JPH0518268B2 - - Google Patents

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JPH0518268B2
JPH0518268B2 JP58246950A JP24695083A JPH0518268B2 JP H0518268 B2 JPH0518268 B2 JP H0518268B2 JP 58246950 A JP58246950 A JP 58246950A JP 24695083 A JP24695083 A JP 24695083A JP H0518268 B2 JPH0518268 B2 JP H0518268B2
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receiving surface
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Mitsuo Nakatani
Masaaki Okunaka
Ataru Yokono
Tadashi Saito
Kunihiro Matsukuma
Satoru Suzuki
Sumyuki Midorikawa
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
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Description

【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕 本発明は、半導体装置の製造方法に係り、特に
太陽電池のBSF(Back Surface Field)および電
極の製造方法に関する。 〔発明の背景〕 半導体素子の例として、太陽電池の代表的な構
成例を図に示す。n+/P/P+接合を形成したSi
基板の受光面、および裏面にそれぞれ受光面電極
4、裏面電極5を形成した構造である。さらに一
般には反射防止膜等も設けられている。 この太陽電池の近年における重要課題は、製造
コストの低減にあり、受光面電極4、裏面電極5
の形成法も、従来の真空蒸着法にかわつて低コス
トなめつき法や印刷法が検討されるようになつて
きた。特に印刷法は、自動化が容易で生産性が高
いことから広く検討されている。 P+層3形成にもこの印刷法が広く用いられて
おり、Al粉末と有機結合剤、有機溶剤を混練し
たペースト状の物質(以下Alペーストと云う)
をスクリーン印刷法などで塗布し、焼成する方法
である。このためのAlペーストは、太陽電池の
P+層形成用として多くのものが市販されている。 しかし市販のAlペーストを用いP+層3、およ
び裏面電極4の形成を行うと次の問題があつた。 即ち、大気中(酸化雰囲気中)で焼成すると
Al層が酸化され、絶縁物(Al2O3)となるため、
後工程でこれを除去し、再びAgペースト等を用
いて裏面電極4を形成しなければならず、工程が
複雑化し太陽電池のコストアツプを招く欠点があ
つた。これを防止するには、Alペーストの焼成
を不活性雰囲気(N2、Ar、He等)中で行うこと
が有効であるが、市販Alペーストでは、焼成後
のAl層に凝集やクラツクが生じ、均一なP+層が
形成できず、これが原因して太陽電池の効率低下
が起きる欠点もあつた。 〔発明の目的〕 本発明の目的は、エツチング工程、Agペース
トの印刷、焼成工程をなくし、凝集やクラツクに
よる製品不良の低減を図り、かつP+層の形成不
良を防止することにある。 〔発明の概要〕 本発明の太陽電池の製造方法は、P型シリコン
基板の表面にn+層を形成する工程、該P型シリ
コン基板の裏面にステアリン酸又はステアリン酸
亜鉛の何れかで表面をコーテイングした鱗片状の
Al粉末と、該Al粉末に対して10〜150vol%/Al
のSn粉末、In粉末から選ばれた少なくとも一種
の金属と、該Al粉末に対して50〜30vol%/Alの
Alと高融点合金を形成する金属とからなるペー
スト材料を印刷し、P+層を形成するためのAl
層を形成する工程、乾燥処理する工程、酸素濃度
300ppm以下の不活性ガス雰囲気中、660〜900℃
で、3〜30分間焼成し、Siと接しているAlをSi
中に拡散させ、P+層を形成する工程、受光面に
受光面電極を形成する工程、前記Al層上及び受
光面電極上にめつき被膜を設ける工程、裏面に裏
面電極を形成する工程により製造することを特徴
とする。 本発明が従来の方法と異なる点は、上記組成の
ペースト状物質(以下ではAlペーストと略す)
を同一導電不純物層および電極を形成するために
用いることである。これは、このAlペーストを
シリコンなどの基板上に印刷し、焼成すると、均
一なP+層が形成できること、更には同時に形成
