JPH05257103A - 強誘電体薄膜及びその作製方法 - Google Patents
強誘電体薄膜及びその作製方法Info
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- JPH05257103A JPH05257103A JP4087894A JP8789492A JPH05257103A JP H05257103 A JPH05257103 A JP H05257103A JP 4087894 A JP4087894 A JP 4087894A JP 8789492 A JP8789492 A JP 8789492A JP H05257103 A JPH05257103 A JP H05257103A
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- JP
- Japan
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- thin film
- ferroelectric thin
- polycrystalline
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 多結晶膜を用いて、単結晶膜と同等に優れた
諸特性を有する強誘電体薄膜を作製する。 【構成】 ＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ（ＯＣ2 Ｈ4
ＯＣＨ3)5 を原料としてＳｏｌ−Ｇｅｌ法により塗布液
を調製し、これをＣ面サファイヤ単結晶基板上にスピン
コートして、アニールしたのち焼結する。得られたＬＮ
膜は高い結晶性を有し、Ｃ軸に配向しており、気孔は、
径が平均３００Åで占有面積は膜全体に対し０．９％、
膜の屈折率はｎo ＝２．１３９、ｎe ＝２．１７９であ
る。
諸特性を有する強誘電体薄膜を作製する。 【構成】 ＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ（ＯＣ2 Ｈ4
ＯＣＨ3)5 を原料としてＳｏｌ−Ｇｅｌ法により塗布液
を調製し、これをＣ面サファイヤ単結晶基板上にスピン
コートして、アニールしたのち焼結する。得られたＬＮ
膜は高い結晶性を有し、Ｃ軸に配向しており、気孔は、
径が平均３００Åで占有面積は膜全体に対し０．９％、
膜の屈折率はｎo ＝２．１３９、ｎe ＝２．１７９であ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は導波路、シャッタ、スイ
ッチ、メモリ、ディスプレー、空間変調素子、ＳＨＧ素
子などの用途に有用な強誘電体薄膜及びその作製方法に
関する。
ッチ、メモリ、ディスプレー、空間変調素子、ＳＨＧ素
子などの用途に有用な強誘電体薄膜及びその作製方法に
関する。
【０００２】
【従来の技術】強誘電体材料は、古くから圧電性、焦電
性、電気光学効果、フォトリフラクティブ効果等の諸特
性を有することから注目されている。これらの諸特性を
得るには試料全体の巨視的対称性が対称中心を持たない
ことが条件である。強誘電体材料の場合、試料が微結晶
の集合体すなわち等方的であっても、電界を印加して分
極することにより試料全体の対称性がなくなり、単結晶
と類似の効果が得られる。しかしながら、高い効率でこ
れらの諸特性を得るには試料は単結晶であることが好ま
しい。特に光学的な応用を考えると、バルクの焼結体で
は光の散乱や吸収の原因となるグレインバウンダリーや
空孔（クラック、ポア）が存在するため、一部の応用を
除いて単結晶が多く用いられている。
性、電気光学効果、フォトリフラクティブ効果等の諸特
性を有することから注目されている。これらの諸特性を
得るには試料全体の巨視的対称性が対称中心を持たない
ことが条件である。強誘電体材料の場合、試料が微結晶
の集合体すなわち等方的であっても、電界を印加して分
極することにより試料全体の対称性がなくなり、単結晶
と類似の効果が得られる。しかしながら、高い効率でこ
れらの諸特性を得るには試料は単結晶であることが好ま
しい。特に光学的な応用を考えると、バルクの焼結体で
は光の散乱や吸収の原因となるグレインバウンダリーや
空孔（クラック、ポア）が存在するため、一部の応用を
除いて単結晶が多く用いられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、単結晶は材
料によっては作製が困難であり、また従来入手可能なも
