JPH05240631A - 光学式エンコーダ - Google Patents

光学式エンコーダ

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JPH05240631A
JPH05240631A JP4152092A JP4152092A JPH05240631A JP H05240631 A JPH05240631 A JP H05240631A JP 4152092 A JP4152092 A JP 4152092A JP 4152092 A JP4152092 A JP 4152092A JP H05240631 A JPH05240631 A JP H05240631A
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JP
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angle
data
time
angle data
signal
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Application number
JP4152092A
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English (en)
Inventor
Motoshi Momoi
元士 桃井
Fusao Kosaka
扶佐夫 幸坂
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 外部同期,内部同期のいずれのタイミングに
ついても角度データ出力を可能にし、かつ、その角度デ
ータは受信までの時間遅れが補正されたものである光学
式エンコーダを提供する。 【構成】 受光アレイ上の光量分布をAD変換してコー
ド板の回転角度を求めるように構成された光学式エンコ
ーダにおいて、各部の動作シーケンスを制御するシーケ
ンスコントローラ及び角度データを演算する演算器とし
て機能し、演算された角度データを記憶するマイクロプ
ロセッサを設け、該マイクロプロセッサは、外部から角
度データ要求信号が入力されたときには記憶している角
度データに所定の補正演算を施して角度データ要求信号
受信終了時における角度データを出力し、外部からの角
度データ要求信号が一定時間入力されないときには記憶
している角度データに所定の補正演算を施して内部タイ
ミング信号に従って内部タイミング信号受信終了時にお
ける角度データを一定時間間隔で出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学式エンコーダに関
し、更に詳しくは、マイクロプロセッサを内蔵したエン
コーダの角度データ出力の精度改善に関する。
【0002】
【従来の技術】図3〜図5を用いて、従来の光学式エン
コーダを説明する。図3は光学式エンコーダの位相情報
θを検出する要部を示した図、図4はフォトダイオード
が4素子の場合の出力信号を示した図、図5はコード板
の構成例図である。
【0003】図3において、光源1から光をコード板2
へ照射する。該コード板2は光を通過させるスリット2
bと光を遮断する遮光部2aとが交互に配列された板で
ある。光源1から照射する光が散乱光であるとすれば、
例えば光電変換素子のアレイ3(以下、受光アレイ3と
記す…なお光電変換素子として例えばフォトダイオード
を用いることができる)には、図3中に示すような正弦
波状に照度が分布する光が加えられる。該受光アレイ3
に照射された正弦波状照度分布波形の位相θはコード板
2の位置(又は角度)に応じて定まり、コード板2が移
動するとθの値も変化する。そこで、図3では、受光ア
レイ3に照射された正弦波状照度分布の位相θを検出
し、該位相θをもってコード板2の位置(又は角度)の
測定に代えている。
【0004】受光アレイ3を構成する各フォトダイオー
ドH1〜H4の出力電流I1〜I4は、正弦波状照度分
布光の強度に応じた値となる。該出力電流I1〜I4を
アンプU1〜U4を用いて電圧に変換し、該変換電圧を
スイッチ手段SW1〜SW4を用いて角速度ωでスキャ
ンするとサンプル値の時系列になり、図4の破線で示す
正弦波状の出力VがアンプUの出力として得られ
る。ただし、図4の破線で示すように滑らかな正弦波の
出力を得るにはフォトダイオードの数をもっと増やす必
要がある。該図4の波形は図3の波形に相当するもので
あり、コード板2の移動に伴ってその位相θがシフトす
るので、アンプUの出力Vからコード板2の位置ま
