JPH05231931A - 照度測定用受光器および放射輝度計 - Google Patents
照度測定用受光器および放射輝度計Info
- Publication number
- JPH05231931A JPH05231931A JP3548592A JP3548592A JPH05231931A JP H05231931 A JPH05231931 A JP H05231931A JP 3548592 A JP3548592 A JP 3548592A JP 3548592 A JP3548592 A JP 3548592A JP H05231931 A JPH05231931 A JP H05231931A
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- Japan
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】照明設備や照明環境の評価に必要な照度を測定
するにおいてその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合
致させ、精度良い照度測定を実現すること、また同様に
紫外や赤外の放射照度を測定するにおいてその受光部の
斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精度良い放射照度
測定を実現することができるようにすることを目的とす
る。 【構成】中央に開口を持つシリコンホトダイオード受光
素子１と、前記受光素子１の受光面を覆い且つ、前記開
口と同軸に配置した半球状のドーム２と、前記半球状の
ドーム２の内壁に塗布したＰＴＦＥ拡散材料３からな
り、前記受光素子１の開口部に入射する入射光照度を測
定するように構成した照度測定用受光器。
するにおいてその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合
致させ、精度良い照度測定を実現すること、また同様に
紫外や赤外の放射照度を測定するにおいてその受光部の
斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精度良い放射照度
測定を実現することができるようにすることを目的とす
る。 【構成】中央に開口を持つシリコンホトダイオード受光
素子１と、前記受光素子１の受光面を覆い且つ、前記開
口と同軸に配置した半球状のドーム２と、前記半球状の
ドーム２の内壁に塗布したＰＴＦＥ拡散材料３からな
り、前記受光素子１の開口部に入射する入射光照度を測
定するように構成した照度測定用受光器。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、照明設備や照明環境の
評価に必要な照度を測定する照度測定用の受光器とし
て、また紫外や赤外放射応用設備においてその評価に必
要な放射照度を測定する放射照度測定用の受光器として
使用される照度測定用受光器およびこの受光器を用いた
放射輝度計に関するものである。
評価に必要な照度を測定する照度測定用の受光器とし
て、また紫外や赤外放射応用設備においてその評価に必
要な放射照度を測定する放射照度測定用の受光器として
使用される照度測定用受光器およびこの受光器を用いた
放射輝度計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ある面での照度や放射照度を精度良く測
定する場合、測定器の受光部はその斜め入射光特性を余
弦則に合致させる必要がある。このため従来の照度計で
は、受光面に乳白ガラスやアクリル拡散板を取り付け、
斜め入射光特性を余弦則に合致させるようにしていた。
しかし、透過拡散板では、それ自身の光の透過損失があ
り、受光部の感度が低下するという問題があった。ま
た、紫外や赤外の波長領域では、可視波長域における乳
白ガラスやアクリル拡散板のような拡散特性の良好な材
料が得られない。このため、紫外では、石英砂ずり板を
使用し、砂ずり板と受光面の間に空間を設け、そこに遮
光板を設けて斜め入射光特性を余弦則に合致させる工夫
がなされる場合もあった。しかし、余弦則との整合性が
悪く、また測定する放射照度面のムラによる測定誤差が
大きいという問題があった。
定する場合、測定器の受光部はその斜め入射光特性を余
弦則に合致させる必要がある。このため従来の照度計で
は、受光面に乳白ガラスやアクリル拡散板を取り付け、
斜め入射光特性を余弦則に合致させるようにしていた。
しかし、透過拡散板では、それ自身の光の透過損失があ
り、受光部の感度が低下するという問題があった。ま
た、紫外や赤外の波長領域では、可視波長域における乳
白ガラスやアクリル拡散板のような拡散特性の良好な材
料が得られない。このため、紫外では、石英砂ずり板を
使用し、砂ずり板と受光面の間に空間を設け、そこに遮
光板を設けて斜め入射光特性を余弦則に合致させる工夫
がなされる場合もあった。しかし、余弦則との整合性が
悪く、また測定する放射照度面のムラによる測定誤差が
大きいという問題があった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような課
題を解決するもので、照明設備や照明環境の評価に必要
な照度を測定するにおいてその受光部の斜め入射光特性
を余弦則に合致させ、精度良い照度測定を実現するこ
と、また同様に紫外や赤外の放射照度を測定するにおい
てその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精
