JPH05228115A - 検眼装置 - Google Patents

検眼装置

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JPH05228115A
JPH05228115A JP4072313A JP7231392A JPH05228115A JP H05228115 A JPH05228115 A JP H05228115A JP 4072313 A JP4072313 A JP 4072313A JP 7231392 A JP7231392 A JP 7231392A JP H05228115 A JPH05228115 A JP H05228115A
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mirror
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Toshiro Kobayashi
敏郎 小林
Kazuhiro Yoshimura
一裕 芳村
Akihiro Hayashi
昭宏 林
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Nidek Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 設置スペ−スが小さく、被検者に最適な状態
で遠用及び近用の検眼をスム−ズに行わせる。 【構成】 視力表装置を内蔵した検眼テ−ブルと、被検
眼の前方に配置され視標光束を被検眼に導く回動自在の
第1反射系光学素子と、該検眼テ−ブル内で繰り返し反
射させる第2反射光学系と、該第2反射光学系の視標光
束を前記第1反射系光学素子に導く第3反射系光学素子
とからなり、被検眼と第1反射系光学素子を結ぶ視線方
向と第2反射光学系の視標光路とが平面図上で斜めに交
差するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、視力表装置を内蔵する
テ−ブル型の検眼装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本出願人は特願平3−149904号に
おいて視力表装置をテ−ブルに内蔵する省スペ−ス型の
検眼装置を提案しているが、この装置は視力表光束を繰
り返し反射させた後テ−ブル外に出し、被検眼の眼前に
配置された第1ミラ−により被検眼に導いている。テ−
ブル内のミラ−は、繰り返し反射により所定の検眼距離
を稼ぐ第2ミラ−系と被検眼の眼前の第1ミラ−に向け
て光束を反射する第3ミラ−とから構成され、第2ミラ
−系中の最終ミラ−が視標光束を第1ミラ−に向けて反
射している。この第1ミラ−系に向けて反射する方向は
平面図で見ると、繰り返し反射の方向とほぼ直交する方
向となっている。また、テ−ブルと一体に構成された側
方に配置された筐体内(これをも含めて本明細書ではテ
−ブル内という)で繰り返し反射させた後、視標光束を
被検者の上方から被検眼の眼前に配置されたミラ−に導
く形式の省スペ−ス型の検眼装置も提案されているが、
平面図で見ると光路の基本的構成は前記装置とほぼ同じ
である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来装置はテ−ブ
ルと視力表装置と別置きした装置と比較して、設置スペ
−スは小さくなる。しかしながら、上記のようなミラ−
構成の装置ではミラ−系により距離を稼ぐ割にはテ−ブ
ルが大きかったり、被検眼と被検眼に導く最終ミラ−と
の距離を充分とれずトライアルレンズによる検査で遠方
視、近方視の切り換えが困難であるという欠点がある。
本発明の目的は設置スペ−スが小さく、被検者に最適な
状態で遠用及び近用の検眼をスム−ズに行うことができ
る視力表装置とテ−ブルとが一体型の検眼装置を提供す
ることにある。
【0004】
【課題を解決する手段】上記課題を解決するために、本
発明の検眼装置は次の構成を有することを特徴としてい
る。 (1) 視力表装置を内蔵した検眼テ−ブルと、被検眼
の前方に配置され視標光束を被検眼に導く第1反射系光
学素子と、該検眼テ−ブル内で繰り返し反射させる第2
反射光学系と、該第2反射光学系の視標光束を前記第1
反射系光学素子に導く第3反射系光学素子とからなる検
眼装置において、被検眼と第1反射系光学素子を結ぶ視
線方向と第2反射光学系の視標光路とが平面図上で斜め
に交差するように構成されたことを特徴としている。
【0005】(2) (1)の検眼装置は前記第1反射
系光学素子と被検眼との間に自覚検眼器が挿脱自在に配
置されたことを特徴としている。
【0006】(3) (1)の第1反射系光学素子は被
検眼との距離が70cm以上となるように配置されたこと
を特徴としている。
【0007】(4) (1)の第1反射系光学素子は回
動自在であることを特徴としている。
【0008】(5) (4)の検眼装置において、被検
眼の高さ位置を検出する検出手段と、該検出手段の検出
