JPS6293771A - 印影照合方式 - Google Patents
印影照合方式Info
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- JPS6293771A JPS6293771A JP23425285A JP23425285A JPS6293771A JP S6293771 A JPS6293771 A JP S6293771A JP 23425285 A JP23425285 A JP 23425285A JP 23425285 A JP23425285 A JP 23425285A JP S6293771 A JPS6293771 A JP S6293771A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
この発明は、印影照合方式に関する。
（従来の技術）
従来より採用されている印影照合方式としては特公昭６
０−２４５０８に開示されたものがある。この従来方式
では、被照合印影を読取った被照合印影パタンと予め登
録されている登録印影パタンとを最も良く−・致するよ
うに重ね合せて重ねパタン奢作成し、比較両印影の目視
照合を行う。重ねパタンは、比較両印影パタンの一致部
と被照合印影パタンの不一致部と登録印影パタンの不一
致部とがそれぞれ異なる色で区分されており、この色分
は表示された重ねパタンから印影の照合判定を行ってい
た。
０−２４５０８に開示されたものがある。この従来方式
では、被照合印影を読取った被照合印影パタンと予め登
録されている登録印影パタンとを最も良く−・致するよ
うに重ね合せて重ねパタン奢作成し、比較両印影の目視
照合を行う。重ねパタンは、比較両印影パタンの一致部
と被照合印影パタンの不一致部と登録印影パタンの不一
致部とがそれぞれ異なる色で区分されており、この色分
は表示された重ねパタンから印影の照合判定を行ってい
た。
（発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述した従来の印影照合方式では、目視
照合用の表示パタンとしていかなる場合にも一律に重ね
パタンの表示が行われるため、比較両印影の一致又は不
一致の判定がしずらいという問題点があった。例えば朱
肉の付き方によって印影が太まったり或は則まったすし
た場合その他の場合に比較両印影の微妙な相違の判別が
しずらくなり、印鑑の照合判定がしずらかった。
照合用の表示パタンとしていかなる場合にも一律に重ね
パタンの表示が行われるため、比較両印影の一致又は不
一致の判定がしずらいという問題点があった。例えば朱
肉の付き方によって印影が太まったり或は則まったすし
た場合その他の場合に比較両印影の微妙な相違の判別が
しずらくなり、印鑑の照合判定がしずらかった。
この点につき第４図、第５図（Ａ）〜（Ｃ）及び第６図
（Ａ）〜ＣＣ）を参照して説明する。
（Ａ）〜ＣＣ）を参照して説明する。
今ここで、第４図と、第５図（Ａ）〜（Ｃ）とは相異な
る印鑑から得た印影パタンの例である。また、第５図（
Ｂ）及び（Ｃ）は第５図（Ａ）と同一の印鑑から得られ
た印影であるにもかかわらず、朱肉の付き万が異なるた
めに印影の太さが異なっている印影パタンの例である。
る印鑑から得た印影パタンの例である。また、第５図（
Ｂ）及び（Ｃ）は第５図（Ａ）と同一の印鑑から得られ
た印影であるにもかかわらず、朱肉の付き万が異なるた
めに印影の太さが異なっている印影パタンの例である。
ここでは説明の簡略化のだめに、■４図を０録印影バタ
ノ１１、第５１ａ（Ｂ）の印影パタン１３及び第５図（
Ｃ）の印影バタ〉・１５はそれぞれ７ｆＳ５図（Ａ）の
印影パタン１７より１メツシユ（画素）及び２メンシユ
（画素）太い印影パタンであるとし、理想的な場合につ
いて従来方式の表示例につき説明を行う。
ノ１１、第５１ａ（Ｂ）の印影パタン１３及び第５図（
Ｃ）の印影バタ〉・１５はそれぞれ７ｆＳ５図（Ａ）の
印影パタン１７より１メツシユ（画素）及び２メンシユ
（画素）太い印影パタンであるとし、理想的な場合につ
いて従来方式の表示例につき説明を行う。
