JPH0518151B2 - - Google Patents

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JPH0518151B2
JPH0518151B2 JP23425285A JP23425285A JPH0518151B2 JP H0518151 B2 JPH0518151 B2 JP H0518151B2 JP 23425285 A JP23425285 A JP 23425285A JP 23425285 A JP23425285 A JP 23425285A JP H0518151 B2 JPH0518151 B2 JP H0518151B2
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JP
Japan
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JP23425285A
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JPS6293771A (ja
Inventor
Sadamasa Hirogaki
Shiro Atsumi
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、印影照合方式に関する。
(従来の技術) 従来より採用されている印影照合方式としては
特公昭60−24508に開示されたものがある。この
従来方式では、被照合印影を読取つた被照合印影
パタンと予め登録されている登録印影パタンとを
最も良く一致するように重ね合せて重ねパタンを
作成し、比較両印影パタンの印影部の目視照合を
行う。重ねパタンは、比較両印影パタンの印影部
の一致部と比較両印影パタンの印影背景部の一致
部と被照合印影パタンの不一致部(被照合印影パ
タンの印影部であつて登録印影パタンの印影背景
部である部分)と登録印影パタンの不一致部(登
録印影パタンの印影部であつて被照合印影パタン
の印影背景部である部分)とがそれぞれ異なる色
で区分されており、この色分け表示された重ねパ
タンから印影の照合判定を行つていた。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上述した従来の印影照合方式
で、目視照合用の表示パタンとしていかなる場合
にも一律に重ねパタンの表示が行われるため、比
較両印影部の一致又は不一致の判定がしずらいと
いう問題点があつた。例えば朱肉の付き方によつ
て印影部が太まつたり或は細まつたりした場合そ
の他の場合に比較両印影部の微妙な相違の判別が
しずらくなり、印鑑の照合判定がしずらかつた。
この点につき第4図、第5図A〜C及び第6図
A〜Cを参照して説明する。
今ここで、第4図と、第5図A〜Cとは相違な
る印鑑から得た印影パタンの例である。また、第
5図B及びCは第5図Aと同一の印鑑から得られ
た印影パタンであるにもかかわらず、朱肉の付き
方が異なるために印影部の太さが異なつている印
影パタンの例である。ここでは説明の簡略化のた
めに、第4図の印影パタン11を登録印影パタン
とし、第5図Bの印影パタン13及び第5図Cの
印影パタン15の印影部はそれぞれ第5図Aの印
影パタン17の印影部より1メツシユ(画素)及
び2メツシユ(画素)太い印影パタンであるとし
かつこれら印影パタン13,15,17を被照合
印影パタンとして、理想的な場合について従来方
式の表示例につき説明を行う。
第6図A,B,Cは、登録印影パタン11と被
照合印影パタン17,13,15とからそれぞれ
得た従来の表示による重ねパタン19,21,2
3を示す。
第6図Aの場合は、登録印影パタン11と被照
合印影パタン17との印影部一致部分(クロスし
たハツチングで示した部分)25aと、印鑑の違
いによる特徴的相違点だけで構成された印影部不
一致部分(一方向のハツチングで示した部分)2
7aとが表示されるだけである。従つて、このよ
うな場合は特徴的相違点27aを一見して判別出
来る。
しかし、第6図Bの場合には、登録印影パタン
11と被照合印影パタン13との印影部一致部分
25bと、印鑑の違いによる特徴的相違点である
印影部不一致部分及び特徴的相違点ではない印影
部不一致部分で構成された印影部不一致部分27
bが表示される。従つて、一見して特徴的相違点
のみを判別することが容易に出来ない。
また、第6図Cも第6図Bと同様に、登録印影
パタン11と被照合印影パタン15との印影部一
致部分25cと、印鑑の違いによる特徴的相違点
