JPH05157637A - 光ファイバ式物理量測定装置 - Google Patents
光ファイバ式物理量測定装置Info
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- JPH05157637A JPH05157637A JP3347870A JP34787091A JPH05157637A JP H05157637 A JPH05157637 A JP H05157637A JP 3347870 A JP3347870 A JP 3347870A JP 34787091 A JP34787091 A JP 34787091A JP H05157637 A JPH05157637 A JP H05157637A
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- Japan
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- light
- optical
- stokes
- optical fiber
- demultiplexer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は、高精度の測定を容易に達成
し得る光ファイバ式物理量測定装置を提供することにあ
る。 【構成】 本発明に係る光ファイバ式物理量測定装置５
０は、４枚の光学フィルター６４ａ〜６４ｄを用い、光
源１４からのパルス光をセンサ用光ファイバ１２に導く
とともに、当該光ファイバ１２内で発生するラマン散乱
光のストークス光とアンチストークス光を交互に透過さ
せる光合分波器５４と、光合分波器５４を透過したスト
ークス光及びアンチストークス光を交互に受光し、これ
を電気信号に変換して演算回路６０に供給する受光器５
６，平均化回路５８からなる１系統のＯＴＤＲ計測装置
とを備えている。
し得る光ファイバ式物理量測定装置を提供することにあ
る。 【構成】 本発明に係る光ファイバ式物理量測定装置５
０は、４枚の光学フィルター６４ａ〜６４ｄを用い、光
源１４からのパルス光をセンサ用光ファイバ１２に導く
とともに、当該光ファイバ１２内で発生するラマン散乱
光のストークス光とアンチストークス光を交互に透過さ
せる光合分波器５４と、光合分波器５４を透過したスト
ークス光及びアンチストークス光を交互に受光し、これ
を電気信号に変換して演算回路６０に供給する受光器５
６，平均化回路５８からなる１系統のＯＴＤＲ計測装置
とを備えている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ファイバ式物理量測定
装置に関し、特に新規な光合分波器を使用した光ファイ
バ式物理量測定装置に関する。
装置に関し、特に新規な光合分波器を使用した光ファイ
バ式物理量測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、光ファイバ内で発生するラマン散
乱光の強度を検出し、これに基づいて被測定対象の物理
量を測定する装置が開発，実用化されている。図６に
は、従来の光ファイバ式温度分布測定装置の構成が示さ
れている。温度分布測定装置１０は、入射パルス光を発
生する光源１４と、光源１４から射出されたパルス光を
センサ用光ファイバ１２に導くととももに、センサ用光
ファイバ１２内で発生したラマン散乱光をストークス光
とアンチストークス光とに分波する光合分波器１６と、
ストークス光とアンチストークス光用の２つのＯＴＤＲ
（optical time domain reflectometer)２０ａ，２２
ａ，２４ａ及び２０ｂ，２２ｂ，２４ｂと、これらＯＴ
ＤＲ計測回路から供給された信号に基づいて被測定対象
の温度分布を測定する演算回路２８とから構成されてい
る。
乱光の強度を検出し、これに基づいて被測定対象の物理
量を測定する装置が開発，実用化されている。図６に
は、従来の光ファイバ式温度分布測定装置の構成が示さ
れている。温度分布測定装置１０は、入射パルス光を発
生する光源１４と、光源１４から射出されたパルス光を
センサ用光ファイバ１２に導くととももに、センサ用光
ファイバ１２内で発生したラマン散乱光をストークス光
とアンチストークス光とに分波する光合分波器１６と、
ストークス光とアンチストークス光用の２つのＯＴＤＲ
（optical time domain reflectometer)２０ａ，２２
ａ，２４ａ及び２０ｂ，２２ｂ，２４ｂと、これらＯＴ
ＤＲ計測回路から供給された信号に基づいて被測定対象
