JPH05232083A - 電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置 - Google Patents
電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置Info
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- JPH05232083A JPH05232083A JP4072869A JP7286992A JPH05232083A JP H05232083 A JPH05232083 A JP H05232083A JP 4072869 A JP4072869 A JP 4072869A JP 7286992 A JP7286992 A JP 7286992A JP H05232083 A JPH05232083 A JP H05232083A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な構成で温度変化による影響を無くすこ
とができ，且つ，コストの低減，装置の小型化を図る。
また，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測定を
随時可能にする。また，被検液の温度を予め膜電極の環
境温度と同一に保持する必要を無くして，高速処理を可
能とする。更に，測定開始，或いは，間欠的に測定する
場合でも，高精度の測定を可能とする。 【構成】 被検液を膜電極に接触させて，被検液と膜電
極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測定す
る電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内の温
度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変化電
圧を求め，膜電極の出力電圧から変化電圧を差し引くこ
とにより，温度による影響を補正した被検液と膜電極と
の間の電圧を得る。
とができ，且つ，コストの低減，装置の小型化を図る。
また，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測定を
随時可能にする。また，被検液の温度を予め膜電極の環
境温度と同一に保持する必要を無くして，高速処理を可
能とする。更に，測定開始，或いは，間欠的に測定する
場合でも，高精度の測定を可能とする。 【構成】 被検液を膜電極に接触させて，被検液と膜電
極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測定す
る電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内の温
度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変化電
圧を求め，膜電極の出力電圧から変化電圧を差し引くこ
とにより，温度による影響を補正した被検液と膜電極と
の間の電圧を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電解質溶液の測定方法及
び電解質測定装置に関し，より詳細には，臨床検査の自
動分析装置に使用される高速処理に最適な電解質溶液の
測定方法及び電解質測定装置に関する。
び電解質測定装置に関し，より詳細には，臨床検査の自
動分析装置に使用される高速処理に最適な電解質溶液の
測定方法及び電解質測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の電解質溶液の測定方法及び電解質
測定装置では，電解質溶液の濃度を測定する場合，所定
のチューブ等を用いて被検液を導いて膜電極に接触さ
せ，膜電極の膜面での電気化学的平衡状態が安定するま
での一定時間，被検液を静止させた後，膜電極の電位を
測定して電解質溶液の濃度を測定している。
測定装置では，電解質溶液の濃度を測定する場合，所定
のチューブ等を用いて被検液を導いて膜電極に接触さ
せ，膜電極の膜面での電気化学的平衡状態が安定するま
での一定時間，被検液を静止させた後，膜電極の電位を
測定して電解質溶液の濃度を測定している。
【０００３】尚，このときの膜電極の出力が温度によっ
て変化するため，従来の電解質測定装置では，膜電極自
