JPH05232412A - LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置 - Google Patents
LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置Info
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- JPH05232412A JPH05232412A JP4036712A JP3671292A JPH05232412A JP H05232412 A JPH05232412 A JP H05232412A JP 4036712 A JP4036712 A JP 4036712A JP 3671292 A JP3671292 A JP 3671292A JP H05232412 A JPH05232412 A JP H05232412A
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- interferometric modulator
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/0121—Operation of devices; Circuit arrangements, not otherwise provided for in this subclass
- G02F1/0123—Circuits for the control or stabilisation of the bias voltage, e.g. automatic bias control [ABC] feedback loops
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 LN変調器を使用した電気−光変換回路での
変調器動作点の制御において、レーザ・ダイオードの光
出力電力の変動に対しても動作点を最適に制御するこ
と。 【構成】 レーザ・ダイオードの後方光出力をフォトダ
イオードで検出し、電圧に変換したのち、LN−MOD
の光出力波形の平均値と比較する基準電圧を補償するこ
とにより、レーザ・ダイオードの出力変動に対しても、
LN−MODの動作点を最適に保つことができる。
変調器動作点の制御において、レーザ・ダイオードの光
出力電力の変動に対しても動作点を最適に制御するこ
と。 【構成】 レーザ・ダイオードの後方光出力をフォトダ
イオードで検出し、電圧に変換したのち、LN−MOD
の光出力波形の平均値と比較する基準電圧を補償するこ
とにより、レーザ・ダイオードの出力変動に対しても、
LN−MODの動作点を最適に保つことができる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はLiNbO3 マッハツェ
ンダ干渉型変調器(以下、LN−MODと略す)のバイ
アス制御回路に関し、特に変調器動作点のバイアス制御
を行う制御装置に関する。
ンダ干渉型変調器(以下、LN−MODと略す)のバイ
アス制御回路に関し、特に変調器動作点のバイアス制御
を行う制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のLN−MOD制御装置は図2の様
であった。
であった。
【0003】図2において、1はレーザ・ダイオード、
2はLN−MOD、3はデータ信号入力端子、4は変調
器駆動回路、5はカプリングコンデンサ、6はバイアス
供給回路、7は光分岐器、8は光データ信号出力端子、
9はフォト・ダイオード、10は電流−電圧変換器、1
1は演算増幅器、12は基準電圧、13はフィルタであ
る。
2はLN−MOD、3はデータ信号入力端子、4は変調
器駆動回路、5はカプリングコンデンサ、6はバイアス
供給回路、7は光分岐器、8は光データ信号出力端子、
9はフォト・ダイオード、10は電流−電圧変換器、1
1は演算増幅器、12は基準電圧、13はフィルタであ
る。
【0004】図2において入力端子3に入力されたデー
タ信号は、駆動回路4、コンデンサ5を経て、LN−M
OD2に入力される。LN−MOD2では、レーザ・ダ
イオード1から入力された光信号が、駆動回路4から入
力されたデータ信号によって光の強度変調される。変調
された光のデータ信号は、光分岐7を経て、出力端子8
へ出力される。
タ信号は、駆動回路4、コンデンサ5を経て、LN−M
OD2に入力される。LN−MOD2では、レーザ・ダ
イオード1から入力された光信号が、駆動回路4から入
力されたデータ信号によって光の強度変調される。変調
された光のデータ信号は、光分岐7を経て、出力端子8
へ出力される。
【0005】この時の様子を図3に示す。図3にて、a
はLN−MOD2の変調特性であり、入力電圧に対する
光出力電力を示している。bは駆動回路4からLN−M
OD2に入力されるデータ信号の駆動電圧波形、cはバ
イアス供給回路6から供給されるバイアス電圧である。
LN−MOD2にbの様な波形が入力されると、レーザ
・ダイオード1からの光信号は変調を受け、LN−MO
D2の出力にはdの様な波形が現われ、強度変調された
光のデータ信号が得られる。
はLN−MOD2の変調特性であり、入力電圧に対する
光出力電力を示している。bは駆動回路4からLN−M
OD2に入力されるデータ信号の駆動電圧波形、cはバ
イアス供給回路6から供給されるバイアス電圧である。
LN−MOD2にbの様な波形が入力されると、レーザ
・ダイオード1からの光信号は変調を受け、LN−MO
D2の出力にはdの様な波形が現われ、強度変調された
光のデータ信号が得られる。