結果に基づいて第1反射系光学素子の回動を制御するこ
とを特徴としている。
【0009】(6) (5)の検出手段は自覚検眼器の
位置を検出する検出手段であることを特徴としている。
【0010】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本実施例の装置の外観図である。1はテ−
ブルであり、内部には視力表装置及び視標光束を導くた
めの導光光学系が内蔵されている。2はテ−ブル内部の
視標光束をテ−ブル1外に出すためのガラス窓、3は自
覚検眼器及び視力表装置を動作するために検者によって
操作される自覚検眼用コントロ−ラである。4はガラス
窓を透過した視標光束を被検眼に導く反射部材としての
第4ミラ−、5はミラ−4を支持するための支持ア−ム
である。第4ミラ−4は支持ア−ム5内部の駆動機構
(図示せず)により回転可能であり、被検者から100
0mmの距離に配置されている。6は自覚検眼器であり、
7は自覚検眼器に取付けられている近用視力表である。
第4ミラ−4と被検者との距離は近用視力表を測定でき
る距離以上であれば足りるが、70〜80cm以上確保す
るのが望ましい。8は自覚検眼器を支持するための支持
ア−ムである。支持ア−ム8はテレスコピックパイプ等
を用いて伸縮、水平回転可能に構成されており、自覚検
眼器を使用しない時は被検者の右側へ回旋することがで
きる。9は被検者である。
【0011】図2はテ−ブル内部の光学系を示す透視図
である。10はチャ−トプロジェクタであり、多数の視
標を切換呈示する。11,12はそれぞれ第1ミラ−、
第2ミラ−である。13は反射型のスクリ−ンであり、
チャ−トプロジェクタ10は第1ミラ−、第2ミラ−を
介してスクリ−ン13により視標が投影される。スクリ
−ン13に投影された視標の光束は第1〜2ミラ−で反
射し、第3ミラ−14でさらに上方に反射した後、ガラ
ス窓2を透過して、第4ミラ−4に向かう。第4ミラ−
で反射した視標光束は被検眼に入り、被検者は視標を視
認することができる。第1〜4ミラ−(11,12,1
4,4)により視標光束を4回反射させることにより、
被検者9とスクリ−ン13との距離を通常の遠用検眼距
離である5mにしている。また、被検者の視線は第1〜
3ミラ−(尚、第3ミラ−は第4ミラ−に向けて直接反
射することなく、第5ミラ−を設け一旦光束を光路を変
えた後光束を第4ミラ−に向けてもよい)の視標光路に
対して平面図上でαだけ傾けている。αは20〜45度
程度が適当であり、本実施例では30度としている。
【0012】次に、被検眼の高さによる光路の調整機構
を説明する。本実施例では図3に示すように、被検眼の
高さと視標光路の調整は第4ミラ−4の角度を変えるこ
とにより行っている。被検者と第4ミラ−4との距離l
が1000mmとすれば、被検者の高さが100mm異なっ
ても、角度変化による検眼距離は5mm程度しか変化せ
ず、この程度の変化は通常の検眼では無視できる。第4
ミラ−4は被検眼の高さを検出し、視標光束がけられな
い角度となるように駆動制御される。この制御機構を図
4のブロックダイアグラムに示す。自覚検眼器を支持す
るための支持ア−ム8の高さはコントロ−ラ3の信号に
より上下動するが、支持ア−ム8の位置はポテンショメ
−タ20により検出され、その位置は入力回路21を介
して装置のマイクロコンピュ−タ回路22に入力され
る。マイクロコンピュ−タ回路22は出力回路23、パ
ルスモ−タドライバ24を介してパルスモ−タ25の駆
動を制御し、第4ミラ−4の角度を自覚検眼器6の高さ
と所定の関係になるように回転する。
【0013】以上のような構成の装置において、その動
作を説明する。検者は、自覚検眼器を被検者の眼前に回
旋するとともに、コントロ−ラ3を操作して支持ア−ム
8の高さを調節し、被検眼と自覚検眼器6の高さを調節
する。支持ア−ム8の高さはポテンショメ−タ20によ
り検出され、その検出結果に基づいてパルスモ−タ25
を駆動し、第4ミラ−4の角度が変えられる。検者が自
覚検眼器の高さを被検者に合わせるだけで、被検者は自
覚検眼器6の検眼窓を通して視標を見ることができる。
【0014】検者は自覚検眼器用コントロ−ラ3を操作
して、自覚検眼器の屈折度数及びチャ−トプロジェクタ
10の視標を指定または変更し、検眼を行う。次に近用
検眼について説明する。近用検眼を行う場合は、第4ミ
ラ−4を移動することなく、自覚検眼器の近用視力表7
を検者側に倒し、これを行う。図5は、本装置による近
用検眼の状態を示している。トライアルフレ−ムを使っ
た近用チェックは、図6に示すように、自覚検眼器6を
回旋して、被検者の右側に移動する。図6は被検者がト
ライアルフレ−ムを通して本15を見て、近用チェック
を行っている状態を示している。
【0015】以上の実施例によれば、遠用検眼を行うた
めの第4ミラ−を出したままの状態で、自覚検眼器及び
トライアルレンズによる遠用及び近用の検眼及びチェッ
クという一連の自覚検査をきわめてスム−ズに行うこと
