JPH05248874A - 多軸振動モノリシックジャイロスコープ - Google Patents

多軸振動モノリシックジャイロスコープ

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JPH05248874A
JPH05248874A JP4301707A JP30170792A JPH05248874A JP H05248874 A JPH05248874 A JP H05248874A JP 4301707 A JP4301707 A JP 4301707A JP 30170792 A JP30170792 A JP 30170792A JP H05248874 A JPH05248874 A JP H05248874A
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    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis

Abstract

(57)【要約】 【目的】 1つより多くの軸の回りの回転運動を測定可
能であり、小型、低価格かつ再現性に優れた多軸振動モ
ノリシックジャイロスコープを提供する。 【構成】 中央ポスト(15)に対する振動運動のため
に装着された質量部材(12)を備えた振動ジャイロス
コープである。検出容量(30,40,41,42)が
質量部材に隣接して装着され2つの直交軸の振動運動を
検出する。前記質量部材はH形状フレーム(14)の平
行アーム間に装着されかつ等しい逆方向の振動のために
駆動される1対の要素(22,23)を含み、回転運動
によって引起こされる力によって生ずるものを除きフレ
ーム(14)には何らの運動も加えられない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はマイクロ機械的ジャイロ
スコープに関しかつ、より詳細には、多方向マイクロ機
械的ジャイロスコープに関する。
【0002】
【従来の技術】過去においては、ジャイロスコープおよ
びジャイロスコープ的装置は比較的大きなかつ高価な電
磁気的装置によって構成されていた。これらの電磁気的
装置は比較的高速の、連続的な回転運動のためにコイル
および位置センサを導入していた。
【0003】やがては、マイクロ機械的レートジャイロ
(micromechanicalrate gyro
s)が開発され、該ジャイロは半導体処理技術によって
形成された構成要素を含んでいた。これらの装置は比較
的小さくかつ連続的な回転運動ではなく振動運動を利用
しているが、比較的鈍感でありかつ製造するのにコスト
がかかる。
【0004】一般に、マイクロ機械的レートジャイロは
中央質量を備えて構成され、該中央質量はジャイロの大
きさが非常に小さいため十分な質量を提供するために金
のようないずれかの非常に重い材料を必要とする。該中
央質量(central mass)は互いに直交する
自在に動く軸を含むジンバル構造に装着され、前記質量
およびジンバル構造は一般に共通の面に位置する。中央
質量および内側装着ジンバルは第1の直交軸の回りに振
動しかつ前記共通の面に垂直な軸の回りの回転運動は、
コリオリ(Coriolis)またはジャイロスコープ
効果により、前記直交軸の他のものの回りに振動運動を
発生する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上に述べたマイクロ機
械的レートジャイロは幾つかの問題を有する。特に、中
央に装着された質量が高価でありかつ製造するのが困難
である。良好な感度のため十分な慣性を与えるために十
分大きな質量を達成することが困難であり、かつこの構
造が検出容量の感度を低下させる。また、もし前記質量
が前記ジンバルマウント内で少しでもずれておれば交差
軸の加速度に対する著しい感度が発生する。第2に、振
動運動の量は平面的に構成されたジンバルシステムが平
坦な面に隣接して装着されかつジンバルシステムと該平
坦な面との間の距離の増大が実質的に装置の大きさを増
大させるという事実により制限され、これは構造体のコ
ストおよび複雑さを増大させるのみならず容量空間を増
大させるため感度を低下させる。さらに、装置を入力軸
が前記共通面に垂直であるように構成することにより、
装置が単一軸の装置に制限される。該装置は単一軸の回
りの運動のみを検出するため、すべての方向における運
