JPH05172530A - 可撓線状物体の検査方法 - Google Patents
可撓線状物体の検査方法Info
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- JPH05172530A JPH05172530A JP3342456A JP34245691A JPH05172530A JP H05172530 A JPH05172530 A JP H05172530A JP 3342456 A JP3342456 A JP 3342456A JP 34245691 A JP34245691 A JP 34245691A JP H05172530 A JPH05172530 A JP H05172530A
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- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
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- G06T7/0004—Industrial image inspection
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- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
〔目的〕 可撓線状物体の寸法検査を非接触で、かつ容
易に実行し得る、検査方法を提供することを目的とす
る。 〔構成〕 可撓線状物体のデジタル画像を取り込み、こ
の画像を２値化して可撓線状物体を抽出し、抽出された
可撓線状物体の画像を細線化し、細線化後の各可撓線状
物体の画像をラベリングし、ラベリングされた各画像の
面積を算出し、算出された面積の値が所定範囲内である
か否かを判定し、所定範囲内の画像については、対応す
る可撓線状物体を合格と判定することを特徴とする。
易に実行し得る、検査方法を提供することを目的とす
る。 〔構成〕 可撓線状物体のデジタル画像を取り込み、こ
の画像を２値化して可撓線状物体を抽出し、抽出された
可撓線状物体の画像を細線化し、細線化後の各可撓線状
物体の画像をラベリングし、ラベリングされた各画像の
面積を算出し、算出された面積の値が所定範囲内である
か否かを判定し、所定範囲内の画像については、対応す
る可撓線状物体を合格と判定することを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は電線等の可撓線状物体
の検査方法に係り、特に極細の電線等の長さ検査に有効
な検査方法に関する。
の検査方法に係り、特に極細の電線等の長さ検査に有効
な検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年電子機器のコンパクト化、高密度化
にともない、その配線に使用される電線は小径化し、直
径０．５ｍｍ以下の極細の電線も使用されている。この
ような電線を所定長さに切断した部品を生産する際、部
品が微細であるとともに不規則に屈曲しているため、寸
法検査の自動化が極めて困難であり、人間による目視検
査が不可欠である。すなわち、屈曲状態の微小物体をス
ケールに沿って伸長させる作業の機械化は容易でなく、
また、線状物体に荷重を加えることなく、すなわち歪み
を生じさせることなく、線状物体を伸長させることは困
難である。しかし我が国産業構造の変化によって、３Ｋ
と呼ばれるこの種の検査作業のための人員を確保するこ
とは容易でなく、特に人手不足が深刻な中小企業では人
員の確保は不可能に近い。また長年このような検査作業
に従事してきた従業者は高齢化が進んでおり、微細な部
品の検査は困難になってきている。
にともない、その配線に使用される電線は小径化し、直
径０．５ｍｍ以下の極細の電線も使用されている。この
ような電線を所定長さに切断した部品を生産する際、部
品が微細であるとともに不規則に屈曲しているため、寸
法検査の自動化が極めて困難であり、人間による目視検
査が不可欠である。すなわち、屈曲状態の微小物体をス
ケールに沿って伸長させる作業の機械化は容易でなく、
また、線状物体に荷重を加えることなく、すなわち歪み
を生じさせることなく、線状物体を伸長させることは困
難である。しかし我が国産業構造の変化によって、３Ｋ
と呼ばれるこの種の検査作業のための人員を確保するこ
とは容易でなく、特に人手不足が深刻な中小企業では人
員の確保は不可能に近い。また長年このような検査作業
に従事してきた従業者は高齢化が進んでおり、微細な部
品の検査は困難になってきている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この発明はこのような
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、可撓線状
物体の寸法検査を非接触で、かつ容易に実行し得る、検
査方法を提供することを目的とする。
従来の問題点を解消すべく創案されたもので、可撓線状
物体の寸法検査を非接触で、かつ容易に実行し得る、検
査方法を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決する手段】この発明に係る検査方法は、物