されるAlペースト焼成層(以下ではAl層と略す)
に、従来の市販品では不可能であつためつきによ
る金属皮膜が形成できることを見い出したことに
よる。 即ち、このAl層上に半田濡れ性のよい金属
(例えばCn、Ni、Pb、Sn等)めつきをすること
によつて、従来必要であつたAl層のエツチング、
Agペーストの印刷、焼成による半田付用の電極
形成工程が全く不要となる。 本発明に用いるAlペーストの成分について、
以下に更に詳述する。主成分であるAl粉末は、
平均粒径で10μm以下であることが好ましい。
10μmより大きいものを用いてスクリーン印刷し
た場合、メツシユの目づまりが起き易く、連続印
刷性に問題がある。 また、Al粉末形状は、鱗片状が最も好ましい。
鱗片状Al粉末を用いると、均一なAl層が形成で
きる。 このAl粉末は、酸化防止のためにステアリン
酸、またはステアリン酸アルミニウム、またはス
テアリン酸亜鉛でコーテイングされていることが
好ましい。 このペースト中にSn、In、Sbから選ばれた少
なくとも一種の金属を添加すると、Al層をその
まま電極とする際に非常に有効である。これらの
金属を配合したAlペーストをシリコンなどの基
板上に印刷し、焼成すると、均一なP+層が形成
されるとともに、同時に形成されるAl層上に、
従来不可能であつためつきにより金属皮膜が形成
できる。 これにより、裏面電極5の電気抵抗が低減でき
るとともに、めつき金属皮膜として半田濡れ性の
良い金属(例えばCu、Ni、Pb、Sn等)を用いた
場合には、半田付も可能となる。 このSn、In、Sbから選ばれた少なくとも1種
の金属の配合割合は、Al粉末100volに対して
(10〜150vol%)/Al、好ましくは(25〜100vol
%)/Alであることが必要である。10vol%/Al
より少ないと、先に述べたSn、In、Sbの添加効
果はほとんど得られない。また150vol%/Alよ
り多くなると、形成されたAl層の電気抵抗が高
くなり、セルの効率低下を招く。 また、このAlペースト中に、Alと高融点合金
を形成する金属を添加することは、焼成時のAl
層に発生し易い凝集やクラツクの発生をなくし、
平滑なAl層、および均一なP+層を形成するのに
非常に有効である。 Alと高融点合金を形成する金属としては、特
にCo、Cr、Mn、Mo、Ti、Zr、B、Wが有効で
ある。配合割合は、Al粉末100volに対して(5
〜30vol%)Alであることが必要である。配合割
合が5vol%/Alより少ないと、先に述べたAlと
高融点合金を形成する金属の添加効果はほとんど
得られない。また30vol%/Alより多くなるとな
ると、形成されたAl層の電気抵抗が高くなり、
セルの効率低下を招く。 次に他の構成成分である有機結合剤と有機溶剤
について述べる。これらは、従来の厚膜スクリー
ン印刷用ペーストで用いられているものと同様の
ものを用いることができる。有機結合剤はセルロ
ース系化合物や、ポリメタクリレート系化合物な
どが、有機溶剤としては多価アルコール系のもの
が特に好適である。 次にAlペーストの焼成条件について述べる。
焼成温度は660〜900℃、好ましくは700〜800℃が
良い。660℃より低い温度ではAlが溶融しないた
め、均一なP+層およびAl層が形成されにくい。
また900℃より高温では、受光面側に形成されて
いるn+接合層の接合深さがかわり、セル効率ご
低下する。 焼成時間は2〜60分、好ましくは3〜30分が良
い。2分より短いと、Al層やP+層の形成が不完
全となり、高効率のセルが得られない。また、60
分より長く焼成すると、900℃より高温で焼成し
た場合と同様の理由でセル効率低下が生じる。 焼成雰囲気は酸素濃度300ppm以下、好ましく
は50ppm以下の不活性ガス雰囲気が良い。
300ppmより高濃度になると、Al層の酸化が進み
電気抵抗が高くなるため、セルの効率低下が生じ
る。 不活性ガスにN2、Ar、Heなどがあるが、工業
的に得やすく安価なN2が好ましい。 以下、本発明を実施例によつて説明する。 実施例 1 太陽電池用の接合形成シリコン基板として、図
に示すようにP形シリコン基板1(比抵抗1Ωm、
直径3インチ、丸形ウエハ)の表面に、イオン打
込み法で深さ0.2〜0.4μmのn+層2(表面シート
抵抗50Ω/□)を形成したものを用いた。 Alペーストには、表面をステアリン酸コーテ
イングした平均粒径2μm以下の鱗片状Alと、こ
れに10cpsのエルセルロース5重量部をα−テル
ピネオール95重量部に溶解した粘調液を加えなが
ら充分に混練し、粘度を約15Pa・s(ずり速度
100sec-1)としたもの、およびこのAlペーストに
Sn、In、Sbのうちから選ばれる少なくとも1種
の金属粉(平均粒径5μm以下)を各種組合せた
もの、およびAlと高融点合金を形成する金属と