第６図（Ａ） 、ＣＢ） 、（Ｇ）は、登録印影パタン
１１と被照合印影パタン１７，１３．１５とからそれぞ
れ得た従来の表示による毛ねパタン１９，２１．２３を
示す。
１１と被照合印影パタン１７，１３．１５とからそれぞ
れ得た従来の表示による毛ねパタン１９，２１．２３を
示す。
第６図（Ａ）の場合は、登録印影パタン１１と被照合印
影パタン１７との一致部分（クロスしたハツチングで示
した部分）２５ａ と、印鑑の違いによる特徴的相違点
だけで構成された不一致部分（−・方向のハツチングで
示した部分）２７ａとか表示されるだけである。従って
、このような場合は特徴的相違点２７ａを−・見して判
別出来る。
影パタン１７との一致部分（クロスしたハツチングで示
した部分）２５ａ と、印鑑の違いによる特徴的相違点
だけで構成された不一致部分（−・方向のハツチングで
示した部分）２７ａとか表示されるだけである。従って
、このような場合は特徴的相違点２７ａを−・見して判
別出来る。
しかし、第６図（Ｂ）の場合には、登録印影パタン１１
と被照合印影パタン１３との−・敷部分２５ｂと、印鑑
の違いによる特徴的相違点である不一致部分及び特徴的
相違点ではない不一致部分で構成された不一致部分２７
ｂが表示される。従って、−見して特徴的相違点のみを
判別することが容易に出来ない。
と被照合印影パタン１３との−・敷部分２５ｂと、印鑑
の違いによる特徴的相違点である不一致部分及び特徴的
相違点ではない不一致部分で構成された不一致部分２７
ｂが表示される。従って、−見して特徴的相違点のみを
判別することが容易に出来ない。
また、第６図（Ｃ）も第６図（Ｂ）と同様に、登録印影
パタン１１と被照合印影パタン１５との一致部分２５ｃ
と、印鑑の違いによる特徴的相違点である不一致部分及
び特徴的相違点ではない不一致部分で構成された不一致
部分２７ｃとで表示が行われているため一見して特徴重
相ａ点のみを判別することは出来ない。
パタン１１と被照合印影パタン１５との一致部分２５ｃ
と、印鑑の違いによる特徴的相違点である不一致部分及
び特徴的相違点ではない不一致部分で構成された不一致
部分２７ｃとで表示が行われているため一見して特徴重
相ａ点のみを判別することは出来ない。
この発明の目的は、Ｌ述した従来の問題点を解決し比鮫
両印影の一致或は不一致の判定がしやすい印影照合方式
を提供することにある。
両印影の一致或は不一致の判定がしやすい印影照合方式
を提供することにある。
（問題点を解決するための１段）
この目的の達成を図るため、この発明によれば被照合印
影を読み取る読取部と、読取部により読み取られた被照
合印影パタンを予め登録されている登録印影パタンと位
置整合を行って整合パタンを作成する位置整合部と、整
合パタンと登録印影パタンとを照合比較して一致度を判
定する一致度判定部と、整合パタンと登録印影パタンと
の一致点近傍の不一致点を一致点扱いして太めパタンを
作成する太めパタン作成部と、前記整合パタンと登録印
影パタンとの重ねパタンを表示する表示部とを備えた印
影照合方式において、太めパタン作成部は一致点扱いと
する不一致点の範囲を一致度に応じて変えて太めパタン
を作成するように構成したことを特徴とする。
影を読み取る読取部と、読取部により読み取られた被照
合印影パタンを予め登録されている登録印影パタンと位
置整合を行って整合パタンを作成する位置整合部と、整
合パタンと登録印影パタンとを照合比較して一致度を判
定する一致度判定部と、整合パタンと登録印影パタンと
の一致点近傍の不一致点を一致点扱いして太めパタンを
作成する太めパタン作成部と、前記整合パタンと登録印
影パタンとの重ねパタンを表示する表示部とを備えた印
影照合方式において、太めパタン作成部は一致点扱いと
する不一致点の範囲を一致度に応じて変えて太めパタン
を作成するように構成したことを特徴とする。
この発明の実施に当り、重ねパタンの表弘は、＝−数点
及び−・数点扱いとする不−・数点と、登録（１）影パ
タン領域内の・数点扱いとされない不一致点と、被照合
印影パタン領域内の一致点扱いとされない不−・数点と
