JPH052008A - 感光ドラム評価装置 - Google Patents

感光ドラム評価装置

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JPH052008A
JPH052008A JP3180264A JP18026491A JPH052008A JP H052008 A JPH052008 A JP H052008A JP 3180264 A JP3180264 A JP 3180264A JP 18026491 A JP18026491 A JP 18026491A JP H052008 A JPH052008 A JP H052008A
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JP
Japan
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photosensitive drum
surface potential
charging
probe
measuring
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Withdrawn
Application number
JP3180264A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Ebihara
博幸 海老原
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP3180264A priority Critical patent/JPH052008A/ja
Publication of JPH052008A publication Critical patent/JPH052008A/ja
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  • Discharging, Photosensitive Material Shape In Electrophotography (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 [目的] 感光ドラムの表面状態の評価を正確に行う。 [構成] 支持部4に表面電位測定用センサ2と帯電層
膜厚測定用センサ3とを支持し、感光ドラム1に臨ませ
る。支持部4を移動機構5により移動させ、センサ2,
3を感光ドラム1の軸方向と平行に移動する。感光ドラ
ム1は帯電手段7により表面が帯電した状態で測定され
る。表面電位測定と帯電層膜厚測定とを行うため、感光
ドラム1の表面状態を正確に評価することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複写機の感光ドラムの
表面電位および帯電層膜厚を測定する感光ドラム評価装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図9ないし図11は特開昭61−240
259号公報に開示された従来の感光ドラム評価装置を
示す。表面電位計本来204とプローブ203とにより
表面電位計202が構成されており、この表面電位計2
02のプローブ203は、プローブ支持枠205に保持
されることにより、感光ドラムDに対向している。この
プローブ203により感光ドラムDの表面電位を検出し
た信号は、表面電位計本体204に送出され、さらにマ
イクロコンピュータなどの制御手段206に読みとられ
る。プローブ支持枠205は、2本のステー207,2
08により感光ドラムDの軸に平行にスライド可能に支
持されている。これにより、プローブ203は感光ドラ
ムDの軸方向に平行移動可能となっている。
【0003】また、プローブ支持枠2305にはワイヤ
ー209が巻き付けられ、このワイヤー209は4つの
プーリー210a〜210dの間にエンドレス状に張設
されるとともに駆動プーリー211、カウントプーリー
212に巻き付けられている。駆動プーリー211は、
モーター213により回転駆動され、これによりワイヤ
ー209が移動する。この結果プローブ支持枠205が
移動し、表面電位計202のプローブ203が感光ドラ
ムDの軸方向に沿って移動する。一方、カウントプーリ
ー212は、ワイヤー209の移動により従属回転し,
スリット円板212aを回転させる。また、スリット2
12bは、フォトマイクロセンサ214で検出される。
【0004】このような感光ドラム評価装置において
は、まず、作業者がサムロータリースイッチなどの停止
ポイント入力装置217を介して感光ドラムDの軸方向
の表面電位を測定したい位置信号を入力する。次にトグ
ルスイッチなどの指定方向入力装置218によりマイク
ロスイッチ215を基準とするか、もしくはマイクロス
イッチ216を基準とするかを指定する。次に作業者は
サムロータリースイッチの如き停止時間設定装置219
を介して停止ポイントにおける停止時間を指定する。こ
れにより指定された停止時間のあいだ停止ポイントで、
プローブ203は停止し、その間の平均的な表面電位を
検出する。このときドラムDを一回転させることによ
り、感光ドラムDの一周の平均的な表面電位が得られ
る。
【0005】以上の設定が終了すると、制御手段206
はモータ213を駆動して、プローブ203を指定され
たマイクロスイッチ側へ移動し、これにより基準位置が
検出されるとカウンタ206aをクリアし、逆方向にモ
ータ213を回転してプローブ203を移動させる。こ
のときフォトマイクロセンサ214はスリット円板21
2aに設けられたスリット212bを検出するごとにパ
ルス信号を出力する。このパルス信号を内部カウンタ2
06aに計数し、計数値が指定された停止ポイント値に
一致するとモータ213を停止する。ここで制御手段2
06は、表面電位計本体204のデータをクリアし、そ
れから指定された停止時間後に得られたデータを読み込
む。指定された停止時間が終了すると、再び制御手段2
06はモータ213を駆動し、次の停止ポイントまでプ
ローブ203を移動させる。
【0006】以下同じ操作が繰り返され、指定された全
停止ポイントでのデータが検出されることにより測定が