度良い放射照度測定を実現することができるようにする
ことを目的とするものである。
題を解決するもので、照明設備や照明環境の評価に必要
な照度を測定するにおいてその受光部の斜め入射光特性
を余弦則に合致させ、精度良い照度測定を実現するこ
と、また同様に紫外や赤外の放射照度を測定するにおい
てその受光部の斜め入射光特性を余弦則に合致させ、精
度良い放射照度測定を実現することができるようにする
ことを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、中央に開口を持つ受光素子と、前記受光素
子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半球
状のドームと、前記半球状のドームの内壁に塗布した拡
散材料からなり、前記受光素子の開口部に入射する入射
光照度を測定するように構成した照度測定用受光器を要
旨とするものである。また本発明は、中央に開口を持つ
受光素子と、前記受光素子の受光面を覆い且つ、前記開
口と同軸に配置した半球状のドームと、前記半球状のド
ームの内壁に塗布した拡散材料と、被測定発光面の像を
前記受光素子の開口部に結像するレンズ系と、前記受光
素子の開口部とレンズ系との間に配置され前記開口部に
入射する光束の立体角を規制する絞りからなり、前記被
測定発光面からの放射の放射輝度を測定するように構成
した放射輝度計を要旨とするものである。
に本発明は、中央に開口を持つ受光素子と、前記受光素
子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半球
状のドームと、前記半球状のドームの内壁に塗布した拡
散材料からなり、前記受光素子の開口部に入射する入射
光照度を測定するように構成した照度測定用受光器を要
旨とするものである。また本発明は、中央に開口を持つ
受光素子と、前記受光素子の受光面を覆い且つ、前記開
口と同軸に配置した半球状のドームと、前記半球状のド
ームの内壁に塗布した拡散材料と、被測定発光面の像を
前記受光素子の開口部に結像するレンズ系と、前記受光
素子の開口部とレンズ系との間に配置され前記開口部に
入射する光束の立体角を規制する絞りからなり、前記被
測定発光面からの放射の放射輝度を測定するように構成
した放射輝度計を要旨とするものである。
【０００５】放射を拡散する手段として、透過拡散材料
は透過損失が大きく、また透過率の波長依存性が大き
い。逆に反射拡散材料は、紫外波長域でも高い反射率を
持つ。このため、中央に開口を持つ受光素子と、この受
光素子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した
半球状のドームと、この半球状のドームの内壁に塗布し
た拡散材料から構成することにより、受光素子の開口部
に入射する入射光は、半球状のドームの内壁の拡散材料
により拡散され、その拡散光がさらにドームの内壁に入
射し、多重反射を繰り返し積分した形で受光面に入射さ
れる。この構成により受光部の斜め入射光特性は、受光
素子の中央にある開口部によって決まり、それを余弦則
に容易に整合できる。
は透過損失が大きく、また透過率の波長依存性が大き
い。逆に反射拡散材料は、紫外波長域でも高い反射率を
持つ。このため、中央に開口を持つ受光素子と、この受
光素子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した
半球状のドームと、この半球状のドームの内壁に塗布し
た拡散材料から構成することにより、受光素子の開口部
に入射する入射光は、半球状のドームの内壁の拡散材料
により拡散され、その拡散光がさらにドームの内壁に入
射し、多重反射を繰り返し積分した形で受光面に入射さ
れる。この構成により受光部の斜め入射光特性は、受光
素子の中央にある開口部によって決まり、それを余弦則
に容易に整合できる。
【０００６】
【作用】上記の手段によって、受光部の斜め入射光特性
は、ドーム内壁に付けた拡散材料が完全拡散特性にほぼ
近い特性を持つ限りにおいて、紫外や赤外でも余弦則に
整合させることができる。また、前記放射輝度計は通常
の輝度計と異なり、前記受光素子の開口部から入射した
光は、半球状のドームの拡散と前記受光素子の相互反射
により、効率良く電気信号に変換される。
は、ドーム内壁に付けた拡散材料が完全拡散特性にほぼ
近い特性を持つ限りにおいて、紫外や赤外でも余弦則に
整合させることができる。また、前記放射輝度計は通常
の輝度計と異なり、前記受光素子の開口部から入射した
光は、半球状のドームの拡散と前記受光素子の相互反射
により、効率良く電気信号に変換される。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面に基づ
いて説明する。まず、図１に示す第１実施例における受
光部について説明する。中央に開口を持つシリコンホト
ダイオード受光素子１に、受光面を覆い且つ前記開口と
同軸に配置した半球状のドーム２を取り付ける。この半
球状のドーム２の内壁にＰＴＦＥ（ポリ・テトラ・フロ
ロエチレン）拡散材料３を塗布してある。前記受光素子
１の裏面から開口部に入射した光は、半球状のドーム２
の内壁に当たりＰＴＦＥ拡散材料３で拡散され、前記受
光素子１に入射する。前記シリコンホトダイオード受光
素子１の表面は鏡面性を持つため、入射した光はその３
０％程度が前記シリコンホトダイオード受光素子１内部
で光電変換され、残りの光は表面で反射され再度ドーム
内壁の拡散材料３に至る。すなわち半球状のドーム２を
含む積分球に入射したのと同様にドーム２壁面と前記シ