身或いは膜電極を含む環境を一定の温度環境に保ち，更
に，ヒータや，恒温槽等の装置を用いて被検液の温度も
予め同一の温度に保持するようにしている。
て変化するため，従来の電解質測定装置では，膜電極自
身或いは膜電極を含む環境を一定の温度環境に保ち，更
に，ヒータや，恒温槽等の装置を用いて被検液の温度も
予め同一の温度に保持するようにしている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら，従来の
電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置によれば，温
度による膜電極の出力変化をなくすために，ヒータや，
恒温槽等を用いているため，構成が複雑となりコストが
高くなるという問題点や，装置全体が大型化するという
問題点があった。
電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置によれば，温
度による膜電極の出力変化をなくすために，ヒータや，
恒温槽等を用いているため，構成が複雑となりコストが
高くなるという問題点や，装置全体が大型化するという
問題点があった。
【０００５】また，従来の電解質溶液の測定方法及び電
解質測定装置では，膜電極自身或いは膜電極を含む環境
を一定の温度環境に保ち，更に，被検液の温度を予め同
一の温度に保持することにより，温度による影響をなく
し，膜電極の出力を安定させているため，測定に先立っ
て温度コントロールを行うためのウォーミングアップが
必要であり，測定可能になるまでに時間がかかるという
問題点があった。
解質測定装置では，膜電極自身或いは膜電極を含む環境
を一定の温度環境に保ち，更に，被検液の温度を予め同
一の温度に保持することにより，温度による影響をなく
し，膜電極の出力を安定させているため，測定に先立っ
て温度コントロールを行うためのウォーミングアップが
必要であり，測定可能になるまでに時間がかかるという
問題点があった。
【０００６】また，被検液の温度追従が必要であるた
め，高速処理が困難であるという問題点もあった。
め，高速処理が困難であるという問題点もあった。
【０００７】また，ウォーミングアップによって温度コ
ントロールを行っても，測定開始，或いは，間欠的に測
定する場合には，温度バランスが崩れるため，精度の良
い測定ができないという問題点があった。
ントロールを行っても，測定開始，或いは，間欠的に測
定する場合には，温度バランスが崩れるため，精度の良
い測定ができないという問題点があった。
【０００８】本発明は上記に鑑みてなされたものであっ
て，簡単な構成で温度変化による影響を無くすことがで
き，且つ，コストの低減，装置の小型化が図れることを
目的とする。
て，簡単な構成で温度変化による影響を無くすことがで
き，且つ，コストの低減，装置の小型化が図れることを
目的とする。
【０００９】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測
定を随時可能にすることを目的とする。
であって，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測
定を随時可能にすることを目的とする。
【００１０】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，被検液の温度を予め膜電極の環境温度と同一
に保持する必要を無くして，高速処理を可能とすること
を目的とする。
であって，被検液の温度を予め膜電極の環境温度と同一
に保持する必要を無くして，高速処理を可能とすること
を目的とする。
【００１１】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，測定開始，或いは，間欠的に測定する場合で
も，高精度の測定が行えることを目的とする。
であって，測定開始，或いは，間欠的に測定する場合で
も，高精度の測定が行えることを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために，被検液を膜電極に接触させて，被検液と
膜電極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測
定する電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内