たは角度が求められる。
【0005】ところがこのような従来の光学式エンコー
ダは、図4の波形から分かるように各フォトダイオード
の出力信号がDC的(直流成分を持った信号)であるた
め、例えば光電変換素子H1〜H4におけるオフセット
(暗電流)や、光電変換素子の出力を受ける回路系のオ
フセット(例えば図3の増幅器U1〜U4のオフセッ
ト)が存在し、このため位相測定の精度が左右されてし
まう。
【0006】また、光源(発光ダイオード)と光電変換
素子には温度特性があるので、光源の光パワーと光電変
換素子の出力電流は温度により変動する。従って、更に
位相測定の精度を低下させることになる。
【0007】そこで、これらの問題を解決するために、
出願人はシーケンスコントローラ及び演算器として機能
するマイクロプロセッサを内蔵した光学式エンコーダを
出願している。
【0008】図6及び図7はシーケンスコントローラ及
び演算器として機能するマイクロプロセッサを内蔵した
光学式エンコーダの構成例図、図8は図6に示す装置の
各部の信号のタイミングチャート、図9は8つのエリア
での演算説明図、図10は8つのエリアの説明図、図1
1は光電変換素子の出力波形図、図12はテーブルの内
容説明図である。
【0009】図6において、光源1は発光ダイオードま
たは白熱電球で構成され、散乱光を図10に示すコード
板2に照射する。コード板2は図10のようにスリット
2bと遮光部2aが交互に設けられた板であり、その中
心部は回転シャフト40に取り付けられる。
【0010】受光アレイ3は、図3に示すような形状の
4個の光電変換素子H1〜H4で構成される。光電変換
素子H1〜H4は例えばフォトダイオードで構成され、
照射された光の強さを電流に変換して出力する。
【0011】これら光源1とコード板2と受光アレイ3
の位置関係は従来例と同様であり、図3のように受光ア
レイ3の受光面に正弦波状照度分布が生じるようにそれ
ぞれが配置される。そして、各受光素子H1〜H4は、
図11のように正弦波状照度分布の1周期を4等分する
位置に配列されるので、各光電変換出力は90°ずつ位
相が異なる。
【0012】図11は、各光電変換素子H1〜H4と、
その出力電流を電圧に変換変換するアンプU1〜U4の
接続を示している。図6,図7では、光電変換素子とア
ンプのペアをまとめて光電変換器A1〜A4として描い
ている。
【0013】各減算器4,5は例えば差動アンプで構成
され、光電変換出力のうち、互いに180°位相が異な
るものを減算する。すなわち、減算器4は光電変換器A
1とA3の差演算を行い、減算器5は光電変換器A2と
A4の差演算を行う。
【0014】サンプルホールド回路(以下単にS/H回
路と記す)6,7は、シーケンスコントローラ11から
信号bが加えられるたびに同時刻に減算器4,5の出力
データをサンプリングしてホールドするものである。マ
ルチプレクサ8は、シーケンスコントローラ11から加
えられる信号cにより、S/H回路6,7でホールドし
た結果を順次切り替えて取り出し、A/D変換器(以下
ADCという)9へ加える。ADC9は、導入されたア
ナログ信号をディジタル信号に変換する。つまり、これ
らS/H回路6,7とマルチプレクサ8とADC9は、
2つの減算器4,5の同一時刻の出力をディジタル値に
変換するAD変換手段を構成している。
【0015】ドライバ12は、シーケンスコントローラ
11からの制御信号aにより光源1に加える電流をオ
ン,オフし、これを点灯したり、消灯したりする。演算
器10は、点灯時と消灯時における減算器4の出力の差
分を演算するとともに、点灯時と消灯時における減算器
5の出力の差分を演算する。そして、この2つの差分か
ら正弦波状照度分布波形の位相θを演算する。
【0016】シーケンスコントローラ11はマイクロプ
ロセッサで構成されていて、S/H回路6,7とマルチ
プレクサ8とADC9と演算器10とドライバ12を制
御する。
【0017】以上のように構成された図6の動作を説明
する。光源1の光はコード板2のスリット2bを通過し
て、受光アレイ3上に図11のような正弦波状照度分布
を生じさせる。該照度分布はコード板2の動きに応じて
受光アレイ3上を移動する。光電変換器A1〜A4の光
電変換素子H1〜H4は上述のように90°ずつ位相が
ずれているため、各光電変換器A1〜A4の出力は次式
のようになる。
【0018】A1=a(sinθ)+b+ε1…(1) A2=a(cosθ)+b+ε2…(2) A3=a(−sinθ)+b+ε3…(3) A4=a(−cosθ)+b+ε4…(4) θ:正弦波状照度分布波形の位相、すなわちコード板2