の温度分布を測定する演算回路２８とから構成されてい
る。
【０００３】光合分波器１６は、センサ用光ファイバ１
２からのラマン散乱光を入射光と分別して光ファイバ３
２に導く第１の光分岐器３０と、第１の光分岐器３０を
透過したラマン散乱光をストークス光とアンチストーク
ス光とに分波する第２の光分岐器３４とから構成されて
いる。
２からのラマン散乱光を入射光と分別して光ファイバ３
２に導く第１の光分岐器３０と、第１の光分岐器３０を
透過したラマン散乱光をストークス光とアンチストーク
ス光とに分波する第２の光分岐器３４とから構成されて
いる。
【０００４】２つのＯＴＤＲ計測回路は、各々、ノイズ
を除去するフィルター２０ａ，２０ｂと、受光した光信
号を電気信号に変換する受光器２２ａ，２２ｂと、受光
器２２ａ，２２ｂからの信号を平均化する平均化処理回
路２４ａ，２４ｂとから構成されている。
を除去するフィルター２０ａ，２０ｂと、受光した光信
号を電気信号に変換する受光器２２ａ，２２ｂと、受光
器２２ａ，２２ｂからの信号を平均化する平均化処理回
路２４ａ，２４ｂとから構成されている。
【０００５】そして、演算回路２８において、センサ用
光ファイバ１２内で発生したラマン散乱光のレベルを、
ストークス光とアンチストークス光とで別々に検出し、
これに基づいて被測定対象の温度分布が求められる。
光ファイバ１２内で発生したラマン散乱光のレベルを、
ストークス光とアンチストークス光とで別々に検出し、
これに基づいて被測定対象の温度分布が求められる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような従来の温度分布測定装置１０においては、光合分
波器１６が２つの光分岐器３０，３４から成るため、光
強度の損失が大きいという問題点があった。すなわち、
１つの光分岐器では理論上３ｄＢ程度の分岐損失（強度
減衰）があるため、２つの分岐器３０，３４を通過する
光は９ｄＢ減衰する。実際には、３ｄＢの分岐損失の他
に１ｄＢの過剰損失があるため、従来の光ファイバ式物
理量測定装置１０における光損失はトータルで１３．５
ｄＢ（４×３＋１＋０．５）となる。このため、演算回
路２０において温度分布を正確に測定するのが非常に困
難であった。
ような従来の温度分布測定装置１０においては、光合分
波器１６が２つの光分岐器３０，３４から成るため、光
強度の損失が大きいという問題点があった。すなわち、
１つの光分岐器では理論上３ｄＢ程度の分岐損失（強度
減衰）があるため、２つの分岐器３０，３４を通過する
光は９ｄＢ減衰する。実際には、３ｄＢの分岐損失の他
に１ｄＢの過剰損失があるため、従来の光ファイバ式物
理量測定装置１０における光損失はトータルで１３．５
ｄＢ（４×３＋１＋０．５）となる。このため、演算回
路２０において温度分布を正確に測定するのが非常に困
難であった。
【０００７】また、ストークス光とアンチストークス光
とを、各々別々のＯＴＤＲ測定系に導いているため、測
定精度を向上させるためには、２つの測定系の応答性を
一致させる必要があり、調整作業が非常に煩雑であっ
た。
とを、各々別々のＯＴＤＲ測定系に導いているため、測
定精度を向上させるためには、２つの測定系の応答性を
一致させる必要があり、調整作業が非常に煩雑であっ
た。
【０００８】
【発明の目的】本発明はかかる点に鑑みて成されたもの
であり、容易に高精度の測定を行い得る光ファイバ式物
理量測定装置を提供することを目的とする。
であり、容易に高精度の測定を行い得る光ファイバ式物
理量測定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、パルス入射光を光ファイバに導くととも
に、光ファイバから戻ったラマン散乱光をストークス光
とアンチストークス光とで交互に透過させる光合分波器
と、光合分波器を透過したストークス光とアンチストー
クス光を交互に受光し、これを電気信号に変換する受光
手段と、受光手段からの信号に基づいて被測定対象の温
度分布等の所定の物理量を測定する演算手段とを備えて
いる。
するために、パルス入射光を光ファイバに導くととも
に、光ファイバから戻ったラマン散乱光をストークス光
とアンチストークス光とで交互に透過させる光合分波器
と、光合分波器を透過したストークス光とアンチストー
クス光を交互に受光し、これを電気信号に変換する受光
手段と、受光手段からの信号に基づいて被測定対象の温
度分布等の所定の物理量を測定する演算手段とを備えて
いる。
【００１０】
【作用】上記のように本発明に係る光ファイバ式物理量
測定装置の光合分波器は、光ファイバから戻ったラマン