終了する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、複写機の感
光ドラムの表面電位は複写性能に直接関係するものであ
り、的確に把握することが望まれる。
【0008】ところが従来装置は感光ドラム表面電位を
測定するだけで、表面電位が異常値を示した場合の原因
を知ることが困難となっている。すなわち表面電位が異
常値を示す原因として、帯電層膜厚不均一、帯電層膜損
傷、帯電層膜汚れなどがあるが、従来装置ではこれらの
原因を検出することができない問題を有している。
【0009】本発明は、上記事情に鑑みて開発されたも
ので、特に表面電位が異常値を示す一番の原因である帯
電層膜厚不均一に着目し、表面電位と帯電層膜厚を交互
に測定することにより、異常値に対する原因を示唆する
ことができる感光ドラム評価装置の提供を目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の基本構成
を示し、感光ドラム1の表面電位を測定する表面電位測
定用センサ2と、感光ドラム1の帯電層膜厚を測定する
帯電層膜厚測定用センサ3と、これらのセンサ2,3が
感光ドラム表面に対向した状態で感光ドラム1の軸方向
に平行移動するように支持する支持部4と、この支持部
4を前記平行方向に移動させる移動機構5と、前記セン
サ2,3が感光ドラム1の軸方向の所定位置に移動する
ように前記移動機構5を制御する制御手段6と、前記感
光ドラム1の表面を帯電させる帯電手段7とを備えてい
ることとを特徴とする。この場合、制御手段6は移動機
構5の駆動部8を制御すると共に、帯電手段7を制御す
る。
【0011】
【作用】上記構成において、制御手段6は移動機構5を
制御して、表面電位測定用センサ2および帯電層膜厚測
定用センサ3を感光ドラム1の測定すべき位置に移動さ
せる。その後、帯電手段7が感光ドラム1の表面を帯電
させる。この帯電後、帯電層膜厚測定用センサ3が帯電
層膜厚を測定し、次にこの帯電層膜厚を測定した位置に
表面電位測定用センサ2が移動し、その位置の表面電位
を測定する。以上の動作を繰り返して感光ドラム1の表
面電位および帯電層膜厚を測定する。
【0012】
【実施例1】図2は本発明の実施例1の正面図、図3は
その平面図を示す。架台11上にボールねじ支持台1
2,感光ドラム支持台13および帯電装置支持台14が
載置されており、ボールねじ支持台12にはボールねじ
を使用したテーブルねじ15が回転自在に掛け渡され、
感光ドラム支持台13には感光ドラム16が回転自在に
支承され、帯電装置支持台14には帯電装置17が取り
付けられている。テーブルねじ15は感光ドラム16と
平行となるように設けられており、同テーブルねじ15
にはベース19が取り付けられる共に、テーブルモータ
18の駆動により回転し、この回転によりベース19が
移動する。このベース19上には、第1の支持台21お
よび第2の支持台22が配置されており、第1の支持台
21には支持枠23を介して表面電位測定用プローブ2
4が支持され、第2の支持台22には支持枠25を介し
て帯電層膜厚測定用プローブ26が支持されている。こ
れらプローブ24および26はその検出ヘッドが感光ド
ラム16に臨んでいる。また、ベース19上にはレール
27が感光ドラム16方向に取り付けられると共に、ボ
ールねじからなるプローブねじ30を有したプローブモ
ータ29が設けられている。このプローブモータ29が
駆動することにより、プローブねじ30が回転し、これ
により第2の支持台22がレール27上を走行して帯電
層膜厚測定用プローブ26が感光ドラム16に接近また
は離反する。
【0013】前記感光ドラム16は、感光ドラム支持台
13に取り付けられたドラムモータ31の駆動により回
転する。すなわち、図2に示すようにドラムモータ31
の出力軸にはモータギヤ32が取り付けられると共に、
このモータギヤ32に噛合するドラムギヤ33が感光ド
ラム16に取り付けられ、これらにより感光ドラム16
が回転する。この感光ドラム16におけるドラムギヤ3
3と反対側の軸は、図1に示すようにテーパ軸9となっ
ており、このテーパ軸9にエンコーダ34が取り付けら
れている。エンコーダ34は感光ドラム16の回転によ
りパルスを制御部40に出力する。なお、感光ドラム支
持台13の上部には除電装置35が支持部材36に支持
された状態で設けられている(図2参照)。
【0014】図2および図3において、37は表面電位
計本体、38は帯電層膜厚計本体であり、制御部40に
制御されている。かかる制御部40はテーブルモータ1
8,プローブモータ29,ドラムモータ31,帯電装置
17を制御しており、これらの制御を行うため図3に示
すように、演算部41,モータ制御部42,A/D変換
部43,汎用出力部44を有し、これらがコントローラ
45に接続された構成となっている。
【0015】次に本実施例の作動を説明する。まず、制
御装置40に感光ドラム16の軸方向の測定すべき位置
または測定間隔を入力する。この測定位置入力の場合、
テーパ軸9側を基準に何mmの位置であるかを入力す
る。なお、測定位置は複数入力可能である。一方、測定
間隔入力の場合、テーパ軸9側を基準に何mm間隔で測
定するのかを入力する。次に、感光ドラム16の周方向
で何ポイント測定するかポイント数を入力する。これは
感光ドラム1周に対して、ポイント数分等間隔に測定す
るための指令データとなる。次に、各測定位置で測定し
た測定値、周方向に複数ポイント測定した場合の周方向
での平均値、最大値、最小値、標準偏差、および全測定
値の平均値、最大値、最小値の中から必要となるデータ
を選択する。このとき、データの複数選択は可能であ
る。
【0016】以上の入力が終了すると、制御装置40の
指令に基づき、帯電装置17を起動させ、感光ドラム1
6の表面に電荷を照射しながら、ドラムモータ31を駆
動して感光ドラム16を1回転させ、感光ドラム16の
全表面を帯電させる。次にテーブルモータ18が回転
し、テーブルねじ15が回転することにより、基準であ
る感光ドラム16のテーパ軸9側にベース19が移動す
る。その後、テーブルモータ18が逆回転し、ベース1
9上面に固定されている帯電層膜厚測定用プローブ26