のも大変高価なものであるという問題点があった。
料によっては作製が困難であり、また従来入手可能なも
のも大変高価なものであるという問題点があった。
【０００４】本発明は、この問題点に鑑みなされたもの
であって、その第１の目的は、多結晶であっても単結晶
と同等の特性が得られる強誘電体薄膜を提供することに
あり、また第２の目的は、このような強誘電体薄膜を簡
便なプロセスで作製することができる方法を提供するこ
とにある。
であって、その第１の目的は、多結晶であっても単結晶
と同等の特性が得られる強誘電体薄膜を提供することに
あり、また第２の目的は、このような強誘電体薄膜を簡
便なプロセスで作製することができる方法を提供するこ
とにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の強誘電体薄膜
は、基板上に形成された多結晶配向膜であり、膜表面に
存在する空孔は、占有面積が多結晶配向膜の全表面積の
２．５％以下であることを特徴とする。多結晶配向膜表
面に存在する空孔は、占有面積が多結晶配向膜の全表面
積の１％以下であるのが、優れた光学特性を得る上にお
いて特に好ましい。
は、基板上に形成された多結晶配向膜であり、膜表面に
存在する空孔は、占有面積が多結晶配向膜の全表面積の
２．５％以下であることを特徴とする。多結晶配向膜表
面に存在する空孔は、占有面積が多結晶配向膜の全表面
積の１％以下であるのが、優れた光学特性を得る上にお
いて特に好ましい。
【０００６】本発明の強誘電体薄膜の作製方法は、基板
上に多結晶配向膜をＳｏｌ−Ｇｅｌ法により作成するこ
とを特徴とする。
上に多結晶配向膜をＳｏｌ−Ｇｅｌ法により作成するこ
とを特徴とする。
【０００７】本発明に係る強誘電体薄膜は光学材料に好
適に用いられ、一般に特定されないが、Ｓｏｌ−Ｇｅｌ
法により作製可能な金属酸化物薄膜であれば好ましい。
金属酸化物薄膜としては、例えば、ＬｉＮｂＯ3 、ＫＮ
ｂＯ3 、ＢａＴｉＯ3 、ＬｉＴａＯ3 、などが挙げられ
る。
適に用いられ、一般に特定されないが、Ｓｏｌ−Ｇｅｌ
法により作製可能な金属酸化物薄膜であれば好ましい。
金属酸化物薄膜としては、例えば、ＬｉＮｂＯ3 、ＫＮ
ｂＯ3 、ＢａＴｉＯ3 、ＬｉＴａＯ3 、などが挙げられ
る。
【０００８】薄膜の結晶性、配向性は基板の結晶性に大
きく影響されるため、配向膜を得るには適当な組み合わ
せの基板を選ぶと良い。例えばＣ軸配向ＬｉＮｂＯ3 は
Ｃ面サファイヤ基板上で、（０１２）面配向ＬｉＮｂＯ
3 はＲ面サファイヤ基板上で、（１１０）面配向ＬｉＮ
ｂＯ3 はＡ面サファイヤ基板上でそれぞれ良好な膜が得
られる。
きく影響されるため、配向膜を得るには適当な組み合わ
せの基板を選ぶと良い。例えばＣ軸配向ＬｉＮｂＯ3 は
Ｃ面サファイヤ基板上で、（０１２）面配向ＬｉＮｂＯ
3 はＲ面サファイヤ基板上で、（１１０）面配向ＬｉＮ
ｂＯ3 はＡ面サファイヤ基板上でそれぞれ良好な膜が得
られる。
【０００９】上記したＳｏｌ−Ｇｅｌ法とは、一般に
は、金属アルコキシド等の金属有機化合物を溶液系で加
水分解、重縮合させて金属−酸素−金属結合を成長さ
せ、最終的に焼結することにより完成させる無機酸化物
の作製方法である。Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法の特徴は低基板温
度で均一な膜が得られることである。さらに溶液から製
膜するため基板との密着性に優れている。特に本発明で
は反応を制御することにより空孔が少なく、単結晶に極
く近い光学異方性を有する薄膜を作製することができ
る。
は、金属アルコキシド等の金属有機化合物を溶液系で加
水分解、重縮合させて金属−酸素−金属結合を成長さ
せ、最終的に焼結することにより完成させる無機酸化物
の作製方法である。Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法の特徴は低基板温
度で均一な膜が得られることである。さらに溶液から製
膜するため基板との密着性に優れている。特に本発明で
は反応を制御することにより空孔が少なく、単結晶に極
く近い光学異方性を有する薄膜を作製することができ
る。
【００１０】具体的には基板上に金属有機化合物を含む
溶液を塗布し、乾燥したあと焼結を行う。用いられる金
属有機化合物としては、無機酸化物を構成する金属のメ
トキシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド等の
アルコキシドやアセテート化合物等があげられる。硝酸