の位置に応じた変数 a:受光アレイ3上での光パワーの振幅 b:光バイアス分 ε1〜ε4:オフセット なお、光バイアス分bは、光源1から受光アレイ3に照
射する光パワーの平均値である。オフセットε1〜ε4
は、光電変換素子H1〜H4のオフセット(暗電流)と
図11に示すアンプU1〜U4のオフセットなどを含む
ものである。
【0019】減算器4は、180°位相が異なる光電変
換器A1とA3の出力の差分を演算するので、 A1−A3=2a・sinθ+(ε1−ε3)…(5) を出力し、減算器5は、180°位相が異なる光電変換
器A2とA4の出力の差分を演算するので、 A2−A4=2a・cosθ+(ε2−ε4)…(6) を出力する。
【0020】S/H回路6,7は、シーケンスコントロ
ーラ11から同一のS/H信号bが加えられるたびに同
期して、(5) 式,(6) 式で示す減算器4,5の出力をサ
ンプリングする。
【0021】S/H回路6,7の内容はマルチプレクサ
8によりそれぞれ選択されてADC9に加えられ、それ
ぞれディジタル値に変換される。該ディジタル値は演算
器10に加えられて位相θを求めるための演算が施され
る。
【0022】ところが、(5) 式,(6) 式にはオフセット
ε1〜ε4が含まれているので、何等の対策を施すこと
なくこれら(5) 式,(6) 式の出力に基づいて位相θを算
出しても高精度な位相測定は行えない。
【0023】そこで、次のようにしてオフセットの影響
を除去する。演算器10は、上述した点灯時の測定デー
タ、すなわち(5) 式,(6) 式に基づく(A1−A3)と
(A2−A4)のディジタルデータを内蔵するメモリに
格納しておく。
【0024】次に、ドライバ12から光源1に加える電
流をオフにして光源1を消灯させる。この時、(1) 式〜
(4) 式における光成分は全てなくなるので、各光電変換
器A1〜A4から出力される信号A1´〜A4´は(7)
式〜(10)式に示すようにオフセット成分のみになる。
【0025】A1´=ε1…(7) A2´=ε2…(8) A3´=ε3…(9) A4´=ε4…(10) 従って、消灯時における減算器4の出力は、 A1´−A3´=(ε1−ε3)…(11) になり、減算器5の出力は、 A2´−A4´=(ε2−ε4)…(12) になる。これら(11)式,(12)式の測定データも上述と同
様にS/H回路6,7で同時サンプルされ、マルチプレ
クサ8とADC9を経てそれぞれディジタル値に変換さ
れた後、演算器10に加えられる。
【0026】演算器10は、内蔵メモリに格納していた
(5) 式,(6) 式で表される測定データを読み出して、点
灯時と消灯時における減算器4の差分を求める(13)式お
よび減算器5の差分を求める(14)式の演算を行う。
【0027】 (A1−A3)−(A1´−A3´)=2a・sinθ…(13) (A2−A4)−(A2´−A4´)=2a・cosθ…(14) これら(13)式,(14)式の演算を行うことにより、オフセ
ットε1〜ε4が除去された位相θのみのデータを得る
ことができる。
【0028】しかし、振幅“a”は、光源1の温度特性
や経時変化、光電変換素子の温度特性等で変動するた
め、(13)式,(14)式から“a”を除去することが望まし
い。そこで、演算器10で比演算を行うことによりaを
除去した(sinθ/cosθ)を用いて位相θを算出
する。
【0029】すなわち、演算器10は、(15)式により、
オフセットの影響がなく、かつ光源1と光電変換素子の
温度特性の影響もない状態で、正弦波状照度分布波形の
位相θを演算できる。
【0030】 θ=tan−1(sinθ/cosθ)…(15) また、AD変換手段で2つの減算器の同一時刻の出力を
ディジタル値に変換しているので、高速回転しているコ
ード板の位相θも正確に測定できる。以下にその理由を
説明する。
【0031】もし、2つの減算器の出力である(5) 式,
(6) 式の値のサンプリングに時間のズレがあると、誤差
が生じる。例えば、コード板2のスリット数が1000
で回転数が3000rpmとすると、(5) 式,(6) 式の
sinθ,cosθは50KHzになる。これは、周期
が20μsであり、1/100の位相測定を行うことを
考えると、この同時性は20μs/100=0.2μs
が必要になる。
【0032】図8はコード板2が回転(正弦波状照度分
布が時間的に変化)している時の図6の各部の信号のタ
イミングチャートであり、この図を参照して各部動作の
タイミングを説明する。なお、上述では、初めに(5)
式,(6) 式で示される点灯時の測定データを取り込み、