の温度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変
化量を求め，膜電極の出力電圧に変化量を補償し，温度
による影響を補正した被検液と膜電極との間の電圧を得
る電解質溶液の測定方法を提供するものである。
成するために，被検液を膜電極に接触させて，被検液と
膜電極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測
定する電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内
の温度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変
化量を求め，膜電極の出力電圧に変化量を補償し，温度
による影響を補正した被検液と膜電極との間の電圧を得
る電解質溶液の測定方法を提供するものである。
【００１３】また，本発明は上記の目的を達成するため
に，被検液の電圧を測定する膜電極と，被検液の流路内
の温度を測定する温度センサと，温度センサの測定した
温度値を入力し，膜電極の温度特性に基づいて増幅率を
可変し，温度による変化電圧を出力する増幅器と，膜電
極の出力電圧に変化量を補償する差動増幅器とを備えた
電解質測定装置を提供するものである。
に，被検液の電圧を測定する膜電極と，被検液の流路内
の温度を測定する温度センサと，温度センサの測定した
温度値を入力し，膜電極の温度特性に基づいて増幅率を
可変し，温度による変化電圧を出力する増幅器と，膜電
極の出力電圧に変化量を補償する差動増幅器とを備えた
電解質測定装置を提供するものである。
【００１４】
【作用】本発明の電解質溶液の測定方法及び電解質測定
装置は，温度センサによって被検液の流路内の温度を直
接測定し，増幅器で変化電圧を求め，差動増幅器で膜電
極の出力電圧から温度による変化電圧分を相殺して，目
的の成分のみの出力電圧を得る。
装置は，温度センサによって被検液の流路内の温度を直
接測定し，増幅器で変化電圧を求め，差動増幅器で膜電
極の出力電圧から温度による変化電圧分を相殺して，目
的の成分のみの出力電圧を得る。
【００１５】
【実施例】以下，本発明の電解質溶液の測定方法及び電
解質測定装置の一実施例について，図面を参照して詳細
に説明する。
解質測定装置の一実施例について，図面を参照して詳細
に説明する。
【００１６】図１は，本実施例の電解質測定装置の概略
構成を示し，被検液Ｓをサンプリングするためのシッパ
ーチューブ１０１と，被検液Ｓの各電解質（Cl，Na，
Ｋ）の電位を測定するためのイオン選択性膜電極１０２
ａ，１０２ｂ，１０２ｃと，被検液Ｓの流路内の温度を
測定する温度センサ１０２ｄと，シッパーチューブ１０
１を介して被検液Ｓを吸引するためのペリスタポンプ１
０３と，イオン選択性膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０
２ｃで測定した電位からペリスタポンプ１０３の脈動に
よって発生する脈動ノイズ成分を除去するための脈動ノ
イズフィルター１０４と，各電極１０２ａ〜１０２ｃの
出力電圧（図中にCl，Na，Ｋで記載），及び，温度セン
サ１０２ｄによる測定温度Ｔを入力して，温度Ｔにおけ
る変化電圧を補正する温度補償回路１０５と，温度補償
回路１０５で温度Ｔにおける変化電圧分の相殺された各
電極１０２ａ〜１０２ｃの補正後の測定電圧から被検液
Ｓの電解質濃度を演算するＣＰＵ１０６と，測定結果
（電解質濃度）を出力するためのプリンター１０７及び
表示器１０８とを備えている。
構成を示し，被検液Ｓをサンプリングするためのシッパ
ーチューブ１０１と，被検液Ｓの各電解質（Cl，Na，
Ｋ）の電位を測定するためのイオン選択性膜電極１０２
ａ，１０２ｂ，１０２ｃと，被検液Ｓの流路内の温度を
測定する温度センサ１０２ｄと，シッパーチューブ１０
１を介して被検液Ｓを吸引するためのペリスタポンプ１
０３と，イオン選択性膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０
２ｃで測定した電位からペリスタポンプ１０３の脈動に
よって発生する脈動ノイズ成分を除去するための脈動ノ
イズフィルター１０４と，各電極１０２ａ〜１０２ｃの
出力電圧（図中にCl，Na，Ｋで記載），及び，温度セン
サ１０２ｄによる測定温度Ｔを入力して，温度Ｔにおけ
る変化電圧を補正する温度補償回路１０５と，温度補償