である印影部不一致部分及び特徴的相違点ではな
い印影部不一致部分で構成された印影部不一致部
分27cとで表示が行われているため一見して特
徴的相違点のみを判別することは出来ない。
この発明の目的は、上述した従来の問題点を解
決し比較両印影部の一致或は不一致の判定がしや
すい印影照合方式を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この発明によれば
被照合印影を読み取る読取部と、読取部により読
み取られた被照合印影パタンを予め登録されてい
る登録印影パタンと位置整合を行つて整合パタン
を作成する位置整合部と、整合パタンと登録印影
パタンとを照合比較して一致度を判定する一致度
判定部と、整合パタンと登録印影パタンとの印影
部一致点近傍の印影部不一致点を印影部一致点扱
いして太めパタンを作成する太めパタン作成部
と、前記整合パタンと登録印影パタンと太めパタ
ンとの重ねパタンを表示する表示部とを備えた印
影照合方式において、太めパタン作成部は印影部
一致点扱いとする印影部不一致点の範囲を一致度
に応じて変えて太めパタンを作成するように構成
し、重ねパタンの表示は、少なくとも印影部一致
点扱いとされる印影部不一致点と印影部一致点扱
いとされない印影部不一致点とを、異なる表示で
表示することを特徴とする。
(作用) このような構成によれば、同一の印鑑の照合で
あるにも拘らず朱肉の付き方の相違その他の理由
により、比較両印影部の実質的な相違によらない
印影部不一致点が比較両印影部の印影部一致点の
近傍で増減するような場合の、印影部不一致点を
印影部一致点扱いとする。従つて、このような印
影部不一致点を印影部一致点扱いして表示するこ
とにより比較両印影部の特徴的相違点を判別する
ことが容易に出来る。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の一実施例につ
き説明する。尚、図はこの発明が理解出来る程度
に概略的に示してあるにすぎず、又、この発明は
図示例に限定されるものではない。
第1図はこの発明の一実施例を説明するための
ブロツク図である。第1図において29は読取部
であり、この読取部29で被照合印影から被照合
印影パタンが読み取られ第一メモリ31に記憶さ
れる。位置整合部33では第一メモリから読み取
つた被照合印影パタンを移動及び回転させて登録
印影パタンと位置整合する整合パタンを得て、こ
れを第二メモリ35に記憶する。一致度判定部3
7においては第三メモリ39に予め登録されてい
た登録印影パタンと第二メモリ35に記憶された
整合パタンとを呼び出して両パタンの一致度を求
める。この一致度は、例えば、2値化処理されて
いる登録印影パタン及び2値化処理されている整
合パタンの相対応する画素点のマツチングをとつ
てこれらパタンの一致素点数及び不一致素点数か
ら求められる。次に、必要に応じて一致度判定部
37での判定結果を位置整合部33にフイードバ
ツクする。そして再び位置整合部33にて一致度
が向上する方向に被照合印影パタンを移動及び回
転させ、一致度判定部37にて一致度を調べる。
このような手順を繰り返して一致度の最大値を得
る。
一致度の最大値が得られると、太めパタン作成
部41において、この一致度の最大値に対応した
比較両印影パタンの印影部一致点近傍の印影部不
一致点を印影部一致点扱いとする範囲(太め範
囲)を得る。太め範囲は、例えば次のようにして
実験的に印影のサンプルをとつて決める。印影が
登録された印鑑A及び登録印影に類似の印影を有
する印鑑Bを用意する。ここで、登録印影を印影
a、印影が登録された印鑑Aを押捺して得た被照
合印影を印影a′及び印鑑Bを押捺して得た被照合
印影を印影bとする。印鑑A,Bを多数回押捺し
て得た印影a′,bをいくつも用意し、これら印影
a′,bと登録印影aとの比較照合を行つてそれぞ
れについての一致度を求める。そして、一致度の
最大値と、印影部一致点として扱われるべき印影
部不一致点の範囲すなわち太め範囲との対応関係
を実験的に得て一致度の最大値に応じた太め範囲
が定まる。
太め範囲については特願昭59−182824に提案さ
れているが、この発明では比較両印影パタンの一
致度の最大値に応じて太め範囲を変え、太め範囲
内にあつて印影部一致点扱いとされる印影部不一
致点(太め一致点)を得、このような太め一致点
のみを太めパタンとする。この太めパタンを第四
メモリ43に記憶する。
表示部45は、それぞれ印影部を1及び印影背
景部を0として2値化処理されている登録印影パ
