JPH05259551A - 高電圧スイッチ - Google Patents

高電圧スイッチ

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JPH05259551A
JPH05259551A JP5452992A JP5452992A JPH05259551A JP H05259551 A JPH05259551 A JP H05259551A JP 5452992 A JP5452992 A JP 5452992A JP 5452992 A JP5452992 A JP 5452992A JP H05259551 A JPH05259551 A JP H05259551A
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voltage switch
capacitor
snubber
semiconductors
circuit
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Akihiko Iwata
明彦 岩田
Shigeo Eguri
成夫 殖栗
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 タイミング遅れが繰り返し発生しても、安定
なスナバ機能を維持することができる、信頼性の高い高
電圧スイッチを得る。 【構成】 複数の半導体を直列接続し、各半導体の両端
にダイオード12とコンデンサ13との直列回路を並列
に接続し、コンデンサ13の両端に抵抗14を並列に接
続して構成される高電圧スイッチにおいて、L1 をスイ
ッチ回路のインダクタンス、tonを高電圧スイッチのス
イッチング時間、τc を複数の半導体の導通タイミング
のばらつきの最大値、kを半導体の直列数、fをスイッ
チングの繰り返し周波数とした時、抵抗14の大きさを
6L1・ton /(τc 3f(k−1))より小さく構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、パルスレーザ等のパ
ルス発生回路を構成する高電圧スイッチに関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】以下説明においては高電圧スイッチが使
われる銅蒸気レーザの回路を用いて説明する。図1、図
2は例えば特開平3−226114号公報に記載の、銅
蒸気レーザのパルス発生回路を示すもので、1は高圧電
源、2は充電用リアクトル、3は充電用ダイオード、4
はコンデンサ、5はピーキングコンデンサ、6はレーザ
放電管、7は充電用抵抗、8は高電圧スイッチ、9はス
ナバ回路、10はトリガ回路、11は回路配線のインダ
クタンス、12はスナバダイオード、13はスナバコン
デンサ、14はスナバ抵抗、15はFETである。
【0003】次に動作について説明する。高圧電源1に
よって発生される高圧電圧は充電リアクトル2、充電用
ダイオード3、充電用抵抗7を通して、放電用コンデン
サ4に高圧電圧を充電する。トリガ回路10によって発
生されたトリガ信号が高電圧スイッチ8を構成するFE
T15に入力されると高電圧スイッチ8が導通し、放電
用コンデンサ4に蓄えられた電圧が回路配線のインダク
タンス11を通りレーザ放電管6に供給され、レーザ発
振を得る。上記の動作を数kHzにて繰り返す。銅蒸気
レーザはパルスレーザであり一般的に、レーザ放電管6
内に流れる電流は急峻であればあるほどレーザ効率が上
昇する。そのため、回路配線のインダクタンス11等は
できるだけ小さく(約300nH程度)することが必要
である。ピーキングコンデンサ5は回路配線のインダク
タンス11によるレーザ放電管6に流れる電流のなまり
を解消するために設けられている。また、スナバ回路9
は直列接続されたFET15の特定の並列段の導通タイ
ミングが遅れた場合に、その段に過電圧が印加されてF
ET15が破壊するのを防止するために設けられたもの
である。図2はスナバ回路9の詳細を示すものであり、
導通タイミングが遅れた場合には、スナバダイオード1
2を通してスナバコンデンサ13に回路電流is をバイ
パスする。スナバコンデンサ13を十分に大きくしてお
くことでis の流入による電圧上昇を小さくでき、FE
T15を過電圧から保護することができる。スナバコン
デンサ13に流入した電荷は繰り返し周期の休止期間中
に放出する。なお、タイミングの遅れはトリガ回路10
内の配線のばらつきや部品のばらつき等によって生じ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の銅蒸気レーザ用
に用いられる高電圧スイッチは上記のように構成されて
いるため、特定の並列段のタイミング遅れが繰り返し発
生すると、繰り返し周期の休止期間中にスナバコンデン
サ13に流入した電荷が完全に放出できず、スナバコン
デンサ13の電圧が上昇して、スナバの本来の機能が低
下するという問題があった。
【0005】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、特定の並列段のタイミング遅れ
が繰り返し発生しても、スナバコンデンサ13の電圧が
異常に上昇せず、スナバの本来の機能を維持することが
可能な高電圧スイッチを得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】この発明に係る高電圧ス