して、Al粉末100volに対してCcを15vol%/Al添
加したものを用いた。 このAlペーストを、先に述べたシリコン基板
の裏面にスクリーン印刷し、150℃10分間の乾燥
処理をした後、この基板を窒素ガス雰囲気(酸素
濃度2.6ppm)中で、750℃にて5分間焼成した。
この後受光面電極4を形成した。 この様にして作製した太陽電池の電流−電圧特
性から、開放電圧(Voc)、曲線因子(F・F)
を調べた。 また、裏面電極4の外観(Al層の凝集、クラ
ツクの有無)評価、および電気ニツケルめつき
(液組成:スルフアミン酸ニツケル150g/、塩
化ニツケル10g/、ホウ酸40g/)を用いめ
つき析出性評価を行つた。 第1表のNo.3〜8、No.9〜14に示した如く、本
発明の方法によれば、高Voc、高FFなセル得性
が得られ、更にはクラツクや凝集のないめつき析
出性の良好なAl層が得られた。 第1表のNo.1のように、In、Sn、Sbの金属お
よびAlと高融点合金を形成する金属Coを添加し
ないものでは、Al層に凝集、クラツクが発生し、
めつき析出性も不良であつた。また凝集、クラツ
クのため均一なP+層が形成されず、Voc、FFと
も低くなり、効率が低下した。 第1表のNo.2のようにIn、Sn、Sbの金属を添
加しないものでは、めつき析出性が不良であり、
これに起因するFFの低下が見られた。 また、第1表のNo.9のようにSn、In、Sbの何
れの金属の場合でも、添加量が150vol%/Alよ
り多くなると、Voc、FFが低下した。 なお第1表のNo.4〜14のめつき析出性の良好な
ものに半田濡れ性試験を行つた結果、非常に良好
【表】 〓記号の説明:◎非常に良好、○良好、△
やや不良、×不良〓
な半田濡れ性を示した。 実施例 2 太陽電池用の接合形成シリコン基板として、実
施例1と同様のものを用いた。 Alペーストには平均粒径2μm以下の鱗片状Al
と、これにポリイソブチルメタクリレート20重量
部をα−テルピネオール80重量部に溶解した粘調
液を加えながら充分に混練し、粘度が約15Pa・
s(ずり速度100sec-1)になるよう調整したもの
に、粒径10μm以下のSn粉末75vol%/Alを加え、
更にAlと高融点合金を形成するメタルを加えた
ものを用いた。 このAlペーストを、実施例1と同様に印刷、
乾燥、焼成し、この後受光面電極4を形成した。
作製した太陽電池の特性、およびAl層の外観、
めつき析出性を実施例1と同様にして調べた。め
つき液には電気銅めつき液(液組成:ピロリン酸
銅90g/、ピロリン酸カリ350g/、アンモ
ニア3ml/)を用いた。 第2表のNo.17〜20、No.22〜33に示した如く、本
発明の方法によれば、高Voc、高FFなセル特性
が得られ、更にはクラツクや凝集のないめつき析
出性の良好なAl層が得られる。 第2表のNo.15、16のようにAlと高融点合金を
形成する金属を加えないか、または添加量の少な
いものでは、Al層に凝集、クラツクが発生し、
更には、Voc、FFも低下した。 第2表のNo.21のように添加量が30vol%/Al以
上のものでは、Cuめつき膜の析出性が低下し、
それにつれてVoc、FFも低下した。なお第2表
中のめつき析出性良好なものでは、何れも実施例
1と同様に半田濡れ性は良好であつた。 実施例 3 太陽電池用の接合形成シリコン基板として、実
施例1と同様のものを用いた。Alペーストとし
ては表面をステアリン酸亜鉛コーテイングした平
均粒径2μm以下の鱗片状Alに、10cpsのエチルセ
ルロース5重量部をα−テルピネオール95重量部
に溶解した粘調液を加えながら充分に混練し、粘
度を約15Pa・s(ずり速度100sec-1)と
【表】 したものに、平均粒径10μm以下のSb粉末75vol
%/Al、Mo粉末15vol%/Al加えたものをAlペ
ーストとした。 このAlペーストを実施例1と同様に印刷、乾
燥した後、N2雰囲気中で各種条件を組み合せて
焼成した。 この後、受光面電極4を形成した。めつき膜析
出性は、実施例1と同様の電気Niめつき液を用
いて評価した。 第3表のNo.35、No.37〜40、No.42〜43、No.45〜46
に示した如く、本発明の方法によれば、高Voc、
高FFなセル特性が得られ、更にはクラツクや凝
集のないめつき析出性の良好なAl層が得られる
ことがわかつた。 また、第3表のNo.34の様にAlの融点以下の焼
成温度では、Al層が成膜せず、Niめつき膜析出
性が悪い。またこれによりVoc、FFも低くなつ
ている。 また第3表のNo.36の様に焼成時間が2分より短
いものも、Al層の焼成が不充分となり、第3
〔発明の効果〕
以上述べたように本発明の方法で半導体装置特
に太陽電池を製造すれば、P+層および裏面電極