【0006】また図3−dの様な良好な光出力波形を得
るには、LN−MOD2の動作点を最適にする必要があ
り、またLN−MOD2の変調特性が図3−a′の様に
DCドリフトするため、バイアス供給回路6から供給さ
れるバイアス電圧(図3−c)によって動作点の制御を
行う。LN−MOD2の動作点の制御は、光分岐7にて
光出力波形をモニタし、フォト・ダイオード9、電流−
電圧変換回路10によって光出力波形の平均値を検出
し、前記平均値が一定しなる様、平均値と基準電圧12
の誤差電圧を、演算増幅器11、フィルタ13を経て、
LN−MOD2のバイアス電圧に帰還をかけ、制御して
いる。
るには、LN−MOD2の動作点を最適にする必要があ
り、またLN−MOD2の変調特性が図3−a′の様に
DCドリフトするため、バイアス供給回路6から供給さ
れるバイアス電圧(図3−c)によって動作点の制御を
行う。LN−MOD2の動作点の制御は、光分岐7にて
光出力波形をモニタし、フォト・ダイオード9、電流−
電圧変換回路10によって光出力波形の平均値を検出
し、前記平均値が一定しなる様、平均値と基準電圧12
の誤差電圧を、演算増幅器11、フィルタ13を経て、
LN−MOD2のバイアス電圧に帰還をかけ、制御して
いる。
【0007】完全な矩形波でLN−MOD2を駆動し、
またLN−MOD2の帯域が∞であるとき、図3からわ
かる様に光出力波形dの平均値は、LN−MOD2の動
作点cをいくら変動させても光出力波形の“0”と
“1”がキャンセルするため、一定である。しかし、実
際は、駆動波形に立上り、立下り時間があり、LN−M
ODの帯域も有限で、光出力波形の“0”と“1”の間
の確立密度が分布するため、LN−MOD2の動作電圧
を変化させると図4のeの様なLN−MODの変調特性
に対し、図4のfの様に光出力波形の平均値が変動す
る。
またLN−MOD2の帯域が∞であるとき、図3からわ
かる様に光出力波形dの平均値は、LN−MOD2の動
作点cをいくら変動させても光出力波形の“0”と
“1”がキャンセルするため、一定である。しかし、実
際は、駆動波形に立上り、立下り時間があり、LN−M
ODの帯域も有限で、光出力波形の“0”と“1”の間
の確立密度が分布するため、LN−MOD2の動作電圧
を変化させると図4のeの様なLN−MODの変調特性
に対し、図4のfの様に光出力波形の平均値が変動す
る。
【0008】このため、光出力波形の平均値fがLN−
MOD2の最適動作点gの状態となる様にLN−MOD
2の動作電圧を制御することにより、動作点を常に最適
に出来るものであった。
MOD2の最適動作点gの状態となる様にLN−MOD
2の動作電圧を制御することにより、動作点を常に最適
に出来るものであった。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
LN−MOD制御回路は、光出力波形の平均値を検出
し、平均値が一定となる様に制御をかけるため、レーザ
・ダイオードから入力される光電力の変動が起きた場
合、光出力波形の平均値が変動してしまい、LN−MO
Dの動作点が最適の状態からずれてしまうという問題点
があった。
LN−MOD制御回路は、光出力波形の平均値を検出
し、平均値が一定となる様に制御をかけるため、レーザ
・ダイオードから入力される光電力の変動が起きた場
合、光出力波形の平均値が変動してしまい、LN−MO
Dの動作点が最適の状態からずれてしまうという問題点
があった。
【0010】そこで、本発明の技術的課題は、上記欠点
に鑑み、レーザ・ダイオードの光出力電力の変動に際し
ても、LN−MODの動作点を最適状態に維持するLi
NbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置を提供
することである。
に鑑み、レーザ・ダイオードの光出力電力の変動に際し
ても、LN−MODの動作点を最適状態に維持するLi
NbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置を提供
することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、光信号
を、電気データ信号で強度変調するLiNbO3 マッハ
ツェンダ干渉型変調器のバイアス電圧を、前記光信号の
変化量に基づいて、補償する補償手段を有することを特
徴とするLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制
御装置が得られる。
を、電気データ信号で強度変調するLiNbO3 マッハ
ツェンダ干渉型変調器のバイアス電圧を、前記光信号の
変化量に基づいて、補償する補償手段を有することを特
徴とするLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制
御装置が得られる。
【0012】また、本発明によれば、光信号を、データ
信号に基づいて、光の強度変調された光のデータ信号を
出力するLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器と前
記光のデータ信号をモニタして、光出力波形の平均値を
検出する検出手段と、所定の基準電圧を受け、前記平均
値との誤差電圧を出力する演算手段と、前記誤差電圧に
基づいて、前記LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調
器にバイアス電圧を印加するバイアス供給手段とを有す
るLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置
において、前記光信号の変化量に基づいて、前記基準電
圧を補償する基準電圧補償手段を設けたことを特徴とす
るLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置
が得られる。
信号に基づいて、光の強度変調された光のデータ信号を
出力するLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器と前
記光のデータ信号をモニタして、光出力波形の平均値を
検出する検出手段と、所定の基準電圧を受け、前記平均
値との誤差電圧を出力する演算手段と、前記誤差電圧に
基づいて、前記LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調
器にバイアス電圧を印加するバイアス供給手段とを有す
るLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置
において、前記光信号の変化量に基づいて、前記基準電
圧を補償する基準電圧補償手段を設けたことを特徴とす
るLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置
が得られる。
【0013】また、本発明によれば、前記LiNbO3
マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置において、前記
基準電圧補償手段は、前記光信号の変化量に対応する光
電流を光電圧に変換する電流−電圧変換器と、前記光電
圧を受け、前記基準電圧を補償する演算器とを有するこ
とを特徴とするLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調
器の制御装置が得られる。
マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置において、前記
基準電圧補償手段は、前記光信号の変化量に対応する光
電流を光電圧に変換する電流−電圧変換器と、前記光電
圧を受け、前記基準電圧を補償する演算器とを有するこ
とを特徴とするLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調
器の制御装置が得られる。
【0014】即ち、本発明のLN−MOD制御回路は、
レーザ・ダイオードの後方出力を検出するモニタ回路
と、前記モニタ回路出力電圧により、基準電圧を補償す
る回路とを有する。
レーザ・ダイオードの後方出力を検出するモニタ回路
と、前記モニタ回路出力電圧により、基準電圧を補償す
る回路とを有する。
【0015】
【実施例】次に、本発明のLN−MOD制御装置の実施
例を図面を参照して説明する。
例を図面を参照して説明する。
【0016】図1において、図2と同じ番号のものは従
来技術と同じ機能を有する。その他については、14,
15は演算増幅器である。
来技術と同じ機能を有する。その他については、14,
15は演算増幅器である。
【0017】図1において、入力端子3に入力されたデ
ータ信号は、駆動回路4、カプリングコンデンサ5を経
てLN−MOD2に入力される。
ータ信号は、駆動回路4、カプリングコンデンサ5を経
てLN−MOD2に入力される。
【0018】LN−MOD2にて変調された光波形は、
光分岐器7を経て、フォト・ダイオード9に出力され、
電流−電圧変換器10を経て、光波長の平均値が検出さ
れる。前記検出された光波形の平均値は演算増幅器11
にて、演算増幅器14を経て得られる基準電圧と比較さ
れ、演算増幅器11の出力に誤差電圧が生じる。そして
前記誤差電圧をフィルタ13を介してバイアス供給回路
6へ帰還させることにより、LN−MOD2の動作点を
最適に制御している。
光分岐器7を経て、フォト・ダイオード9に出力され、
電流−電圧変換器10を経て、光波長の平均値が検出さ
れる。前記検出された光波形の平均値は演算増幅器11
にて、演算増幅器14を経て得られる基準電圧と比較さ
れ、演算増幅器11の出力に誤差電圧が生じる。そして
前記誤差電圧をフィルタ13を介してバイアス供給回路
6へ帰還させることにより、LN−MOD2の動作点を
最適に制御している。
【0019】図1においてレーザ・ダイオード1の光出
力電力が変化した場合、電流−電圧変換器10より得ら
れる光出力波形の平均値が変化するが、レーザ・ダイオ
ード1の後方出力モニタにより得られる光電流も同時に
変化する。そのため、前記光電流を電流−電圧変換器1
5により電圧に変換し、演算増幅器14に入力すること
により、前記光出力波形の平均値と比較する基準電圧を
変化分に対して補償することが出来、レーザ・ダイオー
ド1の光出力電力が変化した場合でもLN−MODの動
作点を常に最適にできるものである。
力電力が変化した場合、電流−電圧変換器10より得ら
れる光出力波形の平均値が変化するが、レーザ・ダイオ
ード1の後方出力モニタにより得られる光電流も同時に
変化する。そのため、前記光電流を電流−電圧変換器1
5により電圧に変換し、演算増幅器14に入力すること
により、前記光出力波形の平均値と比較する基準電圧を
変化分に対して補償することが出来、レーザ・ダイオー
ド1の光出力電力が変化した場合でもLN−MODの動
作点を常に最適にできるものである。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、レーザ・
ダイオードの後方光出力をフォトダイオードでモニタ
し、電圧に変換したのち、LN−MODの光出力波形平
均値と比較する基準電圧を補償しているので、レーザ・
ダイオードの光出力電力が変化した場合でもLN−MO
Dの動作点を最適に保つことができるという結果を有す
る。
ダイオードの後方光出力をフォトダイオードでモニタ