塩、しゅう酸塩、過塩素酸塩、等の無機塩でも良い。
溶液を塗布し、乾燥したあと焼結を行う。用いられる金
属有機化合物としては、無機酸化物を構成する金属のメ
トキシド、エトキシド、プロポキシド、ブトキシド等の
アルコキシドやアセテート化合物等があげられる。硝酸
塩、しゅう酸塩、過塩素酸塩、等の無機塩でも良い。
【００１１】これら化合物から無機酸化物を作製するに
は加水分解および重縮合反応を進める必要があるため、
塗布溶液中には水の添加が必要となる。添加量は系によ
り異なるが多すぎると反応が速く進むため得られる膜質
が不均一となり易く、また反応速度の制御が難しい。水
の添加量が少なすぎても反応のコントロールが難しく、
適量がある。
は加水分解および重縮合反応を進める必要があるため、
塗布溶液中には水の添加が必要となる。添加量は系によ
り異なるが多すぎると反応が速く進むため得られる膜質
が不均一となり易く、また反応速度の制御が難しい。水
の添加量が少なすぎても反応のコントロールが難しく、
適量がある。
【００１２】さらに、加水分解の加速触媒や金属原子に
配位するキレート剤を添加して反応速度及び反応形態の
制御ができる。加速触媒としては一般の酸および塩基が
用いられる。触媒の種類により膜質が大きく影響され
る。また、キレート剤としては、アセチルアセトン、エ
チルアセトアセテート、ジエチルマロネート等があげら
れる。
配位するキレート剤を添加して反応速度及び反応形態の
制御ができる。加速触媒としては一般の酸および塩基が
用いられる。触媒の種類により膜質が大きく影響され
る。また、キレート剤としては、アセチルアセトン、エ
チルアセトアセテート、ジエチルマロネート等があげら
れる。
【００１３】溶媒としては、上記材料が沈澱しないも
の、すなわち相溶性に優れたものが望ましい。溶液濃度
は塗布方法にもよるが、スピンコート法の場合、溶液粘
度が数ｃＰ〜数十ｃＰとなるように調整すると良い。コ
ーティングした膜は焼結することにより有機物の脱離及
び結晶化が促進される。
の、すなわち相溶性に優れたものが望ましい。溶液濃度
は塗布方法にもよるが、スピンコート法の場合、溶液粘
度が数ｃＰ〜数十ｃＰとなるように調整すると良い。コ
ーティングした膜は焼結することにより有機物の脱離及
び結晶化が促進される。
【００１４】焼結温度は材料により異なるが、通常の金
属酸化物粉末の焼成にかかる温度より低温で作製でき
る。デバイス構成によっては高温で反応または組成変
化、構成変化するものが多いため、本方法を用いること
により使用可能性がひろがる。
属酸化物粉末の焼成にかかる温度より低温で作製でき
る。デバイス構成によっては高温で反応または組成変
化、構成変化するものが多いため、本方法を用いること
により使用可能性がひろがる。
【００１５】
【作用】本発明の強誘電体薄膜においては、多結晶薄膜
の表面に存在する気孔のサイズが光の波長に対して十分
小さく、占有密度が小さいために光の散乱、吸収が少な
く、単結晶に近い屈折率と光学異方性を有する薄膜とな
る。特に、上記占有面積を薄膜全体の１％以下とするこ
とにより、単結晶薄膜と殆ど同一の特性が得られる。
の表面に存在する気孔のサイズが光の波長に対して十分
小さく、占有密度が小さいために光の散乱、吸収が少な
く、単結晶に近い屈折率と光学異方性を有する薄膜とな
る。特に、上記占有面積を薄膜全体の１％以下とするこ
とにより、単結晶薄膜と殆ど同一の特性が得られる。
【００１６】本発明の強誘電体薄膜の作製方法によれば
高結晶性、高配向性であり、しかも空孔が少ないために
光の散乱や吸収が少なく、単結晶に近い屈折率及び光学
異方性を有する薄膜を簡便なプロセスで作製することが
できる。一般にアモルファス状態から焼結により結晶化
を行なうと結晶性が高くなるほど亀裂や空孔が増加しや
すいが、Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法によれば高結晶性、高配向性
で空孔の少ない膜が得られる。
高結晶性、高配向性であり、しかも空孔が少ないために
光の散乱や吸収が少なく、単結晶に近い屈折率及び光学
異方性を有する薄膜を簡便なプロセスで作製することが
できる。一般にアモルファス状態から焼結により結晶化
を行なうと結晶性が高くなるほど亀裂や空孔が増加しや
すいが、Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法によれば高結晶性、高配向性
で空孔の少ない膜が得られる。
【００１７】なお、結晶中に入射した光は結晶内を通過