体の画像を細線化し、細線化図形の面積を算出し、可撓
線状物体をその屈曲状態のままで寸法測定するものであ
る。
体の画像を細線化し、細線化図形の面積を算出し、可撓
線状物体をその屈曲状態のままで寸法測定するものであ
る。
【０００５】
【作用】この発明に係る検査方法によれば、可撓線状物
体を伸長させる必要はなく、従って物体に歪みを生じさ
せない。また画像処理により寸法測定を行うので、検査
の機械化が容易である。
体を伸長させる必要はなく、従って物体に歪みを生じさ
せない。また画像処理により寸法測定を行うので、検査
の機械化が容易である。
【０００６】
【実施例】次にこの発明に係る検査方法の１実施例を図
面に基づいて説明する。図１は本発明を実施するフロー
チャートである。まず、ステップ１−１からステップ１
−１０までを説明する。ここは、検査前の段階であり、
良品の可撓線状物体の面積の上限と下限を登録するもの
である。なお、平均的寸法の良品の画像を入力し、これ
に対する公差を設定することによっても、上限、下限の
設置を行い得る。
面に基づいて説明する。図１は本発明を実施するフロー
チャートである。まず、ステップ１−１からステップ１
−１０までを説明する。ここは、検査前の段階であり、
良品の可撓線状物体の面積の上限と下限を登録するもの
である。なお、平均的寸法の良品の画像を入力し、これ
に対する公差を設定することによっても、上限、下限の
設置を行い得る。
【０００７】まず、ステップ１−１で、上限の面積を有
する可撓線状物体の画像を入力し、ステップ１−２で最
適２値化を行ない、ステップ１−３で細線化を行う。次
に、ステップ１−４で細線化された図形の面積を求め、
ステップ１−５で当該面積を登録する。次に、下限の面
積を有する可撓線状物体の画像を入力し（ステップ１−
６）、上記のステップ１−２からステップ１−５に対応
する同様の処理をステップ１−７からステップ１−１０
で行う。これにより、検査前の処理が終了する。
する可撓線状物体の画像を入力し、ステップ１−２で最
適２値化を行ない、ステップ１−３で細線化を行う。次
に、ステップ１−４で細線化された図形の面積を求め、
ステップ１−５で当該面積を登録する。次に、下限の面
積を有する可撓線状物体の画像を入力し（ステップ１−
６）、上記のステップ１−２からステップ１−５に対応
する同様の処理をステップ１−７からステップ１−１０
で行う。これにより、検査前の処理が終了する。
【０００８】次に、ステップ１−１１で、検査開始メッ
セージが、例えばディスプレイ上に表示されされる。ス
テップ１−１２で、複数の被検査可撓線状物体の画像を
入力し、ステップ１−１３で最適２値化をおこなう。次
に、ステップ１−１４で細線化を行う（図２）。ここに
いう細線化とは、図形のトポロジを変化させることなく
図形の周縁から画素を一つづつ取り除くことにより、当
該図形を１画素幅の線図形にすることをいい、図形の連
結性が保たれる。従って、例えば２個の可撓線状物体が
重なっている場合は、当該画像に細線化を施すと図２の
図形ケのようになる。さらに、細線化によって縮退が生
じ、線状物体の画像は短くなるが、線状物体であれば細
線化の処理回数がわずかであり、その寸法誤差は無視し
得る場合が多い。
セージが、例えばディスプレイ上に表示されされる。ス
テップ１−１２で、複数の被検査可撓線状物体の画像を
入力し、ステップ１−１３で最適２値化をおこなう。次
に、ステップ１−１４で細線化を行う（図２）。ここに
いう細線化とは、図形のトポロジを変化させることなく
図形の周縁から画素を一つづつ取り除くことにより、当
該図形を１画素幅の線図形にすることをいい、図形の連
結性が保たれる。従って、例えば２個の可撓線状物体が
重なっている場合は、当該画像に細線化を施すと図２の
図形ケのようになる。さらに、細線化によって縮退が生
じ、線状物体の画像は短くなるが、線状物体であれば細
線化の処理回数がわずかであり、その寸法誤差は無視し
得る場合が多い。
【０００９】次に、ステップ１−１５でラベリングを行
なう。ここにいうラベリングとは、連結性のある図形を
各々異なる輝度値で表わすものである。つまり、図形ア
を輝度値１０、図形イを輝度値２０、図形ウを輝度値３
０というように、図形アからコを、各々異なる輝度値で
表示し、グループ分けを行うものである。図形ケのよう
に、本来２個の異なる可撓線状物体から構成された図形
であっても、連結性がある限り、１つの図形と判断さ
れ、１つの輝度値でラベリングされることになる。
なう。ここにいうラベリングとは、連結性のある図形を
各々異なる輝度値で表わすものである。つまり、図形ア
を輝度値１０、図形イを輝度値２０、図形ウを輝度値３
０というように、図形アからコを、各々異なる輝度値で
表示し、グループ分けを行うものである。図形ケのよう
に、本来２個の異なる可撓線状物体から構成された図形
であっても、連結性がある限り、１つの図形と判断さ
れ、１つの輝度値でラベリングされることになる。
【００１０】このラベリング処理の後、ステップ１−１
６で画像中に分岐点が存在するか否かを判断する。分岐
点の有無は、連結数（Ｎc）を調べることで判断可能で
ある。その式を以下に示す。 ４連結の場合： ８連結の場合： 図５は、連結数４の分岐を示し、図６は連結数３の分岐
を示す。
６で画像中に分岐点が存在するか否かを判断する。分岐
点の有無は、連結数（Ｎc）を調べることで判断可能で