を色分は表示するのが好適である。
及び−・数点扱いとする不−・数点と、登録（１）影パ
タン領域内の・数点扱いとされない不一致点と、被照合
印影パタン領域内の一致点扱いとされない不−・数点と
を色分は表示するのが好適である。
さらにこの発明の実施に当り、−数点及び一致点扱いと
する不−・数点を色分は表示するのが好適である。
する不−・数点を色分は表示するのが好適である。
（作用）
このような構成によれば、同一・の印鑑の照合であるに
も拘らず朱肉の付き方の相違その他の理由により、比較
用印影の実質的な相違によらない不−・故点が比較用印
影の一致点の近傍で増減するような場合の、不一致点を
−・故点扱いとする。従って、このような不一致点を−
・故点扱いして表示することにより比較用印影の微妙な
相違を判別することか容易に出来る。
も拘らず朱肉の付き方の相違その他の理由により、比較
用印影の実質的な相違によらない不−・故点が比較用印
影の一致点の近傍で増減するような場合の、不一致点を
−・故点扱いとする。従って、このような不一致点を−
・故点扱いして表示することにより比較用印影の微妙な
相違を判別することか容易に出来る。
（実施例）
以ド、図面を参照してこの発明の−・実施例につき説明
する。尚１図はこの発明が理解出来る程度に概略的に示
しであるにすぎず、又、この発明は図示例に限定される
ものではない。
する。尚１図はこの発明が理解出来る程度に概略的に示
しであるにすぎず、又、この発明は図示例に限定される
ものではない。
第１図はこの発明の一実施例を説明するためのブロフク
図である。第１図において２９は読取部であり、この読
取部２９で被照合印影から被照合印影パタンか読み取ら
れ第一 メモリ３１に記憶される。
図である。第１図において２９は読取部であり、この読
取部２９で被照合印影から被照合印影パタンか読み取ら
れ第一 メモリ３１に記憶される。
位１δ整合部３３では第一・メモリ３１から読み取った
被照合印影パタンを移動及び回転させて登録印影パタン
と位置整合する整合パタンを得て、これを第二メモリ４
に記憶する。この整合パタンは登録印影パタンを被照合
印影パタンに位置整合するようにして得ることも出来る
。−・成度判足部３７においては第二メモリ３９に予め
登録されていた登録印影パタンと第一メモリ３５に記憶
された整合パタンとをａｙび出して両パタンの一致度を
求める。この−数置は、特公昭６０−２４５０８に示す
ように、２イ直化処理されている登録印影パタン及び２
偵化処理゛されている整合パタンの相対応する画素点の
マツチングをとってこれらパタンの一致素点数及び不一
致素点数から求められる。次に、心変にｆｊｓ ｌ；て
・成度判足部３７での判定結果を位Ｉ首整合部３３にフ
イードノヘツクする。そして再び位石整合部３３にて一
致度が向丘する方向に整合パタンを移動及び回転させ、
一致度判足部３７にて一致度を調べる。
被照合印影パタンを移動及び回転させて登録印影パタン
と位置整合する整合パタンを得て、これを第二メモリ４
に記憶する。この整合パタンは登録印影パタンを被照合
印影パタンに位置整合するようにして得ることも出来る
。−・成度判足部３７においては第二メモリ３９に予め
登録されていた登録印影パタンと第一メモリ３５に記憶
された整合パタンとをａｙび出して両パタンの一致度を
求める。この−数置は、特公昭６０−２４５０８に示す
ように、２イ直化処理されている登録印影パタン及び２
偵化処理゛されている整合パタンの相対応する画素点の
マツチングをとってこれらパタンの一致素点数及び不一
致素点数から求められる。次に、心変にｆｊｓ ｌ；て
・成度判足部３７での判定結果を位Ｉ首整合部３３にフ
イードノヘツクする。そして再び位石整合部３３にて一
致度が向丘する方向に整合パタンを移動及び回転させ、
一致度判足部３７にて一致度を調べる。
このような工程を繰り返して一致度の最大値を得る。
一致度の最大値が得られると、太めパタン作成部４１に
おいて、この−数置の最大値に対１５シた比較両印影パ
タンの一致点近傍の不一致点を一致点扱いとする範囲（
太め範囲）を得る。太め範囲は１例えば次のようにして
