JPH05256837A - 質量分析計 - Google Patents
質量分析計Info
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- JPH05256837A JPH05256837A JP4054768A JP5476892A JPH05256837A JP H05256837 A JPH05256837 A JP H05256837A JP 4054768 A JP4054768 A JP 4054768A JP 5476892 A JP5476892 A JP 5476892A JP H05256837 A JPH05256837 A JP H05256837A
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Abstract
し、イオンを効率的に抽出できる噴霧イオン源を備えた
液体クロマトグラフ・質量分析計を提供する。 【構成】試料溶液を噴霧するための細管11とイオンを
高真空部に取り込むための細孔15との間に赤外線ヒー
タ21を設け、液滴に赤外線を照射する。赤外線により
溶媒分子が加熱され、液滴の気化が促進される。 【効果】噴霧により生成した微小液滴を効果的に気化で
きるようになり、液滴からイオンを抽出しやすくなり、
液体クロマトグラフ・質量分析計の感度が向上する。
Description
揮発性物質の分離分析に重要な液体クロマトグラフと質
量分析計を結合した装置、すなわち、液体クロマトグラ
フ・質量分析計におけるインターフェースに関する。
フ・質量分析計の開発が重要視されている。液体クロマ
トグラフは混合物の分離に優れるが物質の同定ができ
ず、一方質量分析計は感度も高く物質の同定能力に優れ
るが混合物の分析は困難である。そこで、液体クロマト
グラフの検出器として質量分析計を用いる液体クロマト
グラフ・質量分析計は、混合物の分析に対して大変有効
である。
分析計の全体の構成を示すブロック図を示す。液体クロ
マトグラフ1から溶出してくる試料溶液は配管2により
イオン源3に導入される。イオン源3はイオン源用電源
4により信号ライン5aを介して制御されている。イオ
ン源3で生成した試料分子に関するイオンは、質量分析
部6に導入されて質量分析される。この質量分析部6は
排気系7により真空に排気される。質量分析されたイオ
ンはイオン検出器8で検出され、検出信号は信号ライン
5bを介してデータ処理装置9に送られる。
量分析計の原理は簡単であるが、液体クロマトグラフは
溶液中の試料を扱うのに対して、質量分析計は高真空中
のイオンを扱うという相性の悪さから、この方法の開発
は非常に困難なものとなっている。この問題を解決する
ためにいくつかの方法が開発されている。なかでも有力
視されているのは、液体クロマトグラフからの溶出液を
噴霧し、生成した液滴中に含まれる試料分子をイオン化
して質量分析部へと取り込む噴霧イオン化法である。
ル ケミストリー 1987年,59巻,2642頁
(Analytical Chemistry 59,(1987)2642)
に記載されている静電噴霧法について説明する。
ロマトグラフ・質量分析計の構造を示す断面図を示す。
液体クロマトグラフ1から溶出してくる試料溶液を、配
管2,コネクタ10を介して細管11に導入する。この
細管11と対向電極12との間に数kVの電圧を印加す
ると、細管11の先端で試料溶液がコーン状態になりそ
の先端から微小液滴が生成する、いわゆる静電噴霧現象
が起こる。静電噴霧法では、噴霧用ガス噴出口13を設
け、細管11のまわりから窒素などのガスを流し微小液
滴の気化を促進させる。さらに、生成した微小液滴に向
けて、窒素などのガスを対向電極12側に設けられた気
化用ガス噴出口14から吹き付け、微小液滴の気化を促
進させる。以上のような過程を経て生成したイオンは、
細孔15から直接真空中に導入され、高真空下の質量分
析部6で質量分析される。
り、イオンを生成する方法もある。アナリティカル ケ
ミストリー,1989年,61巻,1159頁(Analyt
icalChemistry 61(1989)1159)に記載されて
いる大気圧スプレ法について説明する。大気圧スプレイ
オン化法は、400度から500度に加熱した金属細管
を通して試料溶液を噴霧することにより、試料分子にプ
ロトンあるいはカチオンの付加した擬似分子イオンを生
成する方法である。
液体クロマトグラフ・質量分析計の構造を示す断面図を
示す。イオン源3は、細管11と、細管11を加熱する
ためのヒータ16よりなる。液体クロマトグラフ1から
溶出してくる試料溶液は、配管2,コネクタ10を介し
て細管11に導入される。ヒータ16により細管11を
加熱し、試料溶液を加熱噴霧する。噴霧により得られた
微小液滴中には、試料分子の擬似分子イオンが含まれて
いる。この擬似分子イオンを細孔15a,差動排気部1
7,細孔15bを通して真空中に導入し、質量分析部6
で質量分析する。
示す拡大された断面図を示す。細管11は、内径約0.