散乱光をストークス光とアンチストークス光とで交互に
透過させる構成であるため、２つの分岐器を用いた従来
の光合分波器を用いた場合に比べ光損失が大幅に減少す
る。
測定装置の光合分波器は、光ファイバから戻ったラマン
散乱光をストークス光とアンチストークス光とで交互に
透過させる構成であるため、２つの分岐器を用いた従来
の光合分波器を用いた場合に比べ光損失が大幅に減少す
る。
【００１１】また、当該光合分波器によってストークス
光とアンチストークス光を選択的に受光手段に導くた
め、受光手段すなわちＯＴＤＲを１系統設ければ足り、
従って、従来のようにストークス光用とアンチストーク
ス光用の２つの測定系の応答性を一致さる等の調整作業
が必要なくなる。
光とアンチストークス光を選択的に受光手段に導くた
め、受光手段すなわちＯＴＤＲを１系統設ければ足り、
従って、従来のようにストークス光用とアンチストーク
ス光用の２つの測定系の応答性を一致さる等の調整作業
が必要なくなる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の一実施例を添付図面を参照し
つつ詳細に説明する。図１には、実施例に係る光ファイ
バ式温度分布測定装置の構成が示されている。光ファイ
バ式温度分布測定装置５０は、入射パルス光を発生する
光源１４と、光源１４から射出された光をセンサ用光フ
ァイバ１２に導くととももに、センサ用光ファイバ１２
内で発生したラマン散乱光を光ファイバ５２に供給する
光合分波器５４と、光合分波器５４からの光信号を電気
信号に変換する受光器５６と、受光器５６からの信号を
平均化する平均化処理回路５８と、平均化処理回路５８
を通過した光強度信号に基づいて被測定対象（図示せ
ず）の温度分布を算出する演算回路６０とから構成され
ている。
つつ詳細に説明する。図１には、実施例に係る光ファイ
バ式温度分布測定装置の構成が示されている。光ファイ
バ式温度分布測定装置５０は、入射パルス光を発生する
光源１４と、光源１４から射出された光をセンサ用光フ
ァイバ１２に導くととももに、センサ用光ファイバ１２
内で発生したラマン散乱光を光ファイバ５２に供給する
光合分波器５４と、光合分波器５４からの光信号を電気
信号に変換する受光器５６と、受光器５６からの信号を
平均化する平均化処理回路５８と、平均化処理回路５８
を通過した光強度信号に基づいて被測定対象（図示せ
ず）の温度分布を算出する演算回路６０とから構成され
ている。
【００１３】光合分波器５４は、図２に示されているよ
うに、センサ用光ファイバ１２と光ファイバ１３，５２
に各々接続される接続部１２ａ，１３ａ，５２ａと、セ
ンサ用光ファイバ１２からのラマン散乱光を光ファイバ
５２に導くための第１〜第４の光学フィルター６４ａ，
６４ｂ，６４ｃ，６４ｄと、平均化処理回路５８からの
信号に基づいて第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，
６４ｄを駆動し、これらの何れか一方を選択的に光路に
配置させるアクチュエーター６６とから構成されてい
る。これら第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，６４
ｄとアクチュエーター６６によって光スイッチ６８が構
成される。
うに、センサ用光ファイバ１２と光ファイバ１３，５２
に各々接続される接続部１２ａ，１３ａ，５２ａと、セ
ンサ用光ファイバ１２からのラマン散乱光を光ファイバ
５２に導くための第１〜第４の光学フィルター６４ａ，
６４ｂ，６４ｃ，６４ｄと、平均化処理回路５８からの
信号に基づいて第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，
６４ｄを駆動し、これらの何れか一方を選択的に光路に
配置させるアクチュエーター６６とから構成されてい
る。これら第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，６４
ｄとアクチュエーター６６によって光スイッチ６８が構
成される。
【００１４】図３（Ａ）〜（Ｄ）には、第１〜第４の光
学フィルター６４ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄの透過特
性が各々示されている。なお、図中λａ，λｓ，λｏ
は、各々アンチストークス光，ストークス光及び入射光
の中心波長を示す。図から分かるように、第１の光学フ
ィルター６４ａは光源１４からの入射光を透過し、ラマ
ン散乱光を反射するように設定されている。第２の光学
フィルター６４ｂは、ラマン散乱光のみ反射し、入射光