実験的に印影のサンプル金とって決める。印影か登録さ
れた印鑑Ａ及び登録印影に類似の印影を有する印鑑Ｂを
用意する。ここで、登録印影を印影ａ１印影が登録され
た印鑑Ａを押捺して得た被照合印影を印影ａ 及び印鑑
Ｂを押捺して得た被照合印影を印影すとする。印鑑Ａ、
Ｂを多数回押捺して得た印；杉ａ 。
おいて、この−数置の最大値に対１５シた比較両印影パ
タンの一致点近傍の不一致点を一致点扱いとする範囲（
太め範囲）を得る。太め範囲は１例えば次のようにして
実験的に印影のサンプル金とって決める。印影か登録さ
れた印鑑Ａ及び登録印影に類似の印影を有する印鑑Ｂを
用意する。ここで、登録印影を印影ａ１印影が登録され
た印鑑Ａを押捺して得た被照合印影を印影ａ 及び印鑑
Ｂを押捺して得た被照合印影を印影すとする。印鑑Ａ、
Ｂを多数回押捺して得た印；杉ａ 。
ｂをいくつも用意し、これら印影ａ 、ｂと登録印影ａ
との比較照合を行ってそれぞれについての・数置を求め
る。そして、−数置の最大値と、−・故点として扱われ
るべき不一致点の範囲すなわち太め範囲との対応関係を
実験的にイ！）で−数置の最大値に応した太め範囲が定
まる。
との比較照合を行ってそれぞれについての・数置を求め
る。そして、−数置の最大値と、−・故点として扱われ
るべき不一致点の範囲すなわち太め範囲との対応関係を
実験的にイ！）で−数置の最大値に応した太め範囲が定
まる。
太め範囲については特願昭５９−１８２８２４に提案さ
れているが、この発明では比較用印影の一致度の最大値
に応して太め範囲を変え、太め範囲内にあって−・故点
扱いとされる不一致点（太め−・故点）を得、このよう
な太め一致点のみを太めパタンとする。この太めパタン
を第四メモリ４３に記憶する。
れているが、この発明では比較用印影の一致度の最大値
に応して太め範囲を変え、太め範囲内にあって−・故点
扱いとされる不一致点（太め−・故点）を得、このよう
な太め一致点のみを太めパタンとする。この太めパタン
を第四メモリ４３に記憶する。
表示部４５は、それぞれ２値化処理されている登録印影
パタン、整合パタン及び大めパタンの論理演算を行い論
理＠算の結果が１となる点に各々異なる色を割り当て表
示する。論理演算は次の論理式に従って行なう。
パタン、整合パタン及び大めパタンの論理演算を行い論
理＠算の結果が１となる点に各々異なる色を割り当て表
示する。論理演算は次の論理式に従って行なう。
ＴＰＸＳＰ＋ＦＰ （ｏｐｌの色）ＴＰＸ
（ＴＰＸＳＰ＋ＦＰ）（第２ｃ７）色）ＳＦＸ （ＴＰ
ＸＳＰ＋ＦＰ）（ｉ３の色）ここで×は論理積、＋は論
理和、 は否定、ＴＰは登録印影パタン、ＳＰは整
合パタン、ＦＰは太めパタンである。これらパタンの背
景部をＯ１１印影を１として表示を行う。
（ＴＰＸＳＰ＋ＦＰ）（第２ｃ７）色）ＳＦＸ （ＴＰ
ＸＳＰ＋ＦＰ）（ｉ３の色）ここで×は論理積、＋は論
理和、 は否定、ＴＰは登録印影パタン、ＳＰは整
合パタン、ＦＰは太めパタンである。これらパタンの背
景部をＯ１１印影を１として表示を行う。
帛２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）は、この実施例の重ねパ
タンの表示例である。第４図の登録印影パタン目と詔５
図（Ａ） 、（Ｂ） 、（Ｃ）の被照合印影パタンン１
７，１３゜１５とを一成度判足部３７においてそれぞれ
照合比較して各被照合印影パタンに対応した−・数置の
最大値ｘ、ｙ、ｚをそれぞれ得たとする。そして第５図
（Ａ） 、（Ｂ） 、（ｉｌｌ：）の８被照合印影パタ
ン１７，１３．１５の太め範囲が決まる。
タンの表示例である。第４図の登録印影パタン目と詔５
図（Ａ） 、（Ｂ） 、（Ｃ）の被照合印影パタンン１
７，１３゜１５とを一成度判足部３７においてそれぞれ
照合比較して各被照合印影パタンに対応した−・数置の
最大値ｘ、ｙ、ｚをそれぞれ得たとする。そして第５図
（Ａ） 、（Ｂ） 、（ｉｌｌ：）の８被照合印影パタ
ン１７，１３．１５の太め範囲が決まる。
この例では一致度の最大値Ｘ％７．Ｚは、被照合印形パ
タンのそれぞれの太め範囲が０メツシユ、■メンシュ、