回路１０５で温度Ｔにおける変化電圧分の相殺された各
電極１０２ａ〜１０２ｃの補正後の測定電圧から被検液
Ｓの電解質濃度を演算するＣＰＵ１０６と，測定結果
（電解質濃度）を出力するためのプリンター１０７及び
表示器１０８とを備えている。
【００１７】尚，イオン選択性膜電極１０２ａは，電解
質としてCl（塩素）を選択的に測定するものであり，本
実施例では超積層固体化分子配向性膜（ＭＯ膜）電極を
使用する。また，イオン選択性膜電極１０２ｂは，電解
質としてNa（ナトリウム）を選択的に測定するものであ
り，本実施例ではクラウンエーテル膜電極を使用する。
また，イオン選択性膜電極１０２ｃは，電解質としてＫ
（カリウム）を選択的に測定するものであり，本実施例
ではクラウンエーテル膜電極を使用する。
質としてCl（塩素）を選択的に測定するものであり，本
実施例では超積層固体化分子配向性膜（ＭＯ膜）電極を
使用する。また，イオン選択性膜電極１０２ｂは，電解
質としてNa（ナトリウム）を選択的に測定するものであ
り，本実施例ではクラウンエーテル膜電極を使用する。
また，イオン選択性膜電極１０２ｃは，電解質としてＫ
（カリウム）を選択的に測定するものであり，本実施例
ではクラウンエーテル膜電極を使用する。
【００１８】図２は，脈動ノイズフィルター１０４の回
路構成を示し，膜電極１０２ａ（或いは，１０２ｂ，１
０２ｃ）から信号Ｅ1 を入力して交流成分を取り出すコ
ンデンサー１０４ａと，交流成分を増幅するためのオペ
アンプ１０４ｂと，信号Ｅ1を＋入力，信号Ｅ2 を−入
力として差動増幅するオペアンプ１０４ｃと，複数の抵
抗Ｒとから構成される。
路構成を示し，膜電極１０２ａ（或いは，１０２ｂ，１
０２ｃ）から信号Ｅ1 を入力して交流成分を取り出すコ
ンデンサー１０４ａと，交流成分を増幅するためのオペ
アンプ１０４ｂと，信号Ｅ1を＋入力，信号Ｅ2 を−入
力として差動増幅するオペアンプ１０４ｃと，複数の抵
抗Ｒとから構成される。
【００１９】図３は，温度補償回路１０５の回路構成を
示し，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃの出力電圧
（ここでは，それぞれCl，Na，Ｋとして示す）を次段の
差動増幅器１０５ｂへ導く増幅器（バッファアンプ）１
０５ａと，温度センサ１０２ｄからの温度Ｔを電圧に変
換し，同時に増幅率を可変して各膜電極１０２ａ，１０
２ｂ，１０２ｃの持つ温度特性に対するファクターを作
り出す増幅器１０５Cl，１０５Na，１０５Ｋと，増幅器
１０５ａ及び増幅器１０５Cl（或いは，１０５Na，１０
５Ｋ）の出力電圧を入力して温度による変化電圧分を差
し引いた値を出力する差動増幅器１０５ｂとから構成さ
れる。
示し，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃの出力電圧
（ここでは，それぞれCl，Na，Ｋとして示す）を次段の
差動増幅器１０５ｂへ導く増幅器（バッファアンプ）１
０５ａと，温度センサ１０２ｄからの温度Ｔを電圧に変
換し，同時に増幅率を可変して各膜電極１０２ａ，１０
２ｂ，１０２ｃの持つ温度特性に対するファクターを作
り出す増幅器１０５Cl，１０５Na，１０５Ｋと，増幅器
１０５ａ及び増幅器１０５Cl（或いは，１０５Na，１０
５Ｋ）の出力電圧を入力して温度による変化電圧分を差
し引いた値を出力する差動増幅器１０５ｂとから構成さ
れる。
【００２０】以上の構成において，その動作を説明す
る。本実施例の電解質溶液の測定方法では，ペリスタポ
ンプ１０３を用いて，被検液Ｓに流速をかけて膜電極１
０２ａ〜１０２ｄ上を一定時間通過させ，通過途中の電
圧を測定するものである。
る。本実施例の電解質溶液の測定方法では，ペリスタポ
ンプ１０３を用いて，被検液Ｓに流速をかけて膜電極１
０２ａ〜１０２ｄ上を一定時間通過させ，通過途中の電
圧を測定するものである。
【００２１】先ず，ＣＰＵ１０６は，ペリスタポンプ１
０３を駆動するパルスモータ（図示せず）に図４に示す
ようなパルスを印加し，ペリスタポンプ１０３を駆動し
て被検液Ｓの吸引を開始する。被検液Ｓはシッパーチュ
ーブ１０１を介して膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２
ｃ，及び，温度センサ１０２ｄに接触した後，ペリスタ
ポンプ１０３の位置を通過して排液として排出される。