ができる。以上の実施例は種々の変形が可能であり、例
えば、図1の自覚検眼器6は電動式のものを用いている
がマニュアル式でも良く、また、図2中視力表としては
チャ−トプロジェクタを使用しているが、チャ−トプロ
ジェクタのかわりに行灯式の視力表装置を用いることも
可能である。また、図7に示すようにテ−ブル1上に案
内レ−ル16を設け、トレイが案内レ−ル16にそって
摺動する構成をとり、他覚屈折力測定器等を搭載して必
要なときに被検者の眼前に移動させることも可能であ
る。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、検眼スペ−スを小さく
した上で、従来の視力表装置と検眼テ−ブルとを別置き
した検眼装置と同等の操作性及び被検者の快適性を確保
することができる。また、従来の視力表装置を内蔵する
テ−ブル型の検眼装置と比べると、設置スペ−スが小さ
く、構造が簡単で、検眼に対する自由度を高くすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例の装置の外観図である。
【図2】テ−ブル内部の光学系を示す透視図である。
【図3】被検者の高さによる視標光束の調整を説明する
ための図である。
【図4】自覚検眼器とミラ−の角度との制御を示すブロ
ックダイアグラムである。
【図5】近用検眼を行っている状態を示す図である。
【図6】トライアルフレ−ムを用いた検眼を行っている
状態を示す図である。
【図7】テ−ブルに案内レ−ルを設けた装置の外観図で
ある。
【符号の説明】
2 ガラス窓 4,11,12,14 ミラ− 8 支持ア−ム 10 チャ−トプロジェクタ 13 反射型のスクリ−ン 20 ポテンショメ−タ 22 マイクロコンピュ−タ回路 25 パルスモ−タ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 視力表装置を内蔵した検眼テ−ブルと、
    被検眼の前方に配置され視標光束を被検眼に導く第1反
    射系光学素子と、該検眼テ−ブル内で繰り返し反射させ
    る第2反射光学系と、該第2反射光学系の視標光束を前
    記第1反射系光学素子に導く第3反射系光学素子とから
    なる検眼装置において、被検眼と第1反射系光学素子を
    結ぶ視線方向と第2反射光学系の視標光路とが平面図上
    で斜めに交差するように構成されたことを特徴とする検
    眼装置。
  2. 【請求項2】 請求項1の検眼装置は前記第1反射系光
    学素子と被検眼との間に自覚検眼器が挿脱自在に配置さ
    れたことを特徴とする検眼装置。
  3. 【請求項3】 請求項1の第1反射系光学素子は被検眼
    との距離が70cm以上となるように配置されたことを特
    徴とする検眼装置。
  4. 【請求項4】 請求項1の第1反射系光学素子は回動自
    在であることを特徴とする検眼装置。
  5. 【請求項5】 請求項4の検眼装置において、被検眼の
    高さ位置を検出する検出手段と、該検出手段の検出結果
    に基づいて第1反射系光学素子の回動を制御することを
    特徴とする検眼装置。
  6. 【請求項6】 請求項5の検出手段は自覚検眼器の位置
    を検出する検出手段であることを特徴とする検眼装置。
JP07231392A 1991-07-15 1992-02-21 検眼装置 Expired - Lifetime JP3256264B2 (ja)

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DE19924223144 DE4223144B4 (de) 1991-07-15 1992-07-14 Optometrisches Gerät
FR9208727A FR2679122B1 (fr) 1991-07-15 1992-07-15 Appareil optometrique.
US08/018,033 US5444504A (en) 1992-02-21 1993-02-16 Optometric apparatus

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014028070A (ja) * 2012-07-31 2014-02-13 Nidek Co Ltd 検眼装置
JP2014147417A (ja) * 2013-01-30 2014-08-21 Nidek Co Ltd 自覚式眼屈折力測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014028070A (ja) * 2012-07-31 2014-02-13 Nidek Co Ltd 検眼装置
JP2014147417A (ja) * 2013-01-30 2014-08-21 Nidek Co Ltd 自覚式眼屈折力測定装置

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