JPH05258708A - イオン照射装置の運転方法 - Google Patents
イオン照射装置の運転方法Info
- Publication number
- JPH05258708A JPH05258708A JP4089364A JP8936492A JPH05258708A JP H05258708 A JPH05258708 A JP H05258708A JP 4089364 A JP4089364 A JP 4089364A JP 8936492 A JP8936492 A JP 8936492A JP H05258708 A JPH05258708 A JP H05258708A
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- 238000011017 operating method Methods 0.000 title description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 8
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 処理室の両側にエアロック室を備えるイオン
照射装置において、処理終了時における試料の場所を確
定することができる運転方法を提供する。 【構成】 この運転方法は、試料2が処理室8を通過す
る走査回数を奇数回にしてその試料2に対する処理を終
了することを特徴とする。
照射装置において、処理終了時における試料の場所を確
定することができる運転方法を提供する。 【構成】 この運転方法は、試料2が処理室8を通過す
る走査回数を奇数回にしてその試料2に対する処理を終
了することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばイオン注入装
置、イオンビームエッチング装置、イオン照射を併用す
る薄膜形成装置等のように、イオンビームを試料に照射
して処理するイオン照射装置の運転方法に関する。
置、イオンビームエッチング装置、イオン照射を併用す
る薄膜形成装置等のように、イオンビームを試料に照射
して処理するイオン照射装置の運転方法に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のイオン照射装置の一例を図1に
示す。この装置は、イオン源4が取り付けられていてそ
こから引き出したイオンビーム6を試料2に照射して処
理する処理室8と、この処理室8の左右両側に真空弁1
4、16を介して隣接された二つのエアロック室10、
12とを備えている。エアロック室10、12は、試料
2を大気中と処理室8との間で出し入れする予備的な真
空室であり、かつ試料2を矢印Aのように機械的に走査
するためのスペースを確保する部屋も兼ねている。
示す。この装置は、イオン源4が取り付けられていてそ
こから引き出したイオンビーム6を試料2に照射して処
理する処理室8と、この処理室8の左右両側に真空弁1
4、16を介して隣接された二つのエアロック室10、
12とを備えている。エアロック室10、12は、試料
2を大気中と処理室8との間で出し入れする予備的な真
空室であり、かつ試料2を矢印Aのように機械的に走査
するためのスペースを確保する部屋も兼ねている。
【0003】このような装置においては、試料2は、処
理室8内においてのみイオンビーム6が照射され、イオ
ン注入、エッチング等の処理が施される。また、イオン
ビーム照射の均一性向上あるいはイオン照射量を制御す
るために、試料2は、一方のエアロック室例えばエアロ
ック室12から、処理室8、他方のエアロック室10、
処理室8、エアロック室12・・・のように繰り返して
走査される。このような試料2の機械的走査は、例えば
搬送ベルト、搬送ロッドのような搬送手段(図示省略)
によって行われる。また、試料2の搬送時、真空弁1
4、16は、適宜開閉される。
理室8内においてのみイオンビーム6が照射され、イオ
ン注入、エッチング等の処理が施される。また、イオン
ビーム照射の均一性向上あるいはイオン照射量を制御す
るために、試料2は、一方のエアロック室例えばエアロ
ック室12から、処理室8、他方のエアロック室10、
処理室8、エアロック室12・・・のように繰り返して
走査される。このような試料2の機械的走査は、例えば
搬送ベルト、搬送ロッドのような搬送手段(図示省略)
によって行われる。また、試料2の搬送時、真空弁1
4、16は、適宜開閉される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところが、処理室8の
通過回数を試料2の走査回数と呼ぶと、エアロック室1
2から始めて走査回数が奇数回の場合、処理終了時の試
料2は図3に示すようにエアロック室10内にあり、走
査回数が偶数回の場合は処理終了時の試料2は図4に示
すようにエアロック室12内にある。従って、連続的に
多数の試料2を処理する場合、先の処理済の試料2がど
ちらのエアロック室10、12内にあるかを確認する必
要が生じ、そのためにセンサを設ける等しなければなら
ず装置構成が複雑になるという問題がある。
通過回数を試料2の走査回数と呼ぶと、エアロック室1
2から始めて走査回数が奇数回の場合、処理終了時の試
料2は図3に示すようにエアロック室10内にあり、走
査回数が偶数回の場合は処理終了時の試料2は図4に示
すようにエアロック室12内にある。従って、連続的に
多数の試料2を処理する場合、先の処理済の試料2がど
ちらのエアロック室10、12内にあるかを確認する必
要が生じ、そのためにセンサを設ける等しなければなら
ず装置構成が複雑になるという問題がある。
【0005】そこでこの発明は、上記のような処理室の
両側にエアロック室を備えるイオン照射装置において、
処理終了時における試料の場所を確定することができる
運転方法を提供することを主たる目的とする。
両側にエアロック室を備えるイオン照射装置において、
処理終了時における試料の場所を確定することができる
運転方法を提供することを主たる目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明の運転方法は、試料が処理室を通過する走
査回数を奇数回にしてその試料に対する処理を終了する
ことを特徴とする。
め、この発明の運転方法は、試料が処理室を通過する走
査回数を奇数回にしてその試料に対する処理を終了する
ことを特徴とする。
【0007】
【作用】上記運転方法によれば、試料の走査回数を奇数
回に限定するので、処理終了時の試料の場所は、処理開
始時とは反対側のエアロック室内に限定される。これに
より、処理終了時における試料の場所が確定する。
回に限定するので、処理終了時の試料の場所は、処理開
始時とは反対側のエアロック室内に限定される。これに
より、処理終了時における試料の場所が確定する。
【0008】
【実施例】この発明の実施例を前述した図1および図2