動を検出するためには3つのそのような装置を互いに直
交関係にある入力軸で装着しなければならない。
【0006】レートジャイロの大きさ、コストおよび有
用性をさらに改善するためには、増大した移動距離およ
び/または実効質量の増大によって達成される増大した
慣性、より高い振動周波数およびより小さな容量プレー
ト間隔によって、増大した感度を備えたマイクロ機械的
レートジャイロの必要性が存在する。さらに、単一の装
置で1つより多くの軸の回りの運動を検出することが好
都合であろう。
【0007】本発明の目的は、新規なかつ改良された多
軸振動モノリシックジャイロスコープを提供することに
ある。
【0008】本発明の他の目的は、1つより多くの軸の
回りの回転運動を測定することができる新規なかつ改良
された振動モノリシックジャイロスコープを提供するこ
とにある。
【0009】本発明のさらに他の目的は、小型で、低価
格でありかつ再現性に優れ、バッチ製造が可能な新規な
かつ改良された多軸振動モノリシックジャイロスコープ
を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段および作用】これらのかつ
他の目的および利点は本発明に係わる多軸振動モノリシ
ックジャイロスコープによって実現され、該ジャイロス
コープは半導体基板上に形成され、かつ前記基板に平行
な振動運動のために装着された質量部材および前記質量
部材に隣接して配置され回転運動によって前記質量部材
に対し2つの直行する軸の回りに生成される力を検出す
るための検出装置を含む。
【0011】
【実施例】図1を参照すると、本発明を実施した多軸
(multi−axes)振動モノリシックジャイロス
コープ10が示されている。ジャイロスコープ10はほ
ぼH形状のフレーム14を備えた質量部材12を含んで
おり、該フレーム14は該フレームの中間交差アームを
通る中央開口13を有する。中央に配置された装着ポス
ト15が基板の平面に対し直角になるように該平面に固
定されている。ポスト15はジャイロスコープ10のZ
軸を規定する。フレーム14は複数の、この特定の実施
例においては2つの、らせん形ばね17Aおよび17B
によって可動的にポスト15に取付けられている。らせ
ん形ばね17Aおよび17Bの各々は一端でポスト15
にかつ他端でフレーム14の開口13の内側エッジに固
定的に取付けられている。らせん形ばね17Aおよび1
7Bはフレーム14をすべての方向に対し限られた振動
運動ができるようにしながら基板の平面に平行な面に維
持するよう設計されている。
【0012】質量部材12はさらにH形状のフレーム1
4の平行なアームの間の開口部に装着された一対のほぼ
長方形の質量要素22および23を含む。各質量要素2
2および23はフレーム14の平行アームに対して細長
い弾性部材25によって固定されており、該細長い弾性
部材25の各々はアームの終端から質量要素22および
23の対向する側部に延びている。弾性部材25は質量
要素22および23を、フレーム14とは独立に、質量
要素22および23の各々を通りかつ装着ポスト15の
端部を通り、Z軸に垂直に延びているX軸に沿った、振
動運動が可能なように装着する。Y軸はさらに質量部材
12によって規定されかつ、ポスト15の端部を通り、
XおよびZ軸に互いに垂直に、質量部材12の面に延び
る。
【0013】各々上部および下部の平行な、間隔を開け
た長方形の導電性プレートを含む複数の駆動要素26,
27,28および29が設けられている。この特定の実
施例においては、各々の複数の駆動要素26,27,2
8および29は一対の駆動要素を含み、対の駆動要素2
7は図1の質量要素22の左側のコーナに隣接して配置
され、対の駆動要素28は質量要素22の右側コーナに
隣接して配置され、対の駆動要素26は質量部材23の
左側コーナに隣接して配置され、かつ対の駆動要素29
は質量要素23の右側コーナに隣接して配置されてい
る。複数の駆動要素26,27,28および29の駆動
要素の各々の前記対の導電プレートは質量要素22およ
び23の(図1および図5において)上および下に配置
されている。駆動要素26,27,28および29のす
べての導電プレートはまた質量部材12に平行である。
プレート(複数)26は電気的に接続されており、プレ
ート(複数)27,28および29も同様である。図5
は質量要素22および駆動要素27および28のさらに
詳細を示す拡大斜視図である。
【0014】プレート27および28そしてプレート2