２メツシユとなる一致度の範囲の値であるとする。この
場合の、第２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示す登録印影
パタン及び整合パタンを重ね合せて表示部４５で得た２
重ねパタン４６ａ、４６ｂ、４８ｃをそれぞれ第２図（
Ａ） 、 ＣＢ） 、 ＣＣ）に示す。
タンのそれぞれの太め範囲が０メツシユ、■メンシュ、
２メツシユとなる一致度の範囲の値であるとする。この
場合の、第２図（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ）に示す登録印影
パタン及び整合パタンを重ね合せて表示部４５で得た２
重ねパタン４６ａ、４６ｂ、４８ｃをそれぞれ第２図（
Ａ） 、 ＣＢ） 、 ＣＣ）に示す。
第２図（Ａ） 、（Ｂ） 、（Ｃ）にそれぞれ示すよう
に、比較間印影の相違の著しい不−・致部分（特徴的相
違部分であり、図中、一方向のハンチングで示した部分
） ４７ａ、４７ｂ、４７ｃ （７）みが、異なる色（
第三の色）で表示される。また、特徴的相違部分ではな
い太めパタン及び比較間印影パタンの一致点とで構成さ
れたー・致部分（クロスしたハツチングで示した部分）
４９ａ、４９ｂ、４９ｃが第一の色で表示される。従
ってこの場合、第三の色で表示された不一致部分を見て
印鑑の違いによる特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認
することが出来る。
に、比較間印影の相違の著しい不−・致部分（特徴的相
違部分であり、図中、一方向のハンチングで示した部分
） ４７ａ、４７ｂ、４７ｃ （７）みが、異なる色（
第三の色）で表示される。また、特徴的相違部分ではな
い太めパタン及び比較間印影パタンの一致点とで構成さ
れたー・致部分（クロスしたハツチングで示した部分）
４９ａ、４９ｂ、４９ｃが第一の色で表示される。従
ってこの場合、第三の色で表示された不一致部分を見て
印鑑の違いによる特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認
することが出来る。
また、第５図（Ａ）を登録印影パタン及び、第５図（Ｂ
）及び（Ｃ）を被照合印影パタンとし、しかも太め範囲
が比較間印影の一致度の最大値からそれぞれ１メンシユ
、２メンシユとなる場合であるとする。このような場合
、第３図（＾）及び（Ｂ）に図示されるような重ねパタ
ン５１．５３の表示を得る。
）及び（Ｃ）を被照合印影パタンとし、しかも太め範囲
が比較間印影の一致度の最大値からそれぞれ１メンシユ
、２メンシユとなる場合であるとする。このような場合
、第３図（＾）及び（Ｂ）に図示されるような重ねパタ
ン５１．５３の表示を得る。
この表示例では、印鑑の違いによらない不−・致部分す
なわち朱肉の付さ方の相違その他により生じた不・致部
分は表示されず、太めパタン及び比較間印影パタンの・
故点とで構成された−・致部分（クロスしたハツチング
で示した部分） ５５ａ、５５ｂが第一の色で表示され
るだけである。
なわち朱肉の付さ方の相違その他により生じた不・致部
分は表示されず、太めパタン及び比較間印影パタンの・
故点とで構成された−・致部分（クロスしたハツチング
で示した部分） ５５ａ、５５ｂが第一の色で表示され
るだけである。
以ヒ、理想的な場合につき説明してきたがこの発明によ
ればこの実施例のように、比較間印影の不一致部分のう
ち特徴的相違部分ではない部分が表示されることが少な
くなり、印鑑の相違による特徴的不一致部分が強調され
て表示される。従って、比較間印影の特徴的相違点を一
目瞭然のうちに確認出来る。
ればこの実施例のように、比較間印影の不一致部分のう
ち特徴的相違部分ではない部分が表示されることが少な
くなり、印鑑の相違による特徴的不一致部分が強調され
て表示される。従って、比較間印影の特徴的相違点を一
目瞭然のうちに確認出来る。
この実施例では比較間印影パタンの一致部と太め一致部
（−故点扱いとする不−・致部分）を同色表示（論理式
ＴＰＸＳＰ＋ＦＰ）したが、−敷部（論理式ＴＰＸＳＰ
