JPH05206837A - バッファ回路 - Google Patents

バッファ回路

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JPH05206837A
JPH05206837A JP4035995A JP3599592A JPH05206837A JP H05206837 A JPH05206837 A JP H05206837A JP 4035995 A JP4035995 A JP 4035995A JP 3599592 A JP3599592 A JP 3599592A JP H05206837 A JPH05206837 A JP H05206837A
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JP
Japan
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circuit
transistor
base
cmos
npn transistor
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JP4035995A
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English (en)
Inventor
Noriyuki Honma
紀之 本間
Hisayuki Higuchi
久幸 樋口
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明の目的は、バイポーラとCMOSを組合
わせた、高速、低消費電力のノンインバータ型の複合バ
ッファ回路を提供することにある。 【構成】2つのnpnトランジスタの、コレクタ・エミ
ッタ経路を直列接続し、一方(上側)のnpnトランジ
スタのベースは入力端子に直流的に接続する。また、他
方(下側)のnpnトランジスタの前段に、ソース接地
形のMOS回路を設ける。 【効果】npnトランジスタの前段に、低速なソースフ
ォロワ回路を用いない。このため、高速、低消費電力の
ノンインバータ形バッファ回路が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、CMOSとバイポーラ
とを組合わせた低消費電力、高速のバッファ回路に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来からCMOSとバイポーラ、トラン
ジスタとを組合わせてCMOSの低消費電力とバイポー
ラの高速性とを兼ね備えたバッファ回路を構成しようと
いう試みが知られている。図1はその一例のバッファ回
路でインバータである。この種の回路としては、これと
異なる構成のものも知られているが、インバータが多
い。
【0003】本発明に関連した技術については、アイ・
イー・イー・イー・トランザクションズ・オン・エレク
トロン・デバイシズ、Vol.ED−16、No.1
1、1969年11月、第945頁ないし第951頁
(IEEE TRANSACTIONS ON ELEC
TRON DEVICES Vol.ED−16,No1
1,Nov.1969,pp.945−951)に記載
されている。
【0004】また、米国特許第3,609,479号公
報(特にFig.9)や、特開昭48−35761号公
報(特に第9図)に記載されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、この種のバ
ッファ回路は、たとえばCMOS論理ゲート回路に付加
した高駆動能力の高速、低消費電力の論理ゲートを構成
したり、また、LSI内で負荷の軽い回路部分はCMO
Sのみで構成し、負荷の重い回路にのみこれらのバッフ
ァ回路を付加して、全体として高集積、高速、低消費電
力のLSIを構成したりするのに適している。たとえ
ば、図2はそのような回路構成の一例であり、CMOS
ゲート(例として2入力NANDゲートを示している)
にバイポーラ・CMOSバッファ回路(たとえば図1の
回路)を付加したものである。この回路構成の場合、負
荷CL(配線容量および駆動すべき次段ゲートの入力容
量の和)が小さい場合(たとえば0.1pF程度の場
合)には一般にはCMOSだけで充分に高速であり、バ