9および26に交互にパルスを加えることにより、プレ
ート27,28と質量要素22との間の、かつ同様にプ
レート29,26と質量要素23との間の、静電気的吸
引力がフレーム14と独立に質量要素22および23の
X軸に沿った振動運動を生成する。各駆動要素は正反対
方向に(diametrically)対向して配置さ
れ、一般にチューニングフォークにおいて見られるよう
に、フレーム14に対しゼロの力を与える結果となる同
期した駆動パルスによって、質量要素22および23の
反対方向の一様な振動運動を生成する。
【0015】例えば、もしある電圧がプレート27およ
び要素22の間に印加されかつ同時にプレート29およ
び要素23の間に印加されれば、両方の要素22および
23は結果として生ずる静電気力により外側に移動す
る。この電圧はプレート27,28と質量要素22との
間にかつ同様にプレート29,26と質量要素23との
間に所定の差分容量が検出されるまで印加される。この
時点において、電気電圧はプレート27および29から
除去されかつプレート28および26に印加される。質
量要素22および23は今や、前と同様に所定の容量が
検出されるまで、ポスト15の方向に内側に駆動され
る。このサイクルが次に繰返される。この手法を用いる
ことにより、質量要素22および23は差分容量のトリ
ップ点によってセットされる知られた振幅でそれらの固
有共振周波数で外側および内側に同期して駆動される。
差分容量の検出および質量要素22および23の駆動は
前記駆動サイクルの間に前記容量を周期的にサンプリン
グすることにより行われる。
【0016】1つずつ各々、フレーム14の各アームの
端部に装着された、検出容量30,40,41および4
2を含む、検出装置はジャイロスコープ10およびフレ
ーム14のYおよびZ軸の回りの回転を検出するよう設
計されている。各検出容量30,40,41および42
は1組の固定的に装着された上部プレート、1組の固定
的に装着された下部プレート、およびフレーム14の端
部に取付けられそれと共に移動するための1組の中央プ
レートを含む。例えば、検出容量30は上部プレート3
0Aおよび30D、下部プレート30Bおよび30E、
そして中央プレート30Cを含み、これらは図3および
図4に同様に設計された他の検出容量40,41および
42の各々と共に、さらに詳細に示されている。この特
定の実施例においては、すべての容量プレートは並列に
間隔をおいて延びた細長いフィンガの形状で形成されて
いる。
【0017】特に図4を参照すると、上部容量プレート
および下部容量プレートが対のプレートとして形成され
ていることが分かる。プレート30Aおよびプレート3
0Dを含む各々の上部対およびプレート30Bおよびプ
レート30Eを含む各々の下部対がある。各々の上部お
よび下部対は単一の中央プレート30Cに対して部分的
に重なるような関係に配置されている。さらに、この特
定の実施例においては、各々の検出容量30は2組の容
量に分割されており、各組は14個の上部プレート30
A,30D(6個が示されている)、14個の下部プレ
ート30B,30E(6個が示されている)および7個
の中央プレート30C(3個が示されている)を含み、
図4では1組が示されている。
【0018】ジャイロスコープ10の動作は例えば図4
に示される容量プレートのセットを参照することにより
最も容易に理解できる。第2、第4、第6、その他の上
部プレート30Aは一緒に接続されかつインバータ32
によってターミナル33に接続されている。第1、第
3、第5、他の上部プレート30Dは一緒に接続されか
つインバータ34によってターミナル35に接続されて
いる。第1、第3、第5、他の下部プレート30Eは一
緒に接続されかつインバータ36によってターミナル3
7に接続されている。第2、第4、第6、他の下部プレ
ート30Bは一緒に接続されかつインバータ38によっ
てターミナル39に接続されている。適切な電圧を種々
の容量プレート30A〜30Eに印加することにより、
プレート30A〜30Eと30Cとの間に静電力が発生
し、この静電力がプレート30Cを適切にプレート30
A〜30Eの間の中心に適切に維持するために使用で
き、ジャイロスコープ10は最も敏感な状態に留りかつ
容量プレートを中央に保持するために必要な駆動量が測
定されてジャイロスコープ10に作用する回転的に誘起
される力の量および方向が決定される。
【0019】図6はおよび図7は一体となって、図1の