タン、整合パタン及び太めパタンの論理演算を次
に示す第1〜第3の論理式に従つて各画素点毎に
行い、第1の論理式による論理演算の結果が1と
なる画素点(印影部一致点及び印影部一致点扱い
とされる印影部不一致点)を第1の色で、第2の
論理式による論理演算の結果が1となる画素点
(登録印影パタンの印影部一致点扱いとされない
印影部不一致点)を第2の色で、及び第3の論理
式による論理演算の結果が1となる画素点(被照
合印影パタンの印影部一致点扱いとされない印影
部不一致点)を第3の色で表示する。これら第1
〜第3の色をそれぞれ異なる色とする。
TP×SP+FP (第1の色) TP×(×+) (第2の色) SP×(×+) (第3の色) ここで×は論理積、+は論理和、 は否定、
TPは登録印影パタン、SPは整合パタン、FPは
太めパタンである。
第2図A,B,Cは、この実施例の重ねパタン
の表示例である。第4図の登録印影パタン11と
第5図A,B,Cの被照合印影パタン17,1
3,15とを一致度判定部37においてそれぞれ
照合比較して各被照合印影パタンに対応した一致
度の最大値x,y,zをそれぞれ得たとする。
尚、第2図、第4図及び第5図の各図において
は、印影パタンの印影部をハツチングを付して表
し及び印影背景部をハツチングを付さずに白地で
表した。
この例では一致度の最大値x,y,zは、太め
範囲がそれぞれ0メツシユ、1メツシユ、2メツ
シユとなる一致度の範囲の値であるとする。この
場合に、登録印影パタン、整合パタン及び太めパ
タンを重ね合せて表示部45で得た、重ねパタン
46a,46b,46cをそれぞれ第2図A,
B,Cに示す。
第2図A,B,Cにそれぞれ示すように、比較
両印影部の相違の著しい不一致部分(特徴的相違
部分であり、図中、一方向のハツチングで示した
部分)47a,47b,47cのみが、異なる色
(第三の色)で表示される。また、特徴的相違部
分ではない太めパタンと比較両印影パタンの印影
部一致点とで構成された一致部分(クロスしたハ
ツチングで示した部分)49a,49b,49c
が第一の色で表示される。従つてこの場合、第三
の色で表示された不一致部分を見て印鑑の違いに
よる特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認するこ
とが出来る。
また、第5図Aの印影パタンを登録印影パタン
とし、第5図B及びCの印影パタンを被照合印影
パタンとし、しかも太め範囲が比較両印影パタン
の一致度の最大値からそれぞれ1メツシユ、2メ
ツシユとなる場合であるとする。このような場
合、第3図A及びBに図示されるような重ねパタ
ン51,53の表示を得る。この表示例では、印
鑑の違いによらない不一致部分すなわち朱肉の付
き方の相違その他により生じた不一致部分は表示
されず、太めパタンと比較両印影パタンの一致点
とで構成された一致部分(クロスしたハツチング
で示した部分)55a,55bが第一の色で表示
されるだけである。
以上、理想的な場合につき説明してきたがこの
発明によればこの実施例のように、比較両印影の
不一致部分のうち特徴的相違部分ではない部分が
表示されることが少なくなり、印鑑の相違による
特徴的不一致部分が強調されて表示される。従つ
て、比較両印影の特徴的相違点を一目瞭然のうち
に確認出来る。
この実施例では比較両印影パタンの印影部一致
点と太め一致点(印影部一致点扱いとする印影部
不一致点)を同色表示(論理式TP×SP+FP)
したが、印影部一致点(論理式TP×SP)と太め
一致点(論理式FP)とを異なる色で表示するこ
とにしてもこの実施例と同様な効果を得ることが
出来る。
また、この実施例では色分け表示したがモノク
ロームデイスプレイを表示部で用いて印影部一致
点扱いされない印影部不一致点(太め一致点では
ない印影部不一致点)と、それ以外の印影部一致
点及び不一致点(太め一致点)とを異なる輝度で
表示したり、或は一致点扱いされない不一致点の
み点滅表示してもこの実施例と同様な効果を得る
ことが出来る。この場合の表示は通常の技術によ
り容易に達成できる。
(発明の効果) 上述した説明から明らかなように、この発明の
印影照合方式によれば、同一の印鑑の照合である
にも拘らず朱肉の付き方の相違その他の理由によ
り、比較両印影パタンの実質的な相違によらない
印影部不一致点であつて比較両印影パタンの印影
部一致点の近傍で増減するような印影部不一致点
(太め一致点)を一致点扱いとする。そして、比
較両印影パタンの印影部不一致点において印鑑の
相違による特徴的不一致点とそうでない不一致点
