JPWO2017098600A1 - イオン化装置 - Google Patents
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Abstract
Description
100mm 5×10-5
50mm 7×10-3
20mm 0.1
10mm 0.4
2mm 0.8
図4、図5は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、スプレーチップの中心軸と光ファイバの中心軸を直角の位置関係に配置した例を示す模式図である。図4は光軸に平行な方向から見た模式図、図5は光軸に垂直な方向から見た模式図である。
図6は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、スプレーチップの中心軸と光ファイバの中心軸を鈍角の位置関係に配置した例を示す模式図である。
図7は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、スプレーチップの軸と光ファイバの軸が鋭角の位置関係にある例を示す模式図である。
図8は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、光ファイバが円筒状である例を示す模式図である。
図9は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、スプレーチップが細孔に向けられた位置関係にある例を示す模式図である。
図10は、本発明を用いたESIイオン源の一例として、スプレーチップが複数ある例を示す模式図である。
図11は、本発明を用いたAPCI(大気圧化学イオン化)イオン源の一例を示す模式図である。
図12は、本発明を用いたAPCIイオン源の一例として、試料の微粒子化装置として超音波霧化器を用いる例を示す模式図である。
図13は、本発明を用いたESIイオン源の一例を示す模式図である。
図14は、本発明を用いたESIイオン源の一例を示す模式図である。
図15は、本発明を用いた質量分析システムの一例を示す概略図である。
11…差動排気部
12…質量分析部
16…スプレーチップ
22…量分離装置
23…検出器
28…光ファイバ
30…ガス導入管
31…レンズ
32…位置調整器
33…試料微粒子
34…試料微粒子噴霧範囲
35…レーザ照射範囲
38…細孔
58…ステンレス管
61…チューブ状光ファイバ
80…針電極
91…液体試料
92…超音波振動子
96…試料微粒子噴霧範囲
144…イオン化室
146…ステンレス管
149…光ファイバ
151…赤外透過窓
155…対向電極
Claims (22)
- 物質をイオン化するイオン化装置であって、
目的物質を含む試料を保持する試料保持部と、
前記試料保持部に保持された試料を試料微粒子にする微粒子化装置と、
光源と、
前記光源の光を前記微粒子化装置によって発生された試料微粒子に導き照射する導光路とを備え、
前記試料微粒子が存在する空間範囲と前記導光路の先端との最近接距離が0.1mm以上20mm以下であり、
前記導光路による光の照射範囲と、前記試料の表面、前記微粒子化装置、前記試料保持部のいずれか最も近いものとの最近接距離が0.01mm以上10mm以下である、イオン化装置。 - 前記試料微粒子が存在する空間範囲と、前記導光路の先端との最近接距離が0.1mm以上10mm以下である、請求項1のイオン化装置。
- 前記試料微粒子が存在する空間範囲と、前記導光路の先端との最近接距離が0.1mm以上2mm以下である、請求項1のイオン化装置。
- 前記光の照射範囲と、前記試料の表面、前記微粒子化装置及び前記試料保持部のいずれか最も近いものとの最近接距離が0.1mm以上5mm以下である、請求項1のイオン化装置。
- 前記微粒子化装置は液体試料を噴霧することで微粒子化する、請求項1のイオン化装置。
- 前記微粒子化装置はエレクトロスプレーである、請求項1のイオン化装置。
- コロナ放電により生じる気相イオンを、前記試料微粒子から生成した気相試料分子と反応させることによりイオン化する、請求項1のイオン化装置。
- 誘電体バリヤー放電により生じる気相イオンを、前記試料微粒子から生成した気相試料分子と反応させることによりイオン化する、請求項1のイオン化装置。
- 前記試料微粒子の周囲に脱溶媒ガスを導入するためのガス導入部を有する、請求項1のイオン化装置。
- イオン化された試料を質量分離装置、イオン移動度計又は高電界非対称波形イオン移動度計に送って検出する、請求項1のイオン化装置。
- 前記導光路の先端部を固定し、前記導光路と前記試料、前記試料保持部又は前記微粒子化装置との位置関係を調整する位置調整器を備える、請求項1のイオン化装置。
- 前記導光路は光ファイバである、請求項1のイオン化装置。
- 前記光ファイバを複数備える、請求項12のイオン化装置。
- 前記光ファイバは中空である、請求項12のイオン化装置。
- 前記中空の光ファイバの中に脱溶媒ガスを通気する、請求項14のイオン化装置。
- 前記光源は赤外レーザ光源である、請求項1のイオン化装置。
- 前記赤外レーザの波長は1μm以上100μm以下である、請求項16のイオン化装置。
- 前記微粒子化装置は0.01atm以上1atm以下の圧力範囲にある、請求項1のイオン化装置。
- 前記液体試料を噴霧する微粒子化装置が複数ある、請求項1のイオン化装置。
- 前記光の照射範囲から、前記質量分離装置、前記イオン移動度計又は前記高電界非対称波形イオン移動度計のイオン検出器が外れている、請求項10のイオン化装置。
- 複数のイオン化室を備え、単一の前記光源から、複数の前記導光路を通じて光を前記複数のイオン化室へ導入する、請求項1のイオン化装置。
- 物質をイオン化するイオン化装置であって、
目的物質を含む試料を保持する試料保持部と、
前記試料保持部に保持された試料を試料微粒子にする微粒子化装置と、