リコンホトダイオード受光素子１表面とで、多重反射を
繰り返しながら前記シリコンホトダイオード受光素子１
に検出される。前記受光素子１の開口から入射した光
は、どのような入射角の光もドーム２壁面と前記シリコ
ンホトダイオード受光素子１表面とで、多重反射を繰り
返しながら前記シリコンホトダイオード受光素子１に検
出されるため、受光素子１の斜め入射光特性は、受光素
子１の開口に対する光の入射角に対して、余弦則が成り
立つ。ＰＴＦＥ拡散材料３は、波長２００ｎｍの短波長
領域まで９５％以上の反射率と完全拡散特性に近い特性
を持つため、紫外波長域で斜め入射光特性を余弦則に整
合した放射照度測定用受光器が実現できる。
いて説明する。まず、図１に示す第１実施例における受
光部について説明する。中央に開口を持つシリコンホト
ダイオード受光素子１に、受光面を覆い且つ前記開口と
同軸に配置した半球状のドーム２を取り付ける。この半
球状のドーム２の内壁にＰＴＦＥ（ポリ・テトラ・フロ
ロエチレン）拡散材料３を塗布してある。前記受光素子
１の裏面から開口部に入射した光は、半球状のドーム２
の内壁に当たりＰＴＦＥ拡散材料３で拡散され、前記受
光素子１に入射する。前記シリコンホトダイオード受光
素子１の表面は鏡面性を持つため、入射した光はその３
０％程度が前記シリコンホトダイオード受光素子１内部
で光電変換され、残りの光は表面で反射され再度ドーム
内壁の拡散材料３に至る。すなわち半球状のドーム２を
含む積分球に入射したのと同様にドーム２壁面と前記シ
リコンホトダイオード受光素子１表面とで、多重反射を
繰り返しながら前記シリコンホトダイオード受光素子１
に検出される。前記受光素子１の開口から入射した光
は、どのような入射角の光もドーム２壁面と前記シリコ
ンホトダイオード受光素子１表面とで、多重反射を繰り
返しながら前記シリコンホトダイオード受光素子１に検
出されるため、受光素子１の斜め入射光特性は、受光素
子１の開口に対する光の入射角に対して、余弦則が成り
立つ。ＰＴＦＥ拡散材料３は、波長２００ｎｍの短波長
領域まで９５％以上の反射率と完全拡散特性に近い特性
を持つため、紫外波長域で斜め入射光特性を余弦則に整
合した放射照度測定用受光器が実現できる。
【０００８】次に図２に示す第２実施例における受光部
について説明する。第２実施例は、第１実施例の前記シ
リコンホトダイオード受光素子１の開口部に、波長選択
性透過材料として２５３．７ｎｍを透過中心波長とする
干渉フイルタ４を配置し、波長２５３．７ｎｍ放射測定
のための斜め入射光特性が余弦則に良く一致した殺菌線
放射照度計を構成したものである。なお、前記干渉フイ
ルタ４の代りに、視感補正フイルタを設置しても照度計
になるなど、設置するフイルタの分光透過率を選択する
ことにより、様々な効果曲線に対応した放射照度計を構
成できる。
について説明する。第２実施例は、第１実施例の前記シ
リコンホトダイオード受光素子１の開口部に、波長選択
性透過材料として２５３．７ｎｍを透過中心波長とする
干渉フイルタ４を配置し、波長２５３．７ｎｍ放射測定
のための斜め入射光特性が余弦則に良く一致した殺菌線
放射照度計を構成したものである。なお、前記干渉フイ
ルタ４の代りに、視感補正フイルタを設置しても照度計
になるなど、設置するフイルタの分光透過率を選択する
ことにより、様々な効果曲線に対応した放射照度計を構
成できる。
【０００９】さらに図３に示す第３実施例について説明
する。第３実施例は、第１実施例の構成による受光部を
その構成の一部とする放射輝度計である。この第３実施
例の放射輝度計は、被測定発光面５の像を前記受光素子
１の開口部にレンズ系６で結像し、前記受光素子１の開
口部と前記レンズ系６との間に絞り７を備えて、この絞
り７により前記開口に入射する光束の立体角を規制する
ように構成されて、前記被測定発光面５からの放射の放
射輝度を測定するものである。通常の輝度計と異なり、
前記受光素子１の開口部から入射した光は、半球状のド
ーム２の拡散と前記受光素子１の相互反射により、効率
良く電気信号に変換される。なお、前記シリコンホトダ
イオード受光素子１の開口部に視感補正フイルタを設置
するようにしても輝度計を構成できる。
する。第３実施例は、第１実施例の構成による受光部を
その構成の一部とする放射輝度計である。この第３実施
例の放射輝度計は、被測定発光面５の像を前記受光素子
１の開口部にレンズ系６で結像し、前記受光素子１の開
口部と前記レンズ系６との間に絞り７を備えて、この絞
り７により前記開口に入射する光束の立体角を規制する
ように構成されて、前記被測定発光面５からの放射の放
射輝度を測定するものである。通常の輝度計と異なり、
前記受光素子１の開口部から入射した光は、半球状のド
ーム２の拡散と前記受光素子１の相互反射により、効率
良く電気信号に変換される。なお、前記シリコンホトダ
イオード受光素子１の開口部に視感補正フイルタを設置
するようにしても輝度計を構成できる。
【００１０】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、受光部の
斜め入射光特性は、ドーム内壁に付けた拡散材料が完全
拡散特性にほぼ近い特性を持つ限りにおいて、紫外や赤
外でも余弦則に整合させることができる。特に、ＰＴＦ
Ｅ拡散材料は、波長２００ｎｍの短波長領域まで９５％
以上の反射率と完全拡散特性に近い特性を持つため、こ
れを使用することにより紫外波長域で斜め入射光特性を
余弦則に整合した放射照度測定用受光器が実現できる。
また、この受光器を用いて被測定発光面からの放射の放