1mm,外径約1.6mmのステンレス製あるいはニッケル
製である。細管11の外部にヒータ線18が巻かれてい
る。細管11とヒータ線18との間の電気的な絶縁は、
石英管19により行なう。ヒータ線18の外部には、保
護用のセラミック管20が設けられている。
うな課題があった。噴霧により生成した微小液滴中に含
まれるイオンを効率良く取り出すには、できるだけ細か
い液滴を作り、かつ溶媒分子を効果的に除去することが
ポイントとなる。上記の静電噴霧法では、試料溶液を静
電噴霧により微粒化した後、生成した微小液滴に向けて
窒素などのガスを吹き付け、微粒化を促進させている。
しかし、この方法では、微小液滴を十分に気化させるこ
とが困難であり、毎分数十マイクロリットルを超える試
料溶液を静電噴霧イオン源に導入すると、液体クロマト
グラフ・質量分析計の感度が低下するという問題があっ
た。
液を加熱噴霧することにより脱溶媒化させているが、十
分に微粒化するためには細管を高温に加熱しなければな
らない。このため、熱的に不安定な試料を分析する場
合、試料の一部が熱分解してしまうという問題があっ
た。そこで、細管の温度を低くしても効果的に液滴から
イオンを取り出すことができる、脱溶媒化の方法が求め
られていた。
的に気化することのできる噴霧イオン源を備えた液体ク
ロマトグラフ・質量分析計を提供することにある。
トグラフからの溶出液を細管の一端に導入し、大気圧下
で細管の他の端から試料溶液を噴霧しイオンを生成させ
る噴霧イオン源と、イオンを質量分析するための質量分
析部とからなる質量分析計において、噴霧により生成し
た微小液滴に赤外線あるいはマイクロ波を照射し、水分
子などの溶媒分子を加熱し気化することによって達成さ
れる。
熱源,赤外線レーザ光を使用する。また、マイクロ波の
照射を放射アンテナ,マイクロ波導波管,空洞共振器を
利用して行う。
射による加熱により、噴霧により生成した微小液滴から
の脱溶媒化が効果的に行なわれ、微小液滴を十分に加熱
気化することができ、微小液滴中に含まれるイオンが抽
出しやすくなった。その結果、液体クロマトグラフ・質
量分析計の感度を向上させることができた。
液滴に照射し噴霧液滴の気化を促進する静電噴霧イオン
源の第1の実施例の断面図を示す。液体クロマトグラフ
1からの溶出液は、配管2,コネクタ10を介して、細
管11に導入される。静電噴霧により細管11先端で生
成した微小液滴は、噴霧用ガス噴出口13からの高速の
ガスによりさらに微細化が促進される。生成した微小液
滴は、気化用ガス噴出口14から導入されたガスが吹き
付けられるのと同時に、赤外線ヒータ21から放射され
た赤外線により溶媒分子が加熱され、気化が促進され
る。赤外線の定義は、遠赤外線を含む。信号ライン5c
を経由して赤外線ヒータ用電源によって制御される赤外
線ヒータ21は、図1のように、生成した液滴を上下か
ら、あるいは左右から加熱してもよい。加熱効率をあげ
るため、赤外線の反射板22を設けてもよい。また、細
管11の先端に電界を集中させるために、赤外線ヒータ
21はセラミック製が望ましい。
液滴に照射し噴霧液滴の気化を促進する静電噴霧イオン
源の第2の実施例の断面図を示す。図2に示すように、
リング状の赤外線ヒータ21を用いてもよいし、細孔1
5の後の真空下にも赤外線ヒータ21′を設け、気化効
率をさらにあげてもよい。
細管11を加熱することにより不都合が生じる場合に
は、図3に示す第3の実施例のように、赤外線ヒータ2
1と細管11の間に熱遮蔽板23を設けてもよい。
液滴に照射し噴霧液滴の気化を促進する静電噴霧イオン
源の第4の実施例の断面図を示す。図4に示すように、
イオンを差動排気部17を通して質量分析部6へ取り込