し、電圧に変換したのち、LN−MODの光出力波形平
均値と比較する基準電圧を補償しているので、レーザ・
ダイオードの光出力電力が変化した場合でもLN−MO
Dの動作点を最適に保つことができるという結果を有す
る。
【図1】本発明の一実施例のブロック図
【図2】従来技術のブロック図
【図3】図1,図2のブロック図の波形例
【図4】図1,図2のブロック図の波形例
1 レーザ・ダイオード 2 LN−MOD 3 データ信号入力端子 4 変調器駆動回路 5 カプリングコンデンサ 6 バイアス供給回路 7 光分岐器 8 光信号出力端子 9 フォト・ダイオード 10 電流電圧変換器 11 演算増幅器 12 基準電圧 13 フィルタ 14 演算増幅器 15 電流−電圧変換器
Claims (3)
- 【請求項1】 光信号を、電気データ信号で強度変調す
るLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器のバイアス
電圧を、前記光信号の変化量に基づいて、補償する補償
手段を有することを特徴とするLiNbO3 マッハツェ
ンダ干渉型変調器の制御装置。 - 【請求項2】 光信号を、データ信号に基づいて、光の
強度変調された光のデータ信号を出力するLiNbO3
マッハツェンダ干渉型変調器と前記光のデータ信号をモ
ニタして、光出力波形の平均値を検出する検出手段と、 所定の基準電圧を受け、前記平均値との誤差電圧を出力
する演算手段と、 前記誤差電圧に基づいて、前記LiNbO3 マッハツェ
ンダ干渉型変調器にバイアス電圧を印加するバイアス供
給手段とを有するLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変
調器の制御装置において、 前記光信号の変化量に基づいて、前記基準電圧を補償す
る基準電圧補償手段を設けたことを特徴とするLiNb
O3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置。 - 【請求項3】 請求項2記載のLiNbO3 マッハツェ
ンダ干渉型変調器の制御装置において、前記基準電圧補
償手段は、前記光信号の変化量に対応する光電流を光電
圧に変換する電流−電圧変換器と、前記光電圧を受け、
前記基準電圧を補償する演算器とを有することを特徴と
するLiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4036712A JPH05232412A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4036712A JPH05232412A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05232412A true JPH05232412A (ja) | 1993-09-10 |
Family
ID=12477377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4036712A Withdrawn JPH05232412A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | LiNbO3 マッハツェンダ干渉型変調器の制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05232412A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07120710A (ja) * | 1993-10-28 | 1995-05-12 | Nec Corp | 光変調器および光変調装置 |
JPH07212315A (ja) * | 1994-01-18 | 1995-08-11 | Fujitsu Ltd | 光増幅器 |
EP0717302A3 (en) * | 1994-12-15 | 1997-08-13 | Anritsu Corp | External stabilization of the output power of a light source with tunable wavelength |
US5907426A (en) * | 1996-06-28 | 1999-05-25 | Kabushiki Kaisha Toyota Chuo Kenkyusho | Stabilizing device for optical modulator |
KR100701101B1 (ko) * | 2004-12-20 | 2007-03-28 | 한국전자통신연구원 | 광 간섭계 제어 장치 및 그 방법 |
JP2016219954A (ja) * | 2015-05-18 | 2016-12-22 | 日本電信電話株式会社 | 光送信器 |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP4036712A patent/JPH05232412A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07120710A (ja) * | 1993-10-28 | 1995-05-12 | Nec Corp | 光変調器および光変調装置 |
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JP2016219954A (ja) * | 2015-05-18 | 2016-12-22 | 日本電信電話株式会社 | 光送信器 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990518 |