射輝度を測定する放射輝度計を構成することにより、受
光素子の開口部から入射した光は、半球状のドームの拡
散と前記受光素子の相互反射により、効率良く電気信号
に変換される。
斜め入射光特性は、ドーム内壁に付けた拡散材料が完全
拡散特性にほぼ近い特性を持つ限りにおいて、紫外や赤
外でも余弦則に整合させることができる。特に、ＰＴＦ
Ｅ拡散材料は、波長２００ｎｍの短波長領域まで９５％
以上の反射率と完全拡散特性に近い特性を持つため、こ
れを使用することにより紫外波長域で斜め入射光特性を
余弦則に整合した放射照度測定用受光器が実現できる。
また、この受光器を用いて被測定発光面からの放射の放
射輝度を測定する放射輝度計を構成することにより、受
光素子の開口部から入射した光は、半球状のドームの拡
散と前記受光素子の相互反射により、効率良く電気信号
に変換される。
【図１】本発明の第１実施例における照度測定用受光器
の断面図である。
の断面図である。
【図２】本発明の第２実施例における照度測定用受光器
の断面図である。
の断面図である。
【図３】本発明の第３実施例における放射輝度計の構成
図である。
図である。
１ シリコンホトダイオード受光素子 ２ 半球状のドーム ３ ＰＴＦＥ拡散材料 ４ 干渉フイルタ ５ 被測定発光面 ６ レンズ系 ７ 絞り
Claims (2)
- 【請求項１】 中央に開口を持つ受光素子と、前記受光
素子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半
球状のドームと、前記半球状のドームの内壁に塗布した
拡散材料からなり、前記受光素子の開口部に入射する入
射光照度を測定するように構成した照度測定用受光器。 - 【請求項２】 中央に開口を持つ受光素子と、前記受光
素子の受光面を覆い且つ、前記開口と同軸に配置した半
球状のドームと、前記半球状のドームの内壁に塗布した
拡散材料と、被測定発光面の像を前記受光素子の開口部
に結像するレンズ系と、前記受光素子の開口部とレンズ
系との間に配置され前記開口部に入射する光束の立体角
を規制する絞りからなり、前記被測定発光面からの放射
の放射輝度を測定するように構成した放射輝度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3548592A JPH05231931A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 照度測定用受光器および放射輝度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3548592A JPH05231931A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 照度測定用受光器および放射輝度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05231931A true JPH05231931A (ja) | 1993-09-07 |
Family
ID=12443054
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3548592A Pending JPH05231931A (ja) | 1992-02-24 | 1992-02-24 | 照度測定用受光器および放射輝度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05231931A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003287462A (ja) * | 2002-03-27 | 2003-10-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光源ユニット輝度検出装置、アライメント装置、光源ユニット輝度の検出方法および光源ユニットの製造方法 |
| US7283222B1 (en) | 2006-04-12 | 2007-10-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical measuring device |
-
1992
- 1992-02-24 JP JP3548592A patent/JPH05231931A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003287462A (ja) * | 2002-03-27 | 2003-10-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光源ユニット輝度検出装置、アライメント装置、光源ユニット輝度の検出方法および光源ユニットの製造方法 |
| US7283222B1 (en) | 2006-04-12 | 2007-10-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical measuring device |
| WO2007122674A1 (ja) * | 2006-04-12 | 2007-11-01 | Panasonic Corporation | 光学測定装置 |
| KR100967859B1 (ko) * | 2006-04-12 | 2010-07-05 | 오츠카 일렉트로닉스 가부시키가이샤 | 전체 광속 측정 장치 |
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