ッファ回路を付加すればかえって負荷駆動の応答は遅く
なってしまう。しかし、CLが大きく(たとえば1pF
程度と)なると、CMOS回路は駆動能力が劣るため非
常に遅くなり、遅延時間は軽負荷の時の数倍(たとえば
3倍以上)となる。この場合、バイポーラとCMOSの
複合バッファ回路を付加することにより、付加回路部分
も含めた回路全体の遅延時間を短縮(たとえば、軽負荷
時のCMOS回路の2倍程度に)できる。負荷CLが更
に大きな場合には、バッファ回路付加による高速化効果
は更に大きくなることは言うまでもなかろう。
【0006】なお図1の回路では、回路の下半分にCM
OSソースフォロワ回路が含まれている。一般にCMO
Sソースフォロワ回路は電圧利得をもたず、速度が遅い
ことが知られている。このため図1の回路は高速動作の
点でなお不十分という問題があった。
【0007】ところで、図2に示すように、通常、CM
OS論理ゲートは、NANDおよびNORが基本回路と
なっており、これらのゲートにインバータ回路を組合せ
ると、AND、ORなど、否定を含まない論理となる。
図2はその1例を示し、CMOSにより構成されたNA
NDゲートの出力に、図1に示した如きバイポーラとC
MOSの複合のバッファ回路22が接続され、AND回
路が得られる。
【0008】しかしながら、このような肯定の論理回路
となる組合わせを多用したり、あるいは基本回路として
ランダム論理を組むのは困難となる。したがって、これ
らのバッファ回路として高速、低消費電力のノンインバ
ータ型のバッファ回路が望まれる。
【0009】従って、本発明の目的は、バイポーラとC
MOSを組合わせた、高速、低消費電力のノンインバー
タ型の複合バッファ回路を提供することにある。
【0010】本願発明者等は上記目的を達成するため、
バッファ回路の構成方法の検討を行なった。
【0011】図3は本願発明者等による第1の検討回路
である。この回路はnチャネルMOSトランジスタQM
1及びQM4、pチャネルMOSトランジスタQM2,
及びQM3,npnバイポーラトランジスタQB1,Q
B2からなる。この回路は次のように動作する。まず、
入力,出力とも高レベルである状態を考える。この時、
QM2,QM3はオフであり、QM1,QM4がオンで
ある。したがってQB2はオフである。また、出力OU
Tの負荷は容量性なので、定常状態ではQB1も殆んど
オフである。この状態のもとで出力OUTが何かの原因
(たとえば出力に接続される負荷のリーク電流等)で低
レベルとなったとするとQM1を経てQB1にベース電
流が供給され出力OUTは高レベルに保たれる。OUT
が高レベルにある限りほぼQB1はオフであり、従って
定常状態では殆んど電流は流れない。次に、入力INが
高レベルから低レベルに切換わる状態を考える。切換わ
った直後は出力OUTはまだ高レベルにある。この状態
ではQM2,QM3がオン、QM1,QM4はオフであ
る。QB1のベースに蓄積されていた電荷はQM2によ
り引抜かれQB1はオフとなり、一方、QB2にはQB
3を経てベース電流が供給されるのでオンとなる。従っ
て、QB2のコレクタにはそのベース電流のhFE倍の電
流が流れるので、出力OUTは急速に低レベルに向か
う。出力OUTが低レベルになると、出力OUTからQ
B2へのベース電流は供給されなくなり、QB2はオフ
となる。この状態ではQM2もオンとなっているが、Q
B1のベース電荷は既に引抜かれているので、電流は流
れない。つまり、入出力とも低レベルの定常状態にあっ
ても、電流はリーク電流以外は流れない。次に、入力が
低レベルから高レベルへと切換わる場合について考え
る。入力が切換わった直後は、出力はまだ低レベルにあ
る。従って、QM1はオン、QM2オフ、QM3オフ、
QM4オンとなり、QM1を経てQB1にベース電流が
供給される一方、QB2のベース電荷はQM4により引
抜かれる。従って、QB2は急速にオフとなり、出力O
UTはQB1により高レベルへと向かう。出力OUTが
完全に高レベルとなるとQM1を経てのベース電流は流
れなくなり、最初に説明した状態に戻る。
【0012】以上説明したように、図3の回路では、入
出力が高または低レベルに留まっている限りはリーク電
流が流れるだけで消費電力は殆んど零であり、電力は切
換の過渡時に流れるだけである。従って、全体として消