の透過，反射に関しては特に設定されていない。また、
第３の光学フィルター６４ｃはラマン散乱光のうちアン
チストークス光のみを透過し、第４の光学フィルター６
４ｄはストークス光のみを透過するように設定されてい
る。
学フィルター６４ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄの透過特
性が各々示されている。なお、図中λａ，λｓ，λｏ
は、各々アンチストークス光，ストークス光及び入射光
の中心波長を示す。図から分かるように、第１の光学フ
ィルター６４ａは光源１４からの入射光を透過し、ラマ
ン散乱光を反射するように設定されている。第２の光学
フィルター６４ｂは、ラマン散乱光のみ反射し、入射光
の透過，反射に関しては特に設定されていない。また、
第３の光学フィルター６４ｃはラマン散乱光のうちアン
チストークス光のみを透過し、第４の光学フィルター６
４ｄはストークス光のみを透過するように設定されてい
る。
【００１５】図４には、光スイッチ６８の構成が側方断
面（Ａ），正面断面（Ｂ）として示されている。光スイ
ッチ６８は、第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，６
４ｄが載置された金属板７０と、金属板７０の端部に固
定された永久磁石７２と、永久磁石７２と対向配置され
た電磁石７４とから構成されている。すなわち、永久磁
石７２と電磁石７４によってアクチュエーター６６が構
成され、電磁石７４の励磁によって金属板７０をスライ
ドさせ、光学フィルター６４ｃと６４ｄの何れか一方を
光路上に配置させるようになっている。
面（Ａ），正面断面（Ｂ）として示されている。光スイ
ッチ６８は、第３及び第４の光学フィルター６４ｃ，６
４ｄが載置された金属板７０と、金属板７０の端部に固
定された永久磁石７２と、永久磁石７２と対向配置され
た電磁石７４とから構成されている。すなわち、永久磁
石７２と電磁石７４によってアクチュエーター６６が構
成され、電磁石７４の励磁によって金属板７０をスライ
ドさせ、光学フィルター６４ｃと６４ｄの何れか一方を
光路上に配置させるようになっている。
【００１６】次に、以上のように構成された実施例の全
体的な動作及び作用について説明する。測定を開始する
に際し、光合分波器５４において第３の光学フィルター
６４ｃを光路上にセットする。次に、光源１４から射出
された入射パルス光がセンサ用光ファイバ１２に供給さ
れると、その一部がラマン後方散乱光として接続部１２
ａから光合分波器５４に入射する。光合分波器５４に入
射したラマン散乱光は、光学フィルター６４ａ，６４
ｂ，６４ｃの作用によってアンチストークス光のみが接
続部５２ａから受光器５６に供給される。
体的な動作及び作用について説明する。測定を開始する
に際し、光合分波器５４において第３の光学フィルター
６４ｃを光路上にセットする。次に、光源１４から射出
された入射パルス光がセンサ用光ファイバ１２に供給さ
れると、その一部がラマン後方散乱光として接続部１２
ａから光合分波器５４に入射する。光合分波器５４に入
射したラマン散乱光は、光学フィルター６４ａ，６４
ｂ，６４ｃの作用によってアンチストークス光のみが接
続部５２ａから受光器５６に供給される。
【００１７】受光器５６では、アンチストークス光を光
電変換して当該電気信号を平均化処理回路５８に供給す
る。平均化処理回路５８では、平均化したアンチストー
クス光の強度信号を演算回路６０に供給すると同時に、
光合分波器５４に対して制御信号（変換信号）を出力す
る。
電変換して当該電気信号を平均化処理回路５８に供給す
る。平均化処理回路５８では、平均化したアンチストー
クス光の強度信号を演算回路６０に供給すると同時に、
光合分波器５４に対して制御信号（変換信号）を出力す
る。
【００１８】光合分波器５４では、平均化処理回路５８
からの制御信号に基づくアクチュエーター６６の動作に
より、光学フィルター６４ｃを６４ｄと切り換える。そ
の後、上記と同様の動作によりストークス光の強度を測
定する。そして、演算回路６０において、ストークス光
とアンチストークス光の両者の光強度から被測定対象の
温度分布を算出する。
からの制御信号に基づくアクチュエーター６６の動作に
より、光学フィルター６４ｃを６４ｄと切り換える。そ
の後、上記と同様の動作によりストークス光の強度を測
定する。そして、演算回路６０において、ストークス光
とアンチストークス光の両者の光強度から被測定対象の
温度分布を算出する。
【００１９】次に、本実施例に係る光ファイバ式物理量