ジャイロスコープ10に電気的に接続される検出および
制御回路の電気回路図を示す。図8は、この検出および
制御回路の各点において得られる信号波形を示す。図9
は限られた時間スパンの間における図6および図7の検
出および制御回路の時間と種々の制御機能との間の関係
を示す時間−機能チャートである。中央ポスト15、フ
レーム14、質量要素22および23、そして検出容量
36,40,41および42の中央プレート30C,4
0C,41Cおよび42Cはすべて図6の215として
表されたノードに電気的に接続されている。検出および
制御信号は図示された論理要素を介して容量プレート3
0A〜30E、40A〜40E、41A〜41E、およ
び42A〜42Eに印加される。
【0020】時間T=0(図8)において、入力ターミ
ナル1P1はハイになり、グランド電位を容量プレート
30Bおよび30Eに印加しかつVREFを容量プレー
ト30Aおよび30Dに印加する。また、入力端子1P
2がローに駆動されかつ入力端子1P3がハイに駆動さ
れて第1のラッチ219からの信号が容量プレート30
A,30B,30Dおよび30Eの駆動電圧を制御でき
るようにする。中央プレート30Cは仮想(virtu
al)グランド増幅器216によってVREFに保持さ
れる。増幅器216は入力端子P4におけるローの信号
によりスイッチ217が閉じられることにより単一ゲイ
ンを有することになる。
【0021】時間T=1において、入力端子P4がハイ
に駆動されかつスイッチ217がターンオフされ、それ
により増幅器216が仮想グランド積分増幅器としてア
クティブになる。時間T=2において、入力端子1P2
がローからハイに切替えられ、これは容量プレート30
Bおよび30Eの電圧をグランドからVREFに切替え
させかつ容量プレート30Aおよび30Dの電圧をV
REFからグランドに切替えさせる。容量プレート30
B,30Eおよび30C対30A,30Dおよび30C
によって形成される何らかの容量差はノード215に電
荷を生じさせ、この電荷は増幅器216によって増幅さ
れ、反転されかつ電圧に変換される。増幅器216から
の信号はさらに増幅器218によって増幅される。
【0022】時間T=4において、前記増幅器が落ちつ
く(settle)時間を持った後、増幅器218の出
力信号はラッチ219によってラッチされる。ラッチ2
19は信号1P2によってクロッキングされる負エッ
ジ、トリガラッチ回路である。ラッチ219において
は、増幅器218からの正の電圧はハイとしてラッチさ
れ、かつ負の電圧はローとしてラッチされる。ラッチ2
19からの出力信号はインバータ227および論理ゲー
ト229〜234を介してインバータ235,236,
36,32,38および34にフィードバックされ、こ
れらのインバータはVREFおよびグランドを容量プレ
ート30D,30Aおよび30B,30Eに印加する。
REFおよびグランド電位は容量プレート30D,3
0Aおよび30B,30Eに印加されて容量プレート3
0C上に静電力を発生させ、それらを時間T=4〜T=
32の間に中央の垂直位置に向けかつ維持させる。この
場合水平方向の力はないことに注目すべきである。
【0023】時間T=32において、入力端子1P2は
ローからハイに駆動されかつ入力端子1P3はハイから
ローに駆動される。従って、時間T=32〜T=36の
間に容量プレート30D,30Eおよび30Cの間およ
び容量プレート30B,30Aおよび30Cの間の差分
容量が検出されかつその信号が第2のラッチ220にラ
ッチされる。入力端子1P3の入力信号がローになる
と、ラッチ220からの出力信号はゲート237,23
8,231,239,240および234を介してイン
バータ34,38,32,36,228,241,23
5および236にフィードバックされこれらはVREF
およびグランドを容量プレート30D,30Eおよび3
0B,30Aに印加する。VREFおよびグランド電位
は容量プレート30D,30Eおよび30B,30Aに
印加されプレート30Cに対して静電力を発生させプレ
ート30Cを時間T=36〜T=64の間に中央水平位
置に向けかつ維持させる。ここでも、結果的に垂直方向
の力がないことに注意を要する。時間T=64におい
て、上のサイクルが反復される。従って、このような交
互のサイクルの間に、図6および図7に示されるよう
に、閉ループ動作モードにおいて、垂直位置が検出され