次に(11)式,(12)式で示される消灯時の測定データを取
り込むとして説明したが、この順序が逆になってもよ
い。
【0033】図8では、シーケンスコントローラ11か
ら加える制御信号aにより光源1をまず消灯(LOW)
して消灯時の測定データ(オフセットデータ)を取り込
み、次に点灯(HIGH)して点灯時の測定データを得
ている(図8(1) 参照)。従って、消灯時と点灯時にお
ける減算器4,5の出力は、図8(2),(3) のようにな
る。すなわち、消灯時には減算器4から(11)式のオフセ
ットを意味する電圧V f1(=ε1−ε3)が出力さ
れ、減算器5から(12)式のオフセットを意味する電圧V
of2(=ε2−ε4)が出力される。また、点灯時に
は、コード板2の回転とともに(5) 式,(6) 式で示され
る波形が出力される。
【0034】S/H回路6,7には消灯時に図8(4) に
示すタイミングでS/H信号bがシーケンスコントロー
ラ11から加えられるので、S/H回路6は図8(2) に
示すデータD1を、S/H回路7は図8(3) に示すデー
タD3を、同一時刻にサンプリングする。
【0035】これらサンプリングデータD1,D3はマ
ルチプレクサ8により順次取り出され、ADC9へ入力
される。すなわち、図8(5) に示すシーケンスコントロ
ーラ11の信号cがHIGHのときS/H回路6が選択
され、LOWのときS/H回路7が選択される。ADC
9は、マルチプレクサ8がHIGHの期間にシーケンス
コントローラ11からAD変換コマンド信号dが加えら
れることによりS/H回路6がサンプリングしているオ
フセットデータD1をディジタル値に変換し、マルチプ
レクサ8がLOWの期間にシーケンスコントローラ11
からAD変換コマンド信号dが加えられることによりS
/H回路7がサンプリングしているオフセットデータD
3をディジタル値に変換する(図8(6) 参照)。
【0036】演算器10は、図8(7) に示すシーケンス
コントローラ11からのデータ取得コマンド信号eのタ
イミングによりディジタルデータD1,D3を取り込
み、図示しないメモリに格納する。
【0037】点灯時には上述と同様な動作により位相デ
ータD2とD4が演算器10のメモリに取り込まれる。
その後、演算器10にはシーケンスコントローラ11か
ら図8(8) に示す演算コマンドfが加えられ、演算器1
0はこれを起点にして上述した演算を行い、オフセット
と温度特性に影響されない位相θを算出する。
【0038】なお、ADC9には必ず量子化誤差が存在
する。すなわち、図8で説明したデータD1,D2,D
3,D4の最小ビットLSBは不安定な値である。その
結果、これらデータD1,D2,D3,D4の値に基づ
いて算出された位相θの分解能は、このADC9の量子
化誤差により制限される。
【0039】つまり、ADC9の最小ビットであるLS
Bは、入力アナログ信号のレベルが一定であっても、一
般に“0”となったり“1”になったりして不安定であ
る。図8の例でいえば、データD1,D2,D3,D4
の最小ビットLSBは不安定な値である。従って、該
“LSB”を角度θに換算した値で、測定対象の位相θ
の分解能が決定される。
【0040】このようなADC9の量子化誤差による影
響は、演算器10の演算機能により低減できる。前記し
たADC9で得られるディジタルデータの最小ビットL
SBのバラツキは確率的なものである。すなわち、AD
C9に加えられるアナログ信号の値が安定な場合には、
AD変換されたディジタル値の平均をとることでLSB
のバラツキをなくして前記アナログ信号の真値により近
い値を測定できる。
【0041】オフセットデータ(消灯時のデータ)は、
短時間的にはその値は一定と見ることができる。そこ
で、オフセットデータの複数個を演算器10のメモリに
格納し、その平均値をオフセットデータとして用いるよ
うにする。上述の数式を参照して説明すると、(11)式で
示される(A1´−A3´)のデータ(図8で言えばD
1のデータに相当)と(12)式で示される(A2´−A4
´)のデータ(図8で言えばD3のデータに相当)は、
LSBのバラツキが含まれないより真値に近いデータが
得られる。その結果、消灯時に測定するオフセットの値
は真値に近いので、位相θの分解能は向上する。
【0042】なお、点灯時にはコード板2が回転し、A
DC9に加えられるアナログ信号そのものが時々刻々と
変化するので、(5) 式で示される(A1−A3)のデー
タ(図8で言えばD2のデータに相当)と(6) 式で示さ
れる(A2−A4)のデータ(図8で言えばD4のデー
タに相当)については、上述のような平均化手段を用い
