JPH05206266A - ウェハダイシング装置 - Google Patents

ウェハダイシング装置

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Publication number
JPH05206266A
JPH05206266A JP3424692A JP3424692A JPH05206266A JP H05206266 A JPH05206266 A JP H05206266A JP 3424692 A JP3424692 A JP 3424692A JP 3424692 A JP3424692 A JP 3424692A JP H05206266 A JPH05206266 A JP H05206266A
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JP
Japan
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wafer
blade
nozzle
cleaning
semiconductor wafer
Prior art date
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Pending
Application number
JP3424692A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Sakauchi
敏 坂内
Jiro Tsuchishima
次郎 土島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Sony Corp
Original Assignee
Tokyo Seimitsu Co Ltd
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Seimitsu Co Ltd, Sony Corp filed Critical Tokyo Seimitsu Co Ltd
Priority to JP3424692A priority Critical patent/JPH05206266A/ja
Publication of JPH05206266A publication Critical patent/JPH05206266A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • B28D5/0058Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material
    • B28D5/0076Accessories specially adapted for use with machines for fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material for removing dust, e.g. by spraying liquids; for lubricating, cooling or cleaning tool or work

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウェハダイシング装置のウェハ表面に対する
洗浄効果を高める。 【構成】 ブレードの両側において被ダイシングウェハ
と至近距離に、該ウェハに洗浄液を噴出するウェハ直射
洗浄ノズルを設ける。 【効果】 ウェハと至近距離にあるウェハ直射洗浄ノズ
ルによって効果的にウェハ表面を洗浄できると共に、そ
のノズルから噴出された洗浄液による液膜によって切削
ダストが他の部分に飛散することを防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウェハダイシング装
置、特に半導体ウェハをブレードによりダイシングする
ウェハダイシング装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造において、半導体素子
の形成のための一連の処理が終ると半導体ウェハをダイ
シングしてペレタイズすることが不可欠である。そし
て、そのダイシングは、テープに接着された半導体ウェ
ハを、高速回転させたブレードにより切断するウェハダ
イシング装置を用いて行われる(特開平3−15795
4号公報)。
【0003】ところで、ブレードにより半導体ウェハを
ダイシングする場合においては、半導体ウェハとグレー
ドとの摩擦によりブレードが発熱するので、このブレー
ドを冷却することが必要である。また、切削により必然
的にシリコン等の半導体材料からなるダストが発生し、
半導体ウェハ表面に付着する虞れがある。
【0004】そこで、従来のウェハダイシング装置、例
えば特開平3−157954号公報により紹介されたウ
ェハダイシング装置においては、ブレードが半導体ウェ
ハと接している部分の近傍に、ブレードに向けて切削液
(一般に純水)を噴出するノズルを設けて主としてブレ
ードの冷却を行うようにし、また、ブレードの一方の側
(手前側)の上部に洗浄液を下向きに噴出するノズルを
設けて半導体ウェハ表面の洗浄を行うようにしていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上述した従
