JPH05264427A - 硬さ測定装置および硬さ測定用プローブ - Google Patents
硬さ測定装置および硬さ測定用プローブInfo
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- JPH05264427A JPH05264427A JP6470292A JP6470292A JPH05264427A JP H05264427 A JPH05264427 A JP H05264427A JP 6470292 A JP6470292 A JP 6470292A JP 6470292 A JP6470292 A JP 6470292A JP H05264427 A JPH05264427 A JP H05264427A
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Abstract
械インピーダンスに比例した硬さの指標を得る。 【構成】 圧電板16に一定振幅で30Hz以上500Hz
以下の一定周波数の電圧を印加して振動子14を振動さ
せることにより測定対象12の表面を振動させ、その加
速度を圧電板18で検知し、その実効値の逆数を機械イ
ンピーダンスに比例した硬さ指標SHとして表示する。
Description
対象物の表面の力学的特性、特に、硬さの評価のための
硬さ測定装置とそれに用いられる硬さ測定用プローブに
関する。
学的特性は機械インピーダンスを測定することによって
評価することができる。この機械インピーダンスは角周
波数ωの関数として複素数Z(ω)として表わされ、表
面に印加した力F(ω)とその応答としての表面の速度
V(ω)から Z(ω)=F(ω)/V(ω) と定義され、加速度A(ω)=jωV(ω)を使うと、 Z(ω)=jωF(ω)/A(ω) …(1) と表わされる。
号には、この機械インピーダンスZ(ω)を算出するこ
とのできる装置とそれに用いられるプローブが開示され
ている。
の周波数範囲にわたって機械インピーダンスZ(ω)を
算出し、さらにそれから力学特性評価のための種々のパ
ラメータを算出している。印加した力とその応答として
の加速度の測定値は、時間の関数として時間領域におい
て得られる。そのため、(1)式によって機械インピー
ダンスを算出するためには、時間領域において得られた
力と加速度を周波数領域に変換するフーリエ変換の演算
を行う必要があり、そのための装置はコンピュータを含
む大規模なものとなる。
象物の各所に押し当てながら行なわれることから、小型
で軽量であることが望ましい。したがって本発明の第1
の目的は、簡単な構成で測定対象物の硬さを評価するた
めのパラメータを簡便に得ることのできる硬さ測定装置
を提供することにある。
に使用される小型で軽量の測定用プローブを提供するこ
とにある。
する本発明の硬さ測定装置は、対象物の表面に一定の振
幅で30Hz以上500Hz以下の一定の周波数で大きさが
変化する力を印加して対象物表面を振動させるための振
動発生手段と、該振動発生手段により振動する表面の加
速度を検出するための加速度検出手段と、該加速度検出
手段が検出した加速度の振幅に比例する量を算出するた
めの振幅比例量算出手段とを具備することを特徴とする
ものである。
測定用プローブは、対象物に押し当てられるための振動
子と、該対象物に押し当てられた振動子の静圧を測定す
る静圧測定器と、印加された電圧に応じて該振動子に力
を印加する第1の圧電素子と、該第1の圧電素子ととも
に圧電バイモルフ構造をなし、該振動子の加速度に比例
した電圧を出力する第2の圧電素子とを具備することを
特徴とするものである。
〜500Hz内の一点、特に200Hz付近における機械イ
ンピーダンスの絶対値は、生体表面の硬さの特徴を良く
表わしている。また、この周波数において一定の振幅で
変化する力を印加するとき、検出される加速度の振幅ま
たは実効値は機械インピーダンスの絶対値の逆数に比例
する。したがって、検出された加速度の振幅に比例する
量は対象物の表面の硬さを評価する指標となる。
クチュエータとし、これとともに圧電バイモルフ構造を
とる第2の圧電素子を加速度検出用センサとすることに
より、硬さ測定用プローブを小型で軽量にすることがで
きる。