この時，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃはそれぞ
れ該当する電解質の電圧を測定して信号を出力する。膜
電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃから出力された出力
電圧は，それぞれ脈動ノイズフィルター１０４を通過し
て，温度補償回路１０５へ送られる。
０３を駆動するパルスモータ（図示せず）に図４に示す
ようなパルスを印加し，ペリスタポンプ１０３を駆動し
て被検液Ｓの吸引を開始する。被検液Ｓはシッパーチュ
ーブ１０１を介して膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２
ｃ，及び，温度センサ１０２ｄに接触した後，ペリスタ
ポンプ１０３の位置を通過して排液として排出される。
この時，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃはそれぞ
れ該当する電解質の電圧を測定して信号を出力する。膜
電極１０２ａ，１０２ｂ，１０２ｃから出力された出力
電圧は，それぞれ脈動ノイズフィルター１０４を通過し
て，温度補償回路１０５へ送られる。
【００２２】温度補償回路１０５は，温度センサ１０２
ｄからの測定温度Ｔから温度による変化電圧を求め，膜
電極の出力電圧から温度による変化電圧分を相殺して，
目的の成分のみの出力電圧をＣＰＵ１０６へ送る。ＣＰ
Ｕ１０６は，温度補償回路１０５から送られてくる出力
電圧のうちパルスモータの駆動開始から所定時間経過し
た時点（図４の測定点）の信号を測定電圧として取り込
む。換言すれば，図４に示すように，所定のパルス数で
吸引しながら被検液Ｓの電圧を測定する。
ｄからの測定温度Ｔから温度による変化電圧を求め，膜
電極の出力電圧から温度による変化電圧分を相殺して，
目的の成分のみの出力電圧をＣＰＵ１０６へ送る。ＣＰ
Ｕ１０６は，温度補償回路１０５から送られてくる出力
電圧のうちパルスモータの駆動開始から所定時間経過し
た時点（図４の測定点）の信号を測定電圧として取り込
む。換言すれば，図４に示すように，所定のパルス数で
吸引しながら被検液Ｓの電圧を測定する。
【００２３】従って，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１０
２ｃの膜面での電気化学的平衡状態に達する時間が，流
速をかけることによって静止状態よりも速くなり，高速
処理が可能となる。本実施例では，３００検体／ｈ以上
の高速処理を実行することができる。
２ｃの膜面での電気化学的平衡状態に達する時間が，流
速をかけることによって静止状態よりも速くなり，高速
処理が可能となる。本実施例では，３００検体／ｈ以上
の高速処理を実行することができる。
【００２４】次に，脈動ノイズフィルター１０４の具体
的な動作について説明する。図１において，ペリスタポ
ンプ１０３を用いて被検液Ｓを膜電極１０２ａ，１０２
ｂ，１０２ｃへ導く際，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１
０２ｃが圧力変動を受けて，出力電圧に脈動ノイズが乗
り，これがデータを悪くする原因となる。従って，本実
施例では脈動ノイズフィルター１０４を用いてこの脈動
ノイズを除去している。
的な動作について説明する。図１において，ペリスタポ
ンプ１０３を用いて被検液Ｓを膜電極１０２ａ，１０２
ｂ，１０２ｃへ導く際，膜電極１０２ａ，１０２ｂ，１
０２ｃが圧力変動を受けて，出力電圧に脈動ノイズが乗
り，これがデータを悪くする原因となる。従って，本実
施例では脈動ノイズフィルター１０４を用いてこの脈動
ノイズを除去している。
【００２５】図２に示すように脈動ノイズフィルター１
０４の入力信号を信号Ｅ1 とした場合，信号Ｅ1 は，図
５（ａ）に示すように，目的とする真の信号と，ペリス
タポンプ１０３の脈動が原因となって発生したノイズと
が合成された信号（真の信号＋ノイズ）である。
０４の入力信号を信号Ｅ1 とした場合，信号Ｅ1 は，図
５（ａ）に示すように，目的とする真の信号と，ペリス
タポンプ１０３の脈動が原因となって発生したノイズと
が合成された信号（真の信号＋ノイズ）である。
【００２６】脈動ノイズフィルター１０４は，コンデン
サー１０４ａによって信号Ｅ1 から交流成分（即ち，ノ
イズ）のみを取り出し，オペアンプ１０４ｂで増幅して
図５（ｂ）に示す信号Ｅ2 を得る。次に，オペアンプ１