かつ修正力が印加されそして次に水平位置が検出されか
つ修正力が印加される。
【0024】同様に、時間T=8〜T=12において、
容量プレート40Cの垂直位置が検出されかつ修正力が
時間T=12〜T=40の間に印加される。容量プレー
ト40Cの水平位置は時間T=40〜T=44の間に検
出されかつ水平方向の修正力が時間T=44〜T=72
の間に印加される。同様の動作モードおよびタイミング
が図9のタイミングチャートにおいて容量プレート41
Cおよび42Cに与えられる。また、各々上に述べたも
のと同様の論理回路を含む、3つのその他のブロックが
図6および図7に示されている。従って、各組の容量プ
レートが各セクションにおいてサンプルされかつ修正作
用が行われフレーム12の位置を中心に合わせる。
【0025】MPUまたは他の特別のカスタム論理、図
示せず、を用いることにより、ラッチ回路219〜22
6はサンプルされ、かつ平均のハイおよびロー駆動期間
が長い時間にわたり比較される。例えば、 駆動時間 駆動時間 41C垂直+42C垂直 対 30C垂直+40C垂直 を比較することにより、Y軸の回りの回転運動の速度
(rate)が測定される。Z軸方向の何らかの直線的
な加速度は容量プレート41C垂直+40C垂直に対し
かつ30C垂直+42C垂直に対し同じ効果を有するか
ら、上の不等性におけるこれらの変化は打消される。同
様に、 駆動時間 駆動時間 30C水平+41C水平 対 40C水平+42C水平 を比較することにより、Z軸の回りの回転運動速度が測
定される。また、 駆動時間 駆動時間 30A+30D+40A+40D+ 対 30E+30B+40E+40B+ 41A+41D+42A+42D 41E+41B+42E+42B を比較することにより、Z軸に沿った直線的加速度が測
定されかついずれの回転速度も打消される。例えばMP
Uの水晶に対して、時間領域を測定することにより、デ
ジタル的方法を用いて長い期間にわたり、非常に正確な
測定を行うことができ、非常に広いダイナミックレンジ
で測定することができる。このようにして、正確な測
定、ノイズの打消し、および非常に高感度の装置が提供
される。もちろん、当業者は第3の互いに直行する軸X
の回りの回転検出を単に、ジャイロスコープ10と同様
の、しかしながらZ軸の回りに90度回転した、第2の
ジャイロスコープを提供することにより測定できること
を理解すべきである。
【0026】ジャイロスコープ10はよく知られたマイ
クロマシン技術によって半導体基板上にマイクロ機械的
構造として製造すると好都合であり、該マイクロマシン
技術はエッチング可能な材料の犠牲層(sacrifi
cial layers)および、多結晶シリコン、ド
ーピングされたシリコン、金属、その他のような半導体
/導体層の成長および/または被着を含む。ジャイロス
コープ10はまたはバルクマイクロ機械加工(bulk
micromachining)およびウェーハボン
ディング技術を用いて好適に製造することができる。ど
のような技術が用いられても、下部検出容量プレートお
よび駆動要素26,27,28および29の下部プレー
トは基板上に支持される第1の層に形成される。ポスト
15、質量部材12および中央容量プレートは前記第1
の層から離れた第2の層に形成される。ポスト15はも
ちろん基板によって固定的に支持される。最後に、上部
容量プレートおよび駆動要素26,27,28および2
9の上部プレートは前記第2の層から離れた第3の層に
形成される。コラム(columns)および第3の層
はまた振動質量部材22および23そしてフレーム12
の余分の垂直方向の動きを制限するためのストッパとし
て作用し高感度であるが丈夫な装置を形成する。これら
の断面図は図2および図3に示されている。構造全体は
側部が40ミル(約1mm)の大きさに形成される。
【0027】特に図10を参照すると、全体として50
で示されている、他の実施例のジャイロスコープが示さ
れており、このジャイロスコープは単一軸の回りの回転
を測定するよう構成されている。ジャイロスコープ50
は基本的にはジャイロスコープ10と同じ質量部材、中
央装着ポスト(真っ直ぐなサスペンションアーム53を
備えている)および駆動要素を含む。しかしながら、複
数の互いに間隔を開けた平行なフィンガを含む検出容量
の代わりに、この特定の実施例においては、上部検出容
量プレート52および下部プレート(図示せず)は振動
質量要素と平行に配置されている。上部プレートは前記
