JPH05182259A - 光ディスク用スタンパー及びその製法 - Google Patents

光ディスク用スタンパー及びその製法

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JPH05182259A
JPH05182259A JP35963991A JP35963991A JPH05182259A JP H05182259 A JPH05182259 A JP H05182259A JP 35963991 A JP35963991 A JP 35963991A JP 35963991 A JP35963991 A JP 35963991A JP H05182259 A JPH05182259 A JP H05182259A
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stamper
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pit
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Masayasu Ogushi
眞康 大串
Tatsuya Sunamoto
辰也 砂本
Tokuo Igari
徳夫 猪狩
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Kuraray Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 プレピットまたは案内溝に対応する凹凸部
と、鏡面部とを有し、該鏡面部における純水の接触角θ
が10°〜70°の範囲にあることを特徴とする光ディ
スク用スタンパー。180〜300nmの波長を有する
紫外線を、空気中または酸素雰囲気中で照射する工程を
含むことを特徴とする上記の光ディスク用スタンパーの
製法。 【効果】 多数の成形ショットにわたって、ピットずれ
を発生させることのない光ディスク用スタンパー及びそ
の製法が提供される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光ディスク用スタンパー
及びその製法に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に光ディスクの製造に用いられるス
タンパーは、一般に、ガラス基板上に塗布されたフォト
レジストをレーザービーム等で露光し、これを現像する
ことにより、凹凸パターンが形成された面に導電化処理
を施した後、Ni電鋳を施すことにより作製される。作
製されたスタンパーの表面には、通常若干のフォトレジ
ストが残留している。フォトレジストが表面に残留した
スタンパーを用いて、光ディスク基板を成形すると、成
形された基板には、残留フォトレジストによる凹凸が転
写される結果、基板ノイズが著しく増加し、C/Nが低
下する。この問題を解決するために、酸素プラズマアッ
シング装置等を用いて、スタンパー表面の残留フォトレ
ジストを酸化除去する(ドライ洗浄)工程がスタンパー
の作製工程に含まれているのが一般的である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】スタンパーにドライ洗
浄を施すと、酸素プラズマがスタンパー表面のNiを酸
化させ、光ディスク基板の成形時に、樹脂に含まれる離
型剤の水酸基がスタンパー表面の酸化Niと結合するこ
とにより、表面の濡れ性が著しく低下し、樹脂とスタン
パーとの密着性が低下する。スタンパーと樹脂との密着
性が低下することにより、型開時(成形された光ディス
ク基板の離型時)より前にスタンパーから基板が剥離
し、そのために、ピットがずれて転写される。スタンパ
ー表面に結合した離型剤は、スタンパー表面の酸化Ni
と比較的結合力の強い水素結合等で結合し、成形時に離
脱することはなく、成形条件を変更してもピットずれの
ない光ディスク基板を得ることはできない。
【0004】本発明の1つの目的は、多数の成形ショッ
トにわたって、ピットがずれて転写されるピットずれを
発生させることのない光ディスク用スタンパーを提供す
ることにある。
【0005】本発明の他の1つの目的は、上記ピットず
れを発生させることのない光ディスク用スタンパーを得
る方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、上記の
1つの目的は、プレピットまたは案内溝に対応する凹凸
部と、鏡面部とを有し、該鏡面部における純水の接触角
が10°〜70°の範囲にあることを特徴とする光ディ
スク用スタンパーを提供することにより達成される。
【0007】また、上記の他の1つの目的は、180〜
300nmの波長を有する紫外線を、空気中または酸素
ガス(雰囲気)中で照射する工程を含むことを特徴とす
る上記の光ディスク用スタンパーの製法を提供すること
により達成される。
【0008】なお、本発明における純水の接触角とは、
室温下で、スタンパー1上の純水の水滴2と空気3との