てLSBのバラツキを除去できないのはやむを得ない。
【0043】しかし、消灯時のデータのみでも、LSB
のバラツキによる影響を除くことができるので、位相θ
の分解能を向上させることができる効果が得られる。図
13を参照して補足説明する。図13の左端には、当該
波形の信号名称を付してある。図6において、光源1
は、制御信号aにより、図13(1) の如く消灯と点灯を
繰り返している。データ取得コマンドdは例えば図13
(2) の丸印のようなタイミングで発生しており、消灯時
の期間からは、オフセットデータのみを示す…,da
n−1,da,dan+1,…(このデータは図8の
データD1に相当)と、…,dbn−1,db,db
n+1,…(このデータは図8のデータD3に相当)が
ADC9から出力される。
【0044】また、点灯時の期間からは、正弦波状照度
分布波形の位相θとオフセットデータとを含む…,Da
n−1,Da,Dan+1,…(このデータは図8の
データD2に相当)と、…,Dbn−1,Db,Db
n+1,…(このデータは図8のデータD4に相当)が
ADC9から出力される。
【0045】今、演算器10がADC9から正弦波状照
度分布波形の位相θ(点灯時のデータ)を示すn回目の
測定データDaとDbを導入し(図13(3) 参
照)、(13)式と(14)式の演算を行う場合を考える。測定
データDaは、(13)式の(A1−A3)に相当する。
また、測定データDbは、(14)式の(A2−A4)に
相当する。なお、(13)式の(A1´−A3´)としては
消灯時のn回目のデータdaを使用せず、下式で示す
ようにn回目のサンプリングから(n−k)回目までの
k個のデータの平均データdanoffを用いる。kは
設計により定める整数である。
【0046】 danoff=(dan−k+…+dan−1+da)/k 同様に、(14)式の(A2´−A4´)としては消灯時の
n回目のデータdbを使用せず、下式で示すようにn
回目のサンプリングから(n−k)回目までのk個のデ
ータの平均データdbnoffを用いる。
【0047】 dbnoff=(dbn−k+…+dbn−1+db)/k これらの平均化演算は演算器10で行う。このようにし
て得られたオフセットを表すdanoffとdb
noffは、ADC9のLSBのバラツキが除去され、
統計的に真値に近いものである。
【0048】なお、上述では、(13)式と(14)式に用いる
消灯時のデータを最新のk回のサンプリングの平均値を
採用した例で説明したが、既述したようにオフセットは
短時間には変化しない。従って、消灯時のデータを最新
のk回のサンプリングの平均値に限定せず、消灯時のデ
ータ更新をM回に1回にしてもよい。例えば、消灯時の
n回目のデータをdanoff,dbnoffとして、 danoff=da dbnoff=db を用いるようにしてもよい。ここで、N=n−jであ
る。
【0049】なお、図6では1個のADC9を共用して
いるが、図7のように減算器4,5にそれぞれ専用のA
DC15,16を設けてもよい。この場合、同一時間当
たりのAD処理負担量は図6の半分に減少するので、A
D変換速度は図6のADC9と比べて遅くてよい。ま
た、S/H回路6,7とマルチプレクサ8は不要にな
る。
【0050】また、上述において、演算器10は、(13)
式,(14)式で示される2つの差分から(15)式の演算を行
い、正弦波状照度分布波形の位相θを演算するものとし
て説明した。
【0051】しかし、tan−1の演算は時間を要する
ので、高速処理を行いたい場合には(15)式の演算を行わ
ないで演算器10が内蔵するテーブルを参照して位相θ
を求めるようにしてもよい。テーブルは外に独立して設
けられたものでもよい。
【0052】この場合、演算器10を以下に説明する構
成にすることにより、テーブルに書き込むデータ量を0
°〜360°の1/8にできる。すなわち、図12のよ
うに、0°〜45°の角度θと、(sinθ/cos
θ)の関係をテーブルに書き込めばよい。
【0053】これを説明する。図10は、sinθとc
osθとtanθの関係説明図である。(15)式で得られ
るθと(sinθ/cosθ)の関係は、図10の実線
で描いた曲線上に存在する。ここで、図10のように、
45°毎に8つのエリアに区切ると、各エリア部の実線
波形は次式で表される。(1),(8) は、 θ=tan−1(sinθ/cosθ)…(16) (2),(3) は、 θ=tan−1(−cosθ/sinθ)+π/2…(17) (4),(5) は、 θ=tan−1(sinθ/cosθ)+π…(18) (6),(7) は、 θ=tan−1(−cosθ/sinθ)+3π/2…(19) ここで、0°〜45°の角度θと(sinθ/cos