０４ｃで信号Ｅ1 を＋入力，信号Ｅ2 を−入力として差
動増幅を行い，信号Ｅ3 を出力する。従って，これら２
つの信号を入力としてオペアンプ１０４ｃから出力され
る信号Ｅ3 は，信号Ｅ3 ＝（真の信号＋ノイズ）−ノイ
ズ＝真の信号となる（図５（ｃ）参照）。
サー１０４ａによって信号Ｅ1 から交流成分（即ち，ノ
イズ）のみを取り出し，オペアンプ１０４ｂで増幅して
図５（ｂ）に示す信号Ｅ2 を得る。次に，オペアンプ１
０４ｃで信号Ｅ1 を＋入力，信号Ｅ2 を−入力として差
動増幅を行い，信号Ｅ3 を出力する。従って，これら２
つの信号を入力としてオペアンプ１０４ｃから出力され
る信号Ｅ3 は，信号Ｅ3 ＝（真の信号＋ノイズ）−ノイ
ズ＝真の信号となる（図５（ｃ）参照）。
【００２７】換言すれば，脈動ノイズフィルター１０４
は，膜電極１０２ａ（或いは，１０２ｂ，１０２ｃ，１
０２ｄ）の出力電圧から交流成分を取り出し，交流成分
を反転させて前記出力電圧に加算すること（差動増幅す
ること）により，脈動ノイズを除去し，真の信号のみを
取り出している。
は，膜電極１０２ａ（或いは，１０２ｂ，１０２ｃ，１
０２ｄ）の出力電圧から交流成分を取り出し，交流成分
を反転させて前記出力電圧に加算すること（差動増幅す
ること）により，脈動ノイズを除去し，真の信号のみを
取り出している。
【００２８】このような脈動ノイズフィルター１０４を
使用することにより，ペリスタポンプ１０３の脈動に起
因する脈動ノイズを確実に除去することができる。ま
た，この際ノイズの除去は，ノイズの周期に関係するも
のの，ノイズの振幅には無関係に除去できる。例えば，
真の信号が０．１Ｖ，ノイズが５Ｖでもノイズの除去が
可能である。
使用することにより，ペリスタポンプ１０３の脈動に起
因する脈動ノイズを確実に除去することができる。ま
た，この際ノイズの除去は，ノイズの周期に関係するも
のの，ノイズの振幅には無関係に除去できる。例えば，
真の信号が０．１Ｖ，ノイズが５Ｖでもノイズの除去が
可能である。
【００２９】次に，温度補償回路１０５の具体的な動作
について説明する。前述したように脈動ノイズフィルタ
ー１０４によって脈動ノイズが除去された膜電極１０２
ａ，１０２ｂ，１０２ｃの出力電圧（ここでは，それぞ
れCl，Na，Ｋとして示す）は，温度補償回路１０５のそ
れぞれの増幅器１０５ａで増幅され，差動増幅器１０５
ｂの一つの端子に入力される。一方，温度センサ１０２
ｄで測定された被検液Ｓの測定温度Ｔが増幅器１０５C
l，１０５Na，１０５Ｋに入力される。
について説明する。前述したように脈動ノイズフィルタ
ー１０４によって脈動ノイズが除去された膜電極１０２
ａ，１０２ｂ，１０２ｃの出力電圧（ここでは，それぞ
れCl，Na，Ｋとして示す）は，温度補償回路１０５のそ
れぞれの増幅器１０５ａで増幅され，差動増幅器１０５
ｂの一つの端子に入力される。一方，温度センサ１０２
ｄで測定された被検液Ｓの測定温度Ｔが増幅器１０５C
l，１０５Na，１０５Ｋに入力される。
【００３０】ここで，増幅器１０５Clは，測定温度Ｔを
電圧に変換して出力するとともに，この変換の際の増幅
率を膜電極１０２ａの持つ温度特性に対応させて可変す
る構成である。従って，膜電極１０２ａの対象電解質Cl
の測定温度Ｔにおける変化電圧を出力する。同様に，増
幅器１０５Naは膜電極１０２ｂの対象電解質Naの測定温
度Ｔにおける変化電圧を出力し，増幅器１０５Ｋは膜電
極１０２ｃの対象電解質Ｋの測定温度Ｔにおける変化電
圧を出力する。
電圧に変換して出力するとともに，この変換の際の増幅
率を膜電極１０２ａの持つ温度特性に対応させて可変す
る構成である。従って，膜電極１０２ａの対象電解質Cl
の測定温度Ｔにおける変化電圧を出力する。同様に，増
幅器１０５Naは膜電極１０２ｂの対象電解質Naの測定温
度Ｔにおける変化電圧を出力し，増幅器１０５Ｋは膜電
極１０２ｃの対象電解質Ｋの測定温度Ｔにおける変化電
圧を出力する。
【００３１】３つの差動増幅器１０５ｂは，それぞれ対
応する増幅器１０５ａ及び増幅器１０５Cl，増幅器１０
５ｂ及び増幅器１０５Na，増幅器１０５ｃ及び増幅器１
０５Ｋの出力電圧を入力して温度による変化電圧分を差
し引いた値を出力する。
応する増幅器１０５ａ及び増幅器１０５Cl，増幅器１０
５ｂ及び増幅器１０５Na，増幅器１０５ｃ及び増幅器１
０５Ｋの出力電圧を入力して温度による変化電圧分を差
し引いた値を出力する。