する際にさまざまな要因、例えば析出物や空孔、結晶粒
界、粒界層、分域壁、双晶境界などにより吸収、散乱さ
れる。光学軸のそろった高配向性の強誘電体薄膜を作製
しても、これらの要因が大きければ光学材料として使用
できない。
する際にさまざまな要因、例えば析出物や空孔、結晶粒
界、粒界層、分域壁、双晶境界などにより吸収、散乱さ
れる。光学軸のそろった高配向性の強誘電体薄膜を作製
しても、これらの要因が大きければ光学材料として使用
できない。
【００１８】
【実施例】次に実施例を挙げてより詳細に本発明を説明
する。 実施例１ Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法により以下の手順で塗布液を調製し
た。２−メトキシエタノール中で環流してアルコール交
換反応により作製したＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ
（ＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3)5 をＬｉ／Ｎｂ＝１／１となるよ
うに２−メトキシエタノール中に溶解した。この溶液に
水、ＮＨ4 ＯＨをそれぞれ０．０５ｍｏｌ／ｌ、０．１
ｍｏｌ／ｌ添加し、１５０℃で２４時間反応させたもの
を塗布液とした。次に、Ｃ面サファイヤ単結晶基板上
に、上記手順で調製した塗布液を用いてスピンコート法
により製膜し、これを酸素雰囲気下１０℃／ｍｉｎで昇
温して４００℃で３０分アニールした。この製膜及びア
ニールの工程を４回繰返して膜厚を約２０００Åに調製
した。この後さらに６００℃まで同様に昇温して１時間
焼結した。得られたＬＮ膜（ＬｉＮｂＯ3 膜）は高い結
晶性（図１）を有し、Ｃ軸に配向していた。ロッキング
カーブ法により測定したＬＮ（００６）回折ピークの半
値巾は２．９６°であった。膜の表面性をＳＥＭで観察
したところ、気孔は径が平均３００Åで占有面積は全体
に対して０．９％であった。この膜の屈折率は、ｎo ＝
２．１３９、ｎe ＝２．１７９であった。
する。 実施例１ Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法により以下の手順で塗布液を調製し
た。２−メトキシエタノール中で環流してアルコール交
換反応により作製したＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ
（ＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3)5 をＬｉ／Ｎｂ＝１／１となるよ
うに２−メトキシエタノール中に溶解した。この溶液に
水、ＮＨ4 ＯＨをそれぞれ０．０５ｍｏｌ／ｌ、０．１
ｍｏｌ／ｌ添加し、１５０℃で２４時間反応させたもの
を塗布液とした。次に、Ｃ面サファイヤ単結晶基板上
に、上記手順で調製した塗布液を用いてスピンコート法
により製膜し、これを酸素雰囲気下１０℃／ｍｉｎで昇
温して４００℃で３０分アニールした。この製膜及びア
ニールの工程を４回繰返して膜厚を約２０００Åに調製
した。この後さらに６００℃まで同様に昇温して１時間
焼結した。得られたＬＮ膜（ＬｉＮｂＯ3 膜）は高い結
晶性（図１）を有し、Ｃ軸に配向していた。ロッキング
カーブ法により測定したＬＮ（００６）回折ピークの半
値巾は２．９６°であった。膜の表面性をＳＥＭで観察
したところ、気孔は径が平均３００Åで占有面積は全体
に対して０．９％であった。この膜の屈折率は、ｎo ＝
２．１３９、ｎe ＝２．１７９であった。
【００１９】実施例２ Ｓｏｌ−Ｇｅｌ法により以下の手順で塗布液を調製し
た。２−メトキシエタノール中で環流してアルコール交
換反応により作製したＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ
（ＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3)5 をＬｉ／Ｎｂ＝１／１となるよ
うに２−メトキシエタノール中に溶解した。この溶液に
水、ＮＨ4 ＯＨをそれぞれ０．０５ｍｏｌ／ｌ、０．１
ｍｏｌ／ｌ添加したものを塗布液とした。次に、Ｃ面サ
ファイヤ単結晶基板上に上記手順で調製した塗布液を用
いてスピンコート法により製膜し、これを酸素雰囲気下
１０℃／ｍｉｎで昇温して４００℃で３０分アニールし
た。これらの工程を４回繰返して膜厚を約２０００Åに
調製した。この後さらに６００℃まで同様に昇温して１