θ)の関係を図12のテーブルに書き込むことにより、
このデータθを読み出して各エリア毎に図9に示す演算
で位相θを算出できる。図9は、図10の8つのエリ
ア,sinθの正負の状態,cosθの正負の状態,こ
の絶対値同士の減算結果の正負の状態,比の値(図12
のテーブルのアドレス),起点位相,各エリア毎の演算
式を示している。なお、図9の演算式における“θ”
は、図12のテーブルから読み出した値を意味する。図
9中の演算式は図10から容易に導き出されるので説明
を省略する。
【0054】従って、現在の位相θがこの8つのエリア
のどれに属するかを知ることができれば、上記図9に示
す演算を行うことにより位相θを求めることができる。
すなわち、演算器10は、点灯時と消灯時における減算
器4の出力の差分(sinθ)の正負状態と、点灯時と
消灯時における減算器5の出力の差分(cosθ)の正
負状態と、この2つの差分の絶対値同士の減算結果{|
sinθ|−|cosθ|}の正負状態とからなる8つ
の組み合わせを認識して現在の位相θがこの8つのどれ
に属するかを判断する判断手段と、0°〜45°の角度
θと(sinθ/cosθ)の関係が書き込まれたテー
ブルと、減算器4の出力の差分(sinθ)と減算器5
の出力の差分(cosθ)とから、(sinθ/cos
θ)または(cosθ/sinθ)の演算を行う比演算
器と、この比演算器の演算結果に対応する角度θを前記
テーブルから読み出し、判断手段で判断した現在の位相
θが属する組み合わせに応じて角度θに演算を加えて位
相θを算出する位相演算器、とを備えている。
【0055】なお、上述では、テーブルに角度θと(s
inθ/cosθ)の関係を書き込み、比演算器で(s
inθ/cosθ)の演算を行うとして説明したが、こ
の分子と分母を逆の関係にしても同様の結果が得られる
ことは明らかである。すなわち、テーブルに角度θと
(cosθ/sinθ)の関係を書き込み、比演算器で
(cosθ/sinθ)の演算を行うようにしてもよ
い。
【0056】上述のようにマイクロプロセッサを内蔵す
ることによって、以下のような効果が得られる。 180°位相の異なる信号の差をとる構成のため、光
バイアス分b((1) 式〜(4) 式)が除去できる。すなわ
ち、光源の光パワー変動に伴う光バイアスbの変化を自
動的に除去できる。
【0057】光源をオン,オフし、オフセットを計測
できる構成のため、光電変換素子のオフセットと回路系
のオフセットを除去でき、高精度な位相計測が行える。 2つの減算器の出力を同時サンプリングし、1個のA
DC9を共用してディジタル変換するため、ADC9の
ゲイン特性に基づく位相演算誤差がない。
【0058】これを説明する。例えば、減算器4からA
DC9に2a・sinθが加えられ、ディジタル値とし
てk・2a・sinθに変換したとする。ここで、kは
AD変換の係数である。これと同じADC9へ今度は減
算器5から2a・cosθが加えられるとディジタル値
としてk・2a・cosθを出力する。演算器10で
は、 tan−1(k・2a・sinθ)/(k・2a・cosθ) を演算するので、分子と分母の係数kがキャンセルさ
れ、ADC9のゲインエラー(kの変動)は演算の精度
に影響しないことになる。
【0059】tan−1を演算する際、(sinθ/
cosθ)または(cosθ/sinθ)の演算を行っ
ているため、位相信号の振幅((1) 式〜(4) 式のa)の
変動が規格化される。従って、テーブル演算を行う場合
テーブルを小さくできる。また、位相θを演算する際、
象限を8分割することによりテーブルサイズを1/8に
縮小できる。
【0060】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、受光ア
レイ上の光量分布からコード板の回転角度を求めるのに
あたっては、減算器出力のホールド,AD変換,演算器
による角度演算が必要である。
【0061】そこでシーケンスコントローラ及び演算器
として機能するマイクロプロセッサを内蔵した光学式エ
ンコーダでは、内部に一定間隔のパルス源を設けておい
て、シーケンスコントローラは該パルスを割り込み信号
として受けて一定間隔で所定の演算を繰り返すことによ
り外部に角度データを出力する内部同期方式として構成
したり、外部から外部出力要求パルスを受けて該パルス
に同期して角度データを出力する外部同期方式として構
成されている。
【0062】しかし、外部同期方式の場合、外部出力要
求パルスが入力されると、AD変換,角度演算の順に動