費電力は小さく、CMOSと同じと考えてよい。一方、
出力から見るとMOSトランジスタのgmがhFE倍(す
なわち約2桁倍)してみえるので、出力の負荷容量が大
きくても充分に高速化できる。なお、高速化のために
は、QM1(または場合によってはQM3も)はデプリ
ーション型であることが望ましい。
【0013】上記の図3の回路には、トランジスタQM
1、QM2からなるCMOSソースフォロワ回路が含ま
れている。このため図3の回路も高速動作の点でなお不
十分である。
【0014】図4は本願発明者等による第2の検討回路
である。この回路と図3の回路との違いは、図3で出力
OUTに接続されていたQM2のドレーンが図4ではQ
B2のベースに接続されている点だけである。図4の回
路では、入力が高レベルから低レベルへと切換わる時
に、QB1のベースから引抜かれた電荷はQB2にベー
ス電流として供給され、従ってその分だけQB2がオン
となる時間が早くなる。その他の動作については、図4
と図3は同じである。
【0015】ところで、図3、図4の検討回路では、高
速化のためにはQM1はデプリーション型であることが
望ましい。デプリーション型でなければ、入力が高レベ
ルであっても、出力を充分に高レベルにする程ベース電
流を供給できないからである。従って、出力を充分に高
レベルに保つことも高速化することも困難となる。一
方、図3、図4の他のMOSトランジスタは一般にエン
ハンスメント型(勿論、必要に応じてデプリーション型
にしてもさしつかえないことは言うまでもない)である
ため、図3、図4の実施例の場合、高性能化のためには
エンハンスメント型とデプリーション型の両型のMOS
トランジスタを使用することが必要となり、プロセス的
に多少複雑となる。
【0016】図4の回路においても、トランジスタQM
1、QM2からなるCMOSソースフォロワ回路が含ま
れている。従って図4の回路も高速動作の点でなお不十
分である。
【0017】図5は、本願発明者等による第3の検討回
路であり、上述のような欠点が除かれている。
【0018】図5の回路はpチャネルMOSトランジス
タQM11,QM12及びQM13、nチャネルMOS
トランジスタQM14、npnバイポーラトランジスタ
QB11及びQB12から成る。
【0019】この回路の動作を簡単に説明する。まず、
入力、出力とも高レベルである状態を考える。この時、
QM11,QM12,QM13はオフであり、QM14
のみがオンである。従って、QB11,QB12ともに
オフである。この状態のもとで出力OUTが何かの原因
(たとえば出力に接続される負荷のリーク電流等)で低
レベルとなったとするとQM12がオンとなりQB11
に入力端INからベース電流が供給され出力OUTは高
レベルに保たれる。OUTが高レベルにある限りQB1
1はオフであり、従って定常状態では殆んど電流は流れ
ない。次に、入力INが高レベルから低レベルに切換わ
る状態を考える。切換わつた直後は出力OUTはまだ高
レベルにある。この状態ではQM11,QM13がオ
ン、QM12,QM14はオフである。QB11のベー
スに蓄積されていた電荷はQM11により引抜かれQB
11はオフとなり、一方、QB12にはQM13を経て
ベース電流が供給されるのでオンとなる。従って、QB
12のコレクタにはそのベース電流のhFE倍の電流が流
れるので、出力OUTは急速に低レベルに向かう。出力
OUTが低レベルになると、出力OUTからQB12へ
のベース電流は供給されなくなり、QB12はオフとな
る。この状態ではQM11,QM12もオンとなってい
るが、QB11のベース電荷は既に引抜かれているの
で、電流は流れない。つまり、入出力ともに低レベルの
定常状態にあっても、電流はリーク電流以外は流れな
い。次に、入力が低レベルから高レベルと切換わる場合
について考える。入力が切換わった直後は、出力はまだ
低レベルにある。従って、QM11はオフ,QM12は
オン,QM13はオフ,QM14はオンとなり、QM1
2を経てQB11にベース電流が供給される一方、QB
12のベース電荷はQM14により引抜かれる。従っ
て、QB12は急速にオフとなり、出力OUTはQB1
1により高レベルへと向かう。出力OUTが完全に高レ
ベルとなるとQM12はオフとなり、最初に説明した状
態に戻る。
【0020】以上説明したように図5の回路でも入出力