測定装置５０の光損失について考察する。光合分波器５
４の接続部１３ａと１２ａを平行ビームで通過する時の
光損失を２．０ｄＢとし、光学フィルター６４ａを透過
する際の損失を０．５ｄＢとすると、光源１４→センサ
用光ファイバ１２→光合分波器５４間の光損失は、２．
５ｄＢとなる。また、光学フィルター６４ａと６４ｂで
反射する際の光損失を各々０．２５ｄＢとすると、接続
部１２ａから入射してから接続部５２ａから出力される
までのラマン散乱光の光損失は、３．０ｄＢ（２．０＋
０．２５×２＋０．５）となる。従って、トータルの光
損失は５．５ｄＢ（２．５＋３．０）となり、従来の１
３．５ｄＢより８ｄＢも光損失が減少する。また、光フ
ァイバ自体の片道伝送損失を３ｄＢ／ｋｍとすると、８
ｄＢの損失低減は往復換算で１．３ｋｍに相当し、本実
施例によれば従来に比べ１．３ｋｍ測定距離を延長でき
ることになる。
測定装置５０の光損失について考察する。光合分波器５
４の接続部１３ａと１２ａを平行ビームで通過する時の
光損失を２．０ｄＢとし、光学フィルター６４ａを透過
する際の損失を０．５ｄＢとすると、光源１４→センサ
用光ファイバ１２→光合分波器５４間の光損失は、２．
５ｄＢとなる。また、光学フィルター６４ａと６４ｂで
反射する際の光損失を各々０．２５ｄＢとすると、接続
部１２ａから入射してから接続部５２ａから出力される
までのラマン散乱光の光損失は、３．０ｄＢ（２．０＋
０．２５×２＋０．５）となる。従って、トータルの光
損失は５．５ｄＢ（２．５＋３．０）となり、従来の１
３．５ｄＢより８ｄＢも光損失が減少する。また、光フ
ァイバ自体の片道伝送損失を３ｄＢ／ｋｍとすると、８
ｄＢの損失低減は往復換算で１．３ｋｍに相当し、本実
施例によれば従来に比べ１．３ｋｍ測定距離を延長でき
ることになる。
【００２０】なお、上記実施例においては、光学フィル
ター６４ｃと６４ｄの切り換えを磁力によって行ってい
るが、図５に示されているように単純な回転機構によっ
て行ってもよい。すなわち、この切り換え機構は光学フ
ィルター６４ｃと６４ｄを同心円周上に所定角度で支持
し、これらを回転させることによって、何れか一方のフ
ィルターを光路上に配置する。
ター６４ｃと６４ｄの切り換えを磁力によって行ってい
るが、図５に示されているように単純な回転機構によっ
て行ってもよい。すなわち、この切り換え機構は光学フ
ィルター６４ｃと６４ｄを同心円周上に所定角度で支持
し、これらを回転させることによって、何れか一方のフ
ィルターを光路上に配置する。
【００２１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る光フ
ァイバ式物理量測定装置は、光ファイバから戻ったラマ
ン散乱光をストークス光とアンチストークス光とで交互
に透過させる光合分波器を備えているため、光損失が大
幅に減少する。また、１つの受光手段すなわち１系統の
ＯＴＤＲによって測定を行えるため、構成が簡素化され
るとともに、測定精度が向上するという効果がある。
ァイバ式物理量測定装置は、光ファイバから戻ったラマ
ン散乱光をストークス光とアンチストークス光とで交互
に透過させる光合分波器を備えているため、光損失が大
幅に減少する。また、１つの受光手段すなわち１系統の
ＯＴＤＲによって測定を行えるため、構成が簡素化され
るとともに、測定精度が向上するという効果がある。
【図１】図１は、本発明の一実施例に係る光ファイバ式
物理量測定装置の構成を示すブロック図である。
物理量測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】図２は、実施例の要部の構成を示す説明図であ
る。
る。
【図３】図３（Ａ）〜（Ｄ）は、実施例の作用を説明す
るための説明図である。
るための説明図である。
【図４】図４は、実施例の要部の構成を示す説明図であ
る。
る。
【図５】図５は、本発明の他の実施例の構成を示す説明
図である。
図である。
【図６】図６は、従来の光ファイバ式物理量測定装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
１２ センサ用光ファイバ １３，５２ 光ファイバ １４ 光源 ５０ 光ファイバ式物理量測定装置 ５４ 光合分波器 ５６ 受光器 ５８ 平均化回路 ６０ 演算回路 １２ａ，１３ａ，５２ａ 光ファイバ接続部 ６４ａ，６４ｂ，６４ｃ，６４ｄ 光学フィルター ６６ アクチュエーター ６８ 光スイッチ ７０ 金属板 ７２ 永久磁石 ７４ 電磁石