ある。その式を以下に示す。 ４連結の場合： ８連結の場合： 図５は、連結数４の分岐を示し、図６は連結数３の分岐
を示す。
【００１１】分岐点が存在する場合は、ラベリングした
輝度値に基づき、どの図形かを特定し（図３の図形
ケ）、当該図形を不良品として登録する（ステップ１−
２２）。
輝度値に基づき、どの図形かを特定し（図３の図形
ケ）、当該図形を不良品として登録する（ステップ１−
２２）。
【００１２】ステップ１−１６で不良品と登録された図
形以外の図形と、ステップ１−１６で分岐点が存在しな
い場合は全図形について面積を求める（ステップ１−１
７）。 面積は、当該画像のヒストグラムを求めること
により得られる。つまり、各々ラベリングされた図形の
画素数を数えることは、細線化図形においては面積を求
めることと同じだからである。
形以外の図形と、ステップ１−１６で分岐点が存在しな
い場合は全図形について面積を求める（ステップ１−１
７）。 面積は、当該画像のヒストグラムを求めること
により得られる。つまり、各々ラベリングされた図形の
画素数を数えることは、細線化図形においては面積を求
めることと同じだからである。
【００１３】更に、本来、被検査物が電線のように極細
である場合、当該物の原画像のトポロジを保持したまま
の細線化図形は、当該物の寸法に関し極めて有効なデー
タを保持している。従って、ここで画素数を数えること
により求めた面積は、当該物の長さと等価と見なしても
よい。
である場合、当該物の原画像のトポロジを保持したまま
の細線化図形は、当該物の寸法に関し極めて有効なデー
タを保持している。従って、ここで画素数を数えること
により求めた面積は、当該物の長さと等価と見なしても
よい。
【００１４】次に、図形の面積がステッ１−５及び１−
１０登録された上限値と下限値の所定値に当てはまるか
否かを判断する（ステップ１−１９、ステップ１−２
０）。所定値に当てはまらない図形は、不良品として登
録され（ステップ１−２２）、例えば図４の図形アのよ
うに表示される。全ての図形についてこの処理が施され
るまで（ステップ１−２１）、ステップ１−１９からの
処理が繰り返される。
１０登録された上限値と下限値の所定値に当てはまるか
否かを判断する（ステップ１−１９、ステップ１−２
０）。所定値に当てはまらない図形は、不良品として登
録され（ステップ１−２２）、例えば図４の図形アのよ
うに表示される。全ての図形についてこの処理が施され
るまで（ステップ１−２１）、ステップ１−１９からの
処理が繰り返される。
【００１５】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、可撓線
状物体を非接触で、伸長させず、従って物体に歪みを生
じさせず、かつ容易に検査し得えるという効果を有す
る。、
状物体を非接触で、伸長させず、従って物体に歪みを生
じさせず、かつ容易に検査し得えるという効果を有す
る。、
【図ｌ】本発明の一実施例を示すフローチャートであ
る。
る。
【図２】細線化図形の概念図である。
【図３】不良品の図形ケを特定した概念図である。
【図４】不良品の図形アを特定した概念図である。
【図５】連結数４の分岐を示す図である。
【図６】連結数３の分岐を示す図である。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年１１月２５日
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例を示すステップ１−１からス
テップ１−１０までのフローチャートである。
テップ１−１０までのフローチャートである。
【図２】細線化図形の概念図である。
【図３】不良品の図形ケを特定した概念図である。
【図４】不良品の図形アを特定した概念図である。
【図５】連結数４の分岐を示す図である。
【図６】連結数３の分岐を示す図である。
【図７】連結数３の分岐を示す図である。
【図８】本発明の一実施例を示すステップ１−１１から
ステップ１−２３のフローチャート図である。
ステップ１−２３のフローチャート図である。
【手続補正３】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図８】
【図６】
【図７】
Claims (2)
- 【請求項１】 可撓線状物体のデジタル画像を取り込
み、この画像を２値化して可撓線状物体を抽出し、抽出
された可撓線状物体の画像を細線化し、細線化後の各可
撓線状物体の画像をラベリングし、ラベリングされた各
画像の面積を算出し、算出された面積の値が所定範囲内
であるか否かを判定し、所定範囲内の画像については、
対応する可撓線状物体を合格と判定することを特徴とす
る可撓線状物体の検査方法。 - 【請求項２】 ラベリングされた各画像について分岐点
が存在するか否かを判定し、分岐点が存在する画像につ
いては、対応する可撓線状物体を不合格と判定すること
を特徴とする請求項１記載の可撓線状物体の検査方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3342456A JPH05172530A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 可撓線状物体の検査方法 |