時間焼結した。得られたＬＮ膜は高い結晶性を有し、Ｃ
軸に配向していた。ロッキングカーブ法により測定した
ＬＮ（００６）回折ピークの半値巾は３．２３°であっ
た。膜の表面性をＳＥＭで観察したところ、気孔は径が
平均３００Åで、占有面積は全体に対して２．３％であ
った。膜の屈折率は、ｎo ＝１．９３３、ｎe ＝１．９
９３であった。
た。２−メトキシエタノール中で環流してアルコール交
換反応により作製したＬｉＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3 とＮｂ
（ＯＣ2 Ｈ4 ＯＣＨ3)5 をＬｉ／Ｎｂ＝１／１となるよ
うに２−メトキシエタノール中に溶解した。この溶液に
水、ＮＨ4 ＯＨをそれぞれ０．０５ｍｏｌ／ｌ、０．１
ｍｏｌ／ｌ添加したものを塗布液とした。次に、Ｃ面サ
ファイヤ単結晶基板上に上記手順で調製した塗布液を用
いてスピンコート法により製膜し、これを酸素雰囲気下
１０℃／ｍｉｎで昇温して４００℃で３０分アニールし
た。これらの工程を４回繰返して膜厚を約２０００Åに
調製した。この後さらに６００℃まで同様に昇温して１
時間焼結した。得られたＬＮ膜は高い結晶性を有し、Ｃ
軸に配向していた。ロッキングカーブ法により測定した
ＬＮ（００６）回折ピークの半値巾は３．２３°であっ
た。膜の表面性をＳＥＭで観察したところ、気孔は径が
平均３００Åで、占有面積は全体に対して２．３％であ
った。膜の屈折率は、ｎo ＝１．９３３、ｎe ＝１．９
９３であった。
【００２０】比較例 実施例２と同様にして塗布液を調製し、Ｃ面サファイヤ
単結晶基板上に上記手順で調製した塗布液を用いてスピ
ンコート法により製膜し、これを酸素雰囲気下４００℃
の炉に入れて３０分アニールした。ここまでの工程を４
回繰返して膜厚を約２０００Åに調製した。この後さら
に６００℃まで同様に昇温して１時間焼結した。得られ
たＬＮ膜は高い結晶性を有しておりＣ軸に配向してい
た。ロッキングカーブ法により測定したＬＮ（００６）
回折ピークの半値巾は２．９０°であった。膜の表面性
をＳＥＭで観察したところ空孔の占有面積は全体に対し
て５％であった。膜の屈折率はｎO ＝１．８７６、ｎe
＝１．９３６と小さい値であった。
単結晶基板上に上記手順で調製した塗布液を用いてスピ
ンコート法により製膜し、これを酸素雰囲気下４００℃
の炉に入れて３０分アニールした。ここまでの工程を４
回繰返して膜厚を約２０００Åに調製した。この後さら
に６００℃まで同様に昇温して１時間焼結した。得られ
たＬＮ膜は高い結晶性を有しておりＣ軸に配向してい
た。ロッキングカーブ法により測定したＬＮ（００６）
回折ピークの半値巾は２．９０°であった。膜の表面性
をＳＥＭで観察したところ空孔の占有面積は全体に対し
て５％であった。膜の屈折率はｎO ＝１．８７６、ｎe
＝１．９３６と小さい値であった。
【００２１】
【発明の効果】以上のように、本発明の強誘電体薄膜で
は、多結晶膜であってもグレイン、ポアによる光の散乱
や吸収が問題にならず、単結晶と同等の屈折率及び光学
異方性を有し、圧電性、焦電性等の諸特性が高い効率で
得られる薄膜とすることができる。また、本発明の強誘
電体薄膜の作製方法によれば、高結晶、高配向性で、か
つ単結晶と同等の屈折率及び光学異方性を有する薄膜を
簡便なプロセスにより得ることができる。
は、多結晶膜であってもグレイン、ポアによる光の散乱
や吸収が問題にならず、単結晶と同等の屈折率及び光学
異方性を有し、圧電性、焦電性等の諸特性が高い効率で
得られる薄膜とすることができる。また、本発明の強誘
電体薄膜の作製方法によれば、高結晶、高配向性で、か
つ単結晶と同等の屈折率及び光学異方性を有する薄膜を
簡便なプロセスにより得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】実施例１で得られたＬＮ膜のＸ線回折パターン
を示すグラフである。
を示すグラフである。
Claims (6)
- 【請求項１】 基板上に形成された多結晶配向膜であ
り、膜表面に存在する空孔は、占有面積が多結晶配向膜
の全表面積の２．５％以下であることを特徴とする強誘
電体薄膜。 - 【請求項２】 前記多結晶膜が、屈折率異方性を有して
いることを特徴とする請求項１に記載の強誘電体薄膜。 - 【請求項３】 前記多結晶膜がイルメナイト構造を有す
ることを特徴とする請求項１または２に記載の強誘電体
薄膜。 - 【請求項４】 前記多結晶膜が、ＬｉＮｂＯ3 の膜であ
ることを特徴とする請求項１又は２に記載の強誘電体薄