む構成の場合には、差動排気部17にも赤外線ヒータ2
1′′を設けても良い。
良い。図5に赤外線レーザ光を噴霧液滴に照射し噴霧液
滴の気化を促進する静電噴霧イオン源の第1の実施例の
断面図を示す。図5では、四重極型質量分析計におい
て、噴霧により生成した微小液滴に赤外線レーザを照射
する構成を示す。レーザ発振器25から放射された赤外
線レーザ光25aは、反射鏡26などにより方向を制御
され、細管11より噴霧された液滴に照射される。
しても良いが、四重極マスフィルタ27の中心軸上で細
管11の噴霧の先端と対向する方向から照射する方法
は、細管11から噴霧された液滴が細孔15より高真空
下に取り込まれるまでの間、加熱され続けるので、特に
効果的である。
27とイオン検出器8よりなる。四重極マスフィルタ2
7を透過したイオンは、電界により二次電子放出電極2
8に引き寄せられ、二次電子放出電極28に衝突する。
イオンの衝突により二次電子放出電極28から放出され
た二次電子は、二次電子放出電極28に対抗して配され
た二次電子検出器29で検出される。図5に示したよう
に、レーザ発振器25′は真空容器内に設けても良く、ま
た、レーザ発振器25を真空容器外に設け、レーザ透過
用窓31を通してレーザ光を導入しても良く、少なくと
もいずれか一方のレーザ発振器を使用し、レーザ光25
aを照射すればよい。
電場分析部と磁場分析部とから成る二重収束型質量分析
計に対しても有効である。図6に赤外線レーザ光を噴霧
液滴に照射し噴霧液滴の気化を促進する静電噴霧イオン
源の第2の実施例の断面図を示す。図6では、二重収束
型質量分析計にレーザ発振器25を設けた構成を示す。
図6に示した構成は、図5に示した四重極型質量分析計
に対する構成とほぼ同じであるが、電場分析部32に設
けられている電場分析用電極33がレーザ光25aの進
路を妨げる場合には、電場分析用電極33にレーザ光2
5aの透過用の穴38を開け、この穴38を通して細管
11から噴霧された微小液滴にレーザ光25aを照射す
れば良い。
滴にマイクロ波を照射し、水分子を加熱し気化する方法
も有効である。以下に、静電噴霧により生成した微小液
滴にマイクロ波を照射する構成について述べる。図7に
マイクロ波を噴霧液滴に照射し噴霧液滴の気化を促進す
る静電噴霧イオン源の第1の実施例の断面図を示す。図
7に示すように、マイクロ波発振器39よりマイクロ波
伝送路40を通してアンテナ34に導入されたマイクロ
波を、アンテナ34より微小液滴に向けて照射し、液滴
を加熱し気化する。マイクロ波の周波数は1ギガヘルツ
以上が望ましい。アンテナ34は、図7に示したような
ホーンアンテナでも良く、スロットアンテナ,ダイポー
ルアンテナ,ループアンテナ,パラボラアンテナなど、
アンテナの種類によらず利用可能である。アンテナ34
から放射されたマイクロ波を空間的に収束させたい場合
には、電磁レンズ35を設ければ良い。マイクロ波の漏
洩による危険を防止するために、電磁シールド36を設
け、マイクロ波を遮蔽しても良い。
液滴の気化を促進する静電噴霧イオン源の第2の実施例
の断面図を示す。図8に示すように、細管11と導波管
37の外壁との間で静電噴霧させ、得られた液滴を導波
管37に導入し、導波管37内で液滴にマイクロ波を照
射しても良い。液滴が導波管37内で拡散するのを防ぐ
ため、石英管19などのマイクロ波の吸収の少ない絶縁
管を埋め込んで液滴にマイクロ波を照射しても良い。
液滴の気化を促進する静電噴霧イオン源の第3の実施例
の断面図を示す。図9に示すように、構成をより簡単に
して、導波管37に気化用ガス噴出口14を設け導入さ
れたガスを微小液滴に吹き付けても良い。
霧液滴の気化を促進する静電噴霧イオン源の第4の実施