作して、求めた角度データを出力するので、外部出力要
求パルスが入力されてから必要な角度データを得るまで
にかなりの時間がかかってしまう。
【0063】また、両方式ともに、シーケンスコントロ
ーラが指令パルスを出してから角度データを受け取るま
での時間的なずれにより、受信時の角度には誤差が生じ
てしまうという問題もある。
【0064】本発明の目的は、外部同期,内部同期のい
ずれのタイミングについても角度データ出力を可能に
し、かつ、その角度データは受信までの時間遅れが補正
されたものである光学式エンコーダを提供することにあ
る。
【0065】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、受光アレイ上の光量データに基づいてコ
ード板の回転角度を求めるように構成された光学式エン
コーダにおいて、各部の動作シーケンスを制御するシー
ケンスコントローラ及び角度データを演算する演算器と
して機能し、演算された角度データを記憶するマイクロ
プロセッサを設け、該マイクロプロセッサは、外部から
角度データ要求信号が入力されたときには記憶している
角度データに下式(1) による補正演算を施して角度デー
タ要求信号受信終了時における角度データを出力し、外
部からの角度データ要求信号が一定時間入力されないと
きには記憶している角度データに下式(2) による補正演
算を施して内部タイミング信号に従って内部タイミング
信号受信終了時における角度データを一定時間間隔で出
力することを特徴とする。
【0066】 θRES=θCAL+V*(t/TEXT)…(1) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
度) V :速度(外部出力要求信号間の補正前角度変化
量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TEXT:外部出力要求信号周期 θRES=θCAL+V*(t/TIN)…(2) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
度) V :速度(内部タイミング周期の補正前角度変化
量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TIN :内部タイミング周期
【0067】
【作用】マイクロプロセッサは、外部同期,内部同期の
いずれのタイミングについても受信までの時間遅れが補
正演算された角度データを出力する。
【0068】これにより、外部同期,内部同期のいずれ
のタイミングについても高精度の角度データ出力が得ら
れる。
【0069】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。図1は本発明に係る光学式エンコーダの
構成図で、図6と共通する部分には同じ符号を付けてい
る。図1において、13は演算器10の演算結果を外部
に送出するデータ送信器である。シーケンスコントロー
ラ11には外部出力要求信号が入力されるとともに、デ
ータ送信器13には該シーケンスコントローラ11から
出力制御信号gが加えられている。また、演算器10
は、従来の機能の他に遅れ時間の補正機能も備えてい
る。
【0070】図2のタイミングチャートを参照して図1
の動作を説明する。はじめに、外部出力要求信号がな
く、内部タイミング信号に従って出力を行う場合を説明
する。図2(A)は内部タイミング信号に同期した動作
のタイミングチャートである。内部タイミング信号はそ
の周期が一定であることから、前回のタイミング信号発
生時刻がわかっていれば次回の発生時刻が予想できる。
従って、その周期内にADデータサンプリングから角度
演算及び外部への出力に至る全ての処理を終了すること
により、内部タイミング信号毎に角度データを出力し続
けることができる。周期が一定であることから受信時刻
における角度に対する補正は次の式で行う。
【0071】θRES=θCAL+V*(t/TIN) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
度) V :速度(内部タイミング周期の補正前角度変化
量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TIN :内部タイミング周期 次に、外部出力要求信号に対する動作について説明す
る。図2(B)は外部出力要求信号に同期した動作のタ
イミングチャートである。外部出力要求信号は、エンコ
ーダ内部の演算及びシーケンスコントロールのサイクル