来のウェハダイシング装置では、ブレーキングを必要と
しないフルカットダイシングに対応することが難しくな
りつつある。この点について説明すると次のとおりであ
る。即ち、従前においてダイシングは、半導体ウェハを
フルカット(完全に切断)せず、半導体ウェハの厚さよ
りも稍浅い有底溝ができるようにブレードによるカット
を行い、その後、ブレーキングを行うという方法で行う
のが普通であった。
【0006】しかし、半導体装置の低コスト化等のため
最近はブレーキング工程をなくすため半導体ウェハをフ
ルカットすることによりダイシングするダイシング方法
が採られる傾向が生じている。このようなフルカットに
よれば、半導体ウェハによるシリコン等の半導体ダスト
のほか、半導体ウェハの裏面が接着されたテープもブレ
ードにより切断されることによってテープによるダスト
も発生し、ダスト発生量が全体として多くなるし、その
うえ、テープによるダストはシリコン等の半導体ダスト
に比較して洗浄しにくい。しかも、半導体素子の微細
化、高集積化に伴って汚染により生じる悪影響の度合は
増す一方である。従って、従来のウェハダイシング装置
ではブレーキングを必要としないフルカットダイシング
には対応することが難しくなりつつある。
【0007】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、ウェハ表面に対する洗浄効果を高め
ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明ウェハダイシング
装置は、ブレードの両側の被ダイシングウェハと至近距
離に、該ウェハに洗浄液を噴出するウェハ直射洗浄ノズ
ルを設けたことを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明ウェハダイシング装置によれば、ウェハ
を洗浄するノズルがブレードの両側に、ウェハと至近距
離にあるので、ウェハ表面に対する洗浄効果が高まる。
【0010】
【実施例】以下、本発明ウェハダイシング装置を図示実
施例に従って詳細に説明する。図1乃至図6は本発明ウ
ェハダイシング装置の一つの実施例を示すもので、先ず
図1(A)乃至(C)に従ってウェハダイシング装置の
構成を説明する。尚、図1(A)はウェハダイシング装
置の斜視図、図1(B)は(A)の矢印aに示す方向に
視た矢視図、図1(C)は要部を示す正面図である。
【0011】図面において、1はウェハダイシング装
置、2はダイシングされる半導体ウェハである。ウェハ
ダイシング装置1は、おおまかには、支持体3により指
示されて高速回転するブレード4と、該ブレード4の刃
部を覆うフランジカバー5によって構成されている。そ
して、フランジカバー5に回転落射ノズル6、シャワー
ノズル7、ブレードノズル8及びウェハ直射洗浄ノズル
9が設けられ、各ノズル6、7、8、9から洗浄液6
a、7a、冷却兼切削液8a及び洗浄液9aが噴出され
る。
【0012】そして、各ノズル6、7、8、9から上記
各種液6a、7a、8a、9aを噴出しながら半導体ウ
ェハ2を載置するテーブル10を矢印bに示す方向に移
動させることにより高速回転するブレード4によって半
導体ウェハ2をダイシング(例えばフルカットによるダ
イシング)をするようになっている。11はウェハ2を
接着するテープである[図1(C)ではこのテープ11
を省略した。]。
【0013】ここで回転落射ノズル6はフラジカバー5
のブレード刃部に対向する内面、即ちブレード回転方向
の前方に対応するフランジカバー6の内面に設けられ、
このノズル6から高速回転するブレード4に向って水平
に放射された洗浄水6aによってダイシングされた溝底
部の洗浄が為される。シャワーノズル7はブレード4の
一方の側の側面より離れた位置に半導体ウェハ2の面に
向かって垂直に設けられ、このノズル7からのシャワー
状洗浄水7aによって半導体ウェハ2の表面を湿らせ、
ダイシング中に付着した半導体ダストの残渣を除去しや
すくしている。
【0014】ブレード冷却ノズル8は、フランジカバー
5からブレード4の半導体ウェハ2に対接する下部両側
に延長した導管12a、12bに形成したスリットによ
り構成され、このスリットによりブレード4刃部に扇状
に放射される冷却兼切削水8aによってダイシング中の
ブレード刃部の冷却と、切削の円滑化を図るようになっ
ている。
【0015】そして、ウェハ直射洗浄ノズル9は、上記
導管12a、12bの外側に設けた導管13a及び13
bに設けたスリットからなり、各導管13a、13bそ
れぞれに複数、例えば3個ずつ設けられている。そし
て、各ウェハ直射洗浄ノズル9から噴出される洗浄液9
aによって図1(B)に示すようにブレード4の半導体
ウェハ2を切断している部分の両側に液幕が形成される
ようになっている。
【0016】尚、本実施例においては各ノズル9がダイ
シング10の進行方向(矢印bに示す)と逆方向に斜め
下側を向くように形成されている。勿論、ノズル9は図
7(A)に示すように真下を向くように形成しても良い
が、本実施例のようのノズル9を斜め下向きに形成する
ことによりダイシングによるダストが半導体ウェハ2の
切断済み側の方へ行かないようにする効果を得ることが
できる。
【0017】図2は洗浄液9aからなる液幕が出来る状
態を半導体ウェハ2から少し高い位置から視た平面図で