(太め不一致点)とを例えば色や輝度を異ならせ
て表示で表示する。従つて、比較両印影パタンの
印影部不一致点のうち比較両印影パタンの特徴的
相違部分を判別することが容易に出来る。
また、この発明によれば、印鑑の相違によらな
い比較両印影パタンの不一致部分を表示すること
が少なくなり、印鑑の相違による特徴的不一致部
分を強調して表示する。従つて、比較両印影パタ
ンの特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認出来
る。
この結果、印鑑照合の際に目視によつて比較両
印影の真偽判定が容易に行える。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による印影照合方式の一実施
例を説明するためのブロツク図、第2図A〜C及
び第3図A及びBは、実施例の表示例の説明に供
する線図、第4図及び第5図A〜Cは実施例及び
従来例の表示例の説明に供する印影パタン例を示
す線図、第6図A〜Cは、従来例の表示例を示す
線図である。 29……読取部、31……(被照合印影パタン
用の)第一メモリ、33……位置整合部、35…
…(整合パタン用の)第二メモリ、37……一致
度判定部、39……(登録印影パタン用の)第三
メモリ、41……太めパタン作成部、43……
(太めパタン用の)第四メモリ、45……表示部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被照合印影を読み取る読取部と、該読取部に
    より読み取られた被照合印影パタンを予め登録さ
    れている登録印影パタンと位置整合を行つて整合
    パタンを作成する位置整合部と、該整合パタンと
    登録印影パタンとを照合比較して一致度を判定す
    る一致度判定部と、該整合パタンと登録印影パタ
    ンとの印影部一致点近傍の印影部不一致点を印影
    部一致点扱いして太めパタンを作成する太めパタ
    ン作成部と、前記整合パタンと登録印影パタンと
    太めパタンとの重ねパタンを表示する表示部とを
    備えた印影照合方式において、 前記太めパタン作成部は前記印影部一致点扱い
    とする印影部不一致点の範囲を前記一致度に応じ
    て変えて太めパタンを作成するように構成し、 前記重ねパタンの表示は、少なくとも印影部一
    致点扱いとされる印影部不一致点と印影部一致点
    扱いとされない印影部不一致点とを、異なる表示
    で表示することを特徴とする印影照合方式。 2 前記重ねパタンの表示は、 印影部一致点及び印影部一致点扱いとされる印
    影部不一致点を同じ表示で表示し、 印影部一致点及び印影部一致点扱いとされる印
    影部不一致点と、登録印影パタンの印影部一致点
    扱いとされない印影部不一致点と、被照合印影パ
    タンの印影部一致点扱いとされない印影部不一致
    点とをそれぞれ異なる表示で表示することを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の印影照合方
    式。 3 前記重ねパタンの表示は、 印影部一致点と、印影部一致点扱いとされる印
    影部不一致点と、登録印影パタンの印影部一致点
    扱いとされない印影部不一致点と、被照合印影パ
    タンの印影部一致点扱いとされない印影部不一致
    点とをそれぞれ異なる表示で表示することを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の印影照合方
    式。 4 前記重ねパタンの表示は、 印影部一致点及び印影部一致点扱いとされる印
    影部不一致点を同じ表示で表示し、 印影部一致点及び印影部一致点扱いとされる印
    影部不一致点と、印影部一致点扱いとされない印
    影部不一致点とをそれぞれ異なる表示で表示する
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の印
    影照合方式。
JP23425285A 1985-10-19 1985-10-19 印影照合方式 Granted JPS6293771A (ja)

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JPS6293771A JPS6293771A (ja) 1987-04-30
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