においてどの時点で入ってくるか分からないという点が
内部タイミング信号の場合と大きく異なっている。外部
出力要求信号の周期が一定であれば、受信時刻における
角度に対する補正を次の式で行うことができる。
【0072】 θRES=θCAL+V*(t/TEXT) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
度) V :速度(外部出力要求信号間の補正前角度変化
量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TEXT:外部出力要求信号周期 なお、外部出力要求信号周期は予め決定しておいてもよ
いし、実際の周期をエンコーダ側で測定してもよい。
又、実施例では受光アレイ上の光量分布をAD変換して
コード板の回転角度を求めているが、例えば受光素子上
の光量変化のカウントデータであってもよい。
【0073】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、外
部同期,内部同期のいずれのタイミングについても受信
までの時間遅れが補正演算された精度の高い角度データ
が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る光学式エンコーダの構成図であ
る。
【図2】図1の動作を説明するタイミングチャートであ
る。
【図3】従来例の要部の構成図である。
【図4】フォトダイオードが4個の出力信号説明図であ
る。
【図5】コード板の構成例図である。
【図6】マイクロプロセッサを用いる基本回路図であ
る。
【図7】マイクロプロセッサを用いる他の基本回路図で
ある。
【図8】図6の各部の信号のタイミングチャートであ
る。
【図9】8つのエリアでの演算説明図である。
【図10】8つのエリアの説明図である。
【図11】光電変換素子の出力波形図である。
【図12】テーブルの内容説明図である。
【図13】ADCの量子化誤差による影響を低減する方
法の説明図である。
【符号の説明】
1 光源 2 コード板 3 受光アレイ 4,5 減算器 6,7 サンプルホールド回路 8 マルチプレクサ 9 A/D変換器 10 演算器(マイクロプロセッサ) 11 シーケンスコントローラ 12 ドライバ 13 データ送信器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 受光アレイ上の光量データに基づいてコ
    ード板の回転角度を求めるように構成された光学式エン
    コーダにおいて、 各部の動作シーケンスを制御するシーケンスコントロー
    ラ及び角度データを演算する演算器として機能し、演算
    された角度データを記憶するマイクロプロセッサを設
    け、 該マイクロプロセッサは、 外部から角度データ要求信号が入力されたときには記憶
    している角度データに下式(1) による補正演算を施して
    角度データ要求信号受信終了時における角度データを出
    力し、 外部からの角度データ要求信号が一定時間入力されない
    ときには記憶している角度データに下式(2) による補正
    演算を施して内部タイミング信号に従って内部タイミン
    グ信号受信終了時における角度データを一定時間間隔で
    出力することを特徴とする光学式エンコーダ。 θRES=θCAL+V*(t/TEXT)…(1) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
    度) V :速度(外部出力要求信号間の補正前角度変化
    量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TEXT:外部出力要求信号周期 θRES=θCAL+V*(t/TIN)…(2) θRES:受信時刻の角度(補正後の角度) θCAL:ADデータから演算された角度(補正前の角
    度) V :速度(内部タイミング周期の補正前角度変化
    量) t :ADデータサンプルから受信完了までの時間 TIN :内部タイミング周期
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US6348695B2 (en) 1998-09-02 2002-02-19 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Position detection apparatus
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