を使用して生体表面の各部位の機械インピーダンスを測
定した結果、図1に表わされるように、生体表面の各部
位の機械インピーダンスは、その周波数特性の特徴にも
とづき、軟部位特性A、中間部位特性B、硬部位特性C
の3種類のパターンに分類されることが見い出された
(Oka H. and Yamamoto T.:"Dependence of biomechani
cal impedance uponliving body structure", Med.& Bi
ol., Eng.& Comput., 25, pp.631−637 (1987)。
多いが、その特性は周波数30〜500Hzの範囲で特に
低いインピーダンスを示す。また、3者のインピーダン
スの値の差はこの範囲において特に際立っている。した
がって、この30〜500Hzの範囲内の一点、特に20
0Hz付近において機械インピーダンスが得られれば、生
体表面の硬さを評価する指標が得られる。
複素機械インピーダンスZ(ω0 )は Z(ω0 )=jω0F(ω0 )/A(ω0 ) となる。両辺の絶対値をとると、 |Z(ω0 )|=ω0 |F(ω0 )|/|A(ω0 )| となり、ω0 および|F(ω0 )|が一定であれば、 |Z(ω0 )|=k/|A(ω0 )|;k=定数 …(2) となる。(2)式は、振幅および周波数が一定の振動を
与えたときの加速度の絶対値または実効値を測定すれ
ば、その周波数における機械インピーダンスに逆比例す
る量が得られ、その逆数をとれば機械インピーダンスに
比例する量が得られることを意味している。そこで、生
体表面の硬さを表わすパラメータSH(SkinHardness)
を、 SH=1/Ae と定義する。ただし、Aeは測定された加速度の実効値
である。
SHを自動的に算出して表示する硬さ測定装置の一実施
例を表わすブロック図である。硬さ測定用のプローブ1
0は測定対象物12に接触される振動子14と、振動子
14を加振するための圧電板16と、振動子14の加速
度を検知するための圧電板18と、振動子14を測定対
象物12に押し当てたときの静圧を測定するためのロー
ドセル20と、プローブ10を手で握ってその先端の振
動子14を測定対象物12へ押し当てるためのグリップ
22とから構成される。
する電圧は歪増幅器24で増幅され、レベルメータ26
で棒グラフ様に表示される。圧電板16へは発振器28
で発生され、増幅器30で増幅された一定振幅一定周波
数の正弦波電圧が印加される。圧電板18から出力され
る加速度に対応する電圧は電荷増幅器32で増幅され、
演算出力回路34へ入力される。
には歪増幅器24からの静圧信号も入力され、加速度信
号の実効値の逆数を算出し、静圧信号が所定の静圧を示
すときこの信号をとり込み、10回の平均(合計)をと
って表示器36へ出力する。ブザー38は信号のとり込
みのタイミングおよび10回の取り込みが終了したこと
を知らせるために設けられている。
わすブロック図である。コンパレータ40において静圧
信号と所定の静圧に対応する電圧V0 とが比較され、制
御パルス発生器42はコンパレータ40からの比較信号
のエッジ、すなわち静圧信号が電圧V0 とクロスするタ
イミングにおいて、パルス幅0.5秒と0.7秒の2つ
のパルス信号を出力する。
はrms/dc変換器(rms:root mean square) 4
4において実効値に対応する直流電圧に変換され、割算
器46においてその逆数がとられる。rms/dc変換
器44および割算器46は、それぞれ、市販のICであ
るAD536およびAD534によって実現される。サ
ンプル・ホールド回路48は制御パルス発生器42から
のパルス幅0.7秒のパルスが出力されていない間は割
算器46からの入力をサンプルし、幅0.7秒のパルス
が出力されている間、最後のサンプル値をホールドす
る。V/Fコンバータ50はサンプル・ホールド回路4
8からの電圧に比例した周波数のパルス信号を出力す
る。ANDゲート52は制御パルス発生器42からの幅
0.5秒のパルスが出力されている間だけV/Fコンバ
ータ50からのパルスを通過させる。カウンタ54はA
NDゲート52を通過したパルスの数をカウントする。
の幅0.5秒のパルスの数をカウントし、10回カウン
トしたらカウンタ54のカウント値をホールドする信号