【００３２】前述したように本実施例の電解質溶液の測
定方法及び電解質測定装置によれば，温度補償回路１０
５で温度による膜電極出力（出力電圧）の変化を補正す
るので，電極自身または電極を含む環境を一定に保つ必
要がなく，温度コントロール等を行う必要がない。ま
た，膜電極の温度と被検液の温度が同じである必要もな
い。更に，測定中に室温が大きく変化しても測定に影響
がない。
定方法及び電解質測定装置によれば，温度補償回路１０
５で温度による膜電極出力（出力電圧）の変化を補正す
るので，電極自身または電極を含む環境を一定に保つ必
要がなく，温度コントロール等を行う必要がない。ま
た，膜電極の温度と被検液の温度が同じである必要もな
い。更に，測定中に室温が大きく変化しても測定に影響
がない。
【００３３】温度安定のためのウォーミングアップを必
要とせず，測定開始或いは間欠的に測定する場合でも，
精度の良い測定を行うことができる。
要とせず，測定開始或いは間欠的に測定する場合でも，
精度の良い測定を行うことができる。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明の電解質溶液
の測定方法は，被検液を膜電極に接触させて，被検液と
膜電極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測
定する電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内
の温度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変
化量を求め，膜電極の出力電圧に変化量を補償し，温度
による影響を補正した被検液と膜電極との間の電圧を得
るため，簡単な構成で温度変化による影響を無くすこと
ができ，且つ，コストの低減，装置の小型化が図れる。
また，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測定を
随時可能にすることができる。また，被検液の温度を予
め膜電極の環境温度と同一に保持する必要を無くして，
高速処理を可能とすることができる。更に，測定開始，
或いは，間欠的に測定する場合でも，高精度の測定を行
うことができる。
の測定方法は，被検液を膜電極に接触させて，被検液と
膜電極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測
定する電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内
の温度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変
化量を求め，膜電極の出力電圧に変化量を補償し，温度
による影響を補正した被検液と膜電極との間の電圧を得
るため，簡単な構成で温度変化による影響を無くすこと
ができ，且つ，コストの低減，装置の小型化が図れる。
また，ウォーミングアップにかかる時間を省き，測定を
随時可能にすることができる。また，被検液の温度を予
め膜電極の環境温度と同一に保持する必要を無くして，
高速処理を可能とすることができる。更に，測定開始，
或いは，間欠的に測定する場合でも，高精度の測定を行
うことができる。
【００３５】また，本発明の電解質測定装置は，被検液
の電圧を測定する膜電極と，被検液の流路内の温度を測
定する温度センサと，温度センサの測定した温度値を入
力し，膜電極の温度特性に基づいて増幅率を可変し，温
度による変化電圧を出力する増幅器と，膜電極の出力電
圧に変化量を補償する差動増幅器とを備えたため，簡単
な構成で温度変化による影響を無くすことができ，且
つ，コストの低減，装置の小型化が図れる。また，ウォ
ーミングアップにかかる時間を省き，測定を随時可能に
することができる。また，被検液の温度を予め膜電極の
環境温度と同一に保持する必要を無くして，高速処理を
可能とすることができる。更に，測定開始，或いは，間
欠的に測定する場合でも，高精度の測定を行うことがで
きる。
の電圧を測定する膜電極と，被検液の流路内の温度を測
定する温度センサと，温度センサの測定した温度値を入
力し，膜電極の温度特性に基づいて増幅率を可変し，温
度による変化電圧を出力する増幅器と，膜電極の出力電
圧に変化量を補償する差動増幅器とを備えたため，簡単
な構成で温度変化による影響を無くすことができ，且
つ，コストの低減，装置の小型化が図れる。また，ウォ