を参照して説明する。
を参照して説明する。
【0009】この発明では、試料2が処理室8を通過す
る走査回数を必ず奇数回にして、その試料2に対する処
理を終了する。従って例えば、前記と同様にエアロック
室12から走査を始める場合、処理終了時の試料2の場
所は、図2に示すように、処理開始時とは反対側のエア
ロック室10内に限定される。その結果、次の動作に移
るとき、試料2がどちらのエアロック室10、12内に
あるかを捜す必要がなくなり、従って装置構成を簡素化
することができる。
る走査回数を必ず奇数回にして、その試料2に対する処
理を終了する。従って例えば、前記と同様にエアロック
室12から走査を始める場合、処理終了時の試料2の場
所は、図2に示すように、処理開始時とは反対側のエア
ロック室10内に限定される。その結果、次の動作に移
るとき、試料2がどちらのエアロック室10、12内に
あるかを捜す必要がなくなり、従って装置構成を簡素化
することができる。
【0010】また、処理開始時のエアロック室12と処
理終了時のエアロック室10とが異なるため、エアロッ
ク室10とエアロック室12とで同時に異なる作業を行
う(例えばエアロック室10から処理済の試料2を大気
中に取り出すと同時に、エアロック室12内に新しい試
料2を大気中から搬入する)ことができ、当該イオン処
理装置のスループット(単位時間当りの処理能力)を向
上させることができる。
理終了時のエアロック室10とが異なるため、エアロッ
ク室10とエアロック室12とで同時に異なる作業を行
う(例えばエアロック室10から処理済の試料2を大気
中に取り出すと同時に、エアロック室12内に新しい試
料2を大気中から搬入する)ことができ、当該イオン処
理装置のスループット(単位時間当りの処理能力)を向
上させることができる。
【0011】なお、以上では処理室8の上部にイオン源
4を取り付けた装置の例を示したが、それ以外に、他の
場所で発生させたイオンビーム6をビームラインを通し
て処理室8内に導く構成の装置であっても、この発明の
運転方法を適用することができるのは勿論である。
4を取り付けた装置の例を示したが、それ以外に、他の
場所で発生させたイオンビーム6をビームラインを通し
て処理室8内に導く構成の装置であっても、この発明の
運転方法を適用することができるのは勿論である。
【0012】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、試料の
走査回数を奇数回に限定するので、処理終了時の試料の
場所は、処理開始時とは反対側のエアロック室内に限定
される。これにより、処理終了時における試料の場所が
確定する。その結果、次の動作に移るとき、試料がどち
らのエアロック室内にあるかを捜す必要がなくなり、装
置構成を簡素化することができる。
走査回数を奇数回に限定するので、処理終了時の試料の
場所は、処理開始時とは反対側のエアロック室内に限定
される。これにより、処理終了時における試料の場所が
確定する。その結果、次の動作に移るとき、試料がどち
らのエアロック室内にあるかを捜す必要がなくなり、装
置構成を簡素化することができる。
【0013】また、処理開始時のエアロック室と処理終
了時のエアロック室とが異なるため、両エアロック室で
同時に異なる作業を行うことができ、当該イオン処理装
置のスループットを向上させることができるという効果
も得られる。
了時のエアロック室とが異なるため、両エアロック室で
同時に異なる作業を行うことができ、当該イオン処理装
置のスループットを向上させることができるという効果
も得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 イオン照射装置の一例を示す概略図である。
【図2】 この発明の運転方法による場合の処理終了時
の状態を示す図である。
の状態を示す図である。
【図3】 従来の運転方法による場合の処理終了時の状
態の一例を示す図である。
態の一例を示す図である。
【図4】 従来の運転方法による場合の処理終了時の状
態の他の例を示す図である。
態の他の例を示す図である。
2 試料 4 イオン源 6 イオンビーム 8 処理室 10,12 エアロック室 14,16 真空弁
Claims (1)
- 【請求項1】 イオンビームを試料に照射して処理する
処理室と、この処理室の両側に真空弁を介して隣接され
た二つのエアロック室とを備えていて、試料を一方のエ
アロック室から処理室を通して他方のエアロック室へと
繰り返して走査するイオン照射装置において、試料が処
理室を通過する走査回数を奇数回にしてその試料に対す
る処理を終了することを特徴とするイオン照射装置の運
転方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4089364A JPH05258708A (ja) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | イオン照射装置の運転方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4089364A JPH05258708A (ja) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | イオン照射装置の運転方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05258708A true JPH05258708A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=13968654
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4089364A Pending JPH05258708A (ja) | 1992-03-12 | 1992-03-12 | イオン照射装置の運転方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05258708A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101035934B1 (ko) * | 2008-02-12 | 2011-05-23 | 닛신 이온기기 가부시기가이샤 | 이온 주입 방법 및 장치 |
-
1992
- 1992-03-12 JP JP4089364A patent/JPH05258708A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101035934B1 (ko) * | 2008-02-12 | 2011-05-23 | 닛신 이온기기 가부시기가이샤 | 이온 주입 방법 및 장치 |
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