ある。本ウェハダイシング装置によれば、半導体ウェハ
2の至近距離に配置された導管13a、13bに斜め下
向きに形成したスリットからなるノズル9によって半導
体ウェハ2の表面にその至近距離からウェハ洗浄用の洗
浄液9aを噴出し、液幕を回転ブレード4の半導体ウェ
ハ2と接する部分の両側に形成するようにしたので、半
導体ウェハ2表面を効果的に洗浄することができる。
【0018】即ち、従来においては、半導体ウェハ2よ
りも相当に高いところにおいてブレード4の一方の側
(手前側)のみに設けられたシャワーノズル7によって
噴出下洗浄液7aによる半導体ウェハ2の表面の洗浄が
行われたいたに過ぎなかったので、半導体ウェハ2の表
面に対する洗浄の効果を高めることが制約された。
【0019】また、切断により生じたダストがブレード
4の両側へ飛散して半導体ウェハ2の表面、特に既に切
断済みの部分に付着することは避け得なかった。しかる
に、本ウェハダイシング装置によれば、ウェハ直射洗浄
ノズル9がブレード4の両側において半導体ウェハ2と
至近距離に設けられているので洗浄効果が強く、しかも
ブレード4の両側の洗浄液9aによる液幕によってブレ
ード4による半導体ウェハ2の切断部から発生したダス
トが側方へ飛散するのを抑止することができるのであ
る。
【0020】図3乃至図5はウェハダイシング装置のフ
ランジカバーを示すもので、図3は正面図、図4は左側
面図、図6は底面図である。図6はウェハダイシング装
置が制御部、操作部、ディスプレー等と共に組込まれた
装置全体を示し、矢印(1)で示す部分にウェハダイシ
ング装置の図1に示す部分が存在する。
【0021】図7(A)、(B)は本発明ウェハダイシ
ング装置の各別の変形例を示す断面図で、(A)は前述
したように、ウェハ直射洗浄ノズル9を半導体ウェハ2
に対して垂直に向けたものである。(B)は図1に示す
ウェハダイシング装置よりもウェハ直射洗浄ノズル9の
数を増やしたものである。尚、本実施例においてはシャ
ワーノズル7が設けられたが、このシャワーノズル7の
役割をウェハ直射洗浄ノズル9が果すことができるの
で、シャワーノズル7は必ずしも必要ではない。このよ
うに、本発明ウェハダイシング装置は種々の態様で実施
することができる。
【0022】
【発明の効果】本発明ウェハダイシング装置は、半導体
ウェハをブレードによりダイシングするウェハダイシン
グ装置において、上記ブレードの両側の被ダイシングウ
ェハと至近距離に、該ウェハに洗浄液を噴出するウェハ
直射洗浄ノズルを設けてなることを特徴とするものであ
る。従って、本発明ウェハダイシング装置によれば、ウ
ェハを洗浄するノズルがブレードの両側に、ウェハと至
近距離にあるので、ウェハ表面に対する洗浄効果が高ま
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)乃至(C)は本発明ウェハダイシング装
置の一つの実施例を示すもので、(A)は斜視図、
(B)は要部を示す矢視図、(C)は要部を示す正面図
である。
【図2】液幕の出来る状態を示す平面図である。
【図3】フランジカバーの正面図である。
【図4】フランジカバーの左側面図である。
【図5】フランジカバーの底面図である。
【図6】装置全体の斜視図である。
【図7】(A)、(B)は各別の変形例の要部を示す正
面図である。
【符号の説明】
1 ウェハダイシング装置 2 ウェハ 4 ブレード 9 ウェハ直射洗浄ノズル 9a 洗浄液

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェハをブレードによりダイシングする
    ウェハダイシング装置において、 上記ブレードの両側の被ダイシングウェハと至近距離
    に、該ウェハに洗浄液を噴出するウェハ直射洗浄ノズル
    を設けてなることを特徴とするウェハダイシング装置
JP3424692A 1992-01-25 1992-01-25 ウェハダイシング装置 Pending JPH05206266A (ja)

Priority Applications (1)

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JP3424692A JPH05206266A (ja) 1992-01-25 1992-01-25 ウェハダイシング装置

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JP3424692A JPH05206266A (ja) 1992-01-25 1992-01-25 ウェハダイシング装置

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JPH05206266A true JPH05206266A (ja) 1993-08-13

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ID=12408809

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3424692A Pending JPH05206266A (ja) 1992-01-25 1992-01-25 ウェハダイシング装置

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