が高または低レベルに留まっている限りはリーク電流が
流れるだけで消費電力は殆んど零であり、電流は切換の
過渡時に流れるだけである。従って、全体として消費電
力は、図3、図4の実施例と同様に、CMOSと同様と
考えてよく、また実効的にCMOSゲートのgmがhFE
倍されると考えてよいことは、図3、図4の実施例の場
合と同じである。
【0021】図6は、本願発明者等による第4の検討回
路である。この回路と図5の回路との違いは、図5で出
力OUTに接続されていたQM11のドレーンが図6で
はQB12のベースに接続されている点だけである。図
6の回路では、入力が高レベルから低レベルへと切換わ
る時に、QB11のベースから引抜かれた電荷はQB1
2にベース電流として供給され、従ってその分だけQB
12がオンとなる時間が早くなる。その他の動作につい
ては、図6と図5は同じである。なお、図5、図6の回
路では、QB11のベース電流を前段回路が供給しなけ
ればならないので、図3、図4の場合に比べ前段に多少
大きな駆動能力が必要とされる。
【0022】図5及び図6の回路は、CMOSソースフ
ォロワ回路を含まない。いずれの回路もnpnトランジ
スタQB11のベースと入力端子INの間は、pチャネ
ルMOSトランジスタQM12のドレイン・ソース電流
通路を介して、直流的に結合されている。従って上記の
CMOSソースフォロワを用いたバッファ回路より高速
である。
【0023】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の手段は、CMOSとバイポーラトランジスタとを含む
バッファ回路と、該バッファ回路の入力に接続されたM
OS回路とを具備してなるバイポーラCMOS複合回路
であって、上記バッファ回路は、入力端子(IN)と、
出力端子(OUT)と、エミッタ−コレクタ電流通路が
第1の動作電位点と上記出力端子(OUT)との間に接
続された第1のnpnトランジスタ(QB1)と、エミ
ッタ−コレクタ電流通路が上記出力端子(OUT)と第
2の動作電位点との間に接続された第2のnpnトラン
ジスタ(QB2)と、ドレイン−ソース電流通路が上記
第2のnpnトランジスタ(QB2)のベースと上記出
力端子(OUT)との間に接続されたpチャネルMOS
トランジスタ(QM3)と、ドレイン−ソース電流通路
が上記第2のnpnトランジスタ(QB2)のベースと
上記第2の動作電位点との間に接続されたnチャネルM
OSトランジスタ(QM4)とを有し、該pチャネルM
OSトランジスタ(QM3)は、そのドレインが上記第
2のnpnトランジスタ(QB2)のベースの側に、そ
のソースが上記出力端子(OUT)の側になる向きに接
続されてなり、該nチャネルMOSトランジスタ(QM
4)は、そのドレインが上記第2のnpnトランジスタ
(QB2)のベースの側に、そのソースが上記第2の動
作電位点の側になる向きに接続されてなり、上記pチャ
ネルMOSトランジスタ(QM3)と上記nチャネルM
OSトランジスタ(QM4)のゲートは共に上記入力端
子(IN)に接続されてなり、上記第1のnpnトラン
ジスタ(QB1)のベースは上記入力端子(IN)に直
接接続されてなり、上記MOS回路はゲートに入力信号
が印加され、ドレインが上記バッファ回路の上記入力端
子に接続されたnチャネルMOSトランジスタを有して
なることを特徴とするバイポーラCMOS複合回路とす
ることである。(図7、図8参照。)
【0024】
【作用】上記手段によれば、npnトランジスタQB1
のベースを入力端子INに直流的に接続する。このため
QB1の前段としてはMOSトランジスタを持たない。
従ってQB1の立ち上がりが非常に速くなる。
【0025】また、npnトランジスタQB2の前段の
2つのMOSトランジスタが、ソースフォロワではな
く、ソース接地回路となっている。従ってこのMOSト
ランジスタ回路が高速に動作する。
【0026】これらにより、従来技術に比して大幅に高
速化されたバッファ回路が得られる。
【0027】
【実施例】図7は本発明の一実施例の回路図である。こ
の実施例では、図3、図4、または図5、図6において
QM1,QM2、またはQM11,QM12をとり去
り、QB1またはQB11のべースを直接入力端子に接
続した形となっている。この場合、QB1は入力が極く
