ
ーンである。

【００３７】本実施例では、ピントずれ検出モードにお
いてキャリッジ２０をレジプレート１４の下へ移動さ
せ、このレジプレート１４上のピントずれ判定用パター
ン１５をイメージセンサ２５によって読み取り、ピント
ずれ量検出回路４０によって主走査方向の所定の複数箇
所におけるピントずれ量を求める。そして、ＣＰＵ３４
によって、主走査方向の各ピントずれ量位置におけるピ
ントのずれ量を、ピントずれ量検出位置に対応させなが
ら、ＲＡＭ３６の所定のアドレスに書き込む。このよう
にして、最終的にＲＡＭ３６には、主走査方向の各位置
おけるピントのずれ量、すなわちピントのずれ量の分布
が記憶される。

【００３８】その他の構成および作用は第１実施例と同
様である。

【００３９】本実施例によれば、主走査方向の複数箇所
におけるピント状態を検出してピントずれの分布を検出
することができるので、主走査方向の位置によってピン
ト状態が異なる場合が生じても正確にピントずれを検出
することができ、また、ピントずれの原因究明も容易に
なる。

【００４０】なお、図９ではピントずれ判定用パターン
１５を主走査方向の略全範囲にわたって設けているが、
ピントずれ量を求める複数箇所にのみ設けても良い。

【００４１】図１０は本発明の第４実施例におけるピン
トずれ判定用パターンを示す説明図である。本実施例
は、第３実施例と同様に、レジプレート１４の裏面に主
走査方向の略全範囲にわたってピントずれ判定用パター
ン１５を設けたものであるが、その形態を、第２実施例
と同様に、主走査方向に延びる帯状の白の領域と黒の領
域を、副走査方向に沿って画像読取装置の読み取り解像
度より十分に大きい所定のピッチで交互に配列したパタ
ーンとしている。このピントずれ判定用パターン１５は
副走査方向のピント状態を判定するためのパターンであ
る。

【００４２】本実施例では、主走査方向の複数箇所にお
ける副走査方向のピント状態を検出してピントずれの分
布を検出する。なお、ピントずれ量の検出方法は、第２
実施例と同様である。

【００４３】その他の構成、作用および効果は第３実施
例と同様である。

【００４４】図１１は本発明の第５実施例におけるピン
トずれ量検出回路の構成を示すブロック図である。本実
施例におけるピントずれ量検出回路７０は、第１ないし
第４実施例におけるピントずれ量検出回路４０に、ＣＰ
Ｕ３４によって制御され、ピント調整時において幅検出
回路４２によって検出される画像の幅を記憶するリード
ライト可能な不揮発性の基準値メモリ７１を加えたもの
である。この基準値メモリ７１は、ＲＡＭ３６を不揮発
性としてこのＲＡＭ３６が兼ねても良い。

【００４５】本実施例では、画像読取装置の出荷前のピ
ント調整時に、ピントが合った状態で、各ピントずれ量
検出位置でピントずれ判定用パターン１５を読み取り、
各位置において幅検出回路４２によって検出される画像
の幅を、ＣＰＵ３４の制御により、各ピントずれ量検出
位置に対応させながら基準値メモリ７１に記憶してお
く。そして、画像読取装置の使用時のピント判定時に
は、基準値メモリ７１に記憶された各ピントずれ量検出
位置に対応した画像の幅またはこれに許容誤差を含めた
幅を基準幅として判定回路４３に供給する。なお、許容
誤差の設定はＣＰＵ３４による基準値メモリ７１の記憶
データの書き換えによって可能であるが、判定回路４３
において基準値メモリ７１からの基準幅に対して許容誤
差を含めるようにしても良い。

【００４６】画像読取装置では、光学系やイメージセン
サ等において装置間でばらつきがある。そのため、ピン
トずれ判定用パターン１５を読み取ったデータに装置間
でばらつきが生じ、判定回路４３に対する基準幅が装置
に関わらず一定であると、装置ごとにピント状態の検出
精度にもばらつきが生じる。また、同一装置において
も、各ピントずれ量検出位置によって、ピントずれ判定
用パターン１５を読み取ったデータにばらつきが生じる
ことがあり、各ピントずれ量検出位置ごとにピント状態
の検出精度にもばらつきが生じることがある。

【００４７】しかし、本実施例によれば、ピント調整時
における画像の幅の基準幅として記憶し、ピント判定時
にこの基準幅を用いてピント状態を判定するようにした
ので、ピント状態の検出において装置間のばらつきおよ
び各ピントずれ量検出位置によるばらつきをなくすこと
ができる。