）と太め−・敷部（論理式ＦＰ）とを異なる色で表示す
ることにしてもこの実施例と同様な効果を得ることが出
来る。
（−故点扱いとする不−・致部分）を同色表示（論理式
ＴＰＸＳＰ＋ＦＰ）したが、−敷部（論理式ＴＰＸＳＰ
）と太め−・敷部（論理式ＦＰ）とを異なる色で表示す
ることにしてもこの実施例と同様な効果を得ることが出
来る。
また、この実施例では色分は表示したがモノクロームデ
ィスプレイを表示部で用いて一致点扱いされない不−・
故点（太め一致点ではない不一致点〕と、その他の一致
点その他の部分とを異なる輝度で表示したり、或は−故
点扱いされない不一致点のみ点滅表示してもこの実施例
と同様な効果を得ることが出来る。この場合の表示は通
常の技術により容易に達成できる。
ィスプレイを表示部で用いて一致点扱いされない不−・
故点（太め一致点ではない不一致点〕と、その他の一致
点その他の部分とを異なる輝度で表示したり、或は−故
点扱いされない不一致点のみ点滅表示してもこの実施例
と同様な効果を得ることが出来る。この場合の表示は通
常の技術により容易に達成できる。
（発明の効果）
Ｅ述した説明から明らかなように、この発明の印影照合
方式によれば、同一・の印鑑の照合であるにも拘らず朱
肉の付き方の相違その他の理由により、比較間印影の実
質的な相違によらない不一致点が比較間印影の一致、貞
の近傍で増減するような場合の、不一致点（太め一致点
）を−故点扱いとする。そして、比較間印影の不一致点
は印鑑の相違による特徴的不一致点とそうでない不一致
点（太め不一致点〕とで異なる色の色表示が行われる。
方式によれば、同一・の印鑑の照合であるにも拘らず朱
肉の付き方の相違その他の理由により、比較間印影の実
質的な相違によらない不一致点が比較間印影の一致、貞
の近傍で増減するような場合の、不一致点（太め一致点
）を−故点扱いとする。そして、比較間印影の不一致点
は印鑑の相違による特徴的不一致点とそうでない不一致
点（太め不一致点〕とで異なる色の色表示が行われる。
従って、比較間印影の不一致点のうち比較間印影の微妙
な特徴的相違部分を判別することが容易に出来る。また
、この発明によれば、印鑑の相違によらない比較間印影
の不−・致部分を表示することが少なくなり、印鑑の相
違による特徴的不一致部分を強調して表示する。従って
、比較間印影の特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認出
来る。
な特徴的相違部分を判別することが容易に出来る。また
、この発明によれば、印鑑の相違によらない比較間印影
の不−・致部分を表示することが少なくなり、印鑑の相
違による特徴的不一致部分を強調して表示する。従って
、比較間印影の特徴的相違点を一目瞭然のうちに確認出
来る。
この結果、印鑑照合の際に目視によって比較間印影の真
偽判定が容易に行える。
偽判定が容易に行える。
第１図はこの発明による印影照合方式の−・実施例を説
明するためのブロック図、 小２図（Ａ）〜（Ｃ）及び第３図（Ａ）及びＣＢ）は、
実施例の表示例の説明に供する線図、 ７５４図及び第５図（Ａ）〜（Ｃ）は実施例及び従来例
の表示例の説明に供する印影パタン例を示す線図、 第６図（Ａ）〜（Ｃ）は、従来例の表示例を小す線図で
ある。 ２８・・・読取部 ３１・・・（被照合印影パタン用の）第一メモリ３３・
・・位置整合部 ３５・・・（整合パタン用の） 第一１メモリ３７・・
・一致度゛利足部 ３９・・・（登録印影パタン用の）第三メモリ４１・・
・大めパタン作成部 ４３・・・（大めパタン用の）第四メモリ４５・・・表
示部。 特許出願人 沖電気り業株式会社 手続補正書 昭和６１年１０月１４日
明するためのブロック図、 小２図（Ａ）〜（Ｃ）及び第３図（Ａ）及びＣＢ）は、
実施例の表示例の説明に供する線図、 ７５４図及び第５図（Ａ）〜（Ｃ）は実施例及び従来例
の表示例の説明に供する印影パタン例を示す線図、 第６図（Ａ）〜（Ｃ）は、従来例の表示例を小す線図で
ある。 ２８・・・読取部 ３１・・・（被照合印影パタン用の）第一メモリ３３・