低レベルにある以外の時はオン状態にあるので、入力に
乗った雑音は全て出力側に現われるという欠点を有して
いる。しかし、雑音余裕度が充分に確保されている場合
には、この回路を使用できる。なおこの回路の動作につ
いては、図3〜図6の動作説明から明らかであるので、
説明を省く。
【0028】図7の回路もCMOSソースフォロワを用
いていないため、高速バッファ回路が得られる効果があ
る。また後に述べるように、前段にCMOSインバータ
を接続しても高速回路が得られる効果がある。
【0029】以上説明したきた回路の使用例について簡
単に述べる。図8は3入力CMOSNANDゲートAと
図6の回路Bとを組み合わせた例で、全体として3入力
NAND回路を構成している。この回路の遅延時間を、
現在高速バイポーラ論理回路として最も標準的なECL
回路の遅延時間と、同一レベルのプロセスを仮定して比
較した。その結果、負荷容量1pFに対して、図8の回
路の遅延時間はECLとほぼ同一となることがわかっ
た。また、A,B両部分での遅延時間はほぼ等しくEC
Lの遅延時間のそれぞれ約半分であった。また、この時
の消費電力はスイッチング・サイクル時間50nsを仮
定してECLの約20分の1と極めて僅かである。つま
り、図8の回路を使用すれば、消費電力の点からはEC
Lの約20倍高集積のLSIを構成し、単位ゲートの遅
延時間を基本的にはECLと同程度にできることにな
る。
【0030】また、本発明のバッファの使用法として、
別のアプローチも可能である。図9はその概念を示した
もので、AはCMOSゲートを複数個組合わせた論理回
路網であり、B,B´等は本願発明のバッファ回路であ
る。この場合、CMOSゲートの回路網は、各ゲートの
負荷が充分軽いと考えられる程度の範囲でまとめられて
おり、各CMOSゲートは軽負荷(つまり負荷ゲートが
近くに配置されており、配線容量等が少ない)の条件で
動作している。一方、チップ内の遠方に配置されている
ゲートへの入力を印加するとか、またはファンアウトが
多いとかで負荷が重い場合には、信号はバッファ回路B
等を介して伝達される。従って、負荷による遅延時間の
増加は少ない。このような使用法のいたって簡単な場合
を図10に示す。この場合、たとえばI2から入力され
た信号は、CMOSゲートA1,A3,A4を経てB2
でバッファされて出力O2へ出て行く。この場合、A
1,A3,A4の負荷は軽いので各々ECLの約1/2
の遅延時間で動作する。また、出力O2の負荷が重くて
も、この部分もECLの約1/2の遅延時間で動作する
ので、全体としてECLの2倍の遅延時間でゲート3段
が動作することになる。この遅延時間の低減は、CMO
Sゲート回路網部分での縦続ゲート数が多い程大きくな
る。しかし、一般にゲート数が多くなると負荷も大きく
なるので、どこかに最適点がある。この最適点は、使用
するプロセス・テクノロジー、回路設計技術のレベル等
で決まる。また、図9に示した使用方法の場合、バイポ
ーラ・CMOSバッファの使用個数が減少するので、バ
ッファ使用によるチップ面積増加も少なく押え得る。ま
た、実際に使用する際には、論理ゲート網に対するバイ
ポーラCMOS複合バッファとしては、ノンインバータ
型とインバータ型との両者を組合わせて使うことになろ
うが、その場合インバータ型のバッファとしては従来型
のどのようなものを本発明のバッファと組合わせて使用
してもよい。
【0031】図11は本発明の効果を示す計算機シミュ
レーション結果を示す図である。横軸は負荷容量CL、
縦軸はゲート遅延時間tpdである。図11のL2で示
した直線は、図7の回路の入力端子(IN)に、図2中
の前段のCMOSインバータ回路を付加し、図7の回路
の出力端子(OUT)に負荷容量CLを付加した回路に
関して計算した特性である。
【0032】図11のL1で示した直線は、図3に示し
たCMOSソースフォロワを含む第1の検討回路に関し
て計算した特性である。ここでは前段にインバータ回路
は付加しておらず、図3の回路のみによる特性である。
この特性は上記のL2よりも遅延時間が大きいという結
果が得られている。
【0033】この図から、図7の回路は前段にインバー
タを付加しても、図3の回路よりさらに遅延時間が小さ
く、大幅な高速化が図れるという効果が得られる。
【0034】一般にCMOS回路中では、CMOSソー