が指定された軸方向の測定位置または測定開始位置に移
動する。この移動後、プローブモータ29が回転し、帯
電層膜厚測定用プローブ26を感光ドラム16の表面に
接触させ、帯電層膜厚を測定する。この測定が終了する
と、プローブモータ29が逆回転し、帯電層膜厚測定用
プローブ26が感光ドラム16から離れる。
【0017】次に、テーブルモータ18が回転し、帯電
層膜厚を測定した位置に表面電位測定用プローブ24が
移動して測定する。測定が終了するとドラムモータ31
が回転し、指定された周方向の測定ポイントに感光ドラ
ム16を移動させる。この際、感光ドラム16の回転に
より、テーパ軸9に嵌合されているエンコーダ34はパ
ルスを出力する。このパルスは制御装置40でカウント
され、感光ドラム16の1回転分の出力パルス数を周方
向の測定ポイント数で割り、その結果、算出されたパル
ス数だけ感光ドラム16を回転させる。
【0018】次にテーブルモータ18が逆回転し、帯電
層膜厚測定用プローブ26を先に測定した位置に戻す。
以後、周方向における測定を上記要領に従い繰り返し行
う。帯電時の測定が終了すると、感光ドラムを再び1回
転させる。この際、除電装置35が作動し、感光ドラム
の表面に帯電している電荷を除去する。除電後、帯電時
と同様に表面電位を測定する。周方向の測定が全て終了
したら、テーブルモータ18が逆回転し、帯電層膜厚測
定用プローブ26を軸方向における次の測定位置に移動
させる。
【0019】以上の動作が繰り返され、感光ドラム16
の表面電位および帯電層膜厚を測定する。そして、全て
の測定ポイントについて測定終了すると、各々の測定項
目ごとに選択したデータが得られる。
【0020】このような本実施例は感光ドラムの表面電
位測定と帯電層膜厚測定とを行うため、表面電位が異常
値を示した原因を追究することができ、感光ドラムの表
面状態を的確に把握することができる。特に、感光ドラ
ム16のテーパ軸9にエンコーダ34を設けたため、感
光ドラム16の周方向における測定ポイント移動をエン
コーダ34より出力されるパルス数のカウントで検出で
き、これにより制御が容易になる。なお、本実施例にお
いては、得られたデータをXYデータレコーダやプロッ
タに出力して図化することにより、表面電位と帯電層膜
厚の相関をより一層解明することが簡単になる。さらに
は帯電層膜厚計としては渦電流式や光学式のどちらを使
用しても同様の効果が得られる。
【0021】
【実施例2】図5および図6は実施例2の正面図および
平面図を示し、実施例1と同一の要素は同一符号で対応
させることにより重複する説明を省略する。この実施例
2においては、架台11上の支持台12に2本のステー
51を平行に掛け渡し、このステー51にベース19が
スライド自在に支持されている。また、ベース19には
無端状のワイヤ52が連結されている。このワイヤ52
は複数のプーリ53に張設されていると共に、架台11
上に設けられた駆動プーリー54にも巻回されている。
さらに駆動プーリー54は制御部40により制御された
プーリーモータ55に取り付けられており、プーリーモ
ータ55の駆動によりワイヤ52が移動し、これにより
ベース19が移動するようになっている。
【0022】上記構成では制御部40の指令によりプー
リーモータ55が駆動し、駆動プーリー54が回転して
ワイヤ52が移動する。これにより表面電位測定用プロ
ーブ24と、帯電層膜厚測定用プローブ26とを支持し
ているベース19が感光ドラム16の軸方向に移動す
る。従って、本実施例1のテーブルねじ15が不要とな
り、構造が簡単で制御が容易なため安価に提供すること
ができる。
【0023】
【実施例3】図7および図8は本発明の実施例3の正面
図および平面図を示す。この実施例3は表面電位測定用
プローブ24および表面電位計本体37で構成される表
面電位計により測定された除電後の感光ドラム16の表
面電位値を保存する保存部および帯電時に測定した表面
電位値と、前記除電後の表面電位値を保存部に保存した
表面電位との差を出力する補正部としての差分演算回路
で構成される表面電位補正装置60を設けたものであ
り、他の構成は実施例1と同一の構成から成るもので、
同一構成部分には同一番号を付し、その説明を省略す
る。
【0024】本実施例は、実施例1の構成に表面電位補
正装置60を設け、除電後の表面電位値を保存し、次に
帯電させた時の表面電位値に除電後の表面電位値の誤差
電位が影響しないように、帯電時の表面電位値から、先
に保存した除電後の表面電位値を減算したものを帯電時
の表面電位値として出力することができる。
【0025】この構成では除電後の表面電位値を表面電
位補正装置60で保存し、次に、帯電装置17により帯
電させ、感光ドラム16の表面電位を測定する。この帯
電時の表面電位値より、先に保存した除電後の表面電位
値が表面電位補正装置60の差分演算回路部で減算され
るため、誤差電位を含まない正確な表面電位値を得るこ
とができる。したがって、何回も帯電と除電を繰り返す
ことにより感光ドラム16に電位が残り、これにより誤
差電位が表面電位値に次々と重畳される場合であって
も、この実施例3では表面電位補正装置60を設けたこ
とにより、より正確な表面電位値を得ることができる。
【0026】
【発明の効果】本発明は感光ドラムの表面電位測定と帯
電層膜厚測定とを行うため、表面電位が異常値を示した
場合の原因を帯電層膜厚値から探究することができ、感
光ドラムの表面状態を正確に評価することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基本構成を示す正面図。
【図2】本発明の実施例1を示す正面図。
【図3】本発明の実施例1を示す平面図。
【図4】本発明の実施例1の制御部を示すブロック図。
【図5】本発明の実施例2を示す正面図。
【図6】本発明の実施例2を示す平面図。
【図7】本発明の実施例3を示す正面図。
【図8】本発明の実施例3を示す平面図。
【図9】従来装置を示す構成図。
【図10】従来装置を示す平面図。
【図11】従来装置を示す正面図。
【符号の説明】
1 感光ドラム 2 表面電位測定用センサ 3 帯電層膜厚測定用センサ 4 支持部 5 移動機構 6 制御手段 7 帯電手段