質量部材のスロットを通して下部プレートに延びている
コラムによって固定的に装着されており、もちろん当業
者はこのような装着を行うために多くの方法を考案する
であろう。この実施例においては、コラムおよびスロッ
トそして第3の層はまた質量部材の有害な過剰運動を防
止する働きをなす。
【0028】図11を参照すると、さらに別の実施例
の、全体的に60で示された、ジャイロスコープが図示
されており、これは単一軸の回りの回転を測定するよう
構成されている。ジャイロスコープ60は基本的にはジ
ャイロスコープ10と同じ質量部材、中央装着ポストお
よび駆動要素を含む。しかしながら、複数の互いに間隔
を開けた平行なフィンガを含む検出容量の代わりに、こ
の特定の実施例においては、上部検出容量プレート62
および下部プレート(図示せず)は質量フレームのアー
ムの延長された終端部と平行に配置されている。上部プ
レートは前記フレームのアームの延長部の両側に沿って
下部プレートに延びているコラムによって固定的に装着
されているが、当業者はこのような装着を行うために多
くの方法を考案するであろう。この実施例においては、
コラムはまた質量部材の有害な過剰運動を防止する働き
をなす。
【0029】次に図12を参照すると、一般的に70で
示されている、さらに他の実施例に係わるジャイロスコ
ープが示されており、このジャイロスコープはZおよび
Y軸の回りの回転を測定するよう構成されている。ジャ
イロスコープ70は基本的にはジャイロスコープ10と
同じ振動質量部材、中央装着ポストおよび駆動要素を含
む。しかしながら、回転を測定する場合に装置の操作を
行うことなく質量を加えるためにH形フレーム72はよ
り広くなっている。加えられた質量はより丈夫なフレー
ムを与えると共に、Z軸方向における加速度を測定する
ために使用された場合構造体の感度を改善する。
【0030】ジャイロスコープ50,60および70は
利用できる種々の検出装置を示すために本明細書に含ま
れている。また、3軸システムにおいては、第3の軸の
感度は、上に示したように、第2のジャイロスコープ1
0ではなく、ジャイロスコープ50または60の内の1
つを含めることにより提供することができる。最後に、
装着ポスト、質量部材および駆動装置の新規な構造は、
単一軸の検出が用いられてもあるいは多軸検出が用いら
れても、極めて高感度かつ正確なジャイロスコープを作
成できる結果となる。
【0031】
【発明の効果】本発明の構造においては、単一の装着ポ
スト(もちろん必要であれば複数の装着ポストを用いる
こともできるが)が平坦な質量部材を装着するために使
用され、これはジンバル装着質量部材を使用する従来技
術の構造に対し実効質量を大幅に増大する。本発明に従
って構成されたジャイロスコープの新規な構造のため、
実効質量が大幅に増大しかつ、従って、感度も大幅に増
大する。さらに、開示された実施例における質量部材の
新規な構成はより簡単な、より小型の構造を可能にしか
つ十分な質量を提供するために従来技術において必要と
されたような、何らの付加的な工程も必要としない。も
ちろん、本構造はまたバルクマイクロ機械加工およびウ
ェーハボンディング技術を用いても構成できることが理
解される。また、質量部材を中央または中立位置に近く
維持するためにループを閉じることによって、ダイナミ
ックレンジが実質的に増大される。また、比較的簡単な
装置によりジャイロスコープの質量要素を揺動させある
いは振動させ、回転を検出し、かつ質量部材を実質的に
中心に維持することができる。最後に、特別に設計され
た検出装置を利用することにより、本ジャイロスコープ
は1つまたは複数の軸の回りの回転を検出しかつ加速度
を検出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例に係わる多軸振動ジャイロス
コープを示す平面図である。
【図2】図1の2−2線に沿った断面図である。
【図3】図1の3−3線に沿った断面図である。
【図4】図1のジャイロスコープの一部を示す説明的回
路図である。
【図5】図1の装置の一部を示す拡大斜視図である。
【図6】図7と共に、図1のジャイロスコープに電気的
に接続される検出および制御回路を示す電気回路図であ
る。
【図7】図6と共に、図1のジャイロスコープに電気的
に接続される検出および制御回路を示す電気回路図であ
る。
【図8】図6および図7の検出および制御回路の種々の
点において得られる信号を示す波形図である。