スフォロワ回路が遅いため極力インバータ回路を用い
る。従って大きな負荷を駆動する場合、出力用のバッフ
ァ回路の前段のCMOSゲートはインバータ回路である
ことが多い。一方CMOSインバータの出力を受けるバ
ッファ回路は、出力の論理の要請に応じてインバータ形
およびノンインバータ形の両方が必要とされる。このた
めインバータ形バッファ回路の前段にCMOSインバー
タをもつ回路と、ノンインバータ形バッファ回路の前段
にCMOSインバータをもつ回路のいずれもが高速であ
ることが望まれる。本発明によれば高速なノンインバー
タ形バッファ回路が得られる効果がある。なお、本発明
においてMOSトランジスタのVTHを変えることによ
り、速度、消費電力、出力レベルなどを変え得るが、そ
れは設計の問題であり、本発明の範囲内にあることはい
うまでもない。
【0035】また、npnトランジスタをpnpトラン
ジスタに変えpチャンネルMOSトランジスタとnチャ
ンネルMOSトランジスタとを入れ替えても、同様な動
作をさせ得ることは言うまでもない。
【0036】
【発明の効果】以上のように本願発明により、ノンイン
バータ型の高速、低消費電力の複合バッファ回路が得ら
れ、もって駆動能力の高い所望の論理回路が容易に構成
できるのでその工業的価値は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来のインバータ型のバッファ回路である。
【図2】本発明によるバッファ回路の使用方法を示す図
である。
【図3】本願発明者等による第1の検討回路である。
【図4】本願発明者等による第2の検討回路である。
【図5】本願発明者等による第3の検討回路である。
【図6】本願発明者等による第4の検討回路である。
【図7】本発明の一実施例を示す図である。
【図8】本発明のバッファ回路の使用方法の一実施例を
示す図である。
【図9】本発明のバッファの使用方法の他の実施例の概
念図である。
【図10】図9の概念を具体化した、簡単な使用例であ
る。
【図11】本発明の効果を示す計算機シミュレーション
の結果を示す図である。
【符号の説明】
IN…入力端子、OUT…出力端子、QB1,QB2…
npnトランジスタ、QM3…pチャネルMOSトラン
ジスタ、QM4…nチャネルMOSトランジスタ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】CMOSとバイポーラトランジスタとを含
    むバッファ回路と、該バッファ回路の入力に接続された
    MOS回路とを具備してなるバイポーラCMOS複合回
    路であって、 上記バッファ回路は、 入力端子と、 出力端子と、 エミッタ−コレクタ電流通路が第1の動作電位点と上記
    出力端子との間に接続された第1のnpnトランジスタ
    と、 エミッタ−コレクタ電流通路が上記出力端子と第2の動
    作電位点との間に接続された第2のnpnトランジスタ
    と、 ドレイン−ソース電流通路が上記第2のnpnトランジ
    スタのベースと上記出力端子との間に接続されたpチャ
    ネルMOSトランジスタと、 ドレイン−ソース電流通路が上記第2のnpnトランジ
    スタのベースと上記第2の動作電位点との間に接続され
    たnチャネルMOSトランジスタとを有し、 該pチャネルMOSトランジスタは、そのドレインが上
    記第2のnpnトランジスタのベースの側に、そのソー
    スが上記出力端子の側になる向きに接続されてなり、 該nチャネルMOSトランジスタは、そのドレインが上
    記第2のnpnトランジスタのベースの側に、そのソー
    スが上記第2の動作電位点の側になる向きに接続されて
    なり、 上記pチャネルMOSトランジスタと上記nチャネルM
    OSトランジスタのゲートは共に上記入力端子に接続さ
    れてなり、 上記第1のnpnトランジスタのベースは上記入力端子
    に直接接続されてなり、 上記MOS回路はゲートに入力信号が印加され、ドレイ
    ンが上記バッファ回路の上記入力端子に接続されたnチ
    ャネルMOSトランジスタを有してなることを特徴とす
    るバイポーラCMOS複合回路。
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