| US07/980,968 US5340994A (en) | 1991-11-29 | 1992-11-24 | Method for inspecting the length of a flexible thin object having binarizing and thinning steps |
| EP92120231A EP0545291B1 (en) | 1991-11-29 | 1992-11-26 | Inspecting method for flexible thin object |
| DE69226612T DE69226612D1 (de) | 1991-11-29 | 1992-11-26 | Inspektionsmethode für ein dünnes, flexibles Objekt |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3342456A JPH05172530A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 可撓線状物体の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172530A true JPH05172530A (ja) | 1993-07-09 |
Family
ID=18353885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3342456A Pending JPH05172530A (ja) | 1991-11-29 | 1991-11-29 | 可撓線状物体の検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5340994A (ja) |
| EP (1) | EP0545291B1 (ja) |
| JP (1) | JPH05172530A (ja) |
| DE (1) | DE69226612D1 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10031087B2 (en) | 2016-09-22 | 2018-07-24 | SSAB Enterprises, LLC | Methods and systems for the quantitative measurement of internal defects in as-cast steel products |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4539704A (en) * | 1983-09-15 | 1985-09-03 | Pitney Bowes Inc. | Image thinning process |
| JPS6180374A (ja) * | 1984-09-21 | 1986-04-23 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 可変走査領域による細線化処理の方法及び装置 |
| JPS63101973A (ja) * | 1986-10-18 | 1988-05-06 | Narumi China Corp | プリント内部配線パタ−ン等の欠陥検査用標準パタ−ン作成方法 |
| US5115477A (en) * | 1988-03-31 | 1992-05-19 | Honeywell Inc. | Image recognition edge detection method and system |
| JPH02204881A (ja) * | 1989-02-02 | 1990-08-14 | Canon Inc | 図形文字分離方法 |
| JPH03154808A (ja) * | 1989-11-13 | 1991-07-02 | Nec Corp | パターン検査装置 |
| JPH043271A (ja) * | 1990-04-20 | 1992-01-08 | Nec Corp | パターン検査装置 |
-
1991
- 1991-11-29 JP JP3342456A patent/JPH05172530A/ja active Pending
-
1992
- 1992-11-24 US US07/980,968 patent/US5340994A/en not_active Expired - Fee Related
- 1992-11-26 DE DE69226612T patent/DE69226612D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1992-11-26 EP EP92120231A patent/EP0545291B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5340994A (en) | 1994-08-23 |
| EP0545291A1 (en) | 1993-06-09 |
| DE69226612D1 (de) | 1998-09-17 |
| EP0545291B1 (en) | 1998-08-12 |
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