界面で形成される角度θ(図1)をいう。
【0009】
【作用】空気中または酸素雰囲気中で、スタンパーの表
面に180〜300nmの波長を有する紫外線が照射さ
れると、スタンパーの表面に吸着した離型剤が分解し、
スタンパー表面の濡れ性が高められ、樹脂とスタンパー
との密着性が向上する。ここで酸素プラズマアッシング
を施すか、低真空下でスパッタエッチングを施すことに
よっても、スタンパー表面の濡れ性が高められるが、こ
れらの処理を施したスタンパーの表面は密着力が極めて
高く、成形時に離型剤が再び吸着し、ピットずれが発生
する。これに対し、上記の紫外線を照射した場合には、
適当な密着力を有するスタンパーが得られる。
【0010】
【実施例】以下、実施例により本発明を具体的に説明す
る。
【0011】実施例1・2 比較例1・2 Ni製のスタンパー(アドレス情報用ピットおよび案内
溝に対応する凹凸部を有する)に、種々の条件で酸素プ
ラズマアッシング処理を実施し、かかるスタンパーを用
いて光ディスク用ポリカーボネイト樹脂基板を射出成形
法により作製した。成形前のスタンパー表面の鏡面部に
おける純水の接触角と、ピットずれの発生状況とを表1
に示す。表1から純水の接触角が10°〜70°の範囲
にあるスタンパーを用いれば、多数の成形ショットを行
っても良好なピット転写がなされることがわかる。
【0012】実施例3〜6 比較例3・4 成形時にピットずれが発生するNi製のスタンパー表面
に、空気中で185nmおよび254nmの発光ピーク
波長を有する紫外線を照射した。紫外線の照射時間とス
タンパー表面の鏡面部における純水の接触角とを表2に
示す。また、表2中にはかかるスタンパーを用いて光デ
ィスク用ポリカーボネイト樹脂基板を射出成形法により
作製した際のピークずれの発生状況をも示す。表2か
ら、ピットずれが発生するスタンパーに紫外線を照射
し、スタンパー表面の鏡面部における純水の接触角が1
0°〜70°の範囲になるように調整したスタンパーを
用いれば、多数の成形ショットを行っても良好なピット
転写がなされることがわかる。
【0013】比較例5〜8 成形時にピットずれが発生するNi製のスタンパーを酸
素プラズマアッシング装置を用いて種々の条件で表面処
理を施した。処理条件と処理後のスタンパー表面の鏡面
部における純水の接触角、および各スタンパーを用いて
光ディスク用ポリカーボネイト樹脂基板を射出成形法に
より作製した際のピットずれの発生状況を表3に示す。
表3から酸素プラズマアッシング処理を施したスタンパ
ーの接触角は5°以下であり、少ない成形ショット数で
ピットずれが発生していることがわかる。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、多数の成形ショットに
わたって、ピットずれを発生させることのない光ディス
ク用スタンパー及びその製法が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】純水の接触角を示す説明図である。
【符号の説明】
1 光ディスク用スタンパー 2 純水 3 空気
【表1】
【表2】
【表3】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プレピットまたは案内溝に対応する凹凸
    部と、鏡面部とを有し、該鏡面部における純水の接触角
    が10°〜70°の範囲にあることを特徴とする光ディ
    スク用スタンパー。
  2. 【請求項2】 180〜300nmの波長を有する紫外
    線を、空気中または酸素雰囲気中で照射する工程を含む
    ことを特徴とする請求項1記載の光ディスク用スタンパ
    ーの製法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005148313A (ja) * 2003-11-13 2005-06-09 Hoya Corp マスクブランクスの製造方法及び転写マスクの製造方法
JP2010244075A (ja) * 2010-07-06 2010-10-28 Hoya Corp マスクブランクスの製造方法及び転写マスクの製造方法

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JP2005148313A (ja) * 2003-11-13 2005-06-09 Hoya Corp マスクブランクスの製造方法及び転写マスクの製造方法
JP4566547B2 (ja) * 2003-11-13 2010-10-20 Hoya株式会社 マスクブランクスの製造方法及び転写マスクの製造方法
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JP4688966B2 (ja) * 2010-07-06 2011-05-25 Hoya株式会社 マスクブランクスの製造方法及び転写マスクの製造方法

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