JPH05243722A - 半導体装置の実装方法 - Google Patents

半導体装置の実装方法

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JPH05243722A
JPH05243722A JP4260392A JP4260392A JPH05243722A JP H05243722 A JPH05243722 A JP H05243722A JP 4260392 A JP4260392 A JP 4260392A JP 4260392 A JP4260392 A JP 4260392A JP H05243722 A JPH05243722 A JP H05243722A
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JP
Japan
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solder
substrate
semiconductor device
semiconductor element
pad
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Withdrawn
Application number
JP4260392A
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English (en)
Inventor
Akio Otsuka
章夫 大塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05243722A publication Critical patent/JPH05243722A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/341Surface mounted components
    • H05K3/3421Leaded components
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • H05K3/34Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof

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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】表面実装半導体素子を基板上に半田する方法と
して、半導体素子自体には大きな熱ストレスが加わら
ず、半導体素子の品質を劣化させることを防ぐ。 【構成】半導体素子1のリード部2とパッド4にのみ、
直接溶融半田8をディスペンサ6により、供給すること
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の実装方法に
関し、特に表面実装型の半導体素子の実装方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の表面実装型の半導体素子を基板に
実装する際、基板のパッド部と半導体素子のリード部と
を半田付けにより接続しなければならないが、この半田
付けを行う方法として、赤外線リフロー法やベーパーフ
ェーズリフロー法、半田フロー法等が使用されている。
【0003】赤外線リフロー法の概要を図3に示す。
【0004】図3において、基板3上に、接着剤5を介
して、半導体素子1のケース(樹脂)が固着され、半導
体素子1のリードは、半田ペーストの付着した基板3上
に載置され、上下の赤外線10によって、加熱して半田
付けしていた。
【0005】いずれの方法も、半導体素子及び基板を半
田が溶融する様な高温あるいは溶融半田の中を通し、半
田付けを形成する方法となっている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これら従来の実装方法
では、基板3上の所定の位置に固定された半導体素子1
が、基板3とともに半田が溶融する高温(200℃以
上)にさらされるので、大きな熱ストレスが半導体素子
1に加わる。そのため、半導体素子1の樹脂ケースにク
ラックが入ったり、また半導体素子1のリードと樹脂の
密着性が劣化し、耐湿性が悪くなるという問題点があっ
た。
【0007】本発明の目的は、前記問題点を解決し、ク
ラックが発生せず、耐湿性が低下しないようにした半導
体装置の実装方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の構成は、表面実
装用の半導体素子を基板に固定する半導体装置の実装方
法において、前記基板上の所定の位置に前記半導体素子
を固定した後、前記半導体素子のリード部と前記基板上
のパッドとを接続するために、あらかじめ溶融させた半
田を、前記リード部と前記パッドとが接している位置に
直接付着させることを特徴とする。
【0009】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例の半導体装置の
実装方法を示す断面図である。
【0010】図1において、本発明の第1の実施例は、
基板3上の所定の位置に接着剤5を用い、半導体素子1
の樹脂部12を固定した後、ディスペンサ6を使い、ヒ
ータ7で溶融した半田8を矢印Aに沿って滴下し、直接
半導体素子1のリード部2に供給するものである。
【0011】図2は本発明の第2の実施例の断面図であ
る。
【0012】図2において、本第2の実施例の実装方法
では、表面実装基板の高集積化に伴い、半導体素子1の
リード間隔が狭くなってきているため、リード部2に供
給される溶融半田8の量も半田ブリッジ等の不具合を防
ぐために少なくしなければならない。
【0013】本実施例の場合、溶融半田8だけの熱容量
ではパッド4とリード部2とを適切な半田付けを出来な
くなってしまう。そこで、基板3を赤外線ヒータ9ある
いは熱風等で予熱(150〜200℃)しておくこと
で、これを防止することが可能となる。
【0014】このように、本実施例の実装方法は、半導
体素子を基板に固定した後にリード部分とパッド部分が
接している所に、直接溶融半田を所定の量だけ供給し、
半田接続を構成するため、半田を溶融する熱が半導体素
子本体に加わることがない。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、半田付
けする時の熱ストレスを半導体素子あるいは基板全体に
加えることなく、半田付けの必要な部分にのみ加えるた
め、熱ストレスによって半導体素子を劣化することを防
ぐことができ、実装後のセットにおいて良い品質の製品
を得ることができるという効果がある。
【0016】本発明は、例えば従来のIRリフロー法を
用い、半田付けを行った半導体素子のプレッシャクッカ
ーテストでは、168h(時間)程度で不良が発生した
のに対し、本方法にて半田付された素子の試験では、3
00hまで不良は発生しておらず、大幅に耐湿性向上が
されているここがわかる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例の半導体装置の実装方法
を示す断面図である。
【図2】本発明の第2の実施例の断面図である。
【図3】従来の半田付け方法を示す断面図である。
【符号の説明】
1 半導体素子 2 半導体素子のリード部 3 基板 4 パッド 5 接着剤 6 ディスペンサ 7 ヒータ 8 溶融半田 9 ヒータ(基板) 10 赤外線ヒータ 11 半田ペースト 12 樹脂部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面実装用の半導体素子を基板に固定す
    る半導体装置の実装方法において、前記基板上の所定の
    位置に前記半導体素子を固定した後、前記半導体素子の
    リード部と前記基板上のパッドとを接続するために、あ
    らかじめ溶融させた半田を、前記リード部と前記パッド
    とが接している位置に直接付着させることを特徴とする
    半導体装置の実装方法。
JP4260392A 1992-02-28 1992-02-28 半導体装置の実装方法 Withdrawn JPH05243722A (ja)

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JPH05243722A true JPH05243722A (ja) 1993-09-21

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JP (1) JPH05243722A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384366B1 (en) * 2000-06-12 2002-05-07 Advanced Micro Devices, Inc. Top infrared heating for bonding operations
US8444044B2 (en) 2008-03-10 2013-05-21 Micron Technology, Inc. Apparatus and methods for forming wire bonds

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6384366B1 (en) * 2000-06-12 2002-05-07 Advanced Micro Devices, Inc. Top infrared heating for bonding operations
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Effective date: 19990518