イッチは、スイッチ回路のインダクタンスをL1 、高電
圧スイッチのスイッチング時間をton、複数の半導体の
導通タイミングのばらつきの最大値をτc 、半導体の直
列数をk、スイッチングの繰り返し周波数をfとした
時、スナバ抵抗の大きさを6L1・ton /(τc 3f(k
−1))より小さくしたものである。
【0007】
【作用】この発明に係わる高電圧スイッチにおいては、
スナバ抵抗の大きさを 6L1・ton/(τc 3f(k−1)) より小さくしたため、タイミングの遅れによってスナバ
コンデンサに流入した電荷を繰り返し周期の休止期間中
に十分に放出できる。
【0008】
【実施例】実施例1.以下、請求項1に示したスナバ抵
抗14の制限条件について説明する。高電圧スイッチ8
はFET15がk段直列に接続されているものとする。
特定の並列段のタイミングが遅れた場合の等価回路を図
3に示す。Vd は放電用コンデンサ4に蓄えられた電
圧、13a はタイミングが遅れた並列段のスナバコンデ
ンサであり、容量をCs とする。放電用コンデンサ4に
Vdが充電された際には、k個直列されたFET15の
両端には均等に電圧が分配されているものとする。この
とき、高電圧スイッチ8のスイッチング時(スイッチン
グ時間ton中には特定の段以外のFET15は図4に示
されるように単調に電圧が低下するものとする)にスナ
バコンデンサ13a に流れ込む電流i( t)は以下のよう
になる。
【0009】
【数1】
【0010】よって、タイミング遅れの時間をτcとす
れば、τcまでにスナバコンデンサ13に流入した電荷
量は
【0011】
【数2】
【0012】となる。流入した電荷量を繰り返し周期の
休止期間中に放出するためには、
【0013】
【数3】
【0014】となる。よって、左辺の第2項を展開して
Rcの許容値を求めれば Rc<6L1・ton/(τc 3f(k−1)) となる。つまり、図5に示すように、τc にて流入した
電荷が約1/fの期間にて放出され、スナバコンデンサ
13a の電圧をVd /kまで下げることで、タイミング
遅れが繰り返し発生しても、スナバコンデンサ13の電
圧がVd /k以上にならず、確実にスナバ機能を維持す
ることができる。もし、休止期間中にスナバコンデンサ
13a への流入電荷を放出できない場合には図5の点線
に示したように、電圧が除々に増加して、スナバ機能が
低下してしまう。
【0015】
【発明の効果】以上のように、この発明によればスナバ
抵抗の大きさを 6L1・ton/(τc 3f(k−1)) より小さくしたので、タイミング遅れが繰り返し発生し
ても、スナバコンデンサの電圧が異常に上昇せず、安定
なスナバ機能を維持することができ、信頼性の高い高電
圧スイッチが得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】パルスレーザ用パルス発生回路を示す回路図で
ある。
【図2】高電圧スイッチのスナバ回路を示す回路図であ
る。
【図3】タイミング遅れ時の等価回路を示す回路図であ
る。
【図4】FETのスイッチング特性を示す特性図であ
る。
【図5】この発明の一実施例による高電圧スイッチの動
作を説明する説明図である。
【符号の説明】
8 高電圧スイッチ 9 スナバ回路 10 トリガ回路 11 回路配線のインダクタンス 12 スナバダイオード 13 スナバコンデンサ 14 スナバ抵抗 15 FET

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の半導体を直列接続し、各半導体の
    両端にダイオードとコンデンサとの直列回路を並列に接
    続し、上記コンデンサの両端に抵抗を並列に接続して構
    成され、上記複数の半導体を外部からのトリガ信号によ
    って一斉に導通する高電圧スイッチにおいて、L1 をス
    イッチ回路のインダクタンス、tonを上記高電圧スイッ
    チのスイッチング時間、τc を上記複数の半導体の導通
    タイミングのばらつきの最大値、kを上記半導体の直列
    数、fをスイッチングの繰り返し周波数とした時、上記
    抵抗の大きさを6L1・ton /(τc 3f(k−1))より
    小さく構成したことを特徴とする高電圧スイッチ。
JP5452992A 1992-03-13 1992-03-13 高電圧スイッチ Expired - Lifetime JP2953178B2 (ja)

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JPH05259551A true JPH05259551A (ja) 1993-10-08
JP2953178B2 JP2953178B2 (ja) 1999-09-27

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008301088A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 半導体スイッチ装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2008301088A (ja) * 2007-05-30 2008-12-11 Toshiba Mitsubishi-Electric Industrial System Corp 半導体スイッチ装置

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