【図9】図6および図7の検出および制御回路の時間お
よび種々の制御機能の間の関係を示す時間−機能チャー
トである。
【図10】図1と同様の、他の実施例を示す平面図であ
る。
【図11】図1と同様の、さらに他の実施例を示す平面
図である。
【図12】図1と同様の、振動ジャイロスコープの他の
実施例を示す平面図である。
【符号の説明】
10 ジャイロスコープ 12 質量部材 13 中央開口 14 H形フレーム 15 装着ポスト 17A,17B らせん形ばね 22,23 質量要素 25 弾性部材 26,27,28,29 駆動要素 30,40,41,42 検出容量 30A,30D 上部プレート 30B,30E 下部プレート 30C 中央プレート

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に形成され前記基板に平行
    な振動運動のために装着された質量部材(12,22,
    23)および前記質量部材に隣接して配置され前記質量
    部材(12,22,23)に対して2つの直交軸(X,
    Y)の回りの回転運動によって生ずる力を検出するため
    の検出装置(30,40,41,42)を含むことを特
    徴とする多軸振動モノリシックジャイロスコープ。
  2. 【請求項2】 多軸振動モノリシックジャイロスコープ
    であって、ベースに固定的に取付けられかつ第1の軸
    (Z)を規定する装着ポスト(15)、 振動運動のために前記ポスト(15)に固定的に装着さ
    れかつ前記ポスト(15)に垂直な面に配置された質量
    部材(12,22,23)であって、該質量部材(1
    2,22,23)は互いに対しかつ前記第1の軸(Z)
    に対し互いに垂直な第2および第3の軸(X,Y)を規
    定するもの、 前記質量部材(12,22,23)に隣接して装着され
    前記質量部材を前記第2の軸(X)に沿って振動運動さ
    せるための駆動装置(26,27,28,29)、そし
    て 前記質量部材(12,22,23)に隣接して配置され
    回転運動によって生成される力に応じて第3の軸(Y)
    に沿った前記質量部材の運動を検出しかつ回転運動によ
    って生成される力に応じて前記第1の軸(Z)に沿った
    前記質量部材の運動を検出するための検出装置(30,
    40,41,42)、 を具備することを特徴とする多軸振動モノリシックジャ
    イロスコープ。
  3. 【請求項3】 多軸振動モノリシックジャイロスコープ
    であって、ほぼ平坦な面を有する基板、 前記基板の前記平坦な面に固定的に取付けられ、前記基
    板の前記平坦な面にほぼ垂直でありかつ第1の軸(Z)
    を規定する中央装着ポスト(15)、 そこを貫通する中央開口(13)を有しかつ前記基板の
    前記平坦な面に平行な面内に前記ポスト(15)の回り
    に対称的に配置された質量部材(12)であって、該質
    量部材はさらに前記フレーム(14)に弾性部材(2
    5)によって取付けられ前記第1の軸(Z)に垂直な第
    2の軸(X)に沿ってかつ前記平行な面内で前記フレー
    ム(14)に対して振動運動を行うための1対の質量要
    素(22,23)を含むもの、 前記中央開口(13)内で一端において前記ポスト(1
    5)に固定されかつ他端において前記質量部材(12)
    のフレーム(14)に固定され、かつ前記質量部材(1
    2)を前記ポスト(15)に対して振動運動を行うよう
    装着するほぼらせん形のばね(17A,17B)、 前記対の質量要素(22,23)に隣接して装着され前
    記対の質量部材(22,23)を前記第2の軸(X)に
    沿って互いに反対方向に振動運動させるための振動運動
    駆動装置(26,27,28,29)、そして前記質量
    部材(12)に隣接して配置されかつ前記第1および第
    2の軸に対し互いに直交する第3の軸(Y)を規定し、
    回転運動によって生成される力による前記質量部材(1
    2)の第1の軸(Z)および第3の軸(Y)における運
    動を検出するための検出容量(30,40,41,4
    2)、 を具備することを特徴とする多軸振動モノリシックジャ
    イロスコープ。
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