を出力する。ORゲート58は制御パルス発生器42か
らの幅0.5秒のパルスおよびカウンタ56からのカウ
ント終了を示す信号を通過させ、それらによってブザー
38(図2)を鳴動させる。
それぞれ、図3のa,b,d…jで示した個所の信号の
波形を表わし、(c)欄は制御パルス発生器42の内部
の信号を表わす。図3および図4を参照して、図3に示
した回路の動作を説明する。図4(a)はコンパレータ
40に入力される静圧信号である。基準電圧V0 のレベ
ルは破線で示されている。コンパレータ40からは、
(b)欄に示すように、静圧信号が基準電圧V0 よりも
高いときHレベル、低いときLレベルの信号が出力され
る。制御パルス発生器42は(c)欄に示すように
(b)欄の信号のレベルが変わるタイミングにおいて極
く短かい幅のパルスを生成し、このパルスをトリガとし
て、(d)欄に示す幅0.5秒の正のパルスおよび
(e)欄に示す幅0.7秒の負のパルスを出力する。
力される加速度信号の波形を示す。rms/dc変換器
44は(g)欄に示すように、入力信号の実効値に相当
する直流電圧を出力する。この電圧は割算器46で逆数
がとられ、サンプル・ホールド回路48において0.7
秒のパルスが出力されている間ホールドされるので、そ
の出力は(h)欄に示すようになり、V/Fコンバータ
50の出力は(i)欄に示すようになる。(j)欄に示
すように、ANDゲート52は0.5秒のパルスが出力
されている間だけこのパルスを通過させるので、この間
のパルスの数をカウンタ54においてカウントすれば、
加速度の実効値の逆数に比例したディジタル値が得ら
れ、これを10回演算することにより、10回の平均値
が表示器に表示される。
たアクチュエータとしての圧電板16とセンサとしての
圧電板18の詳細な構造を表わす図である。ドーナツ形
の形状の圧電板16と18は金属板60の両面に貼り付
けられたバイモルフ構造をとっている。通常、バイモル
フ構造の圧電素子は、一方の圧電板を伸長させ、他方の
圧電板を収縮させるように電圧を印加することによっ
て、圧電板全体を屈曲させるかまたは、双方の圧電板を
屈曲させる力を与えて双方の圧電板から電圧をとり出す
ようにして使用されるが、本願発明においては、バイモ
ルフ構造の圧電素子の一方の圧電板をアクチュエータと
し、他方の圧電板をセンサとして使用することにより、
小型で軽量のプローブを実現している。なお、圧電素子
の軸62を振動子14(図2)に固定し、金属板60を
ロードセル20に固定することによって振動子14の振
動を得ている。
値は測定対象の機械インピーダンスZs とプローブの振
動部分の機械インピーダンスZp の和、すなわち、 Zm =Zs +Zp で与えられる機械インピーダンスZm に比例するものと
して得られる。したがって、Zp が小さい程、Zm ≒Z
s となり、高い測定精度が得られる。本発明で使用され
るプローブは図6に示すように共振周波数fp =205
Hzにおいて機械インピーダンスが最小となっている。こ
の周波数において測定することにより、高精度・高感度
の測定が可能になる。
3種類のシリコン材料(東洋医療研究所、LTVゴム)
を用いて実験を行った。シリコンは鍼灸教育に用いられ
るもので、生体組織のシミュレータとして適当な硬さで
ある。硬い順にシリコンH,M,Sとする。工業用アス
カー硬度計(F型)によるシリコンH,M,Sの硬度値
は、それぞれ50,45,40である。3種類のシリコ
ンをそれぞれ10回測定した結果を表1に示す。いずれ
のシリコンにおいても十分な測定の再現性が得られてい
ることがわかる。また、SHがシリコンS,M,Hの順
に大きく(硬く)なっており、アスカー硬度計での硬さ
の評価と等しくなっている。
て各部位3回ずつの測定を行い、その平均値を求めた。
結果を表2に示す。最も大きな数値が得られた前頭部と
最も小さな数値が得られた大腿部とでは、その数値の差
がおよそ4倍ある。本装置の再現性がおよそ2%以内で
あることから考えて、生体表面の硬さ評価が十分に可能
であると考えられる。
定用プローブの特徴は以下のとおりである。 (1)生体表面に正弦振動を加え、そのときの加速度を
検出して結果を表示するので測定後の解析が必要なく、
リアルタイムの測定が可能である。 (2)ハンディ型の測定プローブを使って生体表面への