形成を行う際に従来困難であつた、Al層の酸化
防止に不可欠な不活性雰囲気中での焼成が可能と
なつた。 また、Al層上へのめつき処理も可能とした。
これにより従来必要であつたAl層の除去、半田
付用の電極形成工程が不要となり、工程数および
製造コストの大幅低減が可能となつた。
【図面の簡単な説明】
図は太陽電池の代表的な構成を示した断面図で
ある。 1……シリコン基板、2……n+層、3……P+
層、4……受光面電極、5……裏面電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 P型シリコン基板の表面にn+層を形成する
    工程、 該P型シリコン基板の裏面にステアリン酸又は
    ステアリン酸亜鉛の何れかで表面をコーテイング
    した鱗片状のAl粉末と、該Al粉末に対して10〜
    150vol%/AlのSn粉末、In粉末から選ばれた少
    なくとも一種の金属と、該Al粉末に対して5〜
    30vol%/AlのAlと高融点合金を形成する金属と
    からなるペースト材料を印刷し、P+層を形成す
    るためのAl層を形成する工程、 乾燥処理する工程、 酸素濃度300ppm以下の不活性ガス雰囲気中、
    660〜900℃で、3〜30分間焼成し、Siと接してい
    るAlをSi中に拡散させ、P+層を形成する工程、 受光面に受光面電極を形成する工程、 前記Al層上及び受光面電極上にめつき被膜を
    設ける工程、 裏面に裏面電極を形成する工程により製造する
    ことを特徴とする太陽電池の製造方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0656883B2 (ja) * 1986-03-03 1994-07-27 鐘淵化学工業株式会社 半導体装置
JP5430520B2 (ja) * 2010-08-21 2014-03-05 京セラ株式会社 太陽電池の製造方法
CN103377750A (zh) * 2012-04-25 2013-10-30 比亚迪股份有限公司 一种太阳能电池背电场用导电浆料、其制备方法及太阳能电池片

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4882375A (ja) * 1972-02-08 1973-11-02
JPS5110839A (ja) * 1974-07-17 1976-01-28 Fujikura Kasei Kk Dodenseitoryo
JPS5478491A (en) * 1977-12-02 1979-06-22 Murata Manufacturing Co Conductive paste
JPS54150994A (en) * 1978-05-18 1979-11-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and its manufacture
JPS57208182A (en) * 1981-06-17 1982-12-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacture of phtoelectric converter
JPS5885574A (ja) * 1981-11-18 1983-05-21 Toshiba Corp 太陽電池及びその製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4882375A (ja) * 1972-02-08 1973-11-02
JPS5110839A (ja) * 1974-07-17 1976-01-28 Fujikura Kasei Kk Dodenseitoryo
JPS5478491A (en) * 1977-12-02 1979-06-22 Murata Manufacturing Co Conductive paste
JPS54150994A (en) * 1978-05-18 1979-11-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device and its manufacture
JPS57208182A (en) * 1981-06-17 1982-12-21 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Manufacture of phtoelectric converter
JPS5885574A (ja) * 1981-11-18 1983-05-21 Toshiba Corp 太陽電池及びその製造方法

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