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 感光ドラムの表面電位を測定する表面電
    位測定用センサと、感光ドラムの帯電層膜厚を測定する
    帯電層膜厚測定用センサと、これらのセンサが感光ドラ
    ムの表面に対向した状態で感光ドラムの軸方向に平行移
    動するように支持する支持部と、この支持部を前記平行
    方向に移動させる移動機構と、前記センサが感光ドラム
    の軸方向の所定位置に移動するように前記移動機構を制
    御する制御手段と、前記感光ドラムの表面を帯電させる
    帯電手段とを備えていることを特徴とする感光ドラム評
    価装置。
JP3180264A 1991-06-24 1991-06-24 感光ドラム評価装置 Withdrawn JPH052008A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3180264A JPH052008A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 感光ドラム評価装置

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JP3180264A JPH052008A (ja) 1991-06-24 1991-06-24 感光ドラム評価装置

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JPH052008A true JPH052008A (ja) 1993-01-08

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ID=16080208

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009063894A (ja) * 2007-09-07 2009-03-26 Fuji Xerox Co Ltd 画像形成装置、像保持体の寿命情報生成方法、及び像保持体の寿命情報生成プログラム
JP2012098659A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 Ricoh Co Ltd 電子写真用感光体の特性評価方法および特性評価装置
EP2566023A2 (en) 2011-08-31 2013-03-06 Canon Kabushiki Kaisha Line filter for a switching power supply

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