加振と加速度の検出を行うことにより、生体表面のほと
んどすべての部位で測定を行うことができる。また、増
幅器類、表示器なども小型ケースに納めることが可能で
あるため、ポータブルタイプとなり測定の場所を選ばな
い。 (3)生体軟部の共振周波数に近い共振周波数を持つ小
型なバイモルフ型圧電セラミックを動電駆動型バイブレ
ータ、あるいはインピーダンスヘッドに代って使用する
ことにより、安価で小型軽量なハンディ型の測定プロー
ブの製作が可能である。 (4)一定の接触力で測定でき、結果の表示は10回の
積算値となるため、測定結果の信頼性が高い。 (5)生体の硬さの指標として提案したSHは単なる指
標ではなく、インピーダンスに比例した量という物理的
意味付けが可能である。
数特性における3つの特徴的な特性を表わすグラフであ
る。
ック図である。
ブロック図である。
素子の構造を表わす図である。
表わすグラフである。
Claims (4)
- 【請求項1】 対象物の表面に一定の振幅で30Hz以上
500Hz以下の一定の周波数で大きさが変化する力を印
加して対象物表面を振動させるための振動発生手段(1
4,16,28,30)と、 該振動発生手段により振動する表面の加速度を検出する
ための加速度検出手段(14,18)と、 該加速度検出手段が検出した加速度の振幅に比例する量
を算出するための振幅比例量算出手段(44,48,5
0,54)とを具備することを特徴とする硬さ測定装
置。 - 【請求項2】 前記振幅比例量算出手段が算出した振幅
比例量の逆数を算出して対象物表面の硬さを評価値とす
る逆数算出手段(46)をさらに具備する請求項1記載
の硬さ測定装置。 - 【請求項3】 前記振動発生手段は、対象物表面に所定
の静圧で押し当てられるための振動子(14)と、該振
動子に前記変化する力を印加して対象物表面に該変化す
る力を印加するための振動印加器(16,28,30)
を有し、 前記加速度検出手段は、該振動子の加速度を検出するこ
とによって生体表面の加速度を検出するための加速度検
出器(18)を有する請求項1または2記載の硬さ測定
装置。 - 【請求項4】 対象物に押し当てられるための振動子
(14)と、 該対象物に押し当てられた振動子の静圧を測定する静圧
測定器(20)と、 印加された電圧に応じて該振動子に力を印加する第1の
圧電素子(16)と、 該第1の圧電素子とともに圧電バイモルフ構造をなし、
該振動子の加速度に比例した電圧を出力する第2の圧電
素子(18)とを具備することを特徴とする硬さ測定用
プローブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP06470292A JP3257563B2 (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | 硬さ測定装置および硬さ測定用プローブ |
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Publication Number | Publication Date |
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JPH05264427A true JPH05264427A (ja) | 1993-10-12 |
JP3257563B2 JP3257563B2 (ja) | 2002-02-18 |
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JP06470292A Expired - Fee Related JP3257563B2 (ja) | 1992-03-23 | 1992-03-23 | 硬さ測定装置および硬さ測定用プローブ |
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-
1992
- 1992-03-23 JP JP06470292A patent/JP3257563B2/ja not_active Expired - Fee Related
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