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 哲 茨城県日立市日高町５丁目１番１号 日立 電線株式会社オプトロシステム研究所内
Claims (2)
- 【請求項１】 光ファイバ内で発生するラマン散乱光の
強度特性に基づいて被測定対象の温度分布等の所定の物
理量を測定する光ファイバ式物理量測定装置において、 パルス入射光を前記光ファイバに導くとともに、前記光
ファイバから戻ったラマン散乱光をストークス光とアン
チストークス光とで交互に透過させる光合分波器と、 前記光合分波器を透過したストークス光とアンチストー
クス光を交互に受光し、これを電気信号に変換する受光
手段と、 前記受光手段からの信号に基づいて被測定対象の温度分
布等の所定の物理量を測定する演算手段とを備えたこと
を特徴とする光ファイバ式物理量測定装置。 - 【請求項２】 前記光合分波器が、前記ストークス光の
みを透過する第１の光フィルターと、前記アンチストー
クス光のみを透過する第２の光フィルターと、前記第１
及び第２の光フィルターを前記ラマン散乱光の光路上に
交互に配置する光フィルター配置機構を備えたことを特
徴とする請求項１記載の光ファイバ式物理量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3347870A JPH05157637A (ja) | 1991-12-03 | 1991-12-03 | 光ファイバ式物理量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3347870A JPH05157637A (ja) | 1991-12-03 | 1991-12-03 | 光ファイバ式物理量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05157637A true JPH05157637A (ja) | 1993-06-25 |
Family
ID=18393158
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3347870A Pending JPH05157637A (ja) | 1991-12-03 | 1991-12-03 | 光ファイバ式物理量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05157637A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2813955A1 (fr) * | 2000-09-08 | 2002-03-15 | Jobin Yvon S A | Procede, dipositif et systeme pour detection d'un spectre raman |
| US6524001B1 (en) * | 2000-08-15 | 2003-02-25 | Systems And Processes Engineering Corp. | Method and system for sensing optical fiber temperature |
| JP2008203094A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ温度センサ及びそれを用いた温度測定方法 |
-
1991
- 1991-12-03 JP JP3347870A patent/JPH05157637A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6524001B1 (en) * | 2000-08-15 | 2003-02-25 | Systems And Processes Engineering Corp. | Method and system for sensing optical fiber temperature |
| FR2813955A1 (fr) * | 2000-09-08 | 2002-03-15 | Jobin Yvon S A | Procede, dipositif et systeme pour detection d'un spectre raman |
| JP2008203094A (ja) * | 2007-02-20 | 2008-09-04 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ温度センサ及びそれを用いた温度測定方法 |
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