・・位置整合部 ３５・・・（整合パタン用の） 第一１メモリ３７・・
・一致度゛利足部 ３９・・・（登録印影パタン用の）第三メモリ４１・・
・大めパタン作成部 ４３・・・（大めパタン用の）第四メモリ４５・・・表
示部。 特許出願人 沖電気り業株式会社 手続補正書 昭和６１年１０月１４日
Claims (3)
- （１）被照合印影を読み取る読取部と、該読取部により
読み取られた被照合印影パタンを予め登録されている登
録印影パタンと位置整合を行って整合パタンを作成する
位置整合部と、該整合パタンと登録印影パタンとを照合
比較して一致度を判定する一致度判定部と、該整合パタ
ンと登録印影パタンとの一致点近傍の不一致点を一致点
扱いして太めパタンを作成する太めパタン作成部と、前
記整合パタンと登録印影パタンとの重ねパタンを表示す
る表示部とを備えた印影照合方式において、前記太めパ
タン作成部は前記一致点扱いとする不一致点の範囲を前
記一致度に応じて変えて太めパタンを作成するように構
成したことを特徴とする印影照合方式。 - （２）前記重ねパタンの表示は、 一致点及び一致点扱いとする不一致点と、 登録印影パタン領域内の一致点扱いとされない不一致点
と、 被照合印影パタン領域内の一致点扱いとされない不一致
点と を色分け表示することを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の印影照合方式。 - （３）一致点及び一致点扱いとする不一致点を色分け表
示することを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の印
影照合方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23425285A JPS6293771A (ja) | 1985-10-19 | 1985-10-19 | 印影照合方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23425285A JPS6293771A (ja) | 1985-10-19 | 1985-10-19 | 印影照合方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6293771A true JPS6293771A (ja) | 1987-04-30 |
| JPH0518151B2 JPH0518151B2 (ja) | 1993-03-11 |
Family
ID=16968055
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23425285A Granted JPS6293771A (ja) | 1985-10-19 | 1985-10-19 | 印影照合方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6293771A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014028275A (ja) * | 2013-09-09 | 2014-02-13 | Hitachi Omron Terminal Solutions Corp | 生体認証システム、コンピュータ及びプログラム |
-
1985
- 1985-10-19 JP JP23425285A patent/JPS6293771A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014028275A (ja) * | 2013-09-09 | 2014-02-13 | Hitachi Omron Terminal Solutions Corp | 生体認証システム、コンピュータ及びプログラム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0518151B2 (ja) | 1993-03-11 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |