JPH05256468A - 清浄空気の供給方法及び供給装置 - Google Patents

清浄空気の供給方法及び供給装置

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JPH05256468A
JPH05256468A JP4052500A JP5250092A JPH05256468A JP H05256468 A JPH05256468 A JP H05256468A JP 4052500 A JP4052500 A JP 4052500A JP 5250092 A JP5250092 A JP 5250092A JP H05256468 A JPH05256468 A JP H05256468A
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JP
Japan
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air
tank
clean
temperature
water
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Withdrawn
Application number
JP4052500A
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English (en)
Inventor
Minoru Sanpei
稔 三瓶
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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  • Air Filters, Heat-Exchange Apparatuses, And Housings Of Air-Conditioning Units (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は清浄空気の供給方法及び供給装置に
関し、メンテナンスに手数を要さず、且つ従来のフィル
タでは除去しきれない0.05μm以下の粒子を除去す
ることができる清浄空気の供給方法及び供給装置を実現
することを目的とする。 【構成】 水蒸気発生器24と冷却槽25とを有し、該
水蒸気発生器24で発生させた水蒸気を清浄化すべき空
気と混合させ、その後冷却することにより凝結した水滴
と共にダストを除去し空気を清浄化するように構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は清浄空気の供給方法及び
供給装置に関する。詳しくは、半導体装置製造用のクリ
ーンルーム等へ清浄な空気を供給する方法及び装置に関
する。
【0002】現在、半導体製造プロセスを行う場所、即
ち、クリーンルームにおいては、どんなに微細な粒子で
あっても存在してはならない。しかしながら、高性能フ
ィルタのみでは超微粒子は捕促できないのが現状であ
る。現在の、所謂、スーパークリーンルームでさえも、
0.1μm粒子が1m3 中に1個程度存在している。こ
のため、プロセスで要求されている許容粒子(0.05
μm粒子)以下まで捕捉する方法が要求されている。
【0003】
【従来の技術】図3は従来の清浄空気供給方法を示す図
である。これは先ず供給空気を目の粗いプレフィルタ1
を通し、その後に中間フィルタ2を、次いで目の細い最
終段のHEPAフィルタ3を通過させてクリーンルーム
4に供給するようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の清浄空気供
給方法では、3段にフィルタを使用しているため、頻繁
なメンテナンスが必要であり、また0.05μm以下の
粒子を除去できないという問題があった。
【0005】本発明は、メンテナンスに手数を要さず、
且つ従来のフィルタでは除去しきれない0.05μm以
下の粒子を除去することができる清浄空気の供給方法及
び供給装置を実現しようとする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の清浄空気供給方
法に於いては、水蒸気発生器24と冷却槽25とを有
し、該水蒸気発生器24で発生させた水蒸気を清浄化す
べき空気と混合させ、その後冷却することにより凝結し
た水滴と共にダストを除去し空気を清浄化することを特
徴とする。
【0007】また本発明の清浄空気供給装置に於いて
は、空気取入手段と、水蒸気発生器24と、該水蒸気発
生器24で発生させた水蒸気と空気とを混合させる混合
槽20と、該混合槽20に接続した冷却槽25とを少な
くとも具備して成ることを特徴とする。この構成を採る
ことにより、メンテナンスに手数を要さず、且つ従来の
フィルタでは除去しきれない0.05μm以下の粒子を
除去することができる清浄空気の供給方法及び供給装置
が得られる。
【0008】
【作用】図1は本発明の原理説明図であり、(a)図に
おいて10は捕捉しようとする微粒子、11は水蒸気の
凝結した粒子である。本発明ではこの水蒸気の粒子11
が(b)図に示す如く微粒子10を捕え、この粒子12
が(c)図の如く冷却体13に当たると、その他の水蒸
気とともに水滴に変わり、外部に排除される。同時に高
温の水蒸気により滅菌、脱塩、過剰なCO2 の除去も行
なわれ、空気を清浄化することができる。
【0009】
【実施例】図2は本発明の実施例を示すブロック図であ
る。同図において、20は混合槽であり、その一方には
空気取入口21、前段フィルタ22、コンプレッサ23
が接続され、他方に水蒸気発生器24が接続されてい
る。また25は冷却槽であり、その一方を混合槽20
に、他方を清浄空気供給対象に接続している。またこの
冷却槽25は熱交換器26を内蔵しており、該熱交換器
26には冷媒を供給する冷却器27が接続されている。
また28は冷却槽に接続された排出槽、29は露点計、
30は湿度制御器、31は加熱器である。
【0010】このように構成された本実施例装置を用い
た清浄空気供給方法を説明する。先ず図2において、前
段フィルタ22を通過した空気はコンプレッサ23によ
って加圧され、混合槽20に導かれる。混合槽20で
は、水蒸気発生器24で超純水から発生させた水蒸気で
満たされており、ここで供給空気と混合される。
【0011】この混合空気は、更に配管で導かれ冷却槽
25を通過する。この時冷却槽25の温度は、精製空気
の温度と湿度の関係によって制御される。例えば半導体
製造プロセスに必要な温度と湿度の場合、温度約22
℃、湿度約40%であるが、この場合の露点を逆算し、
冷却槽25の温度を制御すれば良い。また、氷結しない
程度まで冷却を行い、その後、露点計29と湿度制御器
30で水蒸気発生器24からの水蒸気を導入して湿度を
制御することもできる。
【0012】この冷却槽25を通過する際、水蒸気に捕
らえられていた微粒子は、水滴とともに排出される。こ
の水滴は一旦排出槽28に集められ、ここからポンプに
よって排出される。冷却槽25を通過した空気は徐々に
上に登っていき、温度制御された加熱器31を通過し、
温度22℃、湿度40%の空気として供給対象に供給さ
れる。
【0013】本実施例の清浄空気供給方法及び供給装置
によれば、フィルタが1段ですみ、メンテナンスが容
易である。蒸気を通過する際に、塩分や微粒子が除去
される。フィルタが1段であるため圧力損失が少な
い。蒸気を用いるために、空気中のバクテリア等を死
滅させ殺菌することができる。また過剰なCO2 を除
去することができる。等の利点を有する。
【0014】
【発明の効果】本発明に依れば、供給空気を水蒸気と混
合した後、冷却することにより、微粒子を水蒸気により
捕捉することができ、従来のフィルタでは除去しきれな
い0.05μm以下の粒子を除去することができる。ま
た同時に塩分、過剰なCO2 等の除去及び殺菌ができ
る。さらにフィルタが1段ですむためメンテナンスが容
易になる。これらにより清浄空気の安定供給が可能とな
り、従来以上の清浄化が実現されるため、半導体プロセ
スに用いた場合、微粒子の混入などによる歩留りの低下
を防止でき、品質及び生産性の向上に寄与することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理説明図である。
【図2】本発明の清浄空気供給装置の実施例を示すブロ
ック図である。
【図3】従来の清浄空気供給方法を示す図である。
【符号の説明】
10…微粒子 11…水蒸気 12…微粒子を捕捉した水蒸気 13…冷却体 20…混合槽 21…空気取入口 22…前段フィルタ 23…コンプレッサ 24…水蒸気発生器 25…冷却槽 26…熱交換器 27…冷却器 28…排出槽 29…露点計 30…湿度制御器 31…加熱器

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 水蒸気発生器(24)と冷却槽(25)
    とを有し、該水蒸気発生器(24)で発生させた水蒸気
    を清浄化すべき空気と混合させ、その後冷却することに
    より凝結した水滴と共にダストを除去し空気を清浄化す
    ることを特徴とする清浄空気の供給方法。
  2. 【請求項2】 空気取入手段と、水蒸気発生器(24)
    と、該水蒸気発生器(24)で発生させた水蒸気と空気
    とを混合させる混合槽(20)と、該混合槽(20)に
    接続した冷却槽(25)とを少なくとも具備して成るこ
    とを特徴とする清浄空気供給装置。
JP4052500A 1992-03-11 1992-03-11 清浄空気の供給方法及び供給装置 Withdrawn JPH05256468A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Effective date: 19990518