光源と、
前記光源の光を前記微粒子化装置によって発生された試料微粒子に導き照射する導光路とを備え、
前記微粒子化装置と前記導光路の先端との最近接距離が1mm以上20mm以下である、イオン化装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2015/084505 WO2017098600A1 (ja) | 2015-12-09 | 2015-12-09 | イオン化装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017098600A1 true JPWO2017098600A1 (ja) | 2018-08-16 |
JP6470852B2 JP6470852B2 (ja) | 2019-02-13 |
Family
ID=59013865
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017554712A Expired - Fee Related JP6470852B2 (ja) | 2015-12-09 | 2015-12-09 | イオン化装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10466214B2 (ja) |
JP (1) | JP6470852B2 (ja) |
WO (1) | WO2017098600A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11084100B2 (en) * | 2017-08-23 | 2021-08-10 | University Of Central Florida Research Foundation, Inc. | Laser-assisted manufacturing system and associated method of use |
JP6801794B2 (ja) * | 2017-09-14 | 2020-12-16 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ |
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JP2015046381A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-03-12 | キヤノン株式会社 | イオン化装置、それを有する質量分析装置及び画像作成システム |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4531056A (en) | 1983-04-20 | 1985-07-23 | Yale University | Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions |
US6777672B1 (en) * | 2000-02-18 | 2004-08-17 | Bruker Daltonics, Inc. | Method and apparatus for a multiple part capillary device for use in mass spectrometry |
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EP2017610B1 (en) * | 2006-04-28 | 2014-10-01 | University of Yamanashi | Ionizing method and device by electrospray |
WO2009157312A1 (ja) * | 2008-06-27 | 2009-12-30 | 国立大学法人山梨大学 | イオン化分析方法および装置 |
WO2015031321A1 (en) * | 2013-08-26 | 2015-03-05 | Akos Vertes | Remote laser ablation electrospray ionization mass spectrometry |
-
2015
- 2015-12-09 WO PCT/JP2015/084505 patent/WO2017098600A1/ja active Application Filing
- 2015-12-09 JP JP2017554712A patent/JP6470852B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2015-12-09 US US15/764,249 patent/US10466214B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH05256837A (ja) * | 1992-03-13 | 1993-10-08 | Hitachi Ltd | 質量分析計 |
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JP2015046381A (ja) * | 2013-08-02 | 2015-03-12 | キヤノン株式会社 | イオン化装置、それを有する質量分析装置及び画像作成システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017098600A1 (ja) | 2017-06-15 |
US10466214B2 (en) | 2019-11-05 |
JP6470852B2 (ja) | 2019-02-13 |
US20180284083A1 (en) | 2018-10-04 |
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