ーミングアップにかかる時間を省き，測定を随時可能に
することができる。また，被検液の温度を予め膜電極の
環境温度と同一に保持する必要を無くして，高速処理を
可能とすることができる。更に，測定開始，或いは，間
欠的に測定する場合でも，高精度の測定を行うことがで
きる。
【図１】本発明の電解質測定装置の概略構成を示す説明
図である。
図である。
【図２】脈動ノイズフィルターの回路構成を示す説明図
である。
である。
【図３】温度補償回路の回路構成を示す説明図である。
【図４】ペリスタポンプを駆動するパルスモータに印加
するパルス数と時間との関係を示す説明図である。
するパルス数と時間との関係を示す説明図である。
【図５】脈動ノイズフィルターの動作を示すための説明
図である。
図である。
１０１ シッパーチューブ １０２ａ １０２ｂ １０２ｃ イオン選択性膜電極 １０２ｄ 温度センサ １０３ ペリスタポンプ １０４ 脈動ノイズフィルター １０４ａ コンデンサー １０４ｂ １０４ｃ オペアンプ １０５ 温度補償回路 １０５ａ 増幅器 １０５ｂ 差動増幅器 １０５Cl １０５Na １０５Ｋ 増幅器 １０６ ＣＰＵ Ｓ 被検液
Claims (2)
- 【請求項１】 被検液を膜電極に接触させて，被検液と
膜電極との間の電圧（電位差）によって電解質濃度を測
定する電解質溶液の測定方法において，被検液の流路内
の温度を測定し，測定した温度に基づいて温度による変
化量を求め，膜電極の出力電圧に変化量を補償し，温度
による影響を補正した被検液と膜電極との間の電圧を得
ることを特徴とする電解質溶液の測定方法。 - 【請求項２】 被検液の電圧を測定する膜電極と，被検
液の流路内の温度を測定する温度センサと，前記温度セ
ンサの測定した温度値を入力し，前記膜電極の温度特性
に基づいて増幅率を可変し，温度による変化電圧を出力
する増幅器と，前記膜電極の出力電圧に変化量を補償す
る差動増幅器とを備えたことを特徴とする電解質測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4072869A JPH05232083A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4072869A JPH05232083A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05232083A true JPH05232083A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=13501762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4072869A Pending JPH05232083A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 電解質溶液の測定方法及び電解質測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05232083A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139848A (ja) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | 株式会社日立ハイテク | 電解質濃度測定装置 |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP4072869A patent/JPH05232083A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021139848A (ja) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | 株式会社日立ハイテク | 電解質濃度測定装置 |
| WO2021181947A1 (ja) * | 2020-03-09 | 2021-09-16 | 株式会社日立ハイテク | 電解質濃度測定装置 |
| CN115087864A (zh) * | 2020-03-09 | 2022-09-20 | 株式会社日立高新技术 | 电解质浓度测定装置 |
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