例の断面図を示す。図10に示すように、導波管37内
に細管11を連結するように設け、マイクロ波の電界を
細管11の先端に集中させてもよい。
例において、導波管37の代わりに空洞共振器を用いて
も良い。
気部17を有する構造の場合には、差動排気部17にも
マイクロ波を導入してもよい。また、差動排気部の有無
によらず、高真空部にもマイクロ波を導入しても良い。
いはマイクロ波を照射する構成は、細管を加熱すること
により試料溶液を噴霧することを特徴とするイオン源に
対しても有効である。以下に、本発明を大気圧スプレイ
オン源に適用した例について説明する。図1,図2,図
3,図4と同様に、細管11と質量分析部6との間に赤
外線ヒータ21を設けても良く、図5,図6と同様に、
噴霧により生成した液滴に赤外線レーザ光を照射する構
成でも良い。図7,図8,図9,図10と同様に、液滴
にマイクロ波を照射してもよい。
図15より明らかなように、大気圧スプレイオン源には
細管11を加熱するためにヒータ18が設けられている
ので、ヒータ18から放射される赤外線を、細管11の
みならず、噴霧により生成した液滴にも照射する方法も
有効である。この構成を、図11に示す。従来の大気圧
スプレイオン源を示す図15では、細管11の先端まで
しか巻かれていなかったヒータ線18を、細管11の前
方まで配し、ヒータ線18から放射される赤外線を噴霧
により生成した液滴に照射する。液滴がヒータ線18に
直接触れるのを防止したい場合には、図11に示すよう
に、細管11の前方まで石英管19を配すれば良い。
る際に断熱膨張により温度が下がるので、細孔が冷却さ
れ、噴霧液滴の脱溶媒を阻害する場合がある。細孔の冷
却による脱溶媒の阻害を避けるには、あらかじめ噴霧液
滴を気化に適した温度に加熱しておくか、細孔を加熱す
れば良い。細管あるいは細孔を加熱する必要が生じる場
合には、高周波による誘導加熱を行なっても良い。
を加熱する噴霧イオン源を備えた質量分析計の断面図を
示す。噴霧の方式は、静電噴霧であっても加熱噴霧であ
ってもよい。高周波電源41aより信号ライン5dを通
して高周波を高周波コイル42aに送る。高周波コイル
42aより放射される高周波により、細管11が誘導加
熱される。細孔15aの近くにも高周波コイル42bを
配し、高周波電源41bにより信号ライン5eを通して
高周波を高周波コイル42bに送り、細孔15aあるい
は細孔15aを有する細孔保持部43も加熱しても良
い。
液滴や、大気圧スプレイオン源において細管の温度を低
くして生成した液滴の気化が十分にできるようになっ
た。この結果、液滴からイオンを抽出しやすくなり、液
体クロマトグラフ・質量分析計の感度が向上する。
計のみならず、噴霧イオン源を備えた分析装置、例えば
キャピラリ電気泳動と質量分析計を結合したキャピラリ
電気泳動・質量分析計などに対しても同様に有効であ
る。
からの脱溶媒化が効果的に行なわれ、液滴中に含まれる
イオンが抽出しやすくなった。その結果、液体クロマト
グラフ・質量分析計の感度が向上した。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
を示す断面図。
例を示す断面図。
図。
成を示すブロック図。
トグラフ・質量分析計の構造を示す断面図。
ロマトグラフ・質量分析計の構造を示す断面図。
面図。
霧イオン源を備えた質量分析計の断面図。
ン、6…質量分析部、10…コネクタ、11…細管、1
3…噴霧用ガス噴出口、14…気化用ガス噴出口、15
…細孔、21…赤外線ヒータ、22…反射板、24…赤
外線ヒータ用電源。
Claims (8)
- 【請求項1】液体クロマトグラフからの溶出液を細管の
一端に導入し、大気圧下で前記細管の他の端から試料溶