膜。 - 【請求項５】 前記ＬｉＮｂＯ3 の多結晶膜が、Ｃ面サ
ファイヤ基板上に形成されていることを特徴とする請求
項４に記載の強誘電体薄膜。 - 【請求項６】 基板上に多結晶配向膜を、Ｓｏｌ−Ｇｅ
ｌ法により作成することを特徴とする強誘電体薄膜の作
製方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4087894A JPH05257103A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 強誘電体薄膜及びその作製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4087894A JPH05257103A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 強誘電体薄膜及びその作製方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05257103A true JPH05257103A (ja) | 1993-10-08 |
Family
ID=13927598
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4087894A Pending JPH05257103A (ja) | 1992-03-11 | 1992-03-11 | 強誘電体薄膜及びその作製方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05257103A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100462253B1 (ko) * | 2002-09-03 | 2004-12-17 | 학교법인 동의학원 | 강유전체 결정 기판의 열처리 방법 |
| JP2006310877A (ja) * | 1995-09-19 | 2006-11-09 | Seiko Epson Corp | 圧電体薄膜素子及びインクジェット式記録ヘッド |
| US7292382B2 (en) | 2003-08-07 | 2007-11-06 | Rohm Co., Ltd. | Light control unit |
| US7295360B2 (en) | 2003-08-07 | 2007-11-13 | Rohm Co., Ltd. | Structure having light modulating film and light control device using the same |
| US7372608B2 (en) | 2005-11-28 | 2008-05-13 | Rohm Co., Ltd. | Light control device and light control system using the same |
| US7672034B2 (en) | 2005-04-11 | 2010-03-02 | Rohm Co., Ltd. | Method for manufacturing optical modulator, optical modulator, and optical modulation system |
| US7894115B2 (en) | 2005-01-20 | 2011-02-22 | Rohm Co., Ltd. | Light control apparatus having light modulating film |
| JP2011054977A (ja) * | 1995-09-19 | 2011-03-17 | Seiko Epson Corp | 圧電体素子およびインクジェット式記録ヘッド |
| US8125423B2 (en) | 2005-02-07 | 2012-02-28 | Rohm Co., Ltd. | Voltage control circuit, voltage control method and light control apparatus utilizing the same |
-
1992
- 1992-03-11 JP JP4087894A patent/JPH05257103A/ja active Pending
Cited By (11)
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