【００４８】その他の構成、作用および効果は第１ない
し第４実施例と同様である。

【００４９】なお、本発明は上記各実施例に限定され
ず、例えばピントずれ判定用パターン１５を主走査方向
の複数箇所および副走査方向の複数箇所に設け、両方向
についてピントずれの分布を検出することができるよう
にしても良い。

【００５０】また、ピントずれ量の検出は、第１実施例
に示した方法に限らず、隣接画素における読み取りデー
タの差等、ピント状態に依存するデータを求めるもので
あれば、種々の方法を用いることができる。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように請求項１記載の発明
によれば、ピントずれ判定用パターンを複数箇所に形成
し、このピントずれ判定用パターンをイメージセンサで
読み取ることによって得られた画像データを用いて複数
箇所におけるピント状態を検出することができるので、
ピント状態をより正確に判定することができるという効
果がある。

【００５２】また、請求項２記載の発明によれば、ピン
ト調整時においてピント判定用パターンを読み取って求
められるデータを基準データとして各ピントずれ判定用
パターンに対応させて記憶しておき、ピント判定時に
は、各ピントずれ判定用パターン毎に求められたデータ
を記憶手段に記憶された各ピントずれ判定用パターン毎
の基準データと比較することによって複数箇所における
ピント状態を検出するようにしたので、上記効果に加
え、ピント状態の検出における装置間のばらつきや検出
位置によるばらつきをなくすことができるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の第１実施例の画像読取装置の読取部
の概略の構成を示す説明図である。

【図２】 第１実施例におけるピントずれ判定用パター
ンの配置と形態を示す説明図である。

【図３】 第１実施例の画像読取装置の信号処理系を示
すブロック図である。

【図４】 図３におけるピントずれ量検出回路の構成を
示すブロック図である。

【図５】 図４における幅検出回路の構成の一例を示す
ブロック図である。

【図６】 第１実施例におけるピントずれ判定用パター
ンの一部とこれに対応する画像データの波形を示す説明
図である。

【図７】 ピントずれが生じた場合の空間周波数特性を
示す特性図である。

【図８】 本発明の第２実施例におけるピントずれ判定
用パターンの配置と形態を示す説明図である。

【図９】 本発明の第３実施例におけるピントずれ判定
用パターンを示す説明図である。

【図１０】 本発明の第４実施例におけるピントずれ判
定用パターンを示す説明図である。

【図１１】 本発明の第５実施例におけるピントずれ量
検出回路の構成を示すブロック図である。

【符号の説明】

１５…ピントずれ判定用パターン、２０…キャリッジ、
２５…イメージセンサ、３６…ＲＡＭ、４０…ピントず
れ量検出回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｎ 1/00 １０６ Ｃ 7046−5Ｃ 1/028 Ａ 9070−5Ｃ (72)発明者 林 寛 埼玉県岩槻市府内３丁目７番１号 富士ゼ ロックス株式会社岩槻事業所内 (72)発明者 長谷川 国臣 埼玉県岩槻市府内３丁目７番１号 富士ゼ ロックス株式会社岩槻事業所内 (72)発明者 小松 康男 埼玉県岩槻市府内３丁目７番１号 富士ゼ ロックス株式会社岩槻事業所内 (72)発明者 高橋 篤 埼玉県岩槻市府内３丁目７番１号 富士ゼ ロックス株式会社岩槻事業所内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 原稿像を読み取るイメージセンサと、 このイメージセンサ上に原稿像を結像させる結像手段
   と、 前記イメージセンサによって読取可能な複数箇所に形成
   されたピントずれ判定用パターンと、 このピントずれ判定用パターンを前記イメージセンサで
   読み取ることによって得られた画像データを用いて、ピ
   ントずれ判定用パターンが形成された複数箇所における
   ピント状態を検出するピント状態検出手段とを具備する
   ことを特徴とする画像読取装置。
2. 【請求項２】 原稿像を読み取るイメージセンサと、 このイメージセンサ上に原稿像を結像させる結像手段
   と、 前記イメージセンサによって読取可能な複数箇所に形成
   されたピントずれ判定用パターンと、 このピントずれ判定用パターンを前記イメージセンサで
   読み取ることによって得られた画像データより、ピント
   状態に依存するデータを求める演算手段と、 ピント調整時において前記演算手段によって求められる
   データを、基準データとして各ピントずれ判定用パター
   ンに対応させて記憶する記憶手段と、 各ピントずれ判定用パターン毎に前記演算手段によって
   求められたデータを前記記憶手段に記憶された各ピント
   ずれ判定用パターン毎の基準データと比較することによ
   って、ピントずれ判定用パターンが形成された複数箇所
   におけるピント状態を検出するピント状態検出手段とを
   具備することを特徴とする画像読取装置。