液を噴霧しイオンを生成させる噴霧イオン源と、前記噴
霧イオンを高真空中へ導入する細孔と、イオンを質量分
析するための質量分析部とからなる質量分析計におい
て、噴霧により生成した微小液滴に赤外線あるいはマイ
クロ波を照射し、この微小液滴の気化を容易にすること
を特徴とする質量分析計。 - 【請求項2】請求項1において、前記噴霧イオン源部、
あるいはイオンを前記質量分析部に導入するための差動
排気部、あるいは前記高真空部の少なくとも一箇所に、
赤外線を放射する熱源を設けた質量分析計。 - 【請求項3】請求項1において、赤外線レーザ光発振器
を備え、前記噴霧イオン源より噴霧された微小液滴に、
噴霧の方向に対抗する方向から、前記細孔を通して赤外
線レーザ光を照射する機構を設けた質量分析計。 - 【請求項4】請求項1において、前記噴霧イオン源部、
あるいは前記差動排気部、あるいは前記高真空部の少な
くとも一箇所に、マイクロ波の放射アンテナを設けた質
量分析計。 - 【請求項5】請求項1において、マイクロ波の導波管、
あるいは空洞共振器を有し、前記噴霧イオン源より生成
された液滴を、マイクロ波の導波管内、あるいは空洞共
振器内に導入する質量分析計。 - 【請求項6】請求項5において、前記導波管、あるいは
前記空洞共振器に気体の噴出口を設けた質量分析計。 - 【請求項7】請求項1において、液体クロマトグラフか
らの溶出液を細管の一端に導入し、大気圧下で前記細管
の他の端から試料溶液を噴霧する前記細管の先端を前記
マイクロ波の導波管内、あるいは前記空洞共振器内に設
けた質量分析計。 - 【請求項8】液体クロマトグラフからの溶出液を細管の
一端に導入し、大気圧下で前記細管の他の端から試料溶
液を噴霧しイオンを生成させる噴霧イオン源と、噴霧イ
オンを高真空中へ導入する細孔と、イオンを質量分析す
るための質量分析部とからなる質量分析計において、高
周波発振部を有し、前記細管、あるいは前記細孔、ある
いは細孔保持部のうち少なくとも一箇所を、高周波によ
る誘導加熱により加熱することを特徴とする質量分析
計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05476892A JP3160050B2 (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 質量分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP05476892A JP3160050B2 (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 質量分析計 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05256837A true JPH05256837A (ja) | 1993-10-08 |
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ID=12979953
Family Applications (1)
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JP05476892A Expired - Lifetime JP3160050B2 (ja) | 1992-03-13 | 1992-03-13